Устройство для определения степени компенсации примесей в полупроводниках

 

Устройство для определения степени компенсации примесей в полупроводниках, содержащее первый усилитель ЭДС Холла, входы которого подключены к холловским контактам первого полупроводникового образца, второй усилитель ЭДС Холла, выходы которого подключены к холловским контактам второго полупроводникового образца, и дифференциальный операционный усилитель, подключенный инвертирующим входом к выходу первого усилителя ЭДС Холла, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений путем уменьшения количества измеряемых параметров при методе сравнения, в него введены источник опорного напряжения, схема выборки-хранения, генератор синхроимпульсов и измеритель переменного напряжения, при этом вход измерителя переменного напряжения соединен с выходом второго усилителя ЭДС Холла, неинвертирующий вход дифференциального операционного усилителя соединен с выходом источника опорного напряжения, а выход - с входом схемы выборки-хранения, вход стробирования которой соединен с выходом генератора синхроимпульсов, а выход соединен с первым токовым контактом второго полупроводникового образца, соединенного своим вторым токовым контактом с первым токовым контактом первого полупроводникового образца, второй токовый контакт которого подключен к земляной шине.