Устройство контроля ресурса передающих квантово-электронных модулей

Авторы патента:

G01R31/303 - интегральных схем (G01R 31/305-G01R 31/315 имеют преимущество)

Изобретение может быть использовано для контроля ресурса передающих квантово-электронных модулей с излучателями на полупроводниковых лазерах перед установкой их в отказоустойчивые волоконно-оптические системы. Цель изобретения - сокращение продолжительности контроля. Устройство содержит генератор 1 последовательности импульсов, передающий квантово-электронный модуль 2, пусковую кнопку 9, таймер 10, источник 6 регулируемого опорного напряжения, пороговый блок 8, вычитающий блок 5, блок 11 индикации, а также измеритель 4 тока и делитель 7 напряжения. В устройстве анализируется изменение тока накачки испытуемого квантово-электронного модуля за время испытания, и по результатам анализа выносится решение о достаточности ресурса. 2 ил.

союз советских социАлистических

РЕСПУБЛИК

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

« °

° ««

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4701565/21 (22) 06.06.89 (46) 30.08.91. Бюл. М 32 (72) А.И«Журавин и Д.Е.Елисов (53) 621.317.799(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 1193683, кл, 6 01 R 31/28, 1985.

Авторское свидетельство СССР

ЬЬ 1575141, кл. 6 01 R 31/28, 1987. (54) УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ РЕСУРСА

ПЕРЕДАЮЩИХ КВАНТ080-ЭЛЕКТРОННЫХ МОДУЛЕЙ (57) Изобретение может быть использовано длР контроля ресурса передающих квантово-электронных модулей с излучателями на полупроводниковых лазерах перед установИзобретение относится к устройствам контроля ресурса и может применяться при отборе передающих квантово-электронных модулей (КЭМ-.ПД) перед их установкой в волоконно-оптические системы передачи информации (ВОСПИ).

Цель изобретения - снижение продолжительности контроля.

На фиг.1 изображена структурная схема устройства; на фиг.2 вЂ” временная диаграмма, поясняющая работу.

Устройство содержит генератор 1 последовательности импульсов, выход которого соединен с входом передающего квантово-электронного модуля 2, помещенного в испытательную камеру 3, измеритель тока 4, вычитающий блок 5. первый вход которого соединен с выходом источника 6 регулируемого опорного напряжения, сое„„ Ц ÄÄ 1674023 А1 (я)5 G 01 R 31/28 кой их в отказоустойчивые волоконно-оп:ические системы, Цель изобретения вЂ” сокра. щение продолжительности контроля.

Устройство содержит генератор 1 последовательности импульсов, передающий квантово электронный модуль 2, пусковую кнопку 9, таймер 10, источник 6 регулируемого опорного напряжения, пороговый блок

8, вычитающий блок 5, блок 11 индикации,. а также измеритель 4 тока и делитель 7 напряжения. В устройстве анализируется изменение тока накачки испытуемого квантово-электронного модуля за время испытания, и по результатам анализатора выносится решение о достаточности ресурса. 2 ил. диненного также через делитель напряжения 7 с первым входом порогового блока 8, пусковую кнопку 9, соединяющую вход таймера 10 с клеммой для подключения напряжения питания, блок -11 .индикации, содержащий лампочку 12 индикациии "норма, лампочку 13 индикации "брак", BOIlbTметр 14. соединенный соответственно с выходами таймера 10. порогового блока 8 и вычитающего блока 5.

Устройство работает следующим образом.

Испытуемый квантово-электронный модуль 2 помещается в испытательную камеру 3, где прогревается до нужной t>t

U<, пропорциональное току накачки 1 . На другой вход вычитающего блока 5 подается опорное напряжение U>n от источника 6 опорного напряжения. На выходе вычитающего блока 5 появляется напряжение, равное разности Ж4 нап ряжен ий на входах, которое отображается в блоке индикациии

:11 (измеряется вольтметром 14). Регулируя опорное налряжение Uon, добиваются от, сутствия на выходе вычитающего блока 5 напряжения AU<= О. После этого замыкается кнопка 9, чем подается питающее напряжение на таймер 10, предварительно установленный для отсчета заданного интервала Ти времени испытания.

Подаваемое опорное напряжение Uo;i остается неизменным все время испытания и уменьшенное делителем в К раз присутствует на одном иэ входов порогового блока

8. На другой вход подается напряжение Л0 с выхода вычитающего блока 5, пропорциональное возрастанию тока накачки д4. При выполнении условия Л Ut > kUo произойдет срабатывание порогового блока 8 и загорается лампочка 13 "брак", что свидетельствует о выполнении условия отбраковки. Если же за время испытания Ти этого не произошло; срабатывает таймер 0 и загорается лампочка 12 "норма", Принимается решение, что испытуемый модуль 2 обладает значительным ресурсом. При необходимости условия испытания можно ужесточить путем увеличения длительности Т, температуры т и уменьшения скважности импульсов Q.

Формула изобретения

Устройство контроля ресурса передающих квантова-электронных модулей, содер10 жащее генератор последовательности импульсов, выход которого соединен с входом контролируемого передающего квантово-электронного модуля, помещенного в испытательную камеру, источник регулиру15 емого опорного напряжения, выход которого соединен с первым входом вы итающего блока, пороговый блок, таймер, вход которого через пусковую кнопку соединен с клеммой для подключения напряжения питания, 20 а выходы таймера, порогового блока и вычитающего блока соединены с соответствующими входами б.-ока индикации, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с целью сокращения времени контроля, в устройство введены из25 меритель тока и делитель напряжения, причем измеритель тока включен в цепь питания излучателя контролируемого квантово-электронного передающего модуля, выход измерителя тока соединен с вторым

30 входом вычитающего блока, вход делителя напряжение соединен с выходом источника регулируемого опорного напряжения, а выход делителя напряжения "îåäèíåí с вторым входом порогового блока.

1674023

Я б»

Составитель B. Степанкин

Редактор М. Недолуженко Техред M.Ìîðãåíòàë Корректор О.Кравцова

Заказ 2918 Гираж 411 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Рауиская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Устройство контроля ресурса передающих квантово-электронных модулей

Изобретение относится к микроэлектронике

Измерительный источник-преобразователь напряжения и тока // 1670632

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в составе автоматизированных измерительных комплексов для контроля параметров интегральных микросхем

Способ контроля надежности интегральных микросхем // 1596288

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для диагностического контроля и отбраковки предрасположенных к коррозии интегральных микросхем

Способ контроля интегральных микросхем памяти // 1594458

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике в микроэлектронике и предназначено для отбраковки запоминающих устройств, имеющих дефектные ячейки памяти

Устройство для функционального контроля больших интегральных микросхем // 1583887

Изобретение относится к контрольно-испытательной технике и может быть использовано для функционального контроля больших интегральных схем, имеющих выходы с третьим состоянием

Устройство для автоматизированной функциональной настройки гибридных интегральных микросхем // 1552135

Изобретение относится к электронике и может быть использовано при настройке гибридных интегральных микросхем (ГИМС)

Способ контроля отсутствия обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с изолирующими диодами // 1541542

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при производстве и контроле твердотельных интегральных схем с изолирующими диодами

Способ отбраковки интегральных схем // 1539696

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к контролю в производстве интегральных микросхем

Устройство для автоматического контроля больших интегральных схем // 1529220

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля электрических /статических и динамических/ параметров и функционирования цифровых логических БИС, в частности схем с эмиттерно-связанной логикой

Устройство для измерения электрических параметров интегральных микросхем // 1504633

Изобретение относится к технике контроля качества и надежности радиоэлементов, интегральных микросхем, электронных устройств и блоков и может быть использовано для контроля их статических параметров и функционального контроля

Способ отбора интегральных схем повышенной надежности // 2295735

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для выделения из партии интегральных схем (ИС) схемы повышенной надежности

Способ разделения интегральных микросхем по радиационной стойкости и надежности // 2311654

Изобретение относится к области испытания объектов электронной техники, в частности предназначено для отбраковки образцов интегральных микросхем с аномально низкой радиационной стойкостью и надежностью

Способ теплового контроля качества объемных интегральных схем // 1675908

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля качества объемных интегральных схем

Устройство для фиксации обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с диодной изоляцией // 1691790

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при производстве и контроле интегральных схем с диодной изоляцией в процессе испытаний на виброустойчивость и воздействие акустических шумов

Устройство для контроля контактирования выводов интегральной схемы // 1712907

Изобретение относится к электронной технике

Способ электротермотренировки интегральных микросхем // 2554660

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для повышения качества электротермотренировки интегральных микросхем. Технический результат: повышение надежности микросхем. Сущность: на выводы питания и на вывод ″земля″ микросхемы подают последовательности импульсов напряжения. Фронт нарастания импульсов, подаваемых на вывод ″земля″, формируют с задержкой относительно фронта нарастания соответствующего импульса на выводе питания. Спад импульсов на выводе “земля” формируют до начала формирования спада соответствующего импульса на выводе питания. 4 ил.

Способ оценки стойкости цифровой электронной аппаратуры к воздействию ионизирующих излучений (варианты) // 2578053

Изобретение относится к области исследования радиационной стойкости полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем, и в большей степени интегральных микросхем (ИМС) с последовательной и комбинационной обработкой логических сигналов. Сущность изобретения заключается в том, что путем сопоставления и конверсии различных данных по стойкости к дозовым эффектам при статическом или импульсном облучении на моделирующих установках (МУ), по стойкости к эффектам мощности дозы при импульсном облучении на МУ, по стойкости к воздействию эффектов мощности дозы ИЛИ при имитационном моделировании, по стойкости к низкоинтенсивному излучению факторов космического пространства (КП) и по данным спецификаций о динамических параметрах ППП и ИМС на основе общей концепции генерации критического заряда в чувствительном объеме νS, вызывающего эффекты SEU и SET в цифровых электронных схемах. 4 н. и 23 з.п. ф-лы, 16 ил., 12 табл.