Способ контроля и прогнозирования технического состояния усилителей мощности транзисторных связных передатчиков с амплитудной модуляцией по ширине полосы частот сигнала несущей частоты

Авторы патента:

G01R31/30 - граничные испытания, например путем изменения напряжения питания (граничные испытания вычислительных машин G06)

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и прогнозирования технического состояния усилителей мощности транзисторных связных передатчиков с амплитудой модуляцией. Цель изобретения - упрощение контроля и расширение функциональных возможностей за счет определения остаточного ресурса изделия. Устройство, реализующее способ, содержит входную клемму 1, ответвитель 2, анализатор 3 спектра и эквивалент 4 антенны. Контролю подвергают передатчик 5. Перед началом измерений переводят передатчик 5 в режим отсутствия модуляции сигнала на выходе, а затем измеряют ширину полосы частот сигнала несущей частоты по показаниям анализатора спектра 3. Далее проводят сравнение полученного значения с паспортным значением данного параметра и по отношению изменения ширины полосы частот сигнала несущей частоты к ее предельному значению определяют остаточный ресурс. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

1601593 A 1 ()9) (И) (51)5 G 01 R 31/28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

С5

СР

Оч

С :) ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ по изоБРетениям и ОтнРытияц

ПРИ ГННТ СССР (2 1) 4446406/24-21 (22) 12.04.88 (46) 23,10.90, Бюл. 11 39 (71) Киевский институт инженеров гражданской авиации им. 60-летия

СССР (72) В.А.Лоссовский, А.M.Ивушкин, В.В.Вахрин и Н.И.Колосов (53) 621.317,799 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

¹ 657374, кл. G 01 R 31/28, 1977.

Авторское свидетельство СССР

¹- 1026094, кл. G 01 R 31/26, 1983, (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ И ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ТЕХНИЧЕСКОГО СОСТОЯНИЯ УСИЛИТЕЛЕЙ

МОЩНОСТИ ТРАНЗИСТОРНЫХ СВЯЗНЫХ ПЕРЕДАТЧИКОВ С АМПЛИТУДНОЙ МОДУЛЯДИЕЙ

ПО ШИРИНЕ ПОЛОСЫ ЧАСТОТ СИГНАЛА НЕСУЩЕЙ ЧАСТОТЫ (57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и прогнозирования технического состояния усилителей мощности транзисторных связных передатчиков с амплитудной модуляцией. Дель изобретениявЂ” упрощение контроля и расширение функциональных возможностей за счет определения остаточного ресурса изделия. Устройство, реализующее способ, содержит входную клемму 1, ответвитель 2, анализатор 3 спектра и эквивалент 4 антенны. Контролю подвергают передатчик 5. Перед началом измерений переводят передатчик 5 в режим отсутствия модуляции сигнала на выходе, а затем измеряют ширину полосы частот сигнала несущей частоты по показаниям анализатора спектра З.Далее проводят сравнение полученного значения с .паспортным значением данного параметра и по отношению изменения ширины полосы частот сигнала несущей частоты к ее предельному значению определяют остаточный ресурс. 1 ил.

1601593

Составитель В,Савинов

Техред М.Ходанич

Корректор Х.Осауленко

Редактор О.Юрковецкая!

Заказ 3270 Тираж 564 . Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета но изобретениям !н открытиям при ГЕНТ СССР

11 1113 5, Москва, iK вЂ” 15, Раушская наб., д . 4 /5

Производственно вЂ” нзцнггельс кий комбинат "Пате п ", г.ужгс род, ул. Гагарина, 101

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и мо ет быть использовано для контроля и

Прогнозирования технического состоя- 5 йия усилителей мощности (УМ) транзисторных связных передатчиков с амплитудной модуляцией.

Цель изобретения вЂ” упрощение контроля и расширение функциональных 10

Возможностей путем определения оставЂ”

1 точного ресурса изделия. !

На чертеже представлена структурная схема устройства, реализующего с -;пбсоб. 15

Устройство содержит входную клемму 1, ответвитель 2, анализатор 3 с1пектра и эквивалент 4 антенны. На ч|ертеже также показан объект 5 контр1оля (передатчик). 20

Способ осуществляют следующим обазом, Переводят передатчик в режим отсутствия модуляции сигнала на выходе и измеряют ширину полосы частот сиг- 25

Нала несущей частоты по показаниям а!нализатора 3 спектра. Далее прово-! ят сравнение полученного значения

1 о паспортным значением данного пара-! осетра, указанным на контролируемый 30 передатчик, и по отношению изменевЂ”

Ния ширины полосы частот сигнала несущей частоты к ее предельному знаЧению определяют остаточный ресурс.

Уширение полосы частот сигнала н1есущей (СН) с наработкой является информативным параметром, коррелированным с деградацией транзисторов

УМ. В УМ передатчиков используют многоэмиттерные высокочастотные транзисторы, причем в процессе эксплуатации старение транзисторов проявляется и ускоряется локальными перегревами их. структуры и микропробоями, приводящими к пробоям коллекторного 45 перехода, т.е. отказу транзистора и УМ. Процесс деградации длительный, занимая во времени (в среднем) несколько тысяч часов нормального функционирования УМ, сопровождается,как следствие, локальными перегревами и микропробоями, изменениями параметров эмиттерного и коллекторного переходов транзисторов (емкости перехода, его добротности и др.), что приводит к изменению входных и выходных сопротивлений транзисторов и нарушению согласования между каскадами УМ. Рассогласование каскадов в передатчике приводит к уширению полосгы частот сигнала несущей частоты, которое и является информативным параметром о pecypde объекта контроля.

При применении предлагаемого способа не нарушаются ни целостность диагностируемого устройства (передатчиков) по функционированию, ни режим эксплуатации, нет необходимости создавать дополнительные специальные диагностируюшие устройства,технология контроля упрощается, так как состоит лишь из одной операциивЂ” измерения ширины СН, т.е. не требуется серии измерений при вариации опорных сигналов для снятия динамической характеристики УМ.

Формула изобретения

Способ контроля и прогнозирования технического состояния усилителей мощности транзисторных связных передатчиков с амплитудной модуляцией по ширине полосы частот сигнала несущей частоты, включающий измерение параметра и сравнение его с эталонным значением, отличающийся тем, что, с целью упрощения контроля и расширения функциональных возможностей путем определения остаточного ресурса изделия, переводят передатчик в режим отсутствия модуляции сигнала на выходе, измеряют ширину полосы частот сигнала несущей частоты, сравнивают ее с эталонным значевЂ” нием для данного передатчика,вычисляют отношение изменения ширины полосы частот сигнала несущей частоты к ее предельному значению и определяют остаточный ресурс,

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле качества изготовления сложных электронных блоков, преимущественно с печатным монтажом

Способ контроля надежности интегральных микросхем // 1596288

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для диагностического контроля и отбраковки предрасположенных к коррозии интегральных микросхем

Способ контроля интегральных микросхем памяти // 1594458

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике в микроэлектронике и предназначено для отбраковки запоминающих устройств, имеющих дефектные ячейки памяти

Устройство для функционального контроля больших интегральных микросхем // 1583887

Изобретение относится к контрольно-испытательной технике и может быть использовано для функционального контроля больших интегральных схем, имеющих выходы с третьим состоянием

Способ контроля качества многослойных печатных плат и устройство для его осуществления // 1580598

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Устройство для автоматизированной функциональной настройки гибридных интегральных микросхем // 1552135

Изобретение относится к электронике и может быть использовано при настройке гибридных интегральных микросхем (ГИМС)

Способ контроля отсутствия обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с изолирующими диодами // 1541542

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при производстве и контроле твердотельных интегральных схем с изолирующими диодами

Способ отбраковки интегральных схем // 1539696

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к контролю в производстве интегральных микросхем

Устройство для автоматического контроля больших интегральных схем // 1529220

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля электрических /статических и динамических/ параметров и функционирования цифровых логических БИС, в частности схем с эмиттерно-связанной логикой

Способ контроля микросхем со скрытыми дефектами // 1511721

Изобретение относится к контролю изделий электронной техники, в частности может быть использовано для выявления микросхем (МС) со скрытыми дефектами

Способ испытаний полупроводниковых фотоприемников // 2138058

Изобретение относится к способам испытаний полупроводниковых приборов на надежность и может использоваться для ускоренных испытаний полупроводниковых фотоприемников, например фотодиодов для прогнозирования их надежности в процессе длительной эксплуатации

Способ обнаружения и идентификации скрытых электронных установок и устройство для его осуществления // 2150120

Изобретение относится к средствам предотвращения несанкционированного контроля работы оборудования, а также деятельности и перемещений персонала и отдельных личностей, например, скрытыми видеокамерами

Измеритель остаточного напряжения на накопительном конденсаторе в емкостных системах зажигания // 2179322

Изобретение относится к электроизмерительной технике, в частности к устройствам для измерения параметров искровых разрядов в свечах зажигания, и может быть использовано для измерения остаточного напряжения на накопительном конденсаторе в емкостных системах зажигания газотурбинных двигателей

Способ оценки и повышения метрологической надежности средств измерений с учетом температурного режима их эксплуатации // 2276380

Способ отбора интегральных схем повышенной надежности // 2295735

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для выделения из партии интегральных схем (ИС) схемы повышенной надежности

Способ разделения интегральных микросхем по радиационной стойкости и надежности // 2311654

Изобретение относится к области испытания объектов электронной техники, в частности предназначено для отбраковки образцов интегральных микросхем с аномально низкой радиационной стойкостью и надежностью

Способ контроля технического состояния элементов высоковольтного оборудования // 2368914

Изобретение относится к способам дистанционного контроля технического состояния электроэнергетического (ЭЭ) оборудования, находящегося под напряжением

Установка для тестирования чипов каскадных фотопреобразователей на основе соединений al-ga-in-as-p // 2391648

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для бесконтактного неразрушающего контроля качества чипов полупроводниковых фотопреобразователей, в частности солнечных элементов

Камера для электроклиматических испытаний // 2054688

Изобретение относится к контрольно-диагностической и испытательно-исследовательской технике и может быть использовано при создании диагностико-испытательного оборудования для испытаний и исследований современной радиоэлектронной аппаратуры

Измерительный источник-преобразователь напряжения и тока // 1670632

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в составе автоматизированных измерительных комплексов для контроля параметров интегральных микросхем