Способ дефектоскопии

Авторы патента:

БАХРАХ ЛЕВ ДАВЫДОВИЧ

ЛИПКИН АРКАДИЙ САМУИЛОВИЧ

РОЗИНЬКОВ НИКИТА СЕРГЕЕВИЧ

G01N21/88 - выявление дефектов, трещин или загрязнений

G01B9/02 - интерферометры

Способ дефектоскопии

Способ дефектоскопии

Похожие патенты:

Устройство для выявления дефектов поверхности полупроводниковых приборов // 630983

Способ обнаружения поверхностных дефектов металлических изделий // 590649

Способ контроля ножей дисковой рубительной машины // 515390

Инфракрасный облучатель // 486257

Прибор для визуального определения трещиноватости зерен риса // 447609

Фотоэлектрическое устройство для обнаружения дефектов // 418774

Патент 412583 // 412583

Фотоэлектронное устройство для дефектоскопии поверхности резисторов // 405132

Устройство для инфракрасной дефектоскопии // 381977

Фотоэлектрический дефектоскоп // 307068

Привод подвижного зеркала интерферометра // 641273

Поляризационный интерферометр // 635395

Способ калибровки шкалы длин волн сканирующего интерферометра // 634092

Интерферометр для исследования качества оптических элементов и прозрачных неоднородностей // 625132

Поляризационный интерферометр переменного сдвига // 619787

Голографический интерферометр // 607460

Интерференционный датчик контроля линейного перемещения // 606097

Интерферометр // 603840

Интерференционный способ измерения величины линейных и угловых перемещений // 599158

Устройство для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов // 593070

Двухлучевой интерферометр для измерения показателя преломления изотропных и анизотропных материалов // 2102700

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения с высокой точностью показателей преломления изотропных и анизотропных материалов

Наверх