Способ изготовления сцинтилляционных детекторов на основе монокристаллов n-терфенила и стильбена

 

Способ изготовления сцинтилляционных детекторов на основе монокристаллов n-терфенила и стильбена, включающий выращивание монокристалла, обработку его и контейнеризацию, отличающийся тем, что, с целью улучшения сцинтилляционных характеристик детекторов, перед контейнеризацией обработанные монокристаллы нагревают со скоростью 1 - 2 град/мин до 60 - 80oC и проводят изотермический отжиг в течение 3 - 5 ч с последующим охлаждением со скоростью 1 - 2 град/мин до комнатной температуры.

Изобретение относится к области регистрации и спектрометрии различных видов ядерного излучения и может быть использовано для изготовления сцинтилляционных детекторов. В настоящее время к сцинтилляционным детекторам, используемым в народном хозяйстве, особенно в аппаратуре специального назначения, предъявляются повышенные требования по сцинтилляционным характеристикам. Известен способ изготовления сцинтилляционных детекторов на основе органических монокристаллов [1] , заключающийся в том, что монокристаллическую булю распиливают на цилиндрические заготовки, обрабатывают их до нужного размера с последующей обработкой торцовой поверхности до зеркального блеска и упаковывают в герметичный контейнер. Недостатком этого способа является то, что при обработке монокристаллов в них возникают внутренние напряжения и дефекты структуры, которые приводят к ухудшению сцинтилляционных характеристик детекторов. Наиболее близким к заявляемому является способ изготовления сцинтилляционных детекторов на основе монокристаллов стильбена, а также n-терфенила (как чистых, так и активированных), включающий выращивание монокристалла, обработку и его контейнеризацию [2]. Способ заключается в том, что выращенную и отожженную монокристаллическую булю распиливают на нитяной пиле на цилиндрические заготовки, которые затем подвергают механической обработке до нужного размера, и полируют торцы до получения прозрачной зеркальной поверхности с последующей упаковкой в герметичные контейнеры. Недостатком этого способа является то, что при обработке монокристаллов в них также возникают внутренние напряжения и дефекты структуры, обусловленные деформацией сдвига. При непрерывном и длительном действии деформирующих усилий, во время обработки, дефектная область может распространиться на весь объем кристалла, что приведет к ухудшению его сцинтилляционных характеристик. Целью изобретения является улучшение сцинтилляционных характеристик детекторов на основе стильбена и n-терфенила. Указанная цель достигается тем, что в способе изготовления сцинтилляционных детекторов на основе монокристаллов n-терфенила и стильбена, включающем выращивание монокристалла, обработку его и контейнеризацию, перед контейнеризацией обработанные монокристаллы нагревают до 60-80oC со скоростью 1-2 град/мин и подвергают изотермическому отжигу при этой температуре в течение 3-5 ч с последующим охлаждением со скоростью 1-2 град/мин до комнатной температуры. Возврат деформированного кристалла в состояние, в котором он находился до деформации, является термически активируемым релаксационным процессом. Поэтому с ростом температуры количество несовершенств должно уменьшаться. При температурах ниже 60oC скорость снятия деформаций мала, однако отжиг при более высокой, чем 80oC, температуре может привести к порче обработанной поверхности монокристалла из-за его сублимации. Убыль количества дефектов при температуре отжига пропорциональна времени пребывания кристалла при этой температуре и общему количеству дефектов в исходном состоянии после деформации. На чертеже приведена зависимость светового выхода детекторов на основе монокристаллов n-терфенила (кривая a) и стильбена (кривая b) от времени отжига. Как видно из чертежа, увеличение времени отжига до значения больше 5 ч не приводит к дополнительному повышению светового выхода и, следовательно, является нетехнологичным, а отжиг меньше 3 ч не обеспечивает получения полного эффекта. Поскольку монокристаллы n-терфенила и стильбена обладают низкой теплопроводностью, то нагрев их и, равно, охлаждение со скоростью, большей 2 град/мин, приводит к возникновению в кристаллах дополнительных термонапряжений, а в случае монокристаллов стильбена - даже к их разрушению. Исследование влияния дополнительного отжига на сцинтилляционные характеристики монокристаллов n-терфенила и стильбена проводилось на детекторах с размерами сцинтиллятора 25x25 мм. У детекторов, изготовленных как по прототипу (10 шт.),так и по предлагаемому техническому решению (10 шт.), измеряли световыход. Часть детекторов на основе монокристаллов n-терфенила и стильбена, изготовленных по прототипу после измерения светового выхода, распаковывалась, а сцинтиллятор подвергался дополнительному обжигу согласно предлагаемому техническому решению, после чего вновь упаковывался в контейнер. Световыход этих детекторов оказался таким же, как у детекторов, сразу изготовленных по предлагаемому техническому решению, т. е. на 10-20% выше, чем у детекторов по прототипу. Кроме детекторов на основе чистых монокристаллов n- терфенила, исследовались детекторы на основе монокристаллов n-терфенила, активированных 1,4-дифенилбутадиеном. Результаты исследования влияния отжига на эти детекторы такие же, как и на детекторы на основе чистых монокристаллов стильбена и n-терфенила. Результаты исследования влияния дополнительного отжига на световыход детекторов приведены в таблице. Как видно из таблицы, все монокристаллы n-терфенила и стильбена в результате проведения отжига по предлагаемому способу улучшили свой световыход в среднем на 10 - 20% по сравнению с прототипом. Пример 1. Выращивали монокристалл стильбена диаметром 27 мм способом Бриджмена-Стокбаргера на ориентированной затравке, распиливали его на нитяной пиле на цилиндрические заготовки и обрабатывали их до размеров 25x25 мм. Затем помещали их в холодную печь, нагревали до температуры 70oC со скоростью 1 град/мин и подвергали изотермическому отжигу в течение 4 ч с последующим снижением температуры до комнатной со скоростью 1 град/мин. После этого монокристалл упаковывали в герметичный контейнер и измеряли световой выход. Световыход сцинтилляционного детектора составлял 1,3 УЕСВ. Пример 2. Выращивали монокристалл n-терфенила диаметром 27 мм способом Бриджмена-Стокбаргера на ориентированной затравке, распиливали его на нитяной пиле на цилиндрические заготовки и обрабатывали их до размеров 25x25 мм. Затем помещали обработанные заготовки в холодную печь и нагревали до температуры 70oC со скоростью 2 град/мин и подвергали изотермическому отжигу в течение 4 ч с последующим снижением температуры до комнатной со скоростью 2 град/мин. После этого монокристалл упаковывали в герметичный контейнер и измеряли световой выход. Световыход сцинтилляционного детектора составлял 1,75 УЕСВ. Таким образом, предлагаемое техническое решение по сравнению с прототипом обеспечивает следующее преимущество: позволяет улучшить световой выход детекторов в среднем на 10-20%, что приведет к более эффективному их использованию в народном хозяйстве.

Формула изобретения

Способ изготовления сцинтилляционных детекторов на основе монокристаллов п-терфенила и стильбена, включающий выращивание монокристалла, обработку его и контейнеризацию, отличающийся тем, что, с целью улучшения сцинтилляционных характеристик детекторов, перед контейнеризацией обработанные монокристаллы нагревают со скоростью 1 - 2 град/мин до +60 - 80oC и проводят изотермический отжиг в течение 3 - 5 ч с последующим охлаждением со скоростью 1 - 2 град/мин до комнатной температуры.

РИСУНКИ

Рисунок 1



 

Похожие патенты:

Дозиметр // 2141120

Изобретение относится к области регистрации альфа- и нейтронного излучений и пригодно для использования в комплексах и системах радиоэкологического мониторинга для установления зон радиационного загрязнения, а также для целей персональной дозиметрии

Изобретение относится к области ядерно-физических методов анализа элементарного состава, а именно к инструментальному активационному анализу, и может быть использовано, например, при массовом анализе геологических материалов на содержание делящихся элементов

Изобретение относится к ядерной физике, медицине и нефтяной промышленности, в частности для измерения рентгеновского, гамма и альфа- излучений, контроля трансурановых радионуклидов в среде обитания человека, неразрушающего контроля структуры твердых тел, трехмерной позитрон-электронной компьютерной томографии и др

Изобретение относится к области измерений ядерных излучений с помощью сцинтилляционных кристаллов

Изобретение относится к инструментальному активационному анализу

Изобретение относится к сцинтилляционной технике, предназначенной для регистрации -, -, - и рентгеновского излучения, и может быть использовано в радиационной технике, в дозиметрии, в ядерно-физических экспериментальных исследованиях, для контроля доз и спектрометрии -, -, - и рентгеновского излучения
Изобретение относится к аэрогамма-спектрометрическим методам и может быть использовано в условиях техногенной аварии, сопровождающейся диспергированием плутония, а также в процессе мероприятий, связанных с ликвидацией последствий этих аварий
Изобретение относится к неорганическим сцинтилляционным материалам, предназначенным для регистрации тепловых нейтронов и пригодным для создания на их основе радиационных детекторов для радиоэкологического мониторинга территорий
Наверх