Способ определения коэффициента отражения поверхности вещества

 

Изобретение относится к области акустических и радиоизмерений и применяется для определения модуля и фазы коэффициента зеркального отражения листовых материалов и плоских поверхностей веществ. Цель: повышение точности и снижение трудоемкости измерений коэффициента зеркального отражения от плоской поверхности вещества. Над плоскостью поверхности исследуемого вещества располагается изотропный отражатель и облучается вместе с ней плоским полем фиксированной частоты (и поляризации в случае электромагнитного поля), формируемым антенной. Новым является то, что приемная антенна совмещена с передающей, ось ее направлена в точку проекции изотропного отражателя на испытуемую подстилающую поверхность, а перемещается по нормали к поверхности изотропный отражатель. При этом фиксируются отношение максимальной и минимальной принимаемых антенной мощностей; минимальная высота отражателя над границей раздела, соответствующая максимуму принимаемого сигнала в антенне. Это позволяет выполнять измерения комплексного коэффициента зеркального отражения различных веществ (например, поверхности грунта) на фиксированной частоте при фиксированном угле места. Модуль коэффициента зеркального отражения и фаза коэффициента зеркального отражения определяются по приведенным формулам.

Изобретение относится к области акустических и радиоизмерений и применяется для определения модуля и фазы коэффициента зеркального отражения листовых материалов и плоских поверхностей веществ.

Известен способ определения коэффициента отражения радиопоглощающего материала, при котором передающая и приемная антенны располагаются вблизи его поверхности и частота излучаемого электромагнитного поля изменяется до получения в приемной антенне максимальной или минимальной величины принимаемой мощности, после чего обе антенны одновременно поворачиваются на 90 градусов для смены поляризации падающего на материал излучения [1].

Наиболее близким по своей идее, то есть прототипом изобретения, является способ определения модуля и фазы коэффициента отражения радиопоглащающего материала (РПМ) [2] . Передающая антенна облучает приемную антенну и РПМ, отражающий сигнал. Приемная антенна принимает оба сигнала, которые складываются с разными фазами. При перемещении РПМ в направлении нормали к его поверхности измеряют максимальную и минимальную величины принимаемого сигнал.

К недостаткам прототипа следует отнести необходимость точной фиксации углов падения электромагнитной волны на РПМ 1 и 2 , соответствующих максимальной и минимальной величинам принимаемого сигнала, что необходимо выполнять механическими или другими средствами; возможность определения только средних модуля и фазы коэффициента отражения в диапазоне (1; 2) углов падения электромагнитной волны на РПМ; невозможность определения модуля и фазы коэффициента отражения РПМ, стационарно установленных на различных объектах (например, пол и стены безэховых камер).

Предлагаемый способ позволит избежать указанных ограничений при измерения модуля и фазы коэффициента отражения РПМ, а также других материалов и веществ, например грунта на открытых измерительных установках, изменяющего свои свойства в зависимости от погодных условий.

Это достигается тем, что на место приемной антенны устанавливается перемещаемый по нормали к поверхности изотропный отражатель, а приемная антенна совмещается с передающей. При перемещении отражателя фиксируется отношение максимальной и минимальной принимаемых антенной мощностей c = Pmax/Pmin и из него находится модуль коэффициента зеркального отражения вещества r. Для определения его фазы фиксируется минимальная высота ho отражателя над границей раздела, соответствующая максимуму принимаемого антенной сигнала; расстояние d между соседними положениями отражателя, обеспечивающими максимум принимаемого сигнала в антенне.

Наиболее рациональным является перемещение отражателя от границы раздела и фиксации высот ho и ho+d, соответствующих первому и второму максимумам принимаемого сигнала.

Способ определения модуля и фазы коэффициента зеркального отражения осуществляется следующим образом.

Над плоской поверхностью контролируемого вещества на некоторой высоте h располагается изотропный отражатель. Он и поверхность контролируемого вещества одновременно облучаются плоским полем фиксированной частоты (и поляризации в случае электромагнитного поля). Волна формируется приемопередающей антенной, ось которой направлена в точку проекции изотропного отражателя на испытуемую подстилающую поверхность. Таким образом, при измерении комплексного коэффициента зеркального отражателя реализуется схема моностатической локализации изотропного отражателя, находящегося над подстилающей поверхностью.

Антенна принимает 4 луча, прошедших разными путями и переотраженные изотропным отражателем [3]. Амплитуда принимаемого поле E описывается выражением где Eо амплитуда поля в точке приема в отсутствии поверхности вещества; k = 2/ - волновой вектор, - длина волны электромагнитного поля;
- угол места (скольжения) при падении поля на поверхность вещества ( = 90o - , где - угол падения).

Отсюда максимальная и минимальная принимаемые мощности
Pmax = E20 (1 + r)4
и
Pmin = E20 (1 - r)4,
и модуль коэффициента зеркального отражения вещества r определяется выражением

Из выражения (1) следует, что при изменении высоты изотропного отражателя над поверхностью вещества максимальная (или минимальная) мощность принимается антенной с периодом

Поэтому фаза коэффициента зеркального отражения вещества находится из формулы

Экспериментальные исследования показали, что данный способ позволяет полностью исключить необходимость измерения углов меcта падения поля на поверхность вещества , определяя их из формулы (3) с точностью в 3-4 раза более высокой, чем расчетные значения, полученные из геометрических соотношений.

Источники информации
1. Авторское свидетельство СССР N 1290201 кл. G 01 R 27/06, 02.01.85.

2. Авторское свидетельство СССР N 1219984 кл. G 01 R 27/06, 05.07.84 (прототип).

3. Андреев А.Ю., Богин Л.Ю., Кобак В.О., Леонтьев В.В. О рассеянии электромагнитных волн на телах вблизи границы раздела. "Радиоэлектроника и электроника", 1990, т. 35, N 4.


Формула изобретения

Способ определения модуля и фазы коэффициента зеркального отражения плоских поверхностей веществ, заключающийся в том, что исследуемое вещество облучают источником колебаний фиксированной частоты посредством антенны, расположенной над поверхностью исследуемого вещества, затем изменяют взаимное положение исследуемого вещества и отраженного поля, измеряют максимальное и минимальное значения принимаемого сигнала и определяют модуль и фазу коэффициента зеркального отражения поверхности исследуемого вещества, отличающийся тем, что над поверхностью исследуемого вещества в зоне облучения располагают изотропный отражатель, антенну фиксируют над этой поверхностью, направляя ее ось на проекцию отражателя на поверхности исследуемого вещества, а измерения максимального и минимального значений принимаемого антенной сигнала производят, перемещая изотропный отражатель перпендикулярно поверхности исследуемого вещества, после чего находят отношение этих значений и минимальную высоту отражателя над поверхностью исследуемого вещества, при которой антенной принимается максимальный сигнал, а также расстояние между двумя соседними положениями отражателя в направлении его перемещения, при которых обеспечивается максимальная величина принимаемого антенной сигнала, и, используя полученные параметры, модуль и фазу коэффициента зеркального отражения определяют из соотношений

где r - модуль коэффициента зеркального отражения поверхности вещества;
- фаза коэффициента зеркального отражения поверхности вещества;
C = Pmax / Pmin - отношение значений максимальной и минимальной мощностей принимаемого антенной сигнала;
h0 - минимальная высота изотропного отражателя над поверхностью исследуемого вещества, при которой антенной принимается максимальный сигнал;
d - расстояние между двумя соседними положениями отражателя в направлении его перемещения, при которых обеспечивается максимальная величина принимаемого антенной сигнала.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано для измерений параметров материалов в сантиметровом, миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах длин волн

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано в измерителях комплексных параметров импульсных СВЧ-цепей и сигналов

Изобретение относится к радиотехнике и может быть использовано в измерителях комплексных параметров СВЧ-цепей и сигналов

Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах и может быть использовано при измерении комплексных коэффициентов отражения, комплексных коэффициентов передачи, полных сопротивлений СВЧ-устройств различного целевого назначения

Изобретение относится к радиоизмерительной технике

Изобретение относится к технике СВЧ и может быть использовано для измерения обратных потерь ферритовых приборов СВЧ, работающих в режиме заданного уровня отраженной мощности (на нагрузку с заданным КСВн) на высоком уровне мощности

Изобретение относится к области радиотехнических измерений и может быть использовано для измерения коэффициента затухания нагрузок с переменной фазой, скользящих короткозамыкателей, переменных фазовращателей

Изобретение относится к тестовому блоку базовой станции для тестирования базовой станции в мобильной системе связи, в частности к способу для измерения коэффициента стоячей волны для передающей антенны и приемной антенны, который может тестировать радиоблок базовой станции

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использованo для измерения полной входной проводимости антенн

Изобретение относится к измерению электрических величин и может быть использовано в производстве существующих и новых поглощающих материалов типа углепластиков, применяется в СВЧ диапазоне, а также для контроля электрических параметров диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и может быть использовано для измерения комплексного коэффициента отражения оконечных нагрузок в стандартных коаксиальных и волноводных каналах

Изобретение относится к радиотехнике и может использоваться в радиопередающих устройствах

Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах (СВЧ) и может быть использовано при создании приборов и систем для определения параметров СВЧ-устройств с стандартных каналах и для антенных измерений

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерениям радиофизических характеристик радиопоглощающих покрытий (РПП)

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано при создании панорамных измерителей параметров СВЧ устройств

Изобретение относится к радиотехнике, в частности к радиолокации, и может быть использовано для измерения радиофизических характеристик (РФХ) радиопоглощающих покрытий (РПП)
Наверх