Устройство для исследования микроструктуры поверхности металлических изделий

Авторы патента:

G01N21 - Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей (G01N 3/00-G01N 19/00 имеют преимущество; измерение механических напряжений вообще G01L 1/00; оптические элементы измерительных приборов G02B; анализ изображений путем обработки данных G06T)

№ 133674

Класс 42l, Зза

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписная группа № 178.

В. И. Шевченко и Е. H. Алпатов

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ МИКРОСТРУКТУРЫ

ПОВЕРХНОСТИ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ

Заявлено 22 февраля 1960 г. за № 656078/25 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» № 22 за 1960 г.

Известны устройства для исследования микроструктуры поверхности металлических изделий, принцип действия которых основан на электролитическом травлении и полировке поверхности изделия и исследования этой поверхности посредством микроскопа. Устройства эти содержат устанавливаемую на поверхности изделия электролитическую камеру и механически связанный с ней металлографический микроскоп.

Предлагаемое устройство отличается от известных тем, что в нем применен дополнительный герметически закрытый и сообщающийся с электролитической камерой сосуд, заполненный электролитом и снаб-хкенный сильфоном с клапаном. Такое выполнение устройства дает возможность заполнять электролитическую камеру электролитом или удалять последнюю, не прерывая наблюдения поверхности изделия через микроскоп.

На чертеже схематически изображено описываемое устройство.

Оно содержит устанавливаемую на поверхности изделия 1 электролитическую камеру 2, механически связанный с ней металлографический микроскоп 8 и дополш тельный герметически закрытый сосуд 4, заполненный электролитом и снабженный сильфоном 5 с клапаном б. Последний предназначен для создания повышенного давления либо разрежения в полости сосуда 4, соединенного с камерой 2 для перевода жидкости из сосуда 4 в камеру 2, либо для удаления жидкости из камеры 2 обратно в сосуд 4.

Для проведения исследования микроструктуры металлического изелия 1 с помощью описываемого устройства необходимо намечаемый к д исследованию участок изделия очистить от окалины и удалить крас у

< ск или смазку. Затем на подготовленный участок устанавливается описываемое устройство, в камеру 2 из сосуда 4 при помощи сильфона 5 с клапаном б переводится электролит, через зажим 7 подводится ток, и на поверхности изделия производится электролитическое травление и полиро№ 133674 ванне изделия 1, исследуемое непосредственно посредством микроскопа 8. После окончания исследования в сосуде 4 создается разрежение (посредством сильфона 5 и клапана б), и жидкость удаляется обратно из камеры 2 в сосуд 4.

Редактор А. К. Лейкина. Техред А. Л. Сосина. Корректор Е. Ф. Шварц.

Объем 0,17 усл. п. л.

Цена 3 коп.

Подл. к печ. 10/IV вЂ” 61 r

Зак. 964/1.

Формат бум. 70 К !08 /il;.

Тираж 750.

ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6.

Типография, пр. Сапунова, 2.

Предмет изобретени я

Устройство для исследования микроструктуры поверхности металлических изделий, принцип действия которого основан на электролитическом травлении и полировке поверхности изделия и исследования этой поверхности посредством микроскопа и которое содержит устанавливаемую на поверхности изделия электролитическую камеру и механически связанный с ней металлографический микроскоп, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью исследования поверхности изделия в процессе ее электролитической обработки, применен дополнительный герметически закрытый и сообщающийся с электролитической камерой сосуд, заполненный электролитом и снабженный сильфоном с клапаном, предназначенным для создания повышенного давления либо разрежения в полости сосуда для перевода жидкости из сосуда в электролитическую камеру, либо для ее удаления из камеры обратно в сосуд в процессе наблюдения обрабатываемой поверхности изделия.