Устройство для контроля полупроводниковой памяти

 

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть применено для контроля блоков полупроводниковой памяти. Целью изобретения является повышение надежности устройства . Устройство содержит синхронизаV::

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

2612 А 2 (19) (11) (.51) 4 G 11 С 29/00

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

ВСЕЖН ЗЮМ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ЮлнотеИ

Ю.В.АноСССР

1982

Г 1

Фиг.1 (61) 1051585 (21) 4170338/24-24 (22) 30. 1 2. 86 (46) 23. 10. 88. Вюл. N- 39 (72) В.И.Лешукович, А.Д.Шац, хин и Ю.М.Дробышевский (53, 681.327 (088.8) (56) Авторское свидетельство

У 1051585, кл. G 11 С 29/00 (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОЛУПРОводниковой пАмяти (57) Изобретение относится к вычислительной технике и может быть применено для контроля блоков полупроводниковой памяти. Целью изобретения является повышение надежности устройства. Устройство содержит синхрониза1432612 тор 1, блок 2 управления, блок 3 задания тестов, первый 4 и второй 6 счетчики адреса, коммутаторы 5, 10, 11, 13, 20, формирователь 7 тестовых сигналов, блок 8 сопряжения уровней напряжения, регистр 9 адреса ошибки, первый блок 12 сравнения, группу триггеров, блок свертки по модулю два, триггер, блок памяти эталонных сигнатур, сигнатурный анализатор, вто" рой блок сравнения и элемент И. Надежность устройства повышается за счеч введения самоконтроля устройства. В режиме. самоконтроля блокируется обращение к контролируемой памяти, а тестовые,цанные, адреса и код команды подаются на вход блока свертки по модулю два, где свертываются по

Изобретение относится к вычислительной технике, может быть применено для кочтроля блоков полу роводниковой памяти, и является усовершенст- 5 вованием устройства по авт.св.

Ф 1051585.

Цель изобретения — повьппение надежности устройства.

На фиг. 1 и 2 изображена функциональная схема устройства; на фиг. 3структурная схема блока управления.

Устройство содержит (фиг.1) синхронизатор 1,блок 2 управления, блок 3 задания тестов, первый счетчик 4 адреса пер15 вый коммутатор 5, второй счетчик 6 адреса, формирователь 7 тестовых сигналов, блок 8 сопряжения уровней напряжения, регистр 9 адреса ошибки, второй коммутатор 10, третий коммутатор 1 1 первый блок 12 сравнения, четвертый коммутатор 13. Блок контролируемой памяти обозначен позицией 14, Блок 2 управления, имеет с первого по пятый выходы 15-19.

Устройство содержи г также пятый коммутатор 20, блок 21 с входом 22 кора команды, входами 23 контрольного слова, входами 24 адреса„ входами 25 синхронизации и установочными входами 26, содержащий группу триггеров, 27.с выходами 28, блок 29 свертки по модулю два, элемент И 30, триггер 31„ модулю два и служат для анализа в сигнатурном анализаторе, по окончании теста сигнатура с выходов которого сравнивается с эталонной, считанной из блока памяти эталонных сигнатур в соответствии с формируемым в устройстве тестом. При несовпадении сигнатур сигнал ошибки с выхода второго блока сравнения переводит в состояние, соответствующее ошибке, один из триггеров группы, выбранный сигналами разрешения выполнения теста с выходов блока 3. Таким образом осуществляется самоконтроль устройства, при котором контролируются синхронизатор

1, блок 3, счетчики 4, 6, формирователь 7 и коммутаторы 5, 10, 11 и 13.

3 ил. блок 32 памяти эталонных сигнатур, сигнатурный анализатор 33 ошибок и второй блок 34 сравнения. Блок 2 управления имеет также шестой выход 35 и содержит (фиг.3) переключатеяи 36-4 1, выводы 15-19 и 35 подвижных контактов которых являются выходами с первого по шестой блока 2 управления, на вход

42 которого подается уровень нулевого потенциала, а на вход 43 — уровень логической единицы.

Триггеры 27 и 31 являются Р-триггерами ИС серии К155ТМ2. Блок 32 памяти эталонных сигнатур выполнен иэ микросхем ПЗУ К 155 РЕ3, причем число используемых ячеек памяти блока 32 определяется числом тестов, используемых для самоконтроля устройства, а разрядность слова — разрядностью регистра сдвига сигнатурного анализатора 33.

Сигнатурный анализатор 33 ошибок выполнен из регистра сдвига и сумматора по модулю два.

Разрядность счетчика 4 адреса определяется максимальной емкостью каждой микросхемы контролируемой памяти 14, а разрядность счетчика 6 ад-. реса — ее информационной емкостью.

Устройство работает следующим образом.

1432612

При включении питания устанавливаются в исходное нулевое состояние счетчики 4 и 6, блок 3.,(фиг.1), формирователь 7, блок 12, сигнатурный анализатор 33, триггеры 27. По выходу 15 блока 2 устанавливается частота обращения к проверяемому блоку 14 памяти, по выходам 17 и 18 — объем проверяемой памяти, по выходам 19 — 10 режим контроля, по выходу 35 — режим работы: контроль памяти 14 или самоконтроль устройства.

По сигналу пуска с выхода 16 блока

2 включается синхронизатор 1, с выхо- 15 да которого поступает на вход счетчика 4 счетный сигнал с периодом, равным циклу обращения. Адрес контролируемой памяти .14 формируется счетчиками 4 и 6. Счетчик 4 изменяет свое 20 состояние по счетному сигналу, поступающему с выхода синхронизатора 1, вырабатывая при этом сигналы переноса, соответствующие емкости применяемых в памяти 14 микросхем памяти. 25

Управление счетчиком 6 осуществляется через коммутатор 13, на информационные входы которого поступают сигналы переносов с выхода счетчика 4, а на управляющий вход — сигналы с выхо- 30 да блока 8, которые разрешают передачу сигнала переноса на выход коммутатора 13.

По выходам 17 и 18 блока 2 задается объем памяти 14 путем блокировки части разрядов счетчика 6. При исключении иэ счетного режима всех разрядов счетчика б обращение осуществляется к одной микросхеме памяти, определяемой состоянием выходов 17 и 18 бло-40 ка 2. По подключенным к выходам блока 3 входам счетчика 6 задается режим его работы в зависимости от формируемого теста. По заполнении счетчика 6 вырабатывается сигнал переноса, кото.рый, поступая в блок 3, участвует в формировании сигнала окончания контроля .

По выходу 19 блока 2 задается необходимый набор тестов для контроля памяти 14. Сигнал с выхода блока 3, поступая на вход формирователя 7 и управляющие входы коммутаторов 10и

11, разрешает формирование тестовьм последовательностей выбранного теста.

По сигналу окончания теста, поступаю- 55 щему с выхода формирователя 7, блок 3 разрешает формирование следующего выбранного теста. Сигнал с выхода блока 3, поступающий на входы блока 8 и счетчика 4, блокирует прохождение счетного сигнала на вход счетчика 4 и обращение к памяти 14 на входе блока 8 на время поиска очередного выбранного теста. По сигналу окончания теста блок 3 разрешает запись в память 14 фоновой информации. Сигнал переноса на входе блока 3 переводит последний в состояние, соответствую-, щее разрешению выполнения собственно тестовой программы.

На входы коммутатора 5 поступают управляющие сигналы с выходов формирователя 7, причем в зависимости от выполняемого теста на выход коммутатора 5 проходит прямой или инверсный код адреса, поступающий на информационные входы коммутатора 5 с выхода счетчика 4, либо фоновый или тестовый адрес, поступающий с выхода формирователя 7. В зависимости от алгоритма выполняемого теста с выхода фор" мирователя 7 поступает сигнал, блокирующий счетный сигнал в счетчике.

На информационные входы коммутаторов 10 и 11 поступает с выхода формирователя 7 код операции и контрольное информационное слово. Сигналы с выходов коммутаторов 10 и 11 через блок 8 и коммутатор 20 поступают на проверяемую память 14. В блоке 12 выполняется сравнение считанной иэ памяти 14 информации с контрольной.

Регистр 9 содержит адрес, сформированный в предыдущем обращении к памяти. При отсутствии ошибки выход регистра 9 блокирован и в память 14 поступает адрес с выхода коммутатора 5.

Параллельно с обращением по следующему адресу в блоке 12 осуществляется оценка информации, считанной по предыдущему адресу. При несовпадении информации блок 12 вырабатывает сигнал ошибки, который блокирует счетный сигнал счетчика 4, формирование следующего теста в блоке 3 и выходы коммутатора 5, а регистр 9 переводит в рабочее состояние. Происходит останов по адресу с ошибкой. На блоке сигнализации (не показан} высвечивается адрес ошибки, информационное слово, режим проверки.

В режиме самоконтроля сигнал с выхода 35 блока 2, поступая на вход коммутатора 20, запрещает обмен информацией между блоком 8 и проверяемой памятью 14 и разрешает прохождение сиг1432612 налов входа 23 коммутатора 20 на вход блока 8. По сигналу пуска устройство вырабатывает адреса, информационные . слова и команды, которые подвются на входы 24, 23, 22 соответственно, а, контрольное слово через вход 23 коммутатора 20 - на блок 8. Информация с входов 22, 23, 24 свертывается в блоке 29 (фиг .2}, подается на вход триггера 31, а с его выхода — на вход анализатора 33.

Сигналы, вырабатываемые синхронизатором 1, поступают на входы 25, собираются на элементе И 30 и подаются на вход триггера 31. В анализаторе

33 сигналы с выходов разрядов обратной связи сднигового регистра суммируются по модулю два с двоичной последовательностью сигналов, поступаю.щей с выхода триггера 31. Результат суммирования по модулю два поступает на сдвигоный вход регистра сднига, и по синхроимпульсу в каждом такте обращения к проверяемой памяти происходит занесение результата суммирования и одновременно сдвиг информации по разрядам в регистре сдвига. Такие операции продолжаются в течение выполнения теста, после чего прекращается поступление синхроимпульсон н входной последовательности и осуществляется анализ кода, остающегося н регистре сдвига. Этот код представляет собой определенным образом преобразованную и сжатую двоичную информацию и называется сигнатурой.

Анализатор 33 позволяет выявить динамические ошибки, которые не способны обнаружить другие методы локализации неисправностей. Используемый метод позволяет с достоверностью

99,998Х выявлять ошибочную двоичную последовательность независимо от ее длины или сложности ошибок.

Сигналы разрешения формирования тестов с выхода блока 3,. поступая на входы 26, выбирают из памяти блока 32 сигнатуру, соответствующую формируемому тесту, и разрешают работу одного из триггеров 27. Выбранная сигнатура сравнивается в блоке 34 с. полученной на выходе анализатора 33 по окончании формирования теста. В случае их несовпадения сигнал ошибки с выхода блока 34 поступает на входы триггеров

27 и переводит один из них, выбранный сигналами с входов 26, н состояние, соответствующее ошибке.

Таким образом контролируется правильность работы синхронизатора 1, блока 3, счетчиков 4 и 6, формирователя 7, коммутаторов 5, 10, 11 и 13, за счет чего повышается надежность устройства. о

Формула изобретения

1Î i

Устройство для контроля полупроводниковой памяти по авт.сн.

Ф 1051585, о т л и ч a N щ е е с я. тем, что, с целью повышения надежнос« ти устройства, в него введены пятый коммутатор, блок свертки по модулю два, триггер, блок памяти эталонных сигнатур, группа триггеров, второй. блок сравнения, сигиатурный анализатор

20 и элемент И., выход которого соединен с входом синхронизации триггера, информационный вход и выход которого подключены соответственно к выходу. блока свертки по модулю дна и к так25 тоному входу сигнатурного анализатора,ньжоды которого "îåäèíåíû с информационными входами перной группы второго блока сравнения, информационные входы второй группы и выходы котороЗО го подключены соответственно к выходам блока памяти эталонных сигнатур и к

0-входам триггерон группы, входы устанонки которых и адресные входы блока памяти эталонных сигнатур соедине35 ны с четвертым выходом блока задания тестов, причем входы контрольного слова блока свертки по модулю два подключены к выходам третьего коммутатора и информационным входам первой

4 группы пятого коммутатора, информационные входы второй группы и выходы первой группы которого соединены с информационными выходами и информационными входами блока сопряжения уровней напряжения, управляющий вход пятого коммутатора подключен к шестому выходу блока управления, входы элемента

И соединены с выходами группы синхронизатора, первый и второй информациснные входы блока свертки по модулюдва подключены соответственно к выходу второго коммутатора и к выходам второго счетчика адреса, выходы триггеров группы являются индикаторными выходами устройства, информационные входы третьей группы и выходы второй группы пятого коммутатора являются контрольными входами и контрольными выходами устройстна.

1432612

Подписное

Тираж 590

ВПИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятием г, Ужгород, ул. Проектная, 4

Редактор В.Петраш

Заказ 5450/46

92 (Риг. 3

Составитель Т.Зайцева

Техред Л.Сердюкова КорректорА Обручар

Устройство для контроля полупроводниковой памяти Устройство для контроля полупроводниковой памяти Устройство для контроля полупроводниковой памяти Устройство для контроля полупроводниковой памяти Устройство для контроля полупроводниковой памяти 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в качестве устройства памяти повышенной надежности

Изобретение относится к области вычислительной техники и может быть использовано в линиях задержки цифровой информации

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для устранения ошибок, введенных во время записи или воспроизведения информации

Изобретение относится к вычислительной технике.и может быть использовано при.построении запоминающих устройств с повьшенной достоверностью

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для контроля оперативных запоминающих устройств

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для отбраковки больших интегральных схем (БИС) памяти

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при построении запоминающих устройств с высокой достоверностью вьщаваемой информации

Изобретение относится к вычислительной технике и предназначено для нспольэования в постоянных запоминающих устройствах

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в полупроводниковых ПЗУ с многоразрядной организацией

Изобретение относится к вычислительной технике, в частности к запоминающим устройствам

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в устройствах вычислительной техники и системах управления

Изобретение относится к вычислительной технике, в частности, к устройствам хранения информации, и может найти приме нение в специализированных системах хранения и обработки изображений, в ассоциативных параллельных процессорах при решении информационно-логических задач, задач поиска и сортировки данных, в устройствах обработки сигналов в реальном масштабе времени

Изобретение относится к полупроводниковому запоминающему устройству, содержащему схему обнаружения и исправления множественных ошибок

Изобретение относится к способам записи в энергонезависимую память и может быть использовано в приборах, осуществляющих хранение и обновление оперативной информации в процессе своей работы

Изобретение относится к устройствам тестирования электронных элементарных схем и групповых линий соединений

Изобретение относится к средствам для программирования/стирания электрически стираемых программируемых полупроводниковых постоянных запоминающих устройств

Изобретение относится к области автоматики и вычислительной техники

Изобретение относится к электронным запоминающим устройствам (ЗУ) с электрически программируемыми ячейками
Наверх