Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком
О П И С А Н И Ej
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Союз Советских
Социалистических
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (63) Дополнительное к авт. саид-ву(22) Заявлено 170781 (23) 3328093/18-21. с присоединением заявки Й9—
Р М К з
Н 01 G 9/24
Государственный комитет
СССР по делам нзобретеннй н открытий (23) Приоритет—
Опубликовано 1502.83, Бюллетень I@26
Дата опубликования описания 150283 (Я3 УДК 621. 319..4(088.8) М.Н. Дьяконов, Ю.С. Капшин, В.С. МуждаСф, И.В. Нетупский, В.A. Носкин н С.Д. Ханйн а у
Г (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54 ) СПОСОБ ОТБРАКОВКИ, КОНДЕНСАТОРОВ С ОКСИДНЫМ
ДИЭЛЕКТРИКОМ
Изобретение относится к радиоэлектронной технике и может быть использовано в производстве конденсаторов с оксидным диэлектриком.
Известен способ испытаний конденсаторов с оксидным диэлектриком, заключающийся в измерении дисперсии тока заряда (или разряда ) при подаче медленно возрастающего напряжения или синусоидального напряжения инфразвуковых частот (1 J.
Конденсаторы разбраковывают.по величине отклонения от среднего значения измеряемого тока в данной выборке. Недостатком данного способа является очень низкая чувствительность, что делает этот способ применимым для конденсаторов системы металл-оксид-металл.
Наиболее близким по технической сущности к изобретению является спосо6 отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком включающий измерение тока утечки (22 °
Конденсатор считается годным, если величина измеряемого тока меньше величины, нормйрованной техническими условиями для данного типа конденсаторов. Считается при этом, что чем меньше ток утечки конденсатора, тем более он надежен в эксплуатации.
Поэтому для особоответственной аппаратуры из готовых изделий делают выборку конденсаторов с минимальными токами утечки. На практике, однако, даже в этом случае некоторые конденсаторы при эксплуатации быстра выходят из строя.
Цель изобретения — повышение точ: ности отбраковки.
Цель достигается тем, что согласно способу отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком, включающему измерение тока утечки, одновременно с измерением тока утечки измеряют флуктуацию его, а отбраковку конденсаторов производят. по аномальному значению флуктуаций тока утечки.
Пример. Конденсаторы такта ловые типа К52-1 номинала 100 B
3,3 мкф в количестве 24 шт. после изготовления разбраковываются по вели чине тока утечки обычным способом:
25 на конденсатор подается рабочее напряжение 100 В и измеряется ток .утечки..Все конденсаторы признанЫ годными,так как величина тока утечки у всех конденсаторов меньше
30 1 мкА. Эатем эти конденсаторы раз997113
Формула изобретения
Составитель A. Салынский
Редактор М. Дылын Техред О.Неце, корректор В. Прохненко
Заказ 945/71 Тираж 701 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР,по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Филиал ППП "ПатЕнт", r. Ужгород, ул. Проектная, 4 браковываются цо предвагаемому способу: на конденсатор подается номи-, нальное (рабочее ) напряжение 100; В и измеряется, величйна тока утечки и его флуктуации. Спектр флуктуаций изучается с помощью анализатора, поэволяющего проводить изучение спектра сразу в двухстах равноотстоящих точках. Измеренные вели чины усредняются в режиме накопления (линейного или экспоненциального ) с помощью многоканального нако+
10 пителя за время 2 мин. Обнаружено, что на двух конденсаторах из всех измеренных. флуктуаций тока зйачительно (свыше 10 раз ) больше, чем на остальных, при этом по величине тока утечки все конденсаторы удовлетворяют. требованиям техничес. ких условий. Испытания на надежность показывают, что ток утечки конденсаторов, имеющих аномально большое зна .20 чение флуктуации тока, растет в процессе испытания; а у остальных конденсаторов — падает.
Предлагаемы способ отбраковки конденса- .роs..á-оксидным диэлектри- 2я ком позволяет повысить достоверност указанной операции, так как одновре» менно с отбраковкой явно деФектных конденсаторов выявляются изделия, потенциально ненадежные при эксплуатации.
При этом можно без дополнительных затрат времени проводить разбраковку всех изготавливаемых конденсаторов по качеству диэлектрической изоляции.
Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком, включающий измерения тока утечки, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью повышения точности отбраковки, одновременно с измерением тока. утечки измеряют флуктуацию тока утечки, а отбраковку конденсаторов производят по аномальному значению флуктуаций тока утечки.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1. Патент Японии 9 47-49660, кл. 59 Е 3122, 13.12.7?
2. Закгейм Л.Н. Электрические конденсаторы. М.-Л., Госэнергоиздат, 1963, с. 272 (прототип )..
