Устройство для формирования тестов субблока логического блока

 

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано при разработке тестового диагностического обеспечения выпускаемых устройств. Цель изобретения - обеспечение режима формирования тестовой информации для субблока логического блока с собственной синхронизацией. Устройство содержит эталонный субблок 1, эталонный логический блок 2, коммутатор 4, блок 7 регистрации, таймер 6, блок 5 промежуточного накопления тестов. Происходит формирование тестов для субблоков и логических блоков по отношению к системам внешней синхронизации. 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1

ÄÄSUÄÄ 151345 (51)4 G 06 F 11/26

6Ж6ИЗНМ

l1vki1I 1 с khan r, Б 1Ь Из —.: . 1

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И OTHPbITHSIM

ПРИ ГКНТ СССР

1 (21) 4251905/24-24 (22) 08. 04. 87 (46) 07. 10.89. Бюл. В 37 (72) А.Н. Пархоменко, В.В. Голубцов, Ю.И. Ковалев и И.О. Воинов

° (53) 681.3(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

В 477413, кл. G 06 F 11/00, 1974.

Авторское свидетельство СССР

М 1088000, кл . С 06 F 11/00, 1984. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ФОРИИРОВАНИЯ ТЕСТОВ СУББЛОКА ЛОГИЧЕСКОГО БЛОКА (57) Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и м.б.

2 использовано при разработке тестового диагностического обеспечения выпускаемых устройств. Цель изобретения — обеспечение режима формирования тестовой информации для субблока логического блока с собственной синхронизацией. Устройство содержит эталонный .субблок 1, эталонный логический блок 2, коммутатор 4, блок 7 регистрации, таймер 6, блок 5 промежуточного накопления тестов. Происходит формирование тестов для субблоков и логических блоков по отношению к системам внешней синхронизации, 3 ил, 3 151

Изобретение относится к техническому диагностированию дискретных устройств автоматики, вычислительной техники и связи, а именно к устройствам автоматического формирования тестов проверки работоспособности их логических субблоков.

Целью изобретения является обеспечение режима формирования тестовой

1 ! информации для субблока логического блока с собственной синхронизацией., На фиг. 1 представлена структурная схема устройства для формирования тестов субблока логического блока; на фиг. 2 — функциональная схема блока промежуточного накопления тестов; на фиг. 3- — структурная схема блока регистрации.

Устройство для формирования тестов субблока логического блока (фиг. 1) содержит эталонный субблок

1, соединенный с эталонным логическим блоком 2 посредством ТЭЗ-переходника, группу внешних входов-выходов

3, соединенных через коммутатор 4 с эталонным блоком 2, блок 5 промежуточного накопления тестов, таймер 6, блок 7 регистрации„ элемент И 8, ! элемент ИЛИ 9, формирователь 10 импульса.

На чертеже также обозначены группы 11-12 входов блока 5, группа 13 выходов блока 5, выход 14 блока 5 выход .15 таймера, выход элемента

:,И 16, вход "Пуск". 17, выход 18 формирователя 10 импульсов, управляющий вход 19 блока 7„ выход 20 .блока

7, выход 21 коммутатора 4, вход

"Стоп" 22.

Блок 5 содержит буферный регистр

23, схему 24 поразрядного сравнения, генератор 25 частоты опроса, элемент

И 26, триггер 27, коммутатор 28, счетчик

29,дешифратор 30, узел 31 регистровой памяти, счетчик 32,дешйфратор ЗЗ нуля, узел 34 регистровой памяти, элемент И 35 счетчик 36, коммутатор 37, счетчик

38, коммутатор 39, элемент И 40, формирователь 41 импульса, элемент

И 42, элемент 2И-ИЛИ 43, группа элементов ИЛИ 44, элемент 2И-ИЛИ 45.

Блок 7 регистрации (фиг. 3) содержит входной регистр 46, элемент

ИЛИ 47, счетчик 48, дешифратор 49, элемент И-HJIH 50, триггер 51 готовности, формирователь 52 управляющих импульсов с входной логикой, испол3453

4 нительный механизм 53 регистрации информации и элемент И 54, Эталонный субблок 1 является составной частью логического блока (устройства 3BM) 2. В устройстве для формирования тестов субблоки должны быть заведомо иСправными и их выводы (входные и выходные контакты) несут информацию об изменениях лоГических сигналов ("0" или "1") во времени при работе логического блока 2 по сигналам, поступающим по входам 3 извне, например от канала ввода-вы15

В качестве коммутатора 4 используется двухгалетный переключатель,позволяющий подключить вход внешней синхронизации логического блока 2 на начальном (подготовительном) этапе к входу 21 управляемого таймера 6 и в рабочем режиме к выходу 18 формирователя 10 одиночных импульсов„

Блок 5 промежуточного накопления

25 тестов осуществляет накопление и хранение тестовой информации с дискретностью частоты генератора 25 опроса, равной времени срабатывания блоков 3 1 и 34 регистровой памяти и буферного регистра 23.

Таймер 6 на начальном (подготовительном) этапе работы автоматически запоминает время скважности (длительности S = 2Т) внешнего управляющего сигнала синхронизации (время полного

35 цикла работы логического блока 2, например, операции ввода-вывода)и затем организует подсчет времени в пределах этого интервала и формирует

40 его текущее значение на своих информационных выходах. Начальной точкой отсчета на каждом временном интерва.ле является начало очередного цикла работы логического блока 2 (устройства ЭВМ) с очередными управляющими и информационными словам, Блок 7 регистрации представляет собой устройство регистрации на бумажную или -магнитную ленты, имеющее группу информационных выходов 13, вход 19 и выход 20 готовности устройства к регистрации очередного тестового набора. По приходу сигнала синхронизации на вход (фиг . 3) блока 7 регистрации разрешается запись тесто55 вого набора в регистр 46 и через элемент ИЛИ 47 счетчик 48 устанавливается в состояние 000...01. Дешифратор

49 вырабатывает разрешающий потенциал

Управляющий вход "Пуск" 17 и вход

"Стоп" 22 предназначены для первоначального запуска и останова соответственно устройства, Буферный регистр 23 осуществляет прием тестовой информации только в том случае, когда она при очередном импульсе опроса отличается от преды55

5 15134 на шине выборки первой группы тестового набора. При N-разрядном тестовом наборе группа может составлять 5-8 и т.д. информационных битов. С инверсного выхода счетчика 48 на вход формирователя 52 поступает импульс запу-ска. Если блок регистрации информации готов к выполнению операции записи очередной группы (строки) тестовой информации, то на второй вход формирователя 52 управляющих импульсов также поступает разрешающий потенциал с выхода триггера 51 готовности. В результате этого формирователь 52 последовательно формирует на своих выходах управляющие импульсы.

Импульс с первого выхода формирователя 52 производит установку триггера

51 в нулевое состояние и осуществляет операцию записи группы (слова) тестовой информации на носитель. Импульс с второго выхода формирователя

52 запускает механизм продвижения носителя информации на один шаг, а также изменяет состояние счетчика 48 на

"+1".Импульс с третьего выхода Формирователя 52 устанавливает в единичное состояние триггер 51, обеспечивая тем самым последующий запуск формирователя 52. Регистрация тестового слова заканчивается записью на носитель последней группы тестовой информации и появлением на выходе счетчика 48 сигнала переполнения, который в совокупности с единичным сиг- 35 налом на выходе триггера 51 способствует формированию сигнала готовности к приему очередного тестового слова на выходе 20 блока 7 регистрации.

Элемент И 8 предназначен для формирования на своем выходе сигнала запуска формирователя 10 импульса через элемент ИЛИ 9 при условии за° 45 вершения очередного цикла работы логического блока 2 и наличии хотя бы одного свободного для записи тестовой информации блока 31 или 34 реги-стровой памяти, 5Q

53 6 дущего тестового слова хотя бы на одном из выводов логического блока 2:

Схема 24 поразрядного сравнения предназначена для выработки сигнала несравнения информации на входах 11 блока 5 промежуточного накопления тестов с информацией на выходах буферного регистра 23, Генератор 25 частоты опроса формирует на своем выходе сигналы с длительностью, равной времени срабатывания элементов памяти буферного регистра 23 и узлов 31 и 34 регистровой памяти.

Элемент И 26 на своем выходе формирует импульс записи при условии наличия на своем входе сигнала несовпадения текущей тестовой информации на входах 11 блока 5 промежуточного накопления тестов с информацией на выходах буферного регистра 23 хотя бы в одном из их разрядов.

Триггер 27 поочередно устанавливается в единичное и нулевое состояния по сигналу с выхода формирователя

10 импульса, т.е. с началом очередного цикла работы логического блока 2 (устройства ЭВМ) и через первый коммутатор 28 управляет записью тестовой информации в первый 31 или во второй 34 узлы регистровой памяти.

Счетчики адреса записи 29 и 32 определяют адреса записываемой тестовой информации путем накопления в режиме записи и уменьшают свои состояния на

"-1" в каждом цикле чтения при выво- де тестовой информации из соответствующего узла регистровой памяти.в блок ? регистрации.

Дешифраторы нуля 30 и 33 фиксируют.наличие нулевого состояния в счетчиках 29 и 32 соответственно, как сигнал готовности соответствующего узла 31 или 34 регистровой памяти к приему очередной теСтовой информации на последующем цикле работы логического блока 2, Узлы 31 и 34 регистровой памяти имеют информационные входы и выходы, адресные входы и входы призна,— ков режима чтения и записи, Принцип построения узлов регистровой памяти аналогичен принципу построения сверхоперативного запоминающего устройства

3ВМ, или, как их еще называют, регистров общего назначения.

Элемент И 35 формируют на своем выходе импульс чтения с первого уз1513453 ла 31 регистровой памяти в случае

"нулевого" состояния триггера 27.

Этот импульс своим отрицательным фронтом ("срезом импульса") увеличивает на "+1" состояние счетчика

36 считывания и уменьшает на "-1" состояние счетчика 29 адреса записи.

Коммутатор 37 пропускает на адр сные входы первого узла 3.1 регистр вой памяти сигналы с выходов счетч ка 29 адреса записи в режиме зал си и выходов счетчика 36 адреса итывания в режиме вывода тестовой формации в блок 7 регистрации.

Коммутатор 39 пропускает на адресные входы второго узла 34 регистровой памяти сигналы с выходов второго счетчика 32 адреса записи в реме записи и с выходов счетчика 38

1 реса считывания в режиме вывода блок 7 регистрации тестовой инфорации.

Элемент И 40 формирует на своем

1 выходе сигнал запуска формирователя

41 импульса при условии готовности блока 7 регистрации к приему очередого тестового слова (разрешающий отенциал на выходе 20 блока 5 проежуточного накопления тестов) и наЗО ичии сигнала занятости тестовой нформацией соответствующего узла ,1 или 34 регистровой памяти, находящегося в режиме чтения.

Элемент И 42 формирует на своем выходе импульс чтения со второго 35

>!зла 34 регистровой памяти при единичном состоянии триггера 27. Этот

Импульс считывания производит считывание информации из узла 34 и своим отрицательным фронтом увеличивает с остояние счетчика 38 и уменьшает состояние счетчика 32 на единицу.

Элемент 2И-ИЛИ 43 пропускает через свои первую и вторую группы входов сигнал незавершенного считывания из соответствующего узла 31 и 34 регистровой памяти, находящег îñÿ в режиме чтения, т,е, в режиме

Вывода уже накопленной тестовой информации, в блок 7 регистрации. 50

Группа элементов ИЛИ 44 пропускает сигналы с первого 31 или второ" го 34 узлов регистровой памяти, находящихся в режиме чтения„ на инфор- . мационные входы 13 блока 7 регистра- 55 ции.

Элемент 2И-ШП1 45 пропускает на свой выход 14 сигнал готовности соответствующего узла регистровой памяти к приему очередного массива тестовых наборов, сформированного на последующем цикле работы логического блока 2. Заметим, что данный узел ранее находился в режиме чтее ния (вывод тестовых наборов в блок

7 регистрации) и вся тестовая информация была считана и зарегистрирована на носителе информации.

Устройство для формирования тестов субблока логического блока работает следующим образом.

Эталонный субблок I подключается к логическому блоку 2 (устройству

ЭВМ) через кросс-плату (ТЭЗ-переходник), позволяющий подключить к их выводам первую группу информационных входов 11 блока 5 промежуточного накопления тестов.

Внешние входы 3 (входы извне) подключаются к входам коммутатора 4, а его выходы подключены к входам логического блока 2 (например, как подключается последовательно интерфейс ввода-вывода ЭВМ ЕС). Затем к устройству для формирования тестов субблока логического блока с помощью соответствующей клавиши галетного переключателя коммутатора 4 подключается внешний вход, по которому поступают сигналы внешней синхронизации (в некоторых случаях в качестве этого сигнала можно использовать управляющий сигнал начала цикла обмена или цикла работы, например, наличие одновременно сигналов ВБР-К и РВБ-К для интерфейса ввода-вывода) к управляющему входу 21 таймера 6, Далее производится включение питания устройства для формирования тестов субблока логического блока, логического блока 2 и эталонного субблока 1. Производится ."общий

c5poc" логического блока 2 и устройства (цепи установки в исходное состояние элементов и узлов устройства не показаны).

Нажатием кнопки, подключенной к внешней синхронизации, на таймере 6 проводится измерение длительности цикла работы логического блока 2 (время между двумя положительными фронтами импульса внешней синхронизации)„ численное значение которого запоминается в управляемом счетчике таймера 6. В дальнейшем таймер 6 при достижении своего текущего значе9 151345 ния значению на своем управляемом счетчике формирует сигнал переполнения на выходе 18 и устанавливается в нулевое состояние.

Таким образом, подготовительный этап работы устройства заключается в проведении указанных подключений и измерении времени полного цикла работы логического блока 2 на одной из операций. Затем клавиша, соответствующая номеру вывода, по которому поступает внешний синхросигнал, на коммутаторе 4 устанавливается в положение, при котором внешний синхросигнал отключается от соответствующего входа логического блока 2 и вместо него к этому выводу подключается выход формирователя 10.

Так как на информационных входах

11 блока 5 промежуточного накопления тестов находится информация, заведомо отличающаяся от нулевой, то в регистр 23 и в нулевой регистр узла

31 регистровой памяти записывается набор установки эталонного субблока

1 в исходное состояние с нулевой меткой времени, так как таймер 6 в это время не работает.

Запись тестового. набора производится следующим образом.

Так как содержимое на информационных входах 11 не равно нулю, то на выходе схемы 24 (фиг. 2) поразрядного сравнения появляется сигнал несравнения, который открывает элемент И 26 для прохождения импульса с выхода генератора 25. Так как триггер 27 установлен в нулевое состояние, то запись происходит в узел

31 регистровой памяти по следующей логической ветви блока 5 промежуточного накопления тестов. Импульс опроса с выхода элемента И 26 через коммутатор 28 поступает на вход счетчика 29 и на управляющий вход записи узла 31. Кроме того, импульс записи с выхода элемента И 26 поступает на вход разрешения записи регистра 23, который также принимает информацию с входов 11 и закрывает тем самым нулевым потенциалом с выхода схемы

24 поразрядного сравнения элемент

И 26. Счетчик 29 адреса записи по заднему фронту импульса устанавливается в состояние А = Ао,, подготавливая тем самым последующую запись в следующий регистр узла 31.

3 10

На входе "Пуск" 17 производится одновременный запуск имитатора внеш =них сигналов и устройства для формирования тестов субблока логического блока. При этом появление управляющего внешнего сигнала должно сов-! падать по времени с появлением сигна" ла на выходе формирователя 10 импуль" сов устройства и логический блок 2 начинает работать с информацией, по» ступающей по входам 3.

При первом цикле работы логического блока 2 запись производится в узле 34, так как триггер 27 устанавливается в единичное состояние импульсом с выхода 18 формирователя 10 импульсов. Этот же импульс запускает таймер 6. Вот почему первый тестовой набор первого цикла работы логического блока 2 содержит в поле меток времени двоично-десятичный код, osначающий количественную-величину времени начала изменения сигналов на входах или выходах эталонного субблока 1 с момента появления внешнего управляющего синхросигнала (управляющего импульса).

В дальнейшем генератор 25 вырабатывает импульсы, по которым пройзводится опрос возможных изменений на входах и выходах эталонного субблока 1 с дискретностью, равной времени срабатывания элементов памяти в узлах 31 и 34, а также буферного регистра 23. При совпадении состояний сигналов на входах и выходах с информацией, записанной в предыдущем цикле опроса в регистр 23, регистрации в узел 34 не происходит, так как на выходе схемы 24 присутствует сигнал совпадения. Если же эта информация отличается от предыдущей, она записывается в следующий регистр узла 34 регистровой памяти таким же образом, что и первый тестовой набор первого цикла работы логического- блока 2.

Запись в узел 34 регистровой памяти завершается по окончании первого цикла работы логического блока 2, т.е. при появлении на выходе 15 таймера 6 сигнала переполнения.

Таким образом, в узле 31 записывается тестовой набор установки эталонного субблока.1 в исходное состояние, а в узле 34 — совокупность тестовых наборов для субблока 1 при работе логического блока 2 на первом цикле своей работы.

lI 1513453

12 состояние эталонного субблока 1 чаще всего оказывается в единственном числе) . Итак, счетчик 29 устанавливается в нулевое состояние и в резуль тате этого на прямом выходе дешифратора 30 появляется высокий логический уровень сигнала, а на его инверсном выходе — низкий логический уровень сигнала. Первая группа входов элемента 2И-ИЛИ 43 закрывается и открывается вторая группа входов элемента 2И-ИЛИ 45. На выходе 14 блока 5 промежуточного накопления тестов появляется сигнал готовности узла 31 (в данном случае) к приему новой совокупности тестовых наборов, формируемых на втором цикле работы логического блока 2. . Если же за это время был закончен режим записи тестовой информации в узел 34, элемент И 8 (фиг. 1) формирует на своем выходе высокий логический уровень сигнала, который через элемент ИЛИ 9 запускает формирователь 10 импульса и который означает, что начался третий цикл работы логического блока 2.

Совмещение режима записи в узел 31 и режима чтения из узла 34 на третьем цикле работы логического блока.2 осуществляется аналогичным образом, т„е. на третьем цикле работы логического блока 2 осуществляется запись совокупности тестов для эталонного субблока 1 в узел 31 и чтение (вывод тестов в блок 7 регистрации) из узла

34 регистровой памяти.

По окончании вывода тестовой информации из узла 34 в.блок 7 регистрации формирователем 10 запускается четвертый цикл работы логического блока 2 и т.д.

Регистрация тестов для субблока логического блока 2 завершается при окончании заданного режима проверки логического блока 2 от имитатора внешних сигналов. На устройстве подается сигнал "Стоп". Работа устройства заканчивается .регистрацией блоком 7 из соответствующего узла 31 или

34 регистровой памяти совокупности тестовых наборов последнего цикла работы логического блока 2.

Для повышения быстродействия устройства реализовано совмещение режимов промежуточного накопления тестов с режимом вывода накопленной тестовой информации в блок 7 регистрации (для блока 5 промежуточного накоп- ления тестов — режимы записи и чтения соответственно) .

Совмещение режима чтения и режима записи осуществляется следующим образом. В момент приема в узел 31 тестового набора установки. в исходное. состояние эталонного блока 1 счетчик

29 адреса записи принимает состояние,!15 равное 000.01 и на инверсном выходе дешифратора 30 появляется высокий логический уровень сигнала, который, поступая на второй вход первой группы входов элемента 2И-ИЛИ 43, откры- 20 вает эту группу входов для формирования сигнала готовности узла 31 к режиму чтения (к выводу. записанного набора в блок 7 регистрации). Как только триггер 27 установится в еди- 25 ничное состояние, то высокий логический уровень сигнала с выхода. элемента 2И-ИЛИ 43 поступит на вход элемента И 40. При готовности блока 7 регистрации к приему тестового слова (высокий логический уровень сигнала на выходе 20) на вход формирователя

4 1 импульса поступает сигнал запуска положительным фронтом. Импульс с выхода формирователя 41 поступает на вход 19 блока 5 промежуточного нако3S пления тестов как сигнал запуска блока 7 регистрации и на входы элементов И 35 и 42.

Так как в это время установлен 40 режим записи в узел 34 регистровой памяти (триггер 27 находится в единичном состоянии), то импульс чтения проходит через элемент И 35 и поступает на вход режима чтения узла 31 вход вычитания счетчика 29 адреса

45 записи и на вход накопления счетчика

36 адреса считывания. В результате этorо информация с выходов узла 31. поступает через группу элементов ИЛИ

44 на.выход блока 5 промежуточного накопления. тестов и по срезу импульса чтения устанавливает счетчик

29 в нулевое состояние, а счетчик

36 — в состояние "000...01" (счетчик

29 в большинстве случаев на началь55 ном этапе после режима записи находится в состоянии "000...01", так как тестовый набор установки в исходное

Ф о Р м У л а изобретения

Устройство для формирования тестов субблока логического блока, содержащее коммутатор, блок регистра30

13 1-5134 ции, формирователь импульса, эталонный логический блок и элемент ИЛИ, причем выход элемента ИЛИ соединен с входом запуска формирователя импульса, вход блокировки которого соединен с входом "Стоп" устройства, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью формирования тестовой информации для субблока логического блока tð с собственной синхронизацией, в него введены таймер, блок промежуточного накопления тестов и элемент И, причем выход элемента И соединен с первым входом элемента ИЛИ, второй вход которого соединен с входом Пуск" устройства, выход формирователя импульса соединен с управляющим входом коммутатора, входом запуска таймера и входом синхронизации бло- 20 ка промежуточного накопления тестов, вход разрешения которого соединен с выходом признака конца регистрации блока регистрации, первый и второй выходы блока промежуточного накопления тестов соединены соответственно с первым входом элемента И и с входом синхронизации блока регистрации, группа информационных входов которого соединена с группой выходов блока г промежуточного накопления тестов, первая и вторая группы информационных входов которого соединены соответственно с выходами субблока эталонного логического блока, а также

35 с разрядными выходами таймера., выход переполнения которого соединен с вторым входом элемента И, входы эталонного логического блока соединены с выходами коммутатора,. выход которого соединен с управляющим входом таймера, синхровход кою утатора соединен с синхровходом устройства, причем блок промежуточного накопления тестов содержит два узла регистровой памяти, буферный регистр, схему поразрядного сравнения, генератор частоты опроса,три коммутатора, четыре счетчика, два дешифратора нуля, триггер четыре элемента И формиро 50

1 ватель импульса, два элемента 2И-ИЛИ и группу элементов ИЛИ, причем первая группа информационных входов блока промежуточного накопления тестов соединена с группой информационных

55 входов буферного регистра, информационными входами первой группы входов схемы поразрядного сравнения и первыми группами информационных

14 входов первого и второго узлов регистровой памяти, вторая группа информационных входов блока промежуточного накопления тестов соединена с соответствующими вторыми группами информационных входов первого и второго узлов регистровой памяти, вход синхронизации блока промежуточного накопления тестов соединен с счетным входом триггера, вход разрешения блока промежуточного накопления тестов соединен с первым входом первого элемента И, второй вход которого соединен с выходом первого элемента

2И-ИЛИ, выход первого элемента И соединен с. входом запуска формирователя импульсов, выход-которого соединен с вторым выходом блока промежчточного накопления тестов и первыми входами второго и третьего элементов

И, прямой выход триггера соединен с

I первым управляющим входом первого, второго и третьего коммутаторов, с вторым входом третьего элемента И и первыми входами первых групп входов первого и второго элементов 2И-ИЛИ, инверсный выход триггера соединен с вторыми управляюшими входами первого, второго и третьего коммутаторов, вторым входом второго элемента И и первыми входами вторых групп входов первого и второго элементов 2И-ИЛИ, выходы буферного регистра соединены с информационными входами второй группы входов схемы поразрядного сравнения, выход "Не равно" которой соединен с первым входом четвертого элемента

И, выход генератора частоты опроса соединен с вторым входом четвертого элемента И, выход которого соединен с входом разрешения записи буферного регистра, информационным входом первого коммутатора, первый и второй выходы которого соединены соответственно с входом разрешения записи первого и второго узлов регистровой памяти и входами суммирования первого и второго счетчиков, выход второго элемента И соединен с соответствующими входами вычитания первого счетчика, входом суммирования третьего счетчика и входом разрешения считывания первого узла регистровой памяти, выход третьего элемента И соединен с входом вычитания второго счетчика, входом суммирования третьего счетчика, входом разрешения считывания второго узла регистровой памяти, разрядные

15 151345 выходы первого счетчика адреса соединены с соответствующими информационными входами первого дешифратора нуля и первой группой информационных входов второго коммутатора, вторая группа информационных входов которого соединена с разрядными выходами третьего счетчика, разрядные выходы второго счетчика соединены с соответствующими информационными входами второго дешифратора нуля и первой группой информационных входов третьего . коммутатора, вторая Группа информационных Входов которого соединена с разрядными выходами четвертого счетчика, ин1 версные выходы первого и второго дешифраторов нуля соединены соответственно с вторыми входами первой и второй групп входов первого элемента

16

2И-ИЛИ, прямой выход первого дешифратора нуля соединен с входом установки

i лtr в 0 третьего счетчика и вторым входом второй группы входов второго элемента 2И-ИЛИ, прямой выход второго дешифратора нуля соединен с входом установки в "0" четвертого счетчика и с вторым входом первой группы входов второго элемента 2И-ИЛИ, выходы первого и третьего коммутаторов соединены соответственно с адресными входами первого и второго узлов регистровой памяти, выходы которых соединены соответственно с первой и второй группами входов группы элементов ИЛИ, выходы которых являются выходами блока промежуточного накопления тестов, выход второго элемента 2И-ИЛИ является выходом блока промежуточного накопления тестов.

1513453

Составитель А. Сиротская

Техред Л.Олийнык Корректор Т.Палий

Редактор Н. Лазаренко

Заказ 6080/48 Тирах 668 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Иосква, _#_-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, !О1

Устройство для формирования тестов субблока логического блока Устройство для формирования тестов субблока логического блока Устройство для формирования тестов субблока логического блока Устройство для формирования тестов субблока логического блока Устройство для формирования тестов субблока логического блока Устройство для формирования тестов субблока логического блока Устройство для формирования тестов субблока логического блока Устройство для формирования тестов субблока логического блока Устройство для формирования тестов субблока логического блока 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике и может использоваться для генерации тестовых воздействий при контроле дискретных объектов, для построения синхронных счетчиков и делителей частоты

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для синтеза тестов, диагностики и имитации неисправностей в различных компонентах вычислительных систем при экспериментальном исследовании надежности

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для имитации информационных посылок в процессе настройки, контроля и диагностирования неисправностей цифровых устройств

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано при построении универсальных и специализированных вычислительных устройств

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике и может быть использовано для поиска неисправностей в блоках ЦВМ

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для автоматической проверки функционирования программируемых логических матриц

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для функционально-параметрического контроля различных логических элементов, в тс числе микросхем и печатных п.лат, содержащих логические микросхемы

Изобретение относится к контролю устройств вычислительной техники

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике, в частности к средствам автоматизации контроля и поиска неисправностей в устройствах с дискретным характером функционирования, и может быть использовано в автоматизированных комплексах отладки и ремонта цифровых устройств

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности цифровых блоков и схем, поиска и локализации в них неисправностей как в процессе регулировки, так и в процессе эксплуатации

Изобретение относится к системам управления телевидением и радиовещанием

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике и может быть использовано в автоматизированных системах для контроля ЭВМ

Изобретение относится к области электрорадиотехники и может быть использовано для проверки функционирования DVD плеера

Изобретение относится к способу и системе отладки многоядерной системы с возможностями синхронной остановки и синхронного возобновления

Изобретение относится к области автоматики и цифровой вычислительной техники

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для диагностики функционирования микросхем оперативной памяти во всех отраслях микроэлектроники и радиотехники

Изобретение относится к средствам построения модели состояния технического объекта
Наверх