Индукционный профилометрический датчик

 

М. 108862 чика и уменьшается воздействие Hcl него помех. хоустойчивости, его неподвижная индукционная катушка помещена в дифференциальной магнитной цепи, выполненной, например, в виде якоря, пропущенного сквозь катушку и имеющего по концам диски, которые охватывают один из полюсных наконечников и входят в др той.

Предмет изобретения

Индукционный профилометрический датчик по авт. св. № 94112, о тличающийся тем, что, с целью увеличения чувствительности н помеОтв. редактор Л. Г. Голандский

Типография Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Неглинная, 23. Зак. 120.

Стандартгиз. Поди. к печ. 2/XI 1957 r, Объем 0,125 и. л. Тираж 430. Цена 25 код.

Индукционный профилометрический датчик Индукционный профилометрический датчик 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к средствам обнаружения движения активного устройства относительно поверхности для управления работой этого устройства при обработке поверхности

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при активном контроле шероховатости поверхности детали в процессе ее обработки преимущественно на станках токарной группы

Изобретение относится к области материаловедения, точнее к исследованию поверхностной структуры кристаллов и пленок в мезоскопическом диапазоне размеров методом атомно-силовой микроскопии и прецизионному инструментарию для научных и производственно-технологических исследований

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а именно к способам измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с применением сканирующего зонда (атомно-силового микроскопа, магнитосилового микроскопа)

Изобретение относится к транспортной измерительной технике и предназначено для использования при измерении ускорения автомобиля в системе электронного управления двигателем
Наверх