Способ контроля качества поверхности микропроволоки

 

CndcOB КОНТРОЛЙ itAHECt ВА ПОВЕРХНОСТИ МИКРЮГВЮВОЛОКИ, заключающийся в том, что хмпроЯ1фув« мое изделие помешают коннвцгрично BHgtM |ж кольцевого электроде, подаПэт на электрод постояшое высокое ващнокввне и измеряют частоту импульсов тока ко ровного разряда, о т ли ч a ю щ в и с я тем, что, с целью лхяяааввяя точ кости контроля, дополнительно хюдаот на электрод перекюнше нехдряжевв с нусовдальной формы, фС1рмцЕ уюг ямпупьсы с длительностью, ршиой фровгам ямпульсов , по aMnmiTyae которых eyiter о размерах ми1фсшеровностей a во чвЬ тоте - о плотности их расареаЬлзввяю 00 & 06 Сд

ае «и

СО08 СОЖТОНИХ

"ИВВВВВ В

Э@у 9 01.В 7/34

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИД=ТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3394929/1828 (22) 12. 02.82 (46) 07.08.83. Бюл, М 29 (72) Ш. А, Ба ваев, Г. В. Бочкарева и В. Я. Бавлаков, (71) Институт металлург ии и обогаще ния AH Казакской ССР . (53) 621.317.39: 531.717- (088. 8) (56) 1. Авторское свидетельство СССР

М 587319, кл. Q 01.В?/34, 1975.

2,. Авторское свидетельство СССР

М 567943, кп. Q 01 В 7/32, 1975.

3. Авторское свидетельство СССР

М 364885, кп. С 01 В.7/00, 1971 (прототип)..(54) (57) СПОСОБ КОНГРОДф у(дцщд »

ВА ПОВЕРХНОСТИ МИКРОЖОИОЛОКИ, ..- заключающийся в том, что нонтуоаируе мое иэделие помещают конпентрично: ри кольпевого электрода, "иодазот на электрод постоянное saaceaoe напряжеею и измеряют частоту иытульсов тока ке» ронного разряда, о т л и ч i ю щ и и .. с я тем, что, с далью иоиыавпня точ ности контроля, дополнительно подают на электрод переменное напряжение ca . нусоидальной формы, формируют нищшьсы с длительностью, равной фроайам нм пульсов, по амплитуде Iегоyaaa су4ят о размерах. микронеровностей, à se aao В

3857 .

f0

20

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества повер цюсти микропроволоки.

Иавестен способ контроля качества поверхности Mmpottposoaa, заключаю щийся в том, что измеряемое иэделие помещают в вакуумной .камере на фиясированном расстоянии от электрода и по величине тока.эмиссии судят а пара метрах шероховатос:и t, 1 .

Недостатком способа является невы сокая точность оценки качества ttosepa» ности, Известен также способ контроля качества поверхности микропроволоки, заключающийся в том, что измеряемое изделие устанавливают на фиксироваь» ном расстоянии относителЬно элептрода и создают между ними коронный разрЕЕ. и дополнительный импульсный коронный разряд регистрир;уют интервал Времвни между импульсами вспомогательюго и основного разрядов и по нему оущят о качестве поверхности 2 .

Наиболее близким к изобретенав по технической сущности является способ, контроля качества поверхности микро проволоки, заключающийся в том, что ионтролируемое изделие помещают ttes центрично внутри кольцевого элеяяропа, подают на электрод постоянное высоте напряжение и измеряют частоту импульсов тока коронного разряда, по кото» рой судят о качестве поверхности 3 ).

Недостатком известных способов является невысокая точность контроли, обусловленная наложением электронных лавин от близлежащих микронеровноотей.

Бель изобретения — повышение то% ности контроля.

Поставленная цель достигается тем, что, согласно способу контроля качества поверхности микропроволоки, заилкчающемуся в том, что контролируемое иэделие помещают концентрично внутри кольцевого электрода, подают на элекэрод постоянное высокое напряжение; и измеряют частоту импульсов тока коронного разряда, дополнительно подают. на электрод переменное aanptltetttte сь: иусоидальной формы, формируют импе сы о длительностью, равной фронтам импуль сов, по амплитуде которых судмй о Раэ-

ВНИИПИ Заказ S608/43 мерах микронеровностей, а по частоте о плотности их распределения.

Способ реализуется следующим обре з0мэ

Помещают контролируемое иэделие концентрично. внутри кольцевого электро да, подают на электрод постоянное высокое напряжение и переменное напряжение сииусоидальной формы. Формируют иэ импульсов тока коронного разряда импульсы с длщгельностью, равной фронтам импульсов .уока коронного разряда. Измеряют амплитуду и частоту импульсов, по амплитуде которых судят о размерах микронеровностей, а по частоте - о плотности их распределения.

На чертеже приведена блок схема устройства, реализующего способ.

Устройство содержит источник 1 высокого напряжения, балластный 2 и нагрузочный 3 резисторы, кольцевой электрод 4, дифференцируюшее звено S, источник 6 переменного напряжения, разделительную емкость 7 и амплитудный .анализатор 8, включенный на выходе дифференцирующего звена 5.

Устройство работает следующим образом.

При подаче высокого напряжения через балластный 2 и нагрузочный 3 реэис горы от источника 1 на кольцеsoN электрод 4 вблизи последнего начинаются процессы ионизации и возбуждения атомов и молекул газа, вызывающие образование электронных лавин. На электрод 4 подается также через разделщельную емкость 7 переменное напряже ие от источника 6 переменного напряжения. Амплитуда возникающих при этом импульсов коронного разряда -находится в прямой зависимости от длины разбега и продолжительности развития электронных лавин в коронирующем слое, причем, чем больше размеры микродефектов, тем больше амплитуда импульсойе

Выходной сигнал снимается с нагрузочного резистора 3 и через дифференцирующее звено 6, формирующее импуль50 сы с длительностью равной их фронтам которые подаются на вход многоканального амплитудного анализатора 8.

Изобретение позволяет повысить точность контроля качества поверхности мик55 роправолоки за счет пов ппеиия разрешах щей способности способа, ю

Тираж 602 Подписное

Филиал ППП Патент, г.

Ужгород, ул. Проектная, 4