Интерферометр

 

Класс 42п, 34» № 146529

С С С Р

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписная группа A 170

Д. T Пуряев и Б. А. Шапочкин

И НТЕРФЕРОМЕТР

Заявлено 26 июня 1961 г. за ¹ 735758/26-10 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» № 8 за 1962 r.

Известны интерферометры для контроля параболических поверхностей вращения.

Отличительная особенность описываемого интерферометра состоит в том, что в его объективе расстояние между задним фокусом и центром кривизны последней полупрозрачной сферической поверхности равно расстоянию между фокусами контролируемой поверхности вращения.

Интерферометр такой конструкции обеспечивает возможность контроля гиперболических и эллиптических поверхностей вращения.

На фиг. 1 изображена принципиальная схема описываемого интерферометра; на фиг. 2 — взаимное расположение объектива и контролируемой выпуклой гиперболической поверхности вращения; на фиг. 3— то же, вогнутой гиперболической поверхности; на фиг. 4 — взаимное расположение объектива и контролируемой выпуклой эллиптической поверхности; на фиг. 5 — то же, вогнутой эллиптической поверхности.

Интерферометр состоит из осветителя 1, объектива 2, установленной под углом 45 полупрозрачной пластины 3, плоского зеркала 4 и объектива б, за которым располагается контролируемая поверхность б.

Параллельный пучок лучей 7, попадая на полупрозрачную пластину, разделяется на два параллельных пучка 8 и 9, один из которых, попав на зеркало 4, отражается QT него и идет в обратном направлении.

Другой пучок попадает на объектив 5 и после его прохождения в зависимости от формы контролируемой поверхности принимает форму сходящегося или расходящегося пучка. Контролируемая поверхность б устанавливается так, чтобы один из ее фокусов F совпадал с задним фокусом Р, объектива, а другой фокус F3 — с центром кривизны 0 последней полупрозрачной сферической поверхности. После отражения от гиперболической или эллиптической поверхности лучи света идут нормально к полупрозрачной сферической поверхности объектива 5 и, от№ 146529 в обратном направлении. Оба разившись от нее, повторяют свои путь пучка (отраженный от плоского зеркала и от контролируемой поверхности) встречаются на полупрозрачной пластине и интерферируют между собой.

Наблюдая интерференционную картину можно судить о д р ить о ефо мации фронта световой волны и тем самым о качестве ве конт„оли емой поверхности.

Интерферометр мо

И ф ожет работать и в сравнительной схе р о " ме конт оля. ективы 5, е в обе ветви интерферометра устанавливают о ъективы

В этом случае в о е ветви а плоское зеркало заменяют сферическим и рас ол центр его кривизны о совпадал с задним фокусом объектива. Для контровогнутой гиперболических поверхностей вращения ля В6!пуклой и Вогн т объектива пуклой и вогнутои э . ллиптических поверхностен конструкция выбирается такои, что ы з б задний фокус объектива совпадал с тем окуолируемой поверхности, который наиболее удален от нее. б ет наименьшим.

В этом случае относительное отверстие объектива сбудет а

Предмет изобретения

Инте ферометр, отли ч а ющи и ся тем, что, с ц с целью контроля гиперболических и эллиптических поверхностей р нтер е о в ащения в нем расстояние между д за ним фокусом и центром кривизны последней полую межпрозрачнои сферической п

Ловерхности объектива равно расстоянию ду фокусами контролируемой поверхности вращения.

Интерферометр Интерферометр Интерферометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения с высокой точностью показателей преломления изотропных и анизотропных материалов
Наверх