Способ измерения отклонений от прямолинейности

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерений отклонений от прямолинейности. Цель изобретения - повышение точности и производительности измерений. Для этого устанавливают на предметный столик 5 контролируемую деталь 6 так, чтобы постоянная опора 3 была совмещена с одним концом профиля поверхности контролируемой детали 6, а крайняя опора 4 - с другим, регистрируют измерительным прибором 2 положение прямой, стягивающей крайние точки профиля, перемещают основание 1 по нормали к плоскости рельефа путем его вращения на одной постоянной опоре 3 вокруг оси, перпендикулярной к измеряемой поверхности, до последовательного позиционирования остальных опор 4 основания 1 на линию профиля, а в качестве хорд, стягивающих точки контакта опор с измеряемой поверхностью, выбирают отрезки прямых, соединяющих точку профиля под постоянной опорой 3 с остальными его точками. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1 (!9) (И) (5ц 4 (01 В 5/28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ASTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

IlO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

1 (21) 4347599/25-28 (22) 21.12.87 (4e) 23. 11.89. Бюп. У 43

; (72) Л.Л. Зейгман и Ю.П. Тимофеев (53) 531.717(088.8) (56) Медянцева Л.Л. и др. Контроль прямолинейности и плоскостности поверхностей. М.: Изд-во стандартов, 1972, с. 37,38, рис. 23. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ

ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерений отклонений от прямолинейности. Цель изобретения повышение точности и производительности измерений. Для этого устанавливают на предметный столик 5 контро2 лируемую деталь 6 так, чтобы постоянная опора 3 была совмещена с одним концом профиля поверхности контролируемой детали 6, а крайняя опора 4 с другим, регистрируют измерительным прибором 2 положение прямой, стягивающей крайние точки профиля, перемещают основание 1 по нормали к плоскости рельефа путем его вращения на одной постоянной опоре 3 вокруг оси, перпендикулярной к измеряемой поверхности, до последовательного позицио-, нирования остальных опор 4 основания

1 на линию профиля, а в качестве хорд, стягивающих точки контакта опор с измеряемой поверхностью, выбирают отрез- ф ки прямых, соединяющих точку профиля под постоянной опорой 3 с остальными

его точками. 1 ил.

1523890

Составитель IO. Бугаев

Техред М,ДидЫк Корректор М. ШаРошн

Редактор Л, Гратилло

Заказ 7031/42 Тираж 683 Подпис нов

ВНИИПИ Государ< твенного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-изрательский комбинат "Патент", r.Ужгорол, ул. Гагарина,101

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерений отклонений от прямолинейности.

Целью изобретения является повышение точности и производительности измерений.

На чертеже представлено устройство, реализующее предлагаемый способ.

Устройство содержит основание 1, на котором установлен измерительный прибор 2. Постоянная опора 3 и остальные опоры 4 закреплены на основании . 1 так, что каждая опора 4 расположена на разных расстояниях от постоянной опоры 3 и под разным углом относительно продольной оси основания 1.

Постоянная опора 3 шарнирно закреп.лена на предметном столике 5 так, что 20 основание 1 может вращаться вокруг ее оси.

Способ осуществляется следующим образом.

Устанавливают на предметный столик 25

5 контролируемую деталь 6, так чтобы постоянная опора 3 была совмещена с одним концом профиля поверхности контролируемой детали 6, а крайняя опора

4 — с другим. Регистрируют иэмери- < тельным прибором 2 положение прямой, стягивающей крайние точки профиля.

Перемещают основание 1 ло нормали к плоскости профиля путем его вращения на одной постоянной опоре 3 вокруг осн, перпендикупярной к измеряемой поверхности.

Перемещают основание 1 до последовательного позиционирования остальных опор 4 основания 1 на линию профиля измеряемой поверхности. При этом измеряют наклон основания 1 при каждом позиционировании, что является измерением наклона хорд, соединяющих точку профиля под постоянной опорой

3 с остальными его точками.

Затем проводят математическую обработку данных измерений, позволяющую судить об отклонении профиля от заданного.

Формула изобретения.

Способ измерения отклонений от прямолинейности, заключающийся в том, что устанавливают на многоопорном основании измерительный прибор и измеряют наклоны хорд, стягивающих точки контакта опор основания с измеряемой поверхностью, по данным измерений судят об отклонении профиля, отличающийся тем, что, с цслью повышения точности и производительности измерений, перемещают основание по нормали к плоскости ярофиля путем вращения его на одной постоянной опоре вокруг оси, перпендикулярной к измеряемой поверхности, до последовательного позиционирования остальных опор основания на линии профиля измеряемой поверхности, а в качестве хорд выбирают отрезки прямых, соединяющих точку профиля под постоянной опорой с остальным его точками,

Способ измерения отклонений от прямолинейности Способ измерения отклонений от прямолинейности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения шероховатости и управления процессом обработки деталей

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для контроля твердости и шероховатости поверхности металлических изделий

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано для измерения круглости поверхностей детали непосредственно на металлорежущем станке

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов

Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек

Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов
Наверх