Система подсветки микроскопа

 

ОП ИКАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ПАТЕНТУ

990091

Союз Советских

Социалистических

Реслублик (6! ) Дополнительный к патенту(22) Заявлено 24.08. 76 (2! ) 2391455/18-10 (23) Приоритет - (32) 25. 08. 75 (3! ) 607842 (33) св)А (5!) М. Кл.

G 02 В 21/Об

ГосударстаеннмЯ комнтет

СССР но делам нзобретеннЯ н открытиЯ

Опубликовано 15.01 ° 83. Бюллетень№ 2 (53) УДК 535.824 ° 3 (088. 8) Дата опубликования ойнсания 15. 01. 83

Иностранец

Артур Хьюберт Шумакер (США) Р

Иностранная фирма Американ Оптикал Корпорейшн, (США) (72) Автор . изобретения (71) Заявитель (54) СИСТЕМА ПОДСВЕТКИ МИКРОСКОПА

Изобретение относится ic оптике, и частности к системам подсветки микроскопа.

Известны системы подсвета микрос5 копа, содержащие последовательно установленные вдоль оси источник света, коллектор, полевую диафрагму, коллиматор, апертурную диафрагму и конденсор (1).

Недостатком системы является невысокая равномерность освещенности.

Известна также система подсвета микроскопа, содержащая последовательно расположенные по оптической оси источник света, коллектор, выполненный нэ двух одиночных положительных линз, систему переменного увеличения, выполненную иэ двух одиночных плоско-выпуклых линз, установленных с воэможностью перемещения оси, полевую диафрагму, систему осветительных линз, включакщую двухсклеенную и одиночную линзы, апертурную диафрагму и конденсор (2). .25 укаэанная система имеет недостаточно высокую равномерность освещения, Цель изобретения - повышение Pasномерности освещения.

Указанная цель достигается тем, что в системе, подсветки микроскопа, содержащей последовательно расположенные по оптической оси источник све та, коллек тор, выполненный иэ двух одиночных положительных линз, систему переменного увеличения, выполненную из двух одиночных плосковыпуклых линз, установленных с возможностью перемещения в направлении вдоль оси, полевую диафрагму, систему осветительных линз, включающую двухсклеенную и одиночную линзы, апертурную диафрагму н конденсор, плоско-выпуклые линзы обращены друг к другу плоскими поверхностями.

На чертеже представлена оптическая схема предлагаемой системы под- светки микроскопа.

Система включает два канала освещения — в проходящем свете 1 и в отраженном свете 2.

Канал освещения в проходящем свете 1 состоит иэ источника света 3, коллектора 4, выполненного иэ двух одиночных линз 5 и 6, системы переменного увеличения 7, выполненную иэ двух плоско-выпуклых линз 8 и 9, 990091

Формула изобретения

BIIHHHH Заказ 11164/79 Тираж 509 Подписное

Филиал ЧПП Патент, r, Ужгород, ул. Проектная, 4 обращенных плоскими сторонами друг к другу.

Система переменного увеличения 7 установлена с возможностью перемещения вдоль оси.

За системой переменного увеличе-, 5 ния 7 установлена полевая диафрагма 10, за которой последовательно ус тановлены система осветительных линз

11, состоящая из двухсклеенной 12 и одиночной 13 линз, апертурная диаф- 10 рагма 14 и конденсор 15.

?остроение канала освещения в от- раженном свете идентично каналу в проходящем свете. Источник излучения

3 общий для обоих каналов. 15

Система работает следующим образом.

Свет от источника света 3 через коллектор 4 поступает на систему с переменным фокусным расстоянием 7 и затем через полевую диафрагму 10, Э1 систему осветительных линз 11, конденсор 15 попадает на объект 16.

Апертурная диафрагма 14 располагается в задней апертуре конденсора

15, что позволяет работающему на микроскопе оператору регулировать интенсивность подсветки. Полевая диафрагма 10 позволяет регулировать освещаемую площадь в соответствии с размерами объекта 16. для уменьшения продольных размеров системя направление оптической оси можно изменить, введя зеркальный элемент 17, установленный, например, между линзами 12 и 13 осветительной системы линз 11 °

Укаэанная система проста по конструкции и улучшает условия освещения.

Система подсветки микроскопа, содержащая последовательно расположенные по оптической оси источник света, коллектор, выполненный из двух одиночных положительных линз, систему переменного увеличения, выполненную из двух оДиночных плоско-выпуклых линз, установленных с воэможностью перемещения вдоль оси, полевую диафрагму, систему осветительных линз, включающую двухсклеенную и одиночную линзы, апертурную диафрагму и конденсор, отличающаяся тем, что, с целью повышения равномерности освещения, плоско-выпуклые линзы обращены друг к другу плоскими поверхностями.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Скворцов Г.Е. и др. Микроскопы. Л., Машиностроение, 1969, с. 299-301.

2 ° Там же, с. 254-255 (прототип).