Способ измерения кривизны внутренней поверхности экрана кинескопа

 

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при производстве экранов кинескопов для измерения их внутренней поверхности. Целью изобретения является повьииение точности и удобства измерений. При способе измерений кривизны внутренней повер.хности экрана кинескопа используют измерительную установку сизмерительным преобразователем с радиусом поворота R + 6,. Измеряемую поверхность радиусом R-|-AR, устанавливают с допустимой погрешностью базирования. Определяют координаты X, У. Z центра измеряемой внутренней поверхности экрана и значения прирашений радиуса AR, измеряемой поверхности внутренней поверхности экрана. Допустимую погрешность установки и базирования экрана устанавливают по зависимости б, где А(1 - допустимое смешение центра поворота измерительного преобразователя; R - расчетное значение радиуса измеряемой поверхности; 6 - допуск на радиус измеряемой поверхности. 2 ил. i сл

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК ц11 4 G О1 В 5/22

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

2 ил.

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4123891/25-28 (22) 27.06.86 (46) 07.08.88. Бюл. № 29 (72) Л. Б. Лозинский, В. П. Никифорук, С. П. Ковальшин, С. И. Бессараб, А. А. Чекмарев, А. В. Верховский, В. А. Степнов, А. Н. Мамедов и Е. И. Михайлив (53) 531.717 (088.8) (56) Автоматизированная оценка показателей точности станка (в рамках ОАСУ

Минстанкопром) на базе анализа погрешностей формы обрабатываемого изделия, Этап I u II. Отчет ЭНИМС. М.: ЭНИМС, с. 15 — 25. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КРИВИЗНЫ

ВНУТРЕННЕЙ ПОВЕРХНОСТИ ЭКРАНА

КИНЕСКОПА (57) Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при производстве экранов кинескопов для измерения

ÄÄSUÄÄ 1415031 A 1 их внутренней поверхности. Целью изобретения является повышение точности и удобства измерений. При способе измерений кривизны внутренней поверхности экрана кинескопа используют измерительную установку с измерительным преобразователем с радиусом поворота К+6;. Измеряемую поверхность радиусом К+ЛК, устанавливают с допустимой погрешностью базирования. Определяют координаты Х, У, Z центра измеряемой внутренней поверхности экрана и значения приращений радиуса (R, измеряемой поверхности внутренней поверхности экрана.

Допустимую погрешность установки и базирования экрана vcTBHBвливают по зависимости 4n=q К (о 1, где 5() — допустимое смещение центра поворота измерительного преобразователя; R — расчетное значение радиуса измеряемой поверхности; (о) — допуск на радиус измеряемой поверхности. (4(ЬО3!

Cus ((,-Xj + ((Р + К ж, ().

8х ;R а () г av (6) QR. С J (8g ау

3- (- О К ) ) =0; а ((ЛК;)- )=() а7.

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при производстве экранов кинескопов для измерения кривизны их внутренней поверхности.

Цель изобретения — повышение точнос-" ти и удобства измерений путем возможного смещения центра поворота измерительного преобразователя относительно центра измеряемой поверхности.

На фиг. 1 показана схема измерения кривизны внутренней поверхности экрана кипе- 10 скопа; на фиг. 2 — упро(ценная схема измерительной установки для реализации способа измерений.

При контроле экрана кинескопа он устанавливается на базовые поверхности измерительной машины. Внутренняя измеряемая !

5 поверхность 2 экрана (кинескопа) выпол(нна с радиусом К+АК,. Величина радиуса измеряемой поверхности определена зна fefIHuxI расчетного радиуса К, экрана кинескопа и величиной ЛК, переменной для разли \Hblx

i-х точек экрана.

Измерительный преобразователь 3 ус!clновлен с воз мож;!остью пространствеlfllol" поворота Hd J OIIIL(ка паю(цейся штанги 4 относительно центра измеряемой поверхности 2, последовательно перемещают преобразователь 3 Ilu поверхности и измеря(от расстояние гочек измеряемой поверхнос ги от центра !шпор»та преобразователя 3 прп

3;i;Laii1i1 углах его iioi;op»i;i.

3(J

Измери ге,11 ная установка содержит ка !(110!ну!0 H IIITd ill 4, Bblllo l lf(till ólî с pa;LH y сoM К+< 1„причем размеры till ànãè 1100ToEJIIIfbl, tl0 се в(pXIIHH Ia(Tb ВЫп011lotfa с из!<10рительным преобразовател M, который размещен на вели 1инс расчетного радиуса К

35 от центра О и имее1 перемещения вдоль

ШтаНГИ 4 Па ВЕ IHcIHIIbl <1; дЛя раЗ ЫХ ТОЧЕК измерения.

Рассмотрим две сферические поверхно(1H одну с центром О, IlpHII3длежащу!о измерпВыражение (3) после егo преобразов:.1 ния, пренебрежения бесконечно малыми величинами и разложения подкоренного выражения в ря,1 Тейлора может быть привеДено К IJJI;LV

АК,=<1,:---Х Sin& Cos((,---Y Sin@, Sin<(,— -Z Cos&, (4)

)!ри среднеквадратичном приближении номинальной сферы к реальной находят такие координаты центра реальной сферы Х, Y 7, для которых ЛК, миних (1л1,1и.

Это эквивалентно выр JEI

Выразив через параметры номинальной сферы координаты произвольной точки К„

1юлучаем следующие зависимости

Х,= (К+0;) Sin8, (.Os<(:„ Р,=(К+6,) Sin& Sin((„(!)

Zi — — (К+6,,) Cos&,, l..д;е ХЯ,, Z; — — координаты точки К„измеряемой внутренней поверхности экрана кинескопа;

К вЂ” — расчетный радиус внутренней поверхности экрана, заданной чертежом; (J, - приращение радиуса измеряемой поверхности экрана из ц IITp3 I10IJ0puTa измерительного преобразователя;

О - угол наклона измерительного преобразователя к оси Z;

<(, — угол поворота радиуса-вектора поминальной сферы отнои(H 7

ХОУ.

Расстояние О(К,:, определяк1щее величину радиуса реальной сферы, записываем и координатной форме для Bt lup(ifitlblx прямоуго ii»lbi координат (R+ (R;) (Х, --X)-- + (Y, -- Y)- —, + (Z, Z) - (2)

::Lp Х, Y, ) . — координаты це!игра 01 измеряемой внутренней п»верхности экрана:

1К, приращение ради iñа пзлiåpÿåмой поверхно TH af(pat!a из ее центра.

Из выражения (2), подставив X„Y„Z, из (!) в (2), получаем з:!ачепие ЛК, переХ((111101 u Д, Я ТО l(Y (<,, 110ÂÑ (1 X!10(TИ ЭКР3 il ci д,) Я,;;В, STOL,— Y) 2 +(К + А) Ссвв -Z) 2 — )! (3) Система уравнений i;J эквивалентна выражени1о

Подставив величину <<К, из (4) в (6) получиM систему уравнений, у(итывающук! сх<еще11ие реальной внутренней поверхности

-экрана от номинальной поверх(юсти

1415031

Х . Sin29;Cos g, + YX. Sin28, Sin%,. Cost;+ Z7 Sine,"CosÆ Cos8 — ЦБ1пб,; CosO.= 0

Х . Sin29,Cos 4i + Y Sin 9. Sin (P,-+ Е . Sin V; Cos& — )hgSing Sin V<= 0;

Х3 Sin H„Cos Ч Cos6+ YЙ Sin 9 . Cos9+ ZK Cos26 3h, Cos e„= 0 (7) Формула изобретения

Способ измерения кривизны внутренней поверхности экрана кинескопа, заключающийся в том, что устанавливают экран, с помощью измерительного преобразователя определяют координаты точек его внутренней поверхности и их отклонения от номинальных значений, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и удобства

Значение отклонений радиуса измеряемой сферы внутренней поверхности экрана относительно расчетных значений определяется по зависимости (4).

Для определения допустимой погрешности установки и базирования экрана воспользуемся выражением (3), которое после преобразования и разложения в ряд Тейлора можно привести к приближенному и 1S простому выражению

Лд= „/R (б), (8) где A< — величина допустимого смещения центра поворота измерительного преобразователя; (6) — допуск на радиус измеряемой по- 20 верхности.

Используя зависимость (8), можно определить погрешность установки экрана кинескопа при контроле внутренней поверхности.

Для кинескопов с 61 см по диагонале величина допуска составляет (о) =0,7 мм, значение расчетного радиуса измеряемой сферы

R=955,5 мм. Значение допустимого смещения центра измеряемой поверхности от номинальной, определенной по зависимости (8), Лп=8,!7 мм. Такая значительная величина 30 допустимой погрешности установки является важным достоинством способа измерения.

В то время как известные способы измерений требуют выдерживать при установке и базировании экранов кинескопов на один два порядка большую точность. 35 измерений, измерительный преобразователь устанавливают с возможностью пространственного поворота относительно центра измеряемой поверхности, последовательно перемещают преобразователь по поверхности и измеряют расстояние точек измеряемой поверхности от центра поворота преобра 30вателя при заданных углах его поворота, координаты центра измеряемой поверхности определяют из соотношений

Х Sin 9, Cos -,+Y" Sin - Ct; Sing.; Сом,+

+Z Sin&, Cosy; Cos9,— 6, Sin&;

XZSin - 6, Cosy, Sing.;+Y Sin - á; Sin - q,+

+Х Sin&, Sinq, СоЖ,— "6;81пй, Sin,;

X S i n & C o s y; C o s 8, + 1 S i n &; Со в 4. (+

+ZХCo e,— а; Case,=о;

R,= К+ЛК„ где R=const.

ЛК,=6; — XSin9, Cosy,— YSinR, Sinq;—

— Z Cos8„ где ЛК; — приращение радиуса измеряемой поверхности экрана из ее центра;

ХЛ,Z — координаты центра измеряемои внутренней поверхности экрана кинескопа; о; — приращение радиуса измеряемой поверхности экрана из центра поворота измерительного преобразователя; ; — угол поворота радиуса-вектора номинальной сферы относительно оси Z в плоскости ХОУ;

О, — угол наклона измерительного преобразователя к оси Z, определяют смещение центра поворота измерительного преобразователя относительно центра измеряемой поверхности и перемемещают экран до тех пор, пока сме Ение не станет меньше величины 6 = R (d где и — величина допустимого смещения центра поворота измерительного преобразователя; (d j — допуск на радиус измеряемой поверхности.

l41503l

Составитель М. Кирил.1ов

Релактор В. Бугрснкова Тс зрел И. Версс Корректор.1. 11илипенко

Заказ 3860j35 1 ираж 680 11олписное

ВНИИГ1И Госуларствснного когиитгта С(ХР rlo делам изобрстений и открытий ! 13035, Москва, Ж --35. Раугиская наб., л. 4/5

Произволственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, Угп Проектная. 4

Способ измерения кривизны внутренней поверхности экрана кинескопа Способ измерения кривизны внутренней поверхности экрана кинескопа Способ измерения кривизны внутренней поверхности экрана кинескопа Способ измерения кривизны внутренней поверхности экрана кинескопа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения радиусов кривизны сферических, цилиндрических и конических поверхностей

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано преимущественно в подшипниковой промышленности для измерения сферичности шариков в различных плоскостях под любым заданным углом, в том числе не менее, чем в двух взаимно перпендикулярных плоскостях в соответствии с требованиями по контролю сферичности шариков на приборах типа кругломер

Изобретение относится к технологии машиностроения и приборостроения, к технике метрологического обеспечения, а именно к средствам для измерения действительных размеров параметров наружных поверхностей и радиусов сферических изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения форм поверхностей, например поверхности вымени коров

Изобретение относится к измерительной технике и применяется для измерения действительных размеров параметров внутренних поверхностей и радиусов сферических изделий

Изобретение относится к области машиностроения, а именно к способам контроля шаров, и может быть использовано в подшипниковой промышленности для промежуточного и окончательного контроля шаров

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для контроля шаров

Изобретение относится к средствам для измерения сферических изделий

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике
Наверх