Держатель образца для дифференциально-термического анализа

 

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТ)Ф1ЕСКИХ

РЕСПУБЛИН (19) (11) (д1) 4 С 01 N 25/02

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3929027/31-25 (22) 08.07.85 (46) 30.01.87. Бю . У 4 (71) Московский государственный педагогический институт им. В.И.Ле. нина (72) Ю.Л.Шишкин (53) 536.42(088.8) (56) Патент США У 3456490, кл. 73-15, 1969 °

Differenti:aI Thermal Analysis

Mini DTALB-2. Проспект фирмы

"Линсеис". (54) ДЕРЖАТЕЛЬ ОБРАЗЦА ДЛЯ ДИФФЕРЕН ЦИАЛЬНО-ТЕРМИЧЕСКОГО АНАЛИЗА, (57) Изобретение относится к термическому анализу веществ. Цель изобретения — повышение точности измерений путем уменьшения и стабилизации контактного термического" сопротивления спая термопары. Держатель состоит из чашки, стенка которой изготов-лена из внутреннего и наружного слоев. Внутренний слой изготовлен из матерщла с высокой коррозионной .Г устойчивостью к материалу образца, например алюминия, а наружный — из материала с высокой теплопровод-. ностью, например меди. Между слоями сформировано углубление для размеще-. а ния в нем спая термопары. 1 з.п. е ф-лы, I ил.

1286974

Составитель С.Беловодченко

Редактор Н.Слободяник Техред Л.Олейник Корректор О.Луговая

Заказ 7706/43 Тираж 776 Подписное

ВНИИПК Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r.Óæãoðoä., ул.Проектная, 4

Изобретение относится к термическому анализу веществ.

Целью изобретения является повышение точности измерений путем уменьшения и стабилизации контактного тер- 5 мического сопротивления спая герМопары.

На чертеже схематически представлен держатель для дифференциальнотермического анализа.

Держатель состоит из чашки, стенка которой изготовлена из внутреннего слоя. 1 и наружного слоя 2, выполненного, например, иэ тонкой гибкой металлической фольги (медной). Внут15 ренний слой 1 изготовлен из материала с высокой коррозионной устойчивостью к материалу образца, например алкминия. Между слоями сформировано узкое углубление 3 для размеще20 ния в нем спая термопары 4. Раскатанный спай термопары вводится в углуб. ление с усилием, достаточным для расширения его термопарой и обеспечения плотной посадки термопары. Во избежание замыкания проводов термопары на участке выхода нз держателя провода на этом участке промаэываются клеем или цементом.

Формула изобретения

1. Держатель образца для дифференциально"термического анализа, содержащий металлическую чашку с углублением в дне, свободно навешенную на спай измерительной термопары, о т л ич а ю шийся тем, что, с целью повышения точности измерений путем уменьшения и стабилизации контактного термического сопротивления спая термопары, стенка чашки изготовлена по крайней. мере двухслойной с углублением, при этом спай измерительной термопары выполнен плоским и размещен в углублении.

2. Держатель по и. 1, о т л ич а ю шийся тем, что наружный слой стенки изготовлен иэ материала с высокой теплопроводностью, а внутренний — из материала с высокой кор. розионной устойчивостью к материалу образца.

Держатель образца для дифференциально-термического анализа Держатель образца для дифференциально-термического анализа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к способу разложения флюоритовых материалов, может быть использовано при контроле плавикошпатовой продукции и позволя- .ет расширить диапазон определяемых компонентов и упростить анализ

Изобретение относится к аналитической химии, может быть применено для определения фазового состава вольфрамсодержащих руд и продуктов их переработки и в гидрометаллургии и позволяет повысить селективность анализа тунгститя путем обработки образца селективным растворителем, содержащим 0,001-0,005М лимонно-кислого трехзамещенного натрия при температуре кипения раствора с последукшщм определением вольфрама в рас творе известным методом

Изобретение относится к термическому анализу веществ, а именно к исследованию фазовых и иных превращений

Изобретение относится к способу извлечения тяжелых металлов, может быть использовано в цветной металлургии и позволяет увеличить степень и селективность извлечения

Изобретение относится к способу растворения кобальта сульфатов и оксидов , может быть использовано в металлургической и горнодобывающей промьшшенности и позволяет повысить селективность анализа по отношению к кобальту ферритов

Изобретение относится к средствам контроля качества термореактивных полимерных смол

Изобретение относится к термическому анализу веществ и материалов

Изобретение относится к области физико-химического анализа веществ, а именно к исследованию фазовых превращений посредством дифференциального термического анализа (ДТА)

Изобретение относится к области физико-химического анализа и может быть использовано при построении полных P-T-X-Y фазовых диаграмм и направленном синтезе полупроводниковых материалов

Изобретение относится к области термического анализа веществ

Изобретение относится к области исследования свойств и контроля качества полимеров в отраслях промышленности, производящей и использующей полимерные материалы

Изобретение относится к области аналитической химии, а именно к определению содержания углерода и фтора во фторграфитовой матрице C2FX (1,0X0,5), соединения включения которой могут быть использованы в качестве фторирующего агента /1/, катализатора при синтезе фторпроизводных углеводородов /2/, а также датчиков стандартных газовых смесей при решении экологических задач /3/

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для изучения продолжительности фазового перехода при нагружениях различной интенсивности

Изобретение относится к диетологии, геронтологии, гериатрии

Изобретение относится к техническим средствам для анализа веществ

Изобретение относится к способу определения качества болотных железных руд (БЖР), предназначенных для получения железооксидных пигментов, по данным термического анализа

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике технологических процессов производства изделий микроэлектроники, в частности для фотолитографического получения элементов структур субмикронных размеров на полупроводниковых и других подложках

Изобретение относится к термохимическим измерениям

Изобретение относится к физико-химическому анализу и может быть использовано для экспресс-анализа при производстве сплавов, в металлургии, электрохимии и т

Изобретение относится к испытательной технике
Наверх