Способ калибровки рефлектометра

 

Изобретение может использоваться для калибровки четырехзондовых измерительных установок и обеспечивает повышение точности калибровки. Устр-во, реализующее способ, состоит из генератора 1, двенадцатиполюсника 2, измерителей 3-6 мощности сигналов на выходах калибруемого рефлектометра (КР) и эталонной нагрузки 7. Способ заключается в том, что на КР подают четыре набора эталонных сигналов, которые формируют при последовательном подключении к одному из входов КР четырех эталонных нагрузок 7, определяемых заданным выражением. Измеряют мощности сигналов на выходах КР с помощью измерителей 3-6 и по формулам определяют собственные параметры КР. 1 ил. 7 00 СО СП оо со

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

„. SU,» 1335897

А1 (5040 01 R27 06

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

RO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3805230/24-09 (22) 24. 10.84 (46) 07.09.87. Бюл. № ЗЗ (71) Гомельский государственный университет (72) В. А. Яцкевич и Т. Г. Крот (53) 621.317.341.3 (088.8) (56) Адам С. Ф. Автоматические измерения в СВЧ-цепях. ТИИЭР, 1973, т. 66, № 4, с. 24

Авторское свидетельство СССР № 943603, кл. G 01 R 27/32, 1978. (54) СПОСОБ КАЛИБРОВКИ РЕФЛЕКТОМЕТРА (57) Изобретение может использоваться для калибровки четырехзондовых измерительных установок и обеспечивает повышение точности калибровки. Устр-во, реализующее способ, состоит из генератора 1, двенадцатиполюсника 2, измерителей 3 — 6 мощности сигналов на выходах калибруемого рефлектометра (КР) и эталонной нагрузки 7. Способ заключается в том, что на КР подают четыре набора эталонных сигналов, которые формируют при последовательном подключении к одному из входов КР четырех эталонных нагрузок 7, определяемых заданным выражением. Измеряют мощности сигналов на выходах КР с помощью измерителей 3 — 6 и по формулам определяют собственные параметры КР. 1 ил.

1335897

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для калибровки четырехзондовых измерительных установок.

Цель изобретения — повышение точности калибровки.

На чертеже приведена структурная электрическая схема устройства, реализующего способа калибровки рефлектометра.

Устройство содержит генератор 1, двенадцатиполюсник 2, образующий с подключенными к нему измерителями 3 — 6 мощности калибруемый рефлектометр, и последовательно подключаемые эталонные нагрузки 7.

Способ осуществляется следующим образом.

Сигнал с выхода генератора 1 поступает на один из входов двенадцатиполюсника 2, частично проходит на его второй вход и поступает на нагрузку 7, отражается от нее и в виде отраженной волны поступает на второй вход двенадцатиполюсника 2. Мощности выходных сигналов измеряются с помощью измерителей 3 — 6 мощности. По значениям амплитуд напряжения подающей и отраженной волн от эталонных нагрузок и постоянной величине амплитуды сигнала на входе рефлектометра, а также по результатам измерений мощностей выходных сигналов двенадцатиполюсника 2 формируются четыре системы калибровочных уравнений вида

Р, =IA,.à, +В,b г.

Р, =)А„а +В;Ьг )

Р (А ал+В Ьл )г

i=1,..., 4, где i — порядковый номер измерителя мощности;

А; В; — собственные параметры калибруемого устройства; а. ) — а м пл и туда пода ю щей вол н ы; b. (— амплитуда отраженной волны.

Причем а„

lb» I = I a 1 I = 11I1Ä !, К= 1,...,4, где U — максимально допустимая амплитуда гармонического сигнала на входе рефлектометра;

Г. — комплексный коэффициент отражения от К-й эталонной нагрузки.

Значения для фазы комплексных коэффициентов отражения от первой, второй и третьей эталонных нагрузок выбирают равными р= О*, (рг= 120, (рз= 240 .

Так как четвертая эталонная нагрузка является согласованной, то Г»= О.

Выражения для определения собственных параметров А; и В; при реализации данного способа калибровки принимают вид

IP"

IA;I

/Р„+Р P "" -ЗР

В I = " 4

/3 U- (Г

= агсга

4, 2Р— P-" — P. а 1.

Определения конкретных значений собственных параметров в соответствии с приведенными выражениями производятся опера15 тором численно.

Фор.«Ела изобретения

Z„= (— -»-) Ы, k = 1,2,3, 1+Г. 4 W«

35 где k — порядковыи номер эталоннои нагрузки;

W — волновое сопротивление линии, соединяющей исследуемую нагрузку с входом калибруемого рефлектометра;

40 Г<= 1Г I-е "" — модуль и фаза комплексного коэффициента отражения от k-й эталонной нагрузки, выбранные из условий Г» (— Гг)=(ГЗ! |1» (— / — « 2/, 1

1 з Рг! Рг Р I Рз Р I=(»0 -+ 30 ), О, а собственные параметры А;, В;, »р„калиб- руемого рефлектометра вычисляют по фор50 мулам А, =

/Рт +Р и +Ра

-ЗРГ

IB, I/3 U- I1

/3 (Р;"-

arctg2P — Р;

Р

1 — P.Способ калибровки рефлектометра, зак-. лючающийся в последовательной подаче на входы калибруемого рефлектометра че- тырех наборов эталонных сигналов, измерении соответствующих им мощностей сигналов на выходах калибруемого рефлектометра и последующем вычислении его собственных параметров, отличающийся тем, что, с целью повышения точности калибровки, наборы эталонных сигналов формируют посредством последовательного подключения к одному из входов калибруемого рефлектометра четырех эталонных нагрузок

30 с сопротивлениями Z, определяемыми соответственно выражениями

1335897

U а Щ и где Р;, Р;, Р;, Р; — показания измерителя мощности на /-м выходе калибруемого рефлектометра при подключении соответственно первой, второй, 5 третьей и четвертой эталонных нагрузок; максимально допустимая амплитуда гармонического сигнала на входе калибруемого рефлектометра, постоянная при подключении соответствующей эталонной нагрузки.

Составитель В. Рабинович

Редактор С. Пекарь Техред И. Верес Корректор A. Зимокосов

Заказ 3800/39 Тираж 730 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ калибровки рефлектометра Способ калибровки рефлектометра Способ калибровки рефлектометра 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике измерений

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и повышает точность измерений

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и является дополнительным к изобретению по а.с

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и обеспечивает, упрощение (уменьшение габаритов СВЧ-тракта )

Изобретение относится к радиоизмерительной технике СВЧ и обеспечивает повьппение точности измерений

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и обеспечивает повышение точности измерений и увеличение быстродействия

Изобретение относится к радиоизмерениям

Изобретение относится к радиоизмерительной технике

Изобретение относится к области акустических и радиоизмерений и применяется для определения модуля и фазы коэффициента зеркального отражения листовых материалов и плоских поверхностей веществ

Изобретение относится к тестовому блоку базовой станции для тестирования базовой станции в мобильной системе связи, в частности к способу для измерения коэффициента стоячей волны для передающей антенны и приемной антенны, который может тестировать радиоблок базовой станции

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использованo для измерения полной входной проводимости антенн

Изобретение относится к измерению электрических величин и может быть использовано в производстве существующих и новых поглощающих материалов типа углепластиков, применяется в СВЧ диапазоне, а также для контроля электрических параметров диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и может быть использовано для измерения комплексного коэффициента отражения оконечных нагрузок в стандартных коаксиальных и волноводных каналах

Изобретение относится к радиотехнике и может использоваться в радиопередающих устройствах

Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах (СВЧ) и может быть использовано при создании приборов и систем для определения параметров СВЧ-устройств с стандартных каналах и для антенных измерений

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерениям радиофизических характеристик радиопоглощающих покрытий (РПП)

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано при создании панорамных измерителей параметров СВЧ устройств
Наверх