Устройство для определения усталостного повреждения светорассеивающих материалов

Авторы патента:

ФИЛАТОВ МИХАИЛ ЯКОВЛЕВИЧ

ШЛЕНСКИЙ ВАСИЛИЙ ФЕДОРОВИЧ

СУПРУНЕНКО ВЛАДИМИР АЛЕКСАНДРОВИЧ

БЕРИДЗЕ ДЖЕМАЛ КАЗИМОВИЧ

G01N21/88 - выявление дефектов, трещин или загрязнений

ОП ИСАНИЕ 940021

ИЗЬБРЕТЕ Н ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнител ьное к а вт. свид-вувЂ” (22) Заявлено 19.12.80 (21) 3222623/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) ПриоритетвЂ” (51) М, К, G 01 N 21)88

Гевударственнмй кем»тет

СССР (53) УДК 535.8 (088.8) Опубликовано 30.06.82. Бюллетень № 24

Дата опубликования описания 05.07.82

Ilo делам нзобретен»» н аткрмтий (72) Авторы изобретения

М. Я. Филатов, В. Ф. Шленский, В. А. Сугтруненко и Д. К. Беридзе

1 1

1 .. (I..: :(Институт механики АН Укра(инской CCP

t вЂ” 1 (71) Заявитель (54) УСТРОИСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УСТАЛОСТНОГО

ПОВРЕЖДЕНИЯ СВЕТОРАССЕИВАЮЩИХ МАТЕРИАЛОВ

Изобретение относится к технике исследования свойств материалов оптическими методами и может быть использовано для неразрушающегося контроля поврежденности стеклопластиков.

Известно устройство для неразрушающего контроля дефектности полупрозрачного материала, содержащее источник света и фотоприемник (1).

Недостаток данного устройства вЂ” низкая точность измерений.

Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является устройство для определения усталостного повреждения светорассеивающих материалов, содержащее оптическй связанные источник света, передающий и приемные световоды (2).

Недостатком устройства является низкая точность . измерений, обусловленная невозможностью определения распределения дефектов по толщине материала.

Цель изобретения вЂ” повышение точности измерений.

Указанная цель достигается тем, что в устройстве для определе .ия усталостного повреждения светорассеивающих материалов приемные световоды расположены по концентрическим окружностям вокруг передающего световода, причем выходы приемных световодов, находящихся на каждой окружности, объединены между собой.

На чертеже приведена схема устройства.

Устройство состоит из источника 1 света передающего световода 2 и приемных световодов 3.

Работа устройства осуществляется следующим образом.

На центральный световод 2 подается световое излучение от источника 1 света, засвечивающее участок исследуемого материала. Световодами 3 регистрируется свет, рассеянный дефектами. Регистрация света, рассеянного в разных направлениях (концентрическое размещение световодов 3) позволяет определить повреждение в толще материала, а динамика перераспределения интенсивности света, распространяющегося по световодам, удаленным на разные расстояния от облучающего световода, вЂ” кинетику образования дефектов при воздействии на материал механических нагрузок..

940021

Формула изобретения

Составитель В. Иванюк

Редактор М. Голаковски Техред А. Бойкас Корректор Г. Огар

Заказ 4657/64 Тираж 88? Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий! l 3035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП «Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Объединение световодов, расположенных на одинаковом расстоянии от центрального световода, обеспечивает усреднение светорассеяния различных дефектов, а также повышает чувствительность измерений.

Устройство для определения усталостного повреждения светорассеивающих материалов, содержащее оптически связанные источник света, передающий и приемные световоды, отличающееся тем, что, с целью повышения точности, приемные световоды расположены по концентрическим окружностям вокруг передающего световода, причем выходы приемных световодов, находящихся на каждой окружности; объединены между собой.

Источники информации,принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР № 269588, кл. G 01 N 21 21, 1970.

2. Гарф М. Э. и др. Приборы для изучения кинетики усталостного разрушения стеклопластиков по диффузному рассеянию световых потоков.вЂ” «Проблемы прочности, 1979, №6, с. 82.

Устройство для определения усталостного повреждения светорассеивающих материалов

Фотоэлектрическое устройство контроля дефектов поверхности // 855453

Фотоэлектронное устройство обнаружения дефектов поверхности // 835209

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения механических дефектов на деталях с оптически грубой поверхностью

Магнитно-люминесцентный порошок для дефектоскопии // 772198

Изобретение относится к области производства магнитно-люминесцентных порошков, применяемых для обнаружения поверхностных и подповерхностных тонких нарушений сплошности в деталях и изделиях из ферромагнитных материалов

Контрольный образец для капиллярной дефектоскопии // 724996

Устройство для контроля изделий на просвечивание // 685961

Устройство для контроля качества поверхности пластин // 654852

Способ дефектоскопии // 642606

Устройство для выявления дефектов поверхности полупроводниковых приборов // 630983

Способ обнаружения поверхностных дефектов металлических изделий // 590649

Устройство для обнаружения поверхностных дефектов // 2119657

Изобретение относится к устройствам для обнаружения поверхностных дефектов на цилиндрических объектах, таких как топливные таблетки атомных электростанций

Способ исследования поверхности твердого тела // 2142621

Изобретение относится к контролю качества поверхности оптическими методами и может найти применение в оптическом приборостроении, например, для контроля качества подготовки поверхностей подложек интегрально-оптических устройств, лазерных зеркал и т.д

Способ обнаружения дефектов поверхности // 2142622

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали

Контрольно-сортировочный автомат // 2142860

Изобретение относится к устройствам для контроля геометрических размеров и дефектов типа посечек, сколов, трещин стеклоизделий

Способ получения изображения развертки поверхности деформированных цилиндрических объектов // 2155378

Изобретение относится к телевизионной микроскопии и может быть использовано в промышленности при автоматизации контроля качества и, особенно, криминалистике для проведения баллистических экспертиз пуль стрелкового оружия, а также создания и хранения банка данных пулетек для последующей идентификации оружия по следам на пулях

Способ получения эталонной модели для автоматического контроля качества печати изображения на бумаге // 2161792

Способ исследования проводящей поверхности // 2164020

Изобретение относится к контролю качества поверхностей твердых тел оптическими методами, а именно к обнаружению дефектов и микрообъектов на плоских поверхностях проводящих и полупроводящих изделий путем регистрации эффективности возбуждения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), и может найти применение в оптическом приборостроении, экологическом мониторинге, в физических, химических, медико-биологических и других исследованиях

Способ обнаружения дефектов поверхности // 2165612

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности контролируемых объектов (КО) дефектов различного происхождения

Способ формирования изображений и определения рельефа объектов сложной формы // 2166748

Изобретение относится к исследованию и анализу физического состояния объектов сложной формы с помощью оптических средств, в частности к определению рельефа таких объектов, как стреляные пули и гильзы

Способ диагностики работоспособности металлоконструкций // 2170923

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для диагностики усталостного износа металлоконструкций (МК) и прогнозирования остаточного ресурса