Патенты автора СКУРИХИН ВЛАДИМИР ИЛЬИЧ

Устройство для измерения механических величин // 1737287

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения усилий, давлений , вибраций, крутящих моментов, деформаций , механических напряжений и т.д

Устройство для измерения и топографии магнитных полей рассеивания вблизи поверхности объекта исследования // 1684761

Изобретение относится к информационно-измерительной технике, в частности к магнитометрии, и может быть использовано для исследований значений и топографии постоянных 1-1 переменных маг нитных полей объектов в широком диапазоне значений магнитной ич/дукции

Способ измерения механических величин с помощью сегнетоэластичного преобразователя // 1661593

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении как постоянных во времени, так и переменных механических величин, в частности усилий, давлений, вибраций, крутящих моментов, деформаций и механических напряжений

Способ определения параметров полосового фильтра // 1620962

Способ измерения механических величин // 1571436

Изобретение относится к измерительной технике

Способ измерения квадратурных составляющих периодических сигналов // 1525599

Изобретение относится к измерению активных и реактивных составляющих переменных напряжений

Способ измерения центральной частоты полосового фильтра // 1456911

Изобретение относится к технике измерений и служит для повьппения точности измерения центральной частоты полосового фильтра

Способ измерения дискретного спектра времен релаксации диэлектрических материалов и сред и устройство для его осуществления // 1402910

Изобретение относится к способам и средствам ана.пиза свойств веществ и сред диэлькометрическими методами и может быть использовано при исследовании свойств, структуры и строения диэлектрических материалов по дискретному спектру времен релаксации