Способ контроля качества склейки в обрезиненном валке

 

Использование: для диажостики качества изготовления обрезиненных валков, повышает надежность изделий и обеспечивает заданные условия их эксплуатации. Сущность, перед голографированием валок раскручивают вокруг своей оси до скорости и останавливают. После предварительного нагружения валка центробежными силами за счет раскручивания его с заданной скоростью на всех участках клеевого соединения резины и металла разрушаются связи и усилия сцепления которых меньше 7Мин Предварительное нзгружение валка можно производить вне голографической установки В дальнейшем образовавшиеся отслоения обнаруживаются при незначительных перепадах скоростей по интерферограмме.

союз советских

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)з G 01 В 9/025

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4842545/25 (22) 23.05,90 (46) 07.07.92. Бюл. М 25 (71) Днеп роп етро вский госуда рстве нный университет им. 300-летия воссоединения

Украины с Россией (72) Ю.В.Сохач, А.Г.Пилипенко и Е,A.Êðûëîe (53) 772.99(088,8) (56) Вест.Ч. Голографическая интерферометрия, — M,: Мир, 1982, с,241-249, Авторское свидетельство СССР

М. 1247648, кл. С 01 В 9/025, 1985. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧ Е СТВА

СКЛЕЙКИ В ОБРЕЗИНЕННОМ ВАЛКЕ (57) Использование: для диагностики качесгеа изготовления обрезиненных валков, Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для диагностики качества изготовления обрезиненных валков.

Известны различные способы обнаружения отслоений резинового слоя от металлического валка, основанные на использовании метода голографической интерферометрии. В общем случае они состоят в том, что регистрируется двухэкспозицио н ная интерферограмма объекта, а между экспозициями к нему прикладывается определенный вид нагрузки — вакуумная, температурная. центробежная, и по аномалиям в картине распределения интерференционных полос определяют дефекты.

Известен способ, состоящий в том, что обрезиненный валок помещают в вакуумную камеру, регистрируют двухэкспозиционную интерферограмму поверхности,,. Ы 1746212 А1 повышает надежность изделий и обеспечивает заданные условия их эксплуатации.

Сущность; перед голографированием валок раскручивают вокруг своей оси до скорости а „,„и оста н а вл ива ют. После предварительного нагружения валка центробежными силами за счет раскручивания его с заданной скоростью на всех участках клеевого соединения резины и металла разрушаются связи и усилия сцепления которых меньше о>ин, Предварительное нагружение валка можно производить вне голографической установки. В дальнейшем образовавшиеся отслое".èë обнаруживаются при незначительных перепадах скоростей по интерферограмме. резины, причем первую экспозицию осуществляют при атмосферном давлении, а вторую — при пониженном.

Этот способ позволяет обнаруживать только отслоения, представляющие собой замкнутую полость.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ, состоящий в том, что регистрируют двухэкспозиционную интерферограмму поверхности резины, причем перед первой экспозицией валок приводят во вращение вокруг своей оси, а после первой экспозиции меняют частоту вращения и осуществляют вторую экспозицию.

Данный способ расширяет возможности аналога, позволяя обнаруживать отслоения, сообщающиеся с атмосферой.

Недостаток известного способа состоит в том, что он не позволяет обнаружить те

g! « T« ", СОПi>Я),P iil(-i :1 )П.г(. 1 .:,!

KО 0рЫХ СИЛ .- . CiiПГ1(ЕН : 1 гг = !- - - = -)1) 1

J) 8I-I I. Ь;;< 1-(-,", i-I ИЧ8(.: ....": . Еб." 1) а i i!, - г 1, Г» 33() .011 ° (!C боааНИЯ К .«Е il!!Ч 1(С (;,!,ÏI„. (.(8(1, 1 " «

РЭЗЛИЧНЬ(, ; 0:-1г. 11(гг 1 г !.;..;,," (Г",: ... I-I .11 «и!

НИИ ИЗВЕСТНЫ«

В Ет Ст (« «1011(Л.«

Ва«учМНО(г: СВМЕрр .: —,г -,, 1 Л11 ПЕГ

У «

POB3HN3, (-«Ожчо

C ВЯ З(Л (Л. Q l (0(- ЦЕ!) I! «, «,,;) I! r (-,Л усилий От ) .)Ыва; ее! 1. 1ы 1 i I I;1я;л;ла, J„))) i,н и, едИНИОЬ(За .:"(Е:, i,: (10 «С. :r. -:.! i л

ХоциМО Обе(.П 1!Л "-, !«!p!! .. г«:,I! f i!!«!i;, П (,ВраЩЕНИЯ Вал К,;,.: IHP; ., ;,, л ля и . i!1<

") ) прсвышат i 11)Г):г,;., ..«Г,,,;:"Ь(С,Е (.К ) интерферограмм=-.)::.3111; . 31;,1:„:;я С,.,е(;О((-, p0VI 38ЛИЧИН:., .. 310: (а ;10= ., .::««;",:, а: Гг,:Ч--",:, НР.В0ЗМОжН Ь1г:1. I . : 1 .СЕ:! i .-,"., . ; .:, B. :; Ся движения вал < «и:, 1!. 1-. и 3 «-) ;л(--.il()!<и li; )и:,. снОГО лазера. («рО." : 1 .:i .. ; ".ь(п .у.", враЩения вал(<а,,,:-.: б(ч", у: . и р 0 в 0 р 3 ч и B а 8 тс я .1, ! г ) д (:::!, "1 (" . :,= ::1

НОСТЬ За ВРЕМ ЗК .:1! „."!, 10(;i!: 11:, :-, .-; 0 .,(.. парази(ны; по))ос:.;: =:, „а.- и:; !,1н;(-раММЕ, При ОПрвд —.г!,.=.:-,:,:: (:".0-;..Ос- ()(Г(1:.:.1( на интерферогра;: I:«) .,-;: .;.:,, ..:, .-,ь., неразличимы.

U, СТИ КОНТРОЛЯ ": ". В = .:. Г .! «01;;,П::Л "H

МЕ)(<дУ МВТЯЛii! "1 ;,,: г„" )н-;г):,;,i р, г;П-;г„. -.г

Валках.

ГО, ЧТО П8Р8Д Гl" «>! Ч -,:),!, 8i,i: Я,,,", i<, i(1 „ Л; :.,I, ii ;

HОЙ ИH il 80(«) =.p . ", ) -i! ;м;" !.:(л л = :. : г) известному спо;o(;, ва) OK оа(êpó ::::.;)1);

Вокруг c808É Оси,зо с <о; и л, 1, i и .Ос а

Н а В Л И В а Ют, а:-.;(;.".. О, - 1-:.-,,„. „(t i, O:=, л г-; i i, rlO ФОРМУЛЕ

1i 1() I Н:.Сть р-.:зиllы: трснний наружный радиу1 : 01 . " 181!1 ОГО СЛОЯ

;1po((33 1!1(ел нного н агружения

3: )(:;: . i-: —:роб(з)кными силами за счет рас:р .":, -..;V!;I его с заданной скоростью на

Р, К3;< K

:;..:- С ..„.-: ПрОИЗОйдет раЗруШЕНИЕ СВяЗЕй, :,,Е.—;;(ЕН. I>I ХОтОРЫХ MЕНЬШЕ СГ(„„, 1,-:-Ь вЂ”, тЕЛЬНО8 .,= ГРУжЕНИЕ В3ЛКа МажНО

:.и;-,:,::::,. ;- вне голографической установ,(г. Е(.:, -:..=:Ишем обРгзовавшлесЯ отслоеНИЯ ()(н::.,",Х<ИВаЮтоя СОглаСнО иЗвЕСтному

;:CO;i„П:; H83H3×ÈT8ËÜÍÛÕ ИЗМЕНЕНИЯХ, :):.;г, ВГ l8 ÛÌ СПОСОб Гi0380ЛЯЕТ ПОВЫ! .: () P 0 i" 1! 1 1«, Г. 3: (, Е Н И Я гi 78c!".. (я =„ 81 с «! g..980 см/с

;) ,. ;г, (1 K(/С И

,;..: Л=:СНО P30 .ЕТНОИ фОРМ>«ЛЕ НЛХОДЛМ

Г— \ — 5(-«,4 об/с =- 888 -) пб, мин пpVI а(.и(, .=

) г«, ин - г 8,,16 о!. /С 4737 Об/миН.

::. Орм,г 3 изобретения

:,,-;:1, ß Ko!HтрОля 1<ач8i-,; ва i„ Kлейки B 05.л .:-::.;; м валке, за)<)ючающийся в том, :)е" с-риоуют ))духа«.-.позиционную ин,.Од(еоаграмму по)ерхност)л резины, припеРВД п8ОВОЙ зкспо=:иЦиейl 83лОK

3 О В Ра Ще -(И Е 3 0 KP(/I C B 081 OCR

;« .;,:1 ч е и рв Oil 3 K(-I 0 By I) VI V, 1, ",8 1-1 q ю Ti ч а

-оащения и сс, (дествляют вторую ..--.::: () "° .:.;(ю и 0 HB illl÷v)vI дефектов судят ..;,»1<,л ьг ым из,лененлям н характере pac,-p8 «-;,B;=;lI1AR интерферг)нцио 1ных полос. о T... ч;. ю ш и и с я тем, что, с целью

10 1.1())81-;ия надежности контроля, перед ,,-:г ii зкспс).-...и vip!«l валок раскручивают г,". «! 11УГ I .BOBÉ QCVI (О СКОРОСТИ Ыгл()(«И ОСТ3 ,;-", ",г!(IB3!От, а г короСТЬ 0)1)ии ОпределЯЮТ

"l <", 0МЧЛЕ

«

, „--) 4 0(JÌÈ, /

Саин = 7 (11 (: и«

) Г/;3,0г, — „. :," - 1Г;) У, t г

:г;

ГД8 О«иии — ЗВД ;-) 4 .:;. "", g — У I!00 «Н.«i!<;.: Г«(гi Г;,, i(. :.;,;,„-- заданной усилие склейки; с(- у(;<орение свободного падения, i) — < l10TH ОСТЬ ОЕЗИ Н Ь1; . г, — внутренний и наружный рад(лу1 .»".100ЗИН01 НОГО СЛОЯ.

Способ контроля качества склейки в обрезиненном валке Способ контроля качества склейки в обрезиненном валке 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля качества линз и объективов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для диагностики колебаний вращающихся объектов

Изобретение относится к измерительной технике, предназначено для контроля телескопических систем, линз и объективов и может найти применение в производстве, занятом их изготовлением

Изобретение относится к оптическим измерениям и может найти применение при регистрации двухэкспозиционной интерферограммы на фототермопластических носителях

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности в машиностроении, приборостроении

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к области дефектоскопии с помощью голографичес кой интерферометрии

Изобретение относится к области испытания светочувствительных материалов, а именно к методам и средствам резольвометрии с использованием когерентных источников света, и может быть использовано в автоматизированных системах тестирования фоторегистрирующих материалов и сред

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к оптическим устройствам измерения, и может быть использовано для измерения деформаций плоской поверхности элементов твердотельной электроники

Изобретение относится к голографической измерительной технике, предназначено для контроля оптических систем и может найти применение в оптическом приборостроении

Изобретение относится к приборостроению, в частности, к технике термопластической записи информации

Изобретение относится к измерительной технике, предназначено для контроля волновых аберраций положительных линз и объективов и может найти применение в производстве, занятом их изготовлением
Изобретение относится к технической физике и может быть использовано при контроле багажа

Изобретение может быть использовано при измерении малых разностей хода (менее 0,1λ длины волны) слабых оптических неоднородностей в прозрачных средах, например, при обтекании тел в потоках малой плотности, распыливании топлива из форсунок в разреженное пространство, изучении процессов смешения, воспламенения и горения топлив, обнаружении диффузных пограничных слоев. Способ включает последовательную запись на регистрирующей среде опорного пучка и объектного пучка, прошедшего сквозь фазовый объект. Объектный пучок перед записью разлагают с помощью дифракционного элемента на дифрагированные пучки нулевого и высших порядков дифракции и используют нулевой порядок дифракции, который пропускают сквозь фазовый объект как в прямом, так и в обратном ходе дифрагированных световых пучков на дифракционном элементе. Пучки N-х порядков дифракции, образованные в обратном ходе лучей через дифракционный элемент, возвращают одновременно в плоскость дифракционного элемента. Для регистрации объектного и опорного пучков регистрирующую среду устанавливают в одном из N сопряженных обратных пучков N-го порядка дифракции противоположного знака обратного хода лучей. Коэффициент чувствительности измерения определяют по формуле Ч=(N+1)·2, где N - (0, +1; +2; +3, +4…) - порядок дифракции. Технический результат - повышение коэффициента чувствительности измерения. 3 ил.
Наверх