Способ определения содержания компонентов в веществе

 

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН д< G 01 J 3/42

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 2415058/24-25 (22) 29.10.76 (31) 753039 (32) 30.10.75 (33) ЕТ (46) 23,05.86. Бюл, ¹ 19 (71) ИнсинееритоИМИСТО Иннотек Ой (Fr) (72) Йорма Йоланки, Илпо Сакселин и Ханну Пенни (РЕ) (53) 535.853(088.8) (56) Тарасов К. И. Спектральные приборы. Л.: Машиностроение, 1977, с. 15-17.

Там же, с. 218-219. (54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ COgEP)КАНИЯ КОМПОНЕНТОВ В ВЕЩЕСТВЕ, предусматривающем помещение исследуемого вещества в кювету, поочередное размещение этого вещества и вещества сравнения на пути излучения, имеющего заданную длину волны, сохранение каждого из упомянутых веществ в течение интервала времени на пути излучения, определение интенсивности излучения, прошедшего через исследуемое вещество и вешество сравнения, причем интенсивность определяют многократно и вычисляют содержание компонентов в веществе, о т л и ч а— ю шийся тем, что, с целью повышения точности, фильтруют исследуемое вещество для удаления анализируемого компонента. получают отфильтрованное и неотфильтрованное вещества, используют отфильтрованное вещество в качестве вещества сравнения, а неотфильтрованное — в качестве исследуемого вецсства, осуществляют Ilo очередную подачу вещества сравнения и исследуемого вещества в одну кювету, находящуюся на пути излучения, причем каждое вен;ество сохраняют в кювете на период времени порядка !

/4 с таким образом, что адин цикл смены упомянутых веществ в кювете составляет время порядка 1/2 ч, и используют сигнал о смене веществ в кювете для управления: регистрирующей схемой при измерении интенспвности излучения, прошедшего через исследуемое вещество и вещество сравнения.

"»(» (("» 1Р О

И .»;»<,;!/ < r. 7! (С>: !. ;: C!l Р С; Т

:1:. — I ".. t;il .(t-i Н(7! 0». . :»(», :< а.!. /(<, :Р С 7> К»7

" .(77»7/>:! 51; =1 1: 013 77-..;(.", т —,,;;-ll<»7.:- К/;".;-,7

1. едактор I . Я((олг

71-„д га

i 3,7":5, !70(.к7» (/! (75P0 . 07! I1C 0";".(, С», ; 1 " !. " r».

Г П Т И» 7 Р К И К 7 7:) М Р Р (> 7 (. 1f,(, 77РСII> И» ООГ Р f er(i> f: " Поj>»>1!»(01(!»(Ef 0C t »EI 7,»-.!7 П-»»-) L>rf!7»".-, 7»Л17 0D Р»» »7Р» 11Р (;7:, (/» ((-;,,, 5(К»- -,(» „- .

E7(»EIТО-;! (1 «> <»Пг(> < -!«г ! иста .. / .-17/- . c " ц(7 < f лr:= »7

/ с)Да с о! p,(i: т f",!»r;!Diii!t iT р» (г ! (ачи 7(0c и(и>. Р;,1(0I "0

2 . труоопр(7770!t 7>» .(1Ci!!i

7(777» 0Т<(»II.TT>Т:(> rf, !Ttir 7; -7(Р—..r .>., г со с 5 > ;-(77апа;п,t 0 (т . <»;-,- Р гь- 3 (>

Т0 (НИ(/ СБ » »1 l lt!T>»77 ",t;»t: i! р»1(» 7 п робно(7 I !,Нл(! < тп оп(и:-:.T7T - ст (.. (.(;с-.—

То<ЬИПЕ>ТР (/, tl;<»Т01(- С, -. ». > 0 т

С I РИР»»j(tiff<. 0 »! C i f! )! = Р; о зразо(:., 1.;/: — -((-»»»/.>,ir)/ -:j < » (7

„1 О 77 а (7 1 а, Т(» а> {«(1(Р ". .

<> (-По(!а >„,0 «) -"Кt t7 j! J/> TР»T i . .;;:, !. (.

Зака:; 2790/.">О

AI.I/ÁÏÃl : 1 0<7 —;- r!;i

IID0».(дол< 7 Н (П(0."i(0»7: 0,;;; .!»», -„..-: Р (Р» (tf -. >» 01),", .; 7, -. .(C TJ< (! -. т, - (->Р; .;.:;..Ta (»! 6

> (д(<» Р !»!»3 !»» * ) <» :!< 7(> !0 Ру О», 1(Р>ОЛ !,!< r1-;.;, t i>JpÑ:а»а(01<0177 .- »;:Ж0 t7 " - "; 1 » . 60 1 0:". 077(1-ПI! к

Способ определения содержания компонентов в веществе Способ определения содержания компонентов в веществе 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при спектральных измерениях различных растворов

Изобретение относится к области исследований быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к мгновенному определению спектров поглощения тонких переходных слоев путем регистрации характеристик возбуждаемых на поверхности образца поверхностных плазменных поляритонов (ППП), может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к спектроскопии

Изобретение относится к атомной спектроскопии

Изобретение относится к области измерительной техники
Наверх