Бесконтактный измеритель толщины листового стекла

 

О П И С А Н И Е < >920369

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Ъ (6I ) Дополнительное к авт. свил-sy М 376656 (22) Заявлено 26.06.80 (23 ) 2946611/25-28 (53)M. Кл.

G 01 В 11/06 с присоединением заявки М

3Верйератеекеые кемнтет

СССР

N Аеяем изобретений н открытий (23) Приоритет—

Опубликовано 15.04,82. Ьюллетуиь М 14

Дата опубликования описания 15.04.82 (53) УД К 531.715..27 (088.8) (72) Авторы изобретения

Я. Ш. Вайнблат и Л. Ф. Хохлов

А .)

Всесоюзный научно-исследовательский институт нерудных строительйы материалов и гидромеханизацни

C (7l ) Заявитель (54) БЕСКОНТАКТНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ ТОЛЩИНЫ ЛИСТОВОГО

СТЕКЛА

Изобретение относится к контрольно-измери тельной технике и может быть использовано, в частности, для бесконтактного измерения толщины листового стекла.

По основному авт. св. N 376656 известен бесконтактный измеритель толщины листового стекла, содержащий оптическую систему, состоящую из источника света, многогранного враща. ющегося зеркала, направляющего поток света через фокусирующую линзу на контролируе30 мое стекло, два фотоэлектрических преобразователя, установленных в потоке света, прошедшего.через стекло, и электронный регист" ратор сигналов, подключенный входами к фотоэлектрическим преобразователям и выпоп35 пенный в виде регистратора интервала времени между сигналами фотоэлектрических преобразователей 11 J.

Однако известный измеритель не обеспечивает высокую. точность измерения стекла, име-..

20 ющего оптические дефекты, поскольку при измерении с помощью этого измерителя тол-, шины прозрачного листового стекла, имеющего поверхностные или внутренние дефекты, рассеивающие свет, возникают погрешности измерения, связанные с "размытостью" светового потока и его модуляцией по интенсивности в зависимости от характера дефекта.

Целью изобретения является повышение точности измерения стекла, имеющего оптические дефекты.

Поставленная цель достигается тем, что измеритель снабжен непрозрачным фильтром с окнами для пропускания луча на каждый из двух фотоэлектрических преобразователей, оптико-электронным блоком, установленным после фотоэлектрических преобразователей и вы. полненным в виде линзы, в фокусе которой расположен третий фотоэлектрический преобразователь, и схемой блокировки ложного сигнала, включенной в регистратор интервала времени между сигналами фотоэлектрических преобразователей.

На чертеже представлена принципиальная схема бесконтактного измерителя толщины листового стекла.

Измеритель содержит источник l света, блок

2 сканирования светового луча, выполненный

69 ф

Блокировка сигналов с фотоэлектрических фотопреобразователей во время появления рассеивающего потока света позволяет производить измерение толщины стекла только на бездефектных зонах и тем самым отстраиваться от помех, вызываемых наличием оптических дефектов в измеряемом стекле.

Использование предлагаемого измерителя позволяет производить бесконтактный автоматический контроль. толщины прозрачного листового стекла, имеющего оптические дефекты, например пластинок слюды, Применение непрозрачного фильтра, расположенного между измеряемым стеклом и фотоэлектрическими преобразователями с линзой, позволяет выделить рассеянный дефектами световой поток и направить его на третий фотоэлектрический преобразователь, а схема.блокировки ложных сигналов позволяет производить измерение толщины прозрачного листового стекла, отстраиваясь от погрешностей, вносимых оптическими дефектами в измеряемом стекле.

3 9203 в виде зеркального барабана 3, закрепленного на валу 4 электродвигателя (последний на чертеже не показан), оптическую систему 5, непрозрачный фильтр 6, с окнами 7 и 8, фотоэлектрические преобразователи 9 и 10 и оптико-электронный блок 11, выполненный в виде линзы 12, в фокусе которой расположен третий фотоэлектрический преобразователь 13. Фотоэлектрические преобразователи

9, 10 и 13 включены в схему 14 блокиров- 1ц ки ложного сигнала, состоящую из двух вен-, тилей 15 и 16 и инвертора .17 и подключенную к цифровому регистратору 18 интервала времени между сигналами фотоэлектрических преобразователей, включающему высокостабиль- И ный генератор 19 импульсов, цифровой счетчик

20 импульсов, масштабный преобразователь 21 и отсчетное табло 22, измеряемое стекло 23 имеет дефект 24.

Измеритель работает следующим образом.

Световой луч от источника i света попадает на зеркальный барабан 3. При повороте барабана 3 на определенный угол луч света совершает одно колебание в фокальной плоскости оптической системы 5. Электродвигатель, вращая д зеркальный барабан 3, заставляет луч света непрерывно сканировать. Сканирующий луч света, преломляясь в измеряемом стекле 23 через окна 7 и 8 непрозрачного фильтра 6, поочередно попадает на фотоэлектрические преоб- 3О разователи 9 и 10. Импульсы напряжения, возникающие при этом на фотоэлектрическихпреобразователях 9 и 10, поступают через вентили

15 и 16 в цифровой счетчик 20 импульсов, определяющий Интервал времени между импульсами, которыи однозначно зависит от толщины

35 измеряемого стекла 23. При наличии дефекта

24 в измеряемом стекле 23 рассеянный поток света мимо фильтра 6 попадает в оптико-электронный блок 11, где линзой 12 направляется на фотоэлектрический преобразователь 13, м "46 импульс напряжения с выхода которого поступает через инвертор 17 схемы 14 блокировки ложного сигнала на управляющие входы вентилей 15 и 16, блокируя прохождение сигналов ,с фотоэлектрических преобразователей 9 и 10

45 на вход цифрового счетчика 20 импульсов.

Формула изобретения с

Бесконтактный измеритель толщины листового стекла по авт. св. Р 376656, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью повышения точности измерения стекла, имеющего оптические дефекты, он снабжен непрозрачным фильтром с окнами для нропускания луча на каждый из двух фотоэлектрических преобразователей, оптико-электронным блоком, установленным после фотоэлектрических преобразователей и выполненным в виде линзы, в фокусе которой расположен третий фотоэлектрический преобразователь, и схемой блокировки ложного сигнала, включенной в регистратор интервала времени между сигналами фотоэлек" трических преобразователей.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР Р376656, кл. 6 01 В 19/38, 1971 (прототип).

920369

Редактор О. Персиянцева

Тираж б14

ВНИИПИ Государатвенного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Заказ 2313/38

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Составитель Л. Лобэова

Техред Т; Маточка Корректор Л. Бокшан

Бесконтактный измеритель толщины листового стекла Бесконтактный измеритель толщины листового стекла Бесконтактный измеритель толщины листового стекла 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости
Наверх