Эмиссионная спектрометрия (G01J3/443)
G Физика(403185)
G01 Измерение (счет G06M); испытание
(233827)
G01J Измерение интенсивности, скорости или спектрального состава, поляризации, фазы или импульсных характеристик инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей; колориметрия; радиационная пирометрия (источники света F21,H01J,H01K,H05B; определение свойств веществ оптическими средствами G01N)
(4742)
G01J3/443 Эмиссионная спектрометрия(25)
Изобретение относится к способу и аппарату для определения содержания элементов в пробах жидкого металла или сплава. Бесконтактный непогружной способ измерения количества одного или более элементов в пробе жидкого металла или сплава содержит этапы, на которых: получают пробу жидкого металла или сплава, подлежащую анализу, поддерживают или размещают указанную пробу в контейнере пробы, который по существу является открытым сверху, нагревают или поддерживают пробу при требуемой температуре или при температуре выше требуемой, размещают измерительную головку и/или контейнер пробы так, чтобы измерительная головка находилась выше поверхности пробы, причем измерительная головка содержит возбуждающую оптику, которая соединена с лазером, приемную оптику для приема излучения от пробы и открытую снизу камеру, обеспечивающую удержание плазмы и стабильные условия среды, через которую возбуждающая оптика направляет лазерный световой пучок, при этом измерительная головка оснащена датчиком дистанции, позиционируют приемную оптику на заранее заданном расстоянии приблизительно 5-100 мм, а предпочтительно приблизительно 10-50 мм от поверхности пробы, так чтобы собрать излучение от определенной части плазменного факела, причем приемную оптику располагают под углом к поверхности пробы в интервале приблизительно 30-75°, и при помощи датчика дистанции измеряют расстояние до поверхности пробы, и автоматически перемещают приемную оптику или контейнер пробы, чтобы установить приемную оптику на заранее заданном расстоянии от поверхности пробы, направляют струю инертного газа через газовый канал в указанную открытую снизу камеру, испускают один или более лазерных импульсов на пробу посредством возбуждающей оптики, принимают испущенное световое излучение от пробы посредством приемной оптики и передают на детектор для регистрации спектральной информации обнаруженного светового излучения, сравнивают один или более выбранных пиков излучения с калибровочными значениями, чтобы произвести количественное определение одного или более элементов.
Изобретение относится к области атомно-эмиссионного анализа и касается способа измерения параметров спектральных линий при определении содержания примесей в металлах и сплавах. При осуществлении способа продувают образец потоком аргона высокой частоты, затем осуществляют зажигание периодического разряда и фокусировку излучения на входную щель спектрографа.
Изобретение относится к области спектроскопии и касается устройства и способа для исследования жидких биологических образцов при высоком давлении. Устройство включает в себя спектрометр, который обеспечивает возможность Фурье-преобразования сигнала, узел формирования холодного фона, зеркало.
Изобретение относится к области спектроскопии и касается устройства и способа для исследования жидких биологических образцов в инфракрасном диапазоне. Устройство включает в себя спектрометр, который обеспечивает возможность Фурье-преобразования сигнала, узел формирования холодного фона, зеркало.
Изобретение относится к области ядерной техники, в частности к способам аналитического определения массового содержания Ru, Rh, Pd, Mo и Zr в нитридном облученном ядерном топливе. Способ включает осаждение Ru, Rh, Pd, Mo и Zr из раствора нитридного облученного ядерного топлива с последующим определением их массового содержания с использованием атомно-эмиссионного спектрального метода с дуговым источником спектров.
Изобретение относится к области измерительной техники и касается способа определения толщины двухслойного покрытия Ni-Cu методом атомно-эмиссионной спектрометрии. Способ включает в себя изготовление градуировочных образцов, нанесение на них гальванического покрытия, растворение покрытия градуировочных образцов в смеси кислот, измерение содержания никеля и меди в полученном растворе и измерение толщины покрытия градуировочных образцов на атомно-эмиссионном спектрометре.
Изобретение относится к области измерительной техники и касается способа измерения концентрации элементов с использованием ручного анализатора. Способ включает в себя выдачу пачки лазерных импульсов с частотой повторения от 0,1 до 50 кГц, причем каждый импульс характеризуется длительностью от 0,01 до 1,5 нс и энергией 50-1000 мкДж.
Изобретение относится к области атомно-эмиссионного спектрального анализа и касается способа определения содержания элементов и форм их присутствия в дисперсной пробе и ее гранулометрического состава. Способ включает в себя ввод пробы в факел плазмы, регистрацию последовательности атомно-эмиссионных спектров во время поступления пробы в плазму и вычисление интенсивностей аналитических спектральных линий с учетом фона под линиями всех искомых элементов в зависимости от времени поступления пробы в факел плазмы.
Изобретение относится к аналитической химии. Способ подготовки проб для определения содержания свинца в пиролизной жидкости для атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой включает отбор пробы пиролизной жидкости в количестве от 0,2 до 0,7 г, добавление азотной кислоты и термическое разложение в муфельной печи.
Изобретение относится к области спектроскопии и касается способа обнаружения элемента в образце. Способ осуществляется с помощью системы спектроскопии возбуждения лазерным пробоем (LIBS), включающей в себя первый лазер, второй лазер, спектрометр и детектор.
Изобретение относится к спектральной измерительной технике. Устройство для регистрации эмиссии образца в среднем диапазоне инфракрасного спектра содержит внешний источник излучения, конденсорную систему, первое плоское зеркало, сферическое зеркало.
Изобретение относится к области спектрального анализа и касается способа идентификации фарфора по виду материала. Способ включает в себя освещение исследуемых образцов, регистрацию спектров фотолюминесценции и создание по спектральным характеристикам обучающей выборки с последующим формированием базы данных в виде 3-х групп образцов по виду материала: костяной фарфор, мягкий и твердый.
Система и способ исследований с помощью совместного использования лиэс и ик-спектроскопии поглощения // 2616777
Изобретение относится к лазерно-искровой эмиссионной спектрометрии. Система (102) для определения свойств образца (114) содержит ЛИЭС-детектор (104, 106) и детектор инфракрасного поглощения (108, 110) для исследования образца (114) с целью создания спектральных данных ЛИЭС и спектральных данных инфракрасного поглощения, соответственно; и процессор данных (112), предусмотренный для применения по меньшей мере одной хемометрической модели прогнозирования, каждая из которых построена для установления связи, предпочтительно количественной связи, между признаками объединенных спектральных данных ЛИЭС и поглощения с отдельным специфическим свойством образца, с комбинированным набором данных, выведенным из по меньшей мере частей данных ЛИЭС и данных поглощения, для создания из него определения, предпочтительно количественного определения, специфического свойства, связанного с указанной моделью.
Способ лазерно-искрового эмиссионного определения бериллия в металлических сплавах и порошках // 2583858
Изобретение относится к области аналитической химии элементного анализа и может быть использовано для лазерно-искрового эмиссионного определения бериллия в металлических сплавах и порошках. Способ основан на воздействии на поверхность исследуемого образца сфокусированного лазерного излучения с длительностью импульса 240-250 мкс и энергией импульса 1,3-1,4 Дж.
Изобретение относится к области спектрального анализа и касается способа и устройства атомно-эмиссионного анализа нанообъектов. Способ включает в себя испарение нанообъектов лазерным пучком и анализ нанообъектов по их свечению.
Спектрометр и способ спектроскопии // 2571440
Изобретение относится к области спектрометрии и касается искрового оптико-эмиссионного спектрометра. Спектрометр содержит искровой источник, входную щель, тороидальное зеркало для направления света через входную щель, несколько дифракционных решеток и матричный приемник.
Способ контроля структуры магниевого сплава // 2558632
Изобретение относится к области материаловедения и может быть использовано при оценке влияния структуры магниевого сплава на аналитический сигнал. Способ контроля структурных изменений в магниевом сплаве включает измерение интенсивностей входящих в состав магниевого сплава химических элементов эмиссионно-спектральным методом на исходных и термообработанных в специальных контейнерах образцах, что позволяет обеспечить высокую точность и информативность контроля элементного состава и структуры магниевого сплава.
Изобретение относится к области аналитической химии элементного анализа и может быть использовано для лазерно-искрового эмиссионного определения лантана, церия, празеодима, неодима в металлических сплавах и порошках.
Способ контроля структуры стали // 2518292
Изобретение относится к области материаловедения и может быть использовано при оценке влияния структуры стали на аналитический сигнал при проведении эмиссионного спектрального анализа элементного состава.
Способ содержит следующие этапы: стальную полосу с покрытием приводят в движение по дугообразной траектории на наружной поверхности (813) барабана (8), вращающегося вокруг оси (51), с цилиндрической стенкой, контактно направляющей полосу, абляционный лазерный луч направляют в полости внутри цилиндрической стенки таким образом, чтобы его оптическое падение происходило по оси нормали (41) к наружной поверхности барабана в точке-мишени (11) контакта полосы и барабана, прохождение луча через стенку происходит через отверстие (811) стенки, прозрачное для луча.
Изобретение относится к области нелинейной оптики, а именно к спектральной измерительной технике, и может быть использовано для исследования структуры различных веществ, в том числе биологических объектов, по полученным эмиссионным спектрам в ИК (инфракрасном) среднем диапазоне.
Изобретение относится к геологическим, экологическим, технологическим и др. .
Изобретение относится к спектральному анализу. .
Изобретение относится к измерительной технике. .
Изобретение относится к оптической спектроскопии. .
Универсальный анализатор // 2094778
Изобретение относится к магнитным измерениям, исследованию состава веществ путем определения их магнитных, магнито-оптических и спектральных характеристик и может найти применение для качественного и количественного контроля состава пород, технологических продуктов, биологических объектов и т.п.
Оптико-спектральный анализатор // 2094777
Изобретение относится к аналитической химии и может быть использовано для установления содержаний примесных компонентов в пробах и при аттестации стандартных образцов и аналогичных им по назначению веществ, в частности при определении малых содержаний компонентов (примесей) в твердых монолитных веществах и материалах.
