Способ определения относительных перемещений

 

Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является повышение производительности определения относительных перемещений путем устранения чувствительности интерферограммы сдвига к абсолютным деформационным перемещениям. На отдельные фотопластинки регистрируют спеклограммы Сфокусированного изображения объекта в начальном и измененном состояниях. Каждую из спеклограмм восстанавливают плоской волной, осуществляют фильтрацию одного и того же порядка дифракции и. производят совмещение и запись на одной регистрирующей среде волн, восстановленных с соседних участков . спеклограммы. После проведения фотохимической обработки полученную на регистрирующей среде двухэкспозиционную спеклограмму освещают плоской волной и, осуществляя пространственную фильтрацию восстановленной волны, Q получают интерферограмму сдвига. Рас- S шифровав по известным методикам пoяv- ченную интерферограмму, определяют относительные перемещения. 1 ил. (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (19) (И), (51) 4 G 01 В 9/021

4 А1

1

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3994290/24-28 (22) 23.12.85 (46) 15.01.88. Бюл. № 2 (71) Челябинский политехнический институт им. Ленинского комсомола (72) С.Б.Артеменко, Г.П.Пызин, В,Г.Речкалов, В.Л.Ушаков и А.А.Козлов (53) 531.715.1 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

¹ 444050, кл. G 01 В 9/021, 1974. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОТНОСИТЕЛЬНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является повышение производительности определения относительных перемещений путем устранения чувствительности интерферограммы сдвига к абсолютным деформационным перемещениям.

На отдельные фотопластинки регистрируют спеклограммы-сфокусированного изображения объекта в начальном и измененном состояниях. Каждую из спеклограмм восстанавливают плоской волной, осуществляют фильтрацию одного и того же порядка дифракции и . производят совмещение и запись на одной регистрирующей среде волн, восстановленных с соседних участков .спеклограммы. После проведения фотохимической обработки полученную на регистрирующей среде двухэкспозиционную спеклограмму освещают плоской волной и, осуществляя пространственную фильтрацию восстановленной волны, получают интерферограмму сдвига. Рас- Й шифровав по известным методикам пол ченную интерферограмму, определяют относительные перемещения. 1 ил.

136687

30

45

Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь зовано при проведении когерентно-оптических интерференционных измерений на основе спекл-интерферометрии.

: Цель изобретения — повышение производительности определения относительных смещений путем устранения чувствительности интерферограммы сдвига к абсолютным деформационным перемещениям.

На чертеже изображена структурная схема устройства для осуществления предлагаемого способа.

Устройство состоит из. спекл-интерферометра А сфокусированного изображения, блока В оптической пространственной фильтрации и интерферометра С сдвига. Спекл-интерферометр А сфокусированного изображения содержит объектив 1 и позиционер 2, в который установлена Фотопластинка 3.

Позицией 4 обозначен исследуемый объект. Блок Б оптической пространственной фильтрации содержит фотопластинку 3 с зарегистрированной на ней спеклограммой объекта 4, которую переносят в блок В из спекл-интерферометра А, позиционер 5, конфокальные, линзы б и 7 и пространственный фильтр

8. Интерферометр С сдвига содержит систему 9 сдвига по пространственным координатам световой волны и регистрирующую среду 10.

Способ осуществляют следующим образом.

Освещают объект 4 когерентным излучением. В спекл-интерферометре А на фотопластинке 3 регистрируют спеклограмму сфокусированного изображения объекта 4 в первоначальном состоянии, затем фотопластинку 3 вынимают, подвергают фотохимической обработке и устанавливают в позиционер

5 блока В оптической фильтрации. Освещают спеклограмму на фотопластинке

3 плоской волной когерентного излучения и в восстановленной световой волне осуществляют посредством фильтра 8 в фокальной плоскости линзы 6 пространственную фильтрацию, выделяя один отдельный дифракционный порядок.

После оптической фильтрации восстановленные соседнимц участками спеклограммы волны направляют в интерферометр С сдвига, в котором система 9 осуществляет сдвиг световых волн, приводящий к совмещению в плоскости

4 2 регистрирующей среды 10 волн, восстановленных соседними участками спеклограммы. Затем первую спеклограмму убирают и после воздействия на объект 4 в спекл-интерферометре А регистрируют спеклограмму сфокусированного изображения объекта 4 в измененном состоянии. После проведения фотохимической обработки полученную спеклограмму устанавливают в блоке В оптической фильтрации, освещают ее и выделяют тот же, что и для первой спеклограммы, дифракционный порядок. После оптической фильтрации восстановленную волну направляют в интерферометр С сдвига, где осуществляют совмещение волн, восстановленных с соседних участков спеклограммы, в плоскости регистрирующей среды 10. После этого осуществляют фотохимическую обработку регистрирующей среды и полученную двухэкспозиционную спеклограмму освещают плоской волной когерентного излучения.

Осуществляют пространственную фильтрацию восстановленной волны, в результате чего получают интерферограмму сдвига, несущую информацию только об относительных деформационных перемещениях. Осуществляют по известным методикам расшифровку интерферограммы сдвига и определяют величину относительных перемещений точек поверхности диффузно отражающего объекта 4.

Формула изобретения

Способ определения относительных перемещений точек поверхности диффузно отражающего объекта, заключающийся в том, что освещают объект когерентным излучением, получают двухэкспозиционную спеклограмму, восстанавливают с нее световую волну, осуществляют пространственную фильтрацию вос-. становленной волны, фиксируют интерференционную картину, по которой определяют относительные перемещения, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности, при получении двухэкспозиционной спеклограммы регистрируют спеклограмму объекта в первоначальном состоя-. нии, освещают ее плоской волной, осуществляют пространственную фильтрацию восстановленной волны, производят сдвиг отфильтрованной волны по пространственным координатам и

1366874 записывают ее на регистрирующей сре- становленной волны, производят сдвиг де, регистрируют спеклограмму объек- восстановленной волны по пространстта в измененном состоянии, осуществ- венным координатам и регистирируют ляют пространственную фильтрацию вос- ее вновь на регистрирующей среде.

Составитель В.Бахтин

Техред М Ходанич Корректор А.Обручар

Редактор А,Ревин

Заказ 6826/41 Тираж 680 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул ° Проектная, 4

Способ определения относительных перемещений Способ определения относительных перемещений Способ определения относительных перемещений 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к голографии и предназначено для синтеза длинных голографических дифракционных решеток

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при проведении исследований интерферометрическими методами

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при изучении деформированного состояния пластин когерентно-оптическими методами

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для контроля качества линз и объективов

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерению макрорельефа поверхности объекта

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения радиусов кривизны зеркальных сферических отражателей и контроля их качества

Изобретение относится к измерительной технике, преимущественно к способам определения параметров диффузных объектов методами голографической и спекл-интерферометрии

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к двухэкспозиционной голографической интерферометрии, и может быть использовано при исследовании вибраций объектов, в том числе вращающихся, и других процессов

Изобретение относится к области оптических измерителей перемещений и может быть использовано для высокоточного бесконтактного интерференционно-голографического измерения перемещений объектов

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к области бесконтактного оптического измерения формы поверхности оптических изделий, например, сферических и асферических зеркал или линз в условиях оптического производства и лабораторных исследований

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле и испытаниях оптических изделий и исследованиях оптических неоднородностей в прозрачных средах, в частности в газодинамических и баллистических экспериментах, в широком спектральном диапазоне от вакуумного ультрафиолета до дальнего инфракрасного

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано, в частности, для определения напряженно-деформированного состояния магистральных газопроводов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может найти применение для бесконтактного определения рельефа поверхности, например, при контроле деталей на производстве, при исследовании различных физических и медико-биологических объектов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения перемещений методом голографической интерферометрии
Наверх