Устройство для измерения деформаций тонкостенных оболочек

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскик

Социалистических

Ресвублил ii>991159 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 18 ° 08 ° 81 (21)3332199/25-28

{И1М. Кд.з

G 01 .В 11/1б с присоединением заявки Нов

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий

{23) Приоритет—

Опубликовано 23д183. Бюллетень Мо 3

{531 УДК,531.781.2 (088,8) Дата опубликования описания 230183 (72} Автор изобретения

Ю.К.Щербаков

Московское ордена Ленина, ордена Октябрьской Революции и ордена Трудового Красного Знамени высЙе технически@ училище им. Н .Э. Баумана (71) Заявитель (54 ) . УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЯ

ТОНКОСТЕННЫХ ОБОЛОЧЕК

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к изме- рениям деформаций оптическими методами. г

Известно устройство для измерения деформаций, содержащее осветитель и, установленные по ходу оптического пучка, матовый полупрозрачный экран, с нанесенным на него растром, светоделитель и фоторегистратор 1 1.

Недостатком устройства является низкая скорость обработки информации, вызванная необходимостью двухэкспозиционного фотографирования оболочки для получения эталонного растра.

Наиболее близким к данному изобретению по технической сущности является устройство для измерения деформаций тонкостенных оболочек, содержащее корпус, закрепленный на нем осветитель, установленные по ходу оптического пучка прозрачный экран с растром, светоделитель в виде полупрозрачного зеркала эталонную зеркальную оболочку, установленную в оптический пучок и располагаемую перпендикулярно световому пучку, отраженному от светоделителя, и фоторегистратор (2 3Недостатком устройства является недостаточная точность измерений, вызванная низким контрастом муаровой картины, из-за многократного переотражения пучков между объектом и эталонной поверхностью. цель изобретения — повышение точности измерений эа счет .исключения переотражения пучков и повышения контраста муаровой картины.

Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для измерения деформаций тонкостенных оболочек, содержащем корпус, закрепленный на нем осветитель, установленные по хо" ду оптического пучка прозрачный экран с растром, светоделитель в виде полупро зрачного зеркала, эталонную зеркальную оболочку, установленную в оптический пучок, и фоторегистра ОР, эталонная зеркальная оболочка установ" лена в оптический пучок, проходящий через светоделитель, перпендикуляр" но ему.

На чертеже изображена оптическая .схема устройства, устройство для измерения деформаций тонкостенных оболочек содержит корпус 1, закрепленный на нем осветитель 2, установленные по ходу on991159

Формула изобретения

ВНИИПИ Заказ 107/54 Тираж 600 Подписное

Филиал ППП "Патент", r.Óæãoðoä, ул.Проектная,4 тического пучка прозрачный экран 3 с растром 4, светоделитель 5 в виде полупрозрачного зеркала, эталонную зеркальную оболочку 6,. установленную в оптический пучок, проходящий через светоделитель 5, и фоторегистратор 7.

Устройство работает следующим образом.

Оптический пучок от осветителя 2 проход.;т через прозрачный экран 3, р и попадает на светоделитель 5, выполненный. в виде полупрозрачного зеркала, который делит оптический пучок на две части.

Часть излучения, проходящая через светоделитель 5, пойадает на эталонную зеркальную оболочку 6,отражается от нее и светоделителем 5 направляется на фоторегистратор 7. это излучение формирует эталонный растр.

20 другая часть излучения отражается светоделителем 5 на контролируемую, тонкостенную оболочку 8, отражается от нее и через светоделитель 5 проходит к фоторегистратору 7. Это излучение формирует рабочий растр.

Взаимодействие двух растров вызывает появление интерполос в виде муаровой картины, которая регистрируется фоторегистратором 7, и по ней определяют деформации контролируе- 3О мой тонкостенной оболочки 8.

Применение предлагаемога устройства позволяет повысить контраст муаровой картины, упрощает настройку и повышает точность определения деформаций тонкостенных оболочек так как исключает переотражение растра от эталонной поверхности. устройство для измерения деформаций тонкостенных оболочек, содержащее корпус, закрепленный на нем осветитель, установленные по ходу оптического пучка прозрачный экран с растром, светоделитель в виде полупрозрачного зеркала, эталонную зеркальную оболочку, установленную в оптический пучок, о т л и ч а ю щ е- . е с я тем, что, с целью повьИения точности измерений, эталонная зеркальная оболочка установлена в оптический пучок, проходящий через светоделитель, перпендикулярно ему.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Теокарис П. Иуаровые полосы при исследовании деформаций. И. Икр 1972 с. 190-199.

2. Авторское свидетельство СССР

Р 696281 кл, .6 01 В ll/16gl977 (прототип) °