Прибор для измерения коэффициента отражения при наклонном падении волны на образец

 

Класс 21а4 71 № 107448

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Д. И. Мировицкий

ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ

ПРИ НАКЛОННОМ ПАДЕНИИ ВОЛНЫ НА ОБРАЗЕЦ

Заявлено 14 мая 1956 г. за М 551627 в Комитет ио делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Предмет пзооретения

Предметом изобретения является прибор, позволяющий измерять коэффициент отражения волн, наклонно падающих на образец. В отличие от существующих приборов, непрозрачный мало отражающий плоский экран установлен перпендикулярно плоскости образца и расположен относительно него таким образом, что между краем экрана и измеряемым образцом получается узкая щель, поле диффракции которой воздействует на приемную антенну.

Обычно определение коэффициента отражения производится по максимальному. и минимальному суммарным сигналам. Величина сигнала измеряется приоором при синфазном и противофазном суммировании отраженного сигнала с сигналом прямого прохождения. Это достигается путем изменения в процессе измерения расстояния между антеннами и образцом. Такой способ весьм а трудоемок и требует высокой квалификации оператора, причем в применяемой аппаратуре расстояние между антеннами и образцом должно быть значительное, чтобы по возможности исключить взаимодействие между антеннами.

Предлагаемый способ измерения и построенный на базе его прибор отличается тем, что определение коэффициента отражения от образца производится по величине сигнала, прошедшего через щель между кромкой экрана и поверхностью образца. Таким образом вместо измерения сигнала, регулярно отражаемого от образца, измеряют сигнал, диффрагированный на крае экрана и участке поверхности образца, располоикенного вблизи искусственно созданной в приборе щели.

Прибор, осуществленный по описанному сп особу, обл а дает более высокой точностью, компактностью и позволяет существенно уменьшить размеры измеряемых образцов.

Прибор для измерения коэффициента отражения при наклонном падении волны на образец с применением непрозрачного малоотра.№ 107448

Отв. редактор Л. Г. Голандский

Стандартгиз. Подп. к печ. 25/II 1958 г. Объем 0,125 п. л. Тираж 800. Цена 25 коп.

Типография Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Неглинная, д. 23. Зак. 1041 жающего плоского экрана, установленного между антеннами и служащего для устранения прохождения прямого сигнала, о т л и ч а ю щ и йс я,;тем, что, с целью увеличения точности измерений, экран установлен перпендикулярно плоскости ооразца таким образом, что между ним и измеряемым образцом имеет-. ся узкая щель, поле дифракции которой измеряется приемной антенной.

Прибор для измерения коэффициента отражения при наклонном падении волны на образец Прибор для измерения коэффициента отражения при наклонном падении волны на образец 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области акустических и радиоизмерений и применяется для определения модуля и фазы коэффициента зеркального отражения листовых материалов и плоских поверхностей веществ

Изобретение относится к тестовому блоку базовой станции для тестирования базовой станции в мобильной системе связи, в частности к способу для измерения коэффициента стоячей волны для передающей антенны и приемной антенны, который может тестировать радиоблок базовой станции

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использованo для измерения полной входной проводимости антенн

Изобретение относится к измерению электрических величин и может быть использовано в производстве существующих и новых поглощающих материалов типа углепластиков, применяется в СВЧ диапазоне, а также для контроля электрических параметров диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и может быть использовано для измерения комплексного коэффициента отражения оконечных нагрузок в стандартных коаксиальных и волноводных каналах

Изобретение относится к радиотехнике и может использоваться в радиопередающих устройствах

Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах (СВЧ) и может быть использовано при создании приборов и систем для определения параметров СВЧ-устройств с стандартных каналах и для антенных измерений

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерениям радиофизических характеристик радиопоглощающих покрытий (РПП)

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано при создании панорамных измерителей параметров СВЧ устройств
Наверх