Способ контроля частоты отражающих радиусных поверхностей

Авторы патента:

G01B11/30 - для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля чистоты радиусных поверхностей, преимущественно шариков или дорожек качения подшипниковых колец приборных подшипников. Цель изобретения - повышение качества контроля и расширение области использования способа за счет возможности обнаружения единичного и групповых дефектов с размерами порядка среднего размера шероховатости исследуемой поверхности, а также за счет обеспечения контроля сферических и тороидальных поверхностей. Участок исследуемой поверхности 4 наклонно освещают лазерным лучом, наблюдают на экране 2 дифракционную картину отражения, визуально выделяют на ней дифракционные пятна, обусловленные механическими дефектами исследуемой поверхности 4, по количеству и размерам которых судят о чистоте исследуемой поверхности 4. Обзор всей поверхности 4 осуществляется путем ее вращения. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„„5lJ „„1693377 А1 гй)5 G 01 В 11/30

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4732168/28 (22) 22.08.89 (46) 23.11.91. Бюл. М 43 (71) Институт оптики атмосферы СО

АН СССР (72) П.И,Нетреба (53) 531,7.1 5.27 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 1379617, кл. G 01 В 11/30, 25.09.86. бретения вЂ” повышение качества контроля и расширение области использования способа за счет возможности обнаружения единичного и групповых дефектов с размерами порядка среднего размера шероховатости исследуемой поверхности, а также за счет обеспечения контроля сферических и тороидальных поверхностей. Участок исследуемой поверхности 4 наклонно освещают лазерным лучом, наблюдают на экране 2 дифракционную картину отражения, визуально выделяют на ней дифракционные пятна, обусловленные механическими дефектами исследуемой поверхности 4, по количеству и. размерам которых судят о чистоте исследуемой поверхности 4. Обзор всей поверхности 4 осуществляется путем ее вращения, 1 ил. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ЧИСТОТЫ ОТРАЖАЮЩИХ РАДИУСНЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля чистоты радиусных поверхностей, преимущественно шариков или дорожек качения подшипниковых колец приборных подшипников. Цель изоф

Ь»

l Г C

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

1693377

4 мой поверх!!Ость!, Ог ределя(от их количест80 и размеры (на! 1риклер, с i!QI:гощь(0 MGcIU табной сеTe»IB з((ра!!е) при известном !

/ВЕДЯ!ЧЕ!!!ЛИ KOГОРОЕ QIIPBUBÄB!ôÚ i "Я ПО (!!OPмуле D = 2!,(Й, По количеству и размерам выделенных дифракционных пятен судят о наличии дефектов и чистоте исследуемой поверхности 4, (1од(, -;истотой поверхности подразумевается от утствие а исследуемой поверхности дефектов типа: риски, pal!QBMhbI,, ВЫООИНЫ, BLICT) I|Û, С помощь(о пред()агаемого c!!Qr оба можно производить на экране визуальное сравнение количества и раз lepOB наблюдаемых дефектов с фотошаблоном, определяющим допустимые размеры и количество дефектов в поле зрения.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для

68cK0HTBKTHof о BLI3 B!lbHoiQ контРОЛЯ «!!стоты отражающих радиусных поверхностей, преимущественно шариков и дорожек каче- 5 ния подшипниковых колец.

Цель изобретения вЂ” повь;шение качества контроля и расширение области использования способа эа счет возможности обнаружения единичного и групповых де- 19 фектов с размера!Ли порядка среднего размера шероховатостей исследуемой поверхности, а также за счет обеспечен..л; контроля сферических и тороидальных поверхностей. 15

На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующего предлагаемый способ.

Устройство содержит лазер 1, экран 2, светофильтр 3. 20

Способ осуществля(от следу!Ощим Obразом.

Лазерный луч QT лазера 1 наклонно, т.е, под углом к радиальному направления исследуемого участка поверхности, направ- 25, ляют на исследуемую поверхность 4. При этом на экране 2, установленном на расстоянии L от исследуемой поверхности 4, радиусом 8 образуетСя дифракционная картина отражения, котору!о визуально 30 наблюдают через светофильтр 3 для повышения контраста дифракционной картины.

Вращая исследуемую поверхнос ь 4, визуально выделяют на экране дифракционные пятна, обусловленные пефектами исследуе- 35

Формула изобретения

СпОсоб контроля чистоты Отражающ!лх радиусных поверхностей, эаключа!ощийся в том, что лазерный луч направля!От наклонно на исследуему(о поверхность, набл!Ода(от дифракционну!о картину Отражения, по которой судят о чистоте исследуемой поверхности, о т л и ч а !о шийся тем, что, с целью повышения качества контроля и расширения Области использования способа за счет обеспечения контроля сферических и тороидальных поверхностей, выделя!От дифракционные пятна из наб (!одаемой дифракционной картины отражения, а О чистоте исследуемОй поверхност!л судят по количеству и размерам дифракционных пятен, CGcTBI3I!T(çëü ЛХ".Обэо а

Гехред V).МОрген".ал

Редактор О.Головач

Корректор М, Ц)а QQ (Производственно-издательский комби!гат Т!атент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101

Заказ 4067 Ираж Подписное

ВНИИПИ Государствснного комитета по изобретениям и открытиям г;р(л ГК!-П С С ;

113035, Мос(та, Ж-35-,. Раушская наб„4/5

Способ контроля частоты отражающих радиусных поверхностей

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к приспособлени8 зН-ДДЕу /Г / 2 3 7 Ч 5 11 ям измерительных устройств, характеризующимся оптическими средствами измерения , и может быть использовано в качестве портативного индивидуального средства для измерения шероховатости поверхности

Устройство для контроля качества цилиндрической поверхности // 1684594

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для обнаружения дефектов наружных цилиндрических поверхностей, преимущественно изоляции эмалированных проводов

Устройство для определения направления следов обработки на поверхности деталей // 1682771

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение при автоматизированном анализе положения деталей в пространстве, определении направления и скорости их перемещения, окончания обработки и т

Устройство для контроля шероховатости поверхности изделия // 1682770

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к оптическим методам контроля шероховатости поверхности, и может быть использовано для контроля шероховатости поверхности после металлообработки

Устройство для контроля поверхностных пороков рулонных материалов // 1681243

Изобретение относится к средствам автоматизированного контроля качества рулонных материалов и может быть использовано в текстильной промышленности при производстве тканей и трикотажных полотен

Способ а.м.тонояна трассологической экспертизы следов орудия преступления // 1681167

Изобретение относится к судебной медицине , а именно к криминалистике

Устройство для контроля качества поверхности // 1675669

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля качества поверхностей деталей, например, шероховатости поверхности в машиностроении и приборостроении

Рефлектометр для измерения поляризационных параметров поверхности объекта // 1670394

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для измерения комбинированных поляризационных параметров поверхности жидких объектов

Способ измерения шероховатости металлической поверхности // 1668865

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для обнаружения острых сколов на шероховатых металлических поверхностях

Лазерный интерференционный плоскомер // 1668864

Изобретение относится к средствам измерения отклонения от прямолинейности и плоскости

Устройство для определения качества поверхности // 2104480

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Способ исследования оптического диска оригинала и устройство для его осуществления // 2107893

Устройство для измерения шероховатости и волнистости поверхности при фиксированных значениях базовой длины // 2116616

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Устройство для измерения поверхностных характеристик // 2124701

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Способ и устройство для высокоточного бесконтактного измерения расстояний поверхностей // 2148790

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Способ контроля параметров наружной резьбы и устройство для его осуществления // 2151999

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Способ контроля параметров внутренней резьбы и устройство для его осуществления // 2152000

Способ детектирования положения линии сгиба на упаковочном полотне и устройство для его осуществления // 2153160

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Устройство для определения шероховатости поверхности // 2156437

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Устройство для контроля шероховатости поверхности изделия // 2156955

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия