Рентгеновский спектрометр

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (11918827

Союз Советских

Социалистических

Республик ф (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 260678 (21) 2632959/18-25

fg)) Кп 3 с присоединением заявки ¹

6 01 Ы 23/20

Государственный комитет

СССР. по делам изобретений и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 070482, Бюллетень ¹ 13

t$ ) УДК 621 ° 386 (088. 8) Дата опубликования описания 0704.82

В.М.Генкин, В.С.Красильников, .К.Макарычев. и Н.И.Тюрина ! . Ъ.

Горьковский исследовательский физи о-технический., и при Горьковском государственн м университете им. Н.И.Лобачевского (72) Авторы изобретения тут (71) Заявитель (5 4 ) РЕНТГЕНОВСКИЙ CIIEKTPOME TP

Изобретение относится к рентгеновскому анализу, а именно к рентгеновским спектрометрам, используемым для исследования монокристаллов.

Известен рентгеновский спектрометр, содержащий рентгеновскую трубку с коллиматором, установленную на поворотной относительно ячейки для исследуемого кристалла платформе, кристалл-монохроматоры, детекторы рентгеновского излучения и ячейку для исследуемого кристалла. Такой спектрометр позволяет работать в широком диапазоне углов дифракции рентгеновских лучей (1) .

Недостатком спектрометра является сложность юстировки, включающей кроме поворотов также параллельные перемещения кристаллов и детекторов излучения.

Цель изобретения — упрощение юстировки.

Поставленная цель достигается тем, что спектрометр, содержащий рентгеновскую трубку с коллиматором, установленную на поворотной относительно ячейки для исследуемого кристалла платформе,. кристалл-монохроматоры, детекторы рентгеновского излучения и ячейку для исследуемого кристалла, имеет две платформы, скрепленные веерообразно с возможностью поворота вокруг ячейки для исследуемого кристалла, на каждой из которых последовательно установлены кристалл-монохроматор, детектор, второй кристаллмонохроматор и второй детектор, при этом каждый из детекторов содержит два расположенных навстречу друг другу входных окна, а кристалл-монохроматоры выполнены в виде монокристаллических пластин с прорезью.

На чертеже представлена принципиальная схема спектрометра.

Спектрометр содержит ттлатформу 1, источник 2 рентгеновских лучей, монохроматоры 3 с устройствами юстировки и поворотов, детекторы 4 рентгеновского излучения, исследуемый кристалл 5 с .гониометрическим устройством юстировки и механическим приводом поворотов.

Платформа 1 с расположенными на ней источником 2, монохроматором 3

25 .и детектором 4 образуют левый лучевой блок. Аналогичную конструкцию имеет и правый лучевой блок.

В обоих лучевых блоках исходящие из источника 2 рентгеновские лучи

ЗО последовательно отражаются от двух

918827 противоположных внутренних плоскостей поверхности прорези монокристаллических пластин, исполняющих роль монохроматоров 3, и падают на исследуемый кристалл 5. Отражение левого рентгеновского луча от исследуемого кристалла 5 регистрируется ближайшим к нему детектором 4 правого лучевого блока, а отражение правого рентгеновского луча - детектором 4 левого лучевого блока. Остальные детекторы 4 спектрометра служат для юстировки монохроматоров 3.

Измерение приращений брэгговских углов отражения рентгеновских лучей от исследуемого кристалла 5 произво- 5 дят следующим образом.

Поворотами лучевых блоков устанав-ливают между двумя падающими рентгеновскими лучами угол, равный 180 -28, о где 9 — брэгговский угол отражения. 70

Подключают ближайшие к исследуемому кристаллу 5 детекторы 4 левого и правого лучевых блоков к устройствам регистрации интенсивности отраженных рентгеновских лучей. Включают механизм поворота исследуемого кристалла 5, а при записи. брэгговских максимумов отражения на диаграммную ленту — механизм ее протяжки, работающий синхронно с механизмом поворота исследуемого кристалла 5. Приращение брэгговского yr.а отражения вычисля1 1 ют как d9 = — о где ь о — измеренное

2 в угловых единицах на диаграммной ленте расстояние между брэгговским 35 максимумом отражения левого и правого рентгеновских лучей.

Поскольку угол между падающими лучами установлен равным 180О -2&, в случае неизменного брэгговского луча 40 угла. отражения, т.е. при ь9 =О, должно наблюдаться одновременное отражение обоих рентгеновских лучей при общем угле наклона исследуемого кристалла 5. В случае приращения брэггов-45 ского угла на величину d9, для нахождения отражения левого луча (как видно из чертежа) исследуемый кристалл 5 необходимо повернуть на величину д9 влево, а для нахождения отражения правого рентгеновского луча на величину д6 вправо. Таким образом, угол между отражающими положекиями исследуемого кристалла 5 равен 2 d9.

Для улучшения условий работы детекторов 4 запись брэгговских максимумов отражения можно производить при очередном отклонении рентгеновских трубок: правой - при регистрации брэгговского максимума отражения левого падающего рентгеновского луча, левой - при регистрации брэгговского максимума отражения правого падающего рентгеновского луча.

При этом, в случае необходимости, угловым смещением лучевых блоков можно для облегчения условий работы регистрирующих устройств спектрометра вводить дополнительное учитываемое рассогласование времени появления брэгговских максимумов отражения левого и правого падающих рентгеновских лучей в процессе непрерывного поворота исследуемого кристалла 5.

Предлагаемый спектрометр позволяет при помощи установки дополнительных лучевых блоков производить одноврем-".иную запись регистрирующими .устройствами нескольких брэгговских максимумов с определением их угловых приращений, а также для упрощения технологии обработки исследуемого кристалла непосредственно в спектрометре закреплять исследуемый кристалл стационарно, а его установку под угол отра- жения и повороты в процессе записи кривых отражения заменять однозначными поворотами лучевых блоков.

Фсрмула изобретения

Рентгеновский спектрометр, содержащий рентгеновскую трубку с коллиматором, установленную на поворотной относительно ячейки для исследуемо . го кристалла платформе, кристалл-монохроматоры, детекторы рентгеновского излучения и ячейку для исследуемого кристалла, о т л и ч а ю щ и и с я тем, что, с целью упрощения юстировки, имеет две платформы, скрепленные веерообразно с возможностью поворота вокруг ячейки для исследуемого кристалла, на каждой из которых последовательно установлены кристалл-монохроматор,, детектор, второй кристалл-монохроматор и второй детектор, при этом каждый из детекторов содержит два расположенных навстречу друг другу входных окна, а кристалл-монохроматоры выполнены в виде монокристаллических пластин с прорезью.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

9 522458, кл. G Ol N 23/20, 1974 (прототип).

918827

Составитель 10.Гринев

Редактор Т.Кугрышева Техред Е. Харитончик Корректор О.Билак

Заказ 2128/26 Тираж 883 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4