Способ оптико-электронного контроля поверхностных дефектов и устройство для его осуществления

 

Сущность изобретения: контролируемую поверхность освещают источником света и сканируют линейно-сканирующей камерой с линейным массивом фотоприемников , формируют информационный сигнал , выполняют в каждом периоде сканирования дифференцирование сигнала, формируют выпрямленный информационный сигнал путем инвертирования отрицательных составляющих дифференциального сигнала, вычисляют базовый сигнал как среднее значение выпр ямленИога, Определяют отклонения выпрямленного информационного сигнала от базового и сравнивают полученные отклонёНйя сГпорВгбвйм значением , при превышении которого фиксируют наличие дефекта. Устройство содержит источник 1 света, освещающий контролируемую поверхность 2, последовательно соединенные камеру 3 с линейным массивом фотоприемнйков, дифференцирующее звено 4, звено 5 выпрямления, блок 6 определения отклонений информационного сигнала от базового, блок 7 регулирования порогового значений и пороговый блок 8. 2 с. п. ф-лы, 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛ ИСТИЧ Е С К ИХ

РЕСПУБЛИК (si)s G 01 N 21/88

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР)

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН И -" " а

- - =Яд—

К ПАТЕНТУ

«Э

Р

° »

C)

Сл

00 (л) апА;м оажь

Фи. f

1 (21) 4890933/25 (22) 17.12.90 (46) 07.12.92. Бюл. ¹ 45 (71) Череповецкий филиал Вологодского политехнического института (72) А. И. Потапов, Л. Л. Малыгин, П. Н. Валин и Е. В. Ершов (73) Е. В. Ершов и Л. Л. Малыгин (56) Kobes P, Prllfung von laeklerten

karosserleoberflachen. Techn. mess, 1988, 55,, . № 2, р, 501 — 503.

Патент ГДР ¹ 262092, кл. G 01 N 21/84, 1988.

Патент США ¹4764681, кл. G01 N21/88, 1988. (54) СПОСО6ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОГО КОН-

ТРОЛЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (57) Сущность изобретения; контролируемую поверхность освещают источником света и сканируют линейно-сканирующей камерой с линейным массивом фотоприем„„5U„„1780583 АЗ

2 ников, формируют йнформационный сигнал, выполняют в каждом периоде сканирования дифференцирование сигнала, формируют выпрямлейный"информационный сигнал путем инвертирования отрицательных составляющих дифференциального сигнала, вычисляют базовый сигнал как среднее значение-выпрямленЪбго ; бпределяют отклонения выпрямленного информационного сигнала от базового и сравнивают полученные отклойени«я с порбговьгм значением, при превышении которого фиксируют наличие дефекта, Устройство содержит источник 1 света, освещающий контролируемую поверхность 2, последовательно соединенные камеру 3 с линейным массивом фотоприемников, дифференцирующее звено 4, звено 5 выпрямления; блок 6 определения отклонений информационного сигнала от базового, блок 7 регулйрования порогового значений и пороговый блок 8. 2 с. и. ф-лы, 2 ил, 1780583 металлопроката

20

55

Изобретение относится к металлургии и может быть использовано при неразрушающем контроле качества поверхности полосового, материала, например

Известен способ контроля качества поверхности, заключающийся в последовательном сканировании контролируемой поверхности с помощью соответствующей приемной камеры, формировании электрического сигнала, однозначно отображающе- го оптическое изображение поверхности, его последующей фильтрации с целью исключения паразитных оптических и электрических шумов и наводок, сравнении сигнала с определенным пороговым значением, при повышении которого фиксируется наличие дефекта поверхности. Порог определяется статистическими методами путем обработки гйстограммы распределения яркостей исследуемого изображения (1), Недостатком данного способа является невысокая надежность обнаружения слабоконтрастных дефектов при различной степейи изменения уровня фонового сигнала 25 от контролируемой поверхности, Известно оптико-электронное устройство для обнаружения поверхностных дефектов, сост6ящее из источника светового излучения, оптико-электронног6 приемки- 30 ка,-электронного блока управления, обеспечив ающего согласование параметров прйвмника и источника с койкретными характеристиками исСледуемого объекта, дифференцирующего устройства и двухпо- 35 роговбго"компаратора для формирования управляющего сигнала, обработка которого позволяет обнаружить дефекты на поверхности (2), Недостатком данного устройства явля- 40 ется невысокая надежность обнаружения слабоконтрастных дефектов при различной степени изменения уровня фонового сигна ла от контролируемой поверхности . обусловленная тем, что вывод о наличии 45 дефектов делается на основании сравнения дифференцируемого видеосигнала с постоянными пороговыми значениями компаратора.

Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является способ оптико-электронного контроля поверхнОстных дефектов, заключающийся в освещении источником света и сканировании линейно-сканирующей камерой с линейным массивом фотоприемников контролируемой поверхности, определении локальных изменений освещенности. служащих указателями дефектов, путем формирования электрического сигнала, однозначно отображающего оптическое изображение поверхности, определении от.-. клонений выходных сигналов отдельных фотоприемников от базового сигнала, который является временным средним от величины сигналов по множеству элементов фотоприемника в каждом периоде сканирования, сравнении полученных отклонения с пороговым значением, при превышении которого фиксируется наличие дефекта поверхности(3).

Известно устройство оптико-электронного контроля поверхностных дефектов, выбранное в качестве прототипа, содержащее источник света, линейно-сканирующую камеру с линейным массивом фотоприемников, каждый из которых генерирует электрический сигнал; который является функцией освещенности дискретной области контролируемой поверхности, устройст-. во для фиксации исследуемой поверхности в поле зрения сканирующей камеры, средства для определения отклонений выходных . сигналов отдельных фотойриемников от базового сигнала и сравнения полученных от-. клонений с пороговым значением, при превышении которого фиксируется наличие дефекта пойерхностй, средства для повто- . рения режима. сканирования и устройство для определения значения базового сигнала в каждом периоде сканирования (3).

Недостаток известного способа и устройства заключается в том, что они не обес-. печивают высокой надежности обнаружения слабоконтрастных поверхностных дефектов при различной степени из- менения уровня фонового сигнала от контролируемой поверхности. Это объясняется тем, что при выявлении сигнала от дефекта, когда интересующая информация представляется очень небольшим изменением (обычно несколько процентов) в общем обнаруживающем сигнале,.уровень фонового сигнала не остается постоянным из-за неизбежных отклонений в выходной энергии источника света, чувствительности отдельных фотоэлементов; изменения отражающей способности поверхности волни- . стой формы и появления, следовательно, световых бликов. Указанные факторы вызывают изменения уровня фонового сигнала различной степени, что требует соответствующей компенсации постоянной составляющей уровня и регулирования порогового значения для обнаружения поверхностных дефектов, когда имеют место перечисленные эффекты, Определение базового сигнала, который является временным средним от величины сигналов по множеству элементов

1780583 6

1 фотоприемника, не обеспечивает требуе- щее звено, дополнительное звено выпрям мой компенсации постоянной составляю- . ления и блок регулирования порогового знащей уровня фонового сигнала. Это может чения, вход дифференцирующего звена привести к значительному повышению ве- соединен с выходом линейно-сканирующей роятности ошибочного результата при об- 5 камеры, а выход — с входом дополнительнонаружении дефектов и ложным ro звена выпрямления; вь1ход которого соесрабатываниям устройства, что я 1яется не- динен с входом линии задержки и с входом желательным, так как при этом снижается интегратора, и блок регулирования порогокачество контроля поверхности.. : вого значения, содержФций вторую лйнию

Целью изобретения является повыше- 10 задержки, второй интегратор, второй усилиние надежности обнаружения слабоконтрэ-- : тель с автоматической регулировкой усилеcTHblx поверхностных дефектов и ния, сумматор и задатчик корректиру}ощего повышение за счет этого качества контроля смещения, причем вход второго интегратоповерхности.. : .:.::. рэ соединен с выходом звена выпрямленияПоставленная цель достигается тем, что 15 блока определения отклойейий, а выход — с в способе оптико-электронного контроля . входом второго усилителя с автоматической поверхностных дефектов, включающем ос- регулировкой усиления, выход которого совещение и сканирование линейно-сканиру- единен с первым входом сумматора, второй ющей камерой с линейным массивом вход- которого соединен с задатчиком кор- : фотоприемников контролируемой поверхно- 20 ректирующего смещения, выход сумматора сти, формирование информационного сигна- соединен с управляющим входом пороговола, определение отклонений го блока, первый вход. которого соединен с информационного сигнала от базового сиг- выходом второй линии задержки, вход котонала и сравнение полученных отклонений с: рой соединен с выходом эвейа выпрямлепороговым значением, при превышении ко- 25 ния блока определения отклонений. ., торого фиксируют наличие дефекта поверх-:::: На фиг. 1 приведена структурная схема ности, дополнительно в каждом периоде устройства оптико-"злектронного контроля . сканирования, выполняют дифференциро- поверхйостных дефектов; на фиг, 2 — вревание информационного сигнала, формиру-:: менная диаграмма работы устройства, на ютвыпрямленный информационный сигнал 30 которой показаны характер изменения инпутем инвертирования отрицательных со - :" формационного видеосигнала VS при нэлиставляющих дифференциального сигйалЭ, ": чии дефекта и изменения уровйя фонового вычисляют базовый сигнал, как среднее знэ-, : сигнала от контролируемой "поверхности в чение выпрямленногоинформационногосиг-":::- одном периоде сканирования и его преобнала, определяют пороговое значение, как 35 разование для формирования сигнала о насумму среднего отклонения выпрямленного личии дефекта на контролируемой информационного сигнала от базового сигна- .. поверхности. ла и корректирующего смещения, определен-, ": Предлагаемый способ осуществляется ного для бездефектной поверхности. - следующим образом, Поставленная цель достигается также 40 Освещают источником света и сканирутем, что в устройстве оптико-электронного ют лйнейно-скэйирующей камерой с линейконтроля поверхностных дефектов, содер- ным массивом фотоприемников жащем иСточник света, линейно-сканирую--. контролируемую поверхности, формируют щую камеру с линейным массивом: информационный видеоСигнал, однозначно фотоприемников, блок определения откло- 45 отображающий оптическое иэображение нения информационного сигнала от базово-. ; выйолняют и каждом периоде . го сигнала и пороговый блок, причем блок сканирования дифференцирование,вйдеоопределения отклонений информационно- сигнала. формируют выпрямленный инфорго сигнала от базового сигнала содержит .мационный сигнал йутем инвертирования линию задержки, интегратор, усилитель с 50 отрицательных составляющих дифференци.автоматической регулировкой усиления, вы- ального сигнала. ййчисляют базовый сигчитающее звено и звено выпрямления, при- нал. как среднее значение выйрямленного чем выход линии задержки соединен с информационного сйгналэ, определяют отпервым входом вычитэющего звена, второй клонения информационного сигнала от бавход которого соединен с выходом усилите- 55 зового сйгнала "и сравййвают полученные ля с автоматической регулировкой усиле- отклонения с пороговым значением, при ния, вход которого соединен с выходом превйшений которого фиксируют наличие интегратора, выход вычитающего звена со- дефекта поверхности. Пороговое значение единен с входом звена выпрямления, оно определяют, как сумму среднего отклонедополнительно содержит дифференцирую- ния выпрямленного информационного сиг-.

1780583 нала от базового сигнала и корректирующе- соединен с управляющим входом порогового смещения, что позволяет регулировать ro блока 8, первый вход которого соединен пороговое значение с учетом значения база- с выходом второй линии 14 задержки, вход вого сигнала при наличии факторов, таких которой соединен с выходом первого звена как отклонения в выходной энергии источ- 5 13 выпрямления. Работа устройства поясняника света, чувствительности отдельных фо- ется временной диаграммой (фиг. 2). тоэлементов; изменения отражающей Устройство работает следующим обраспособности поверхности, наличия у конт- . эом. ролируемой поверхности волнистой формы . Источник 1 света освещает контролируи появления, следовательно, световых бли-. 10 емую поверхность 2, перемещающуюся с ков, вызывающих изменения уровня фоно- постоянной скоростью, линейно-сканируювого сигнала различной степени. 1цая камера 3 с линейным массивом фотоКорректирующее смещение определяют на приемников, расположенная в темном поле, основе предварительнбго исследования от- фиксирует рассеянную составляющую отраражающих свойств бездефектной поверх- "5 женного от контролируемой поверхности ности.. -. светового потока, выполняет сканирование

Устройство для осуществления способа поверхности в направлении перпендикуоптико-электронного контроля поверхност- лярном направлению перемещения и форных дефектов представлено на схеме (фиг, мирует информационный видеосигйад VS, 1), Устройство оптико-электронного контро- 20 однозначно отображающий оптическое изоля поверхностных дефектов содержит ис- бражение поверхности. В каждом периоде точник 1 света,: освещающий сканирования видеосигнал VS поступает на контролируемую поверхность 2. последова- вход дифференцирующего звена 4, выполтельно соединенные линейно-сканирую-. ненного на операционном усилителе, с выщую камеру 3 с линейным массивом;25 хода, которого полученный фотоприемников, дифференцирующее зве- дифференциальный сигнал dS поступает на но 4; второе звено 5 выпрямления, блок 6 входзвена5выпрямления, реализованного определения отклонений информационного по стандартной схемотехнике на операци- сигнала от базового сигнала, блок 7 регули- Онном усилителе и диодах, Выпрямленный рования порогового значейия и пороговый 30 информационный сигнал IS с выхода звена блок 8. Причем блок 6 определения отклоне- 5 выпрямления поступает на линию 9 задерний информационного сигнала от базового жки и интегратор 10 блока 6 определения сигнала содержит линию 9 задержки интег- отклонений информацйонного сигнала от ратор 10, усилитель 11 с автоматической базового сигнала. Линия 9 задержки предрегулировкой усиления, вычитающее звено 35 ставляет собой электрическую линию задер12 и звено 13 выпрямления . .:: жки, величина которой

N. т1 =— (1)

Вход линии 9 задержки соединен с вытп ходом звена 5 выпрямления, а выход — с где N — количествофотоэлементов приемнипервым входом вычитающего звена 12, вто- 40 ка оптического излучения; рой вход которого соединен с выходом уси- . f„— частота передачи видеоданных. лителя 11 с автоматической регулировкой Интегратор 10, реализованный íà опе- усиления, вход которого соединен с выхо-: рационном усилителе, выполняет операцию дом интегратора 10, вход интегратора сое- вычисления динен с выходом второго звена 5 45 выпрямления, выход вычитающего звена 12 N соединен с входом звена 13 выпрямления. BS Х IS) (2)

Блок 7 регулирования nopoloBolо значения содержйт вторую линию 14 задержки, вто-, рой ийтегратор 15, второй усилитель 16 с 50 где BS-суммарноеэначениевыпРЯмленноавтоматической регулировкой усиления, го и формациоНного сигнала; сумматор 17. Задатчик18 корректирующе-. И вЂ” количество фотоэлементов ЛРиемго смещения, Причем вход второго интегра- ника оптического излУчениЯ; тора 15 соединен с выходом первого звена, IS)-l-e значение инфоРмационногосиг 13 выпрямления, а выход-с входом второго усилителя 16 с автоматической регулировкой усиления, выход которого соединен с первым входом сумматора 17, второй вход ное значение видеос нала в каждом перикоторого соединен с задэтчиком 18 коррек- оде сканирования. Сигнал BS, снимаемый с .тирующего смещения, Выход сумматора 17 выхода интегратора 10 подаетсЯ на Усили1780583

10 — 1

ВЗ=К1 BS- =— ); ISI

NI тель 11 с автоматической регулировкой усиления, выполненный по стандартной схемотехнике, в котором выполняется операция . S=K2 Х Оi Х I SI BSI, (G)

1 1 вычисления значения базового сигнала BS, N N как среднего значения выпрямленного ин- 5 формационного сигнала в каждом периоде где Я среднее отклойение сканирования

Кг=!/N — коэффициент усиления второго усилителя.

Полученный сигнал S с выхода усилите1 (3) ля 16 поступает на первый вход сумматора

17, выполненного на операционном усилителе, на второй вход которого поступает сиггде ВЯ вЂ” базовый сигнал; нал R с задатчика 18 корректирующего

К1-1/К вЂ” коэффициент усиления перво- .смеЩенйя. Корректирующее смещение Rго усилителя. определяют на основе .предварительного

Сигналы IS с выхода линии 9 задержки исследования отражающих свойств бездеи ВЯ с выхода усилителя 11 с автоматиче-; фектной поверхности. Для этого проверяют ской регулировкой усиления поступают-на работу устройства на годной йоверхности. входы вычитающего звена 12, реализован-: Участки исследуемой поверхности выбираного на операционном усилителе, который ют в различных t4ectax по длине полосы, Для выполняет операцию

RS=IS — BS, эксперимента берут б случаиную вы орку (4) объемом 50 участков. При нулевом значении где RS — азностный и

Пол ч корректирующего смещения устройст б— у енныи сигнал RS с выхода вычита-: дет фиксировать определенное количество .;,.25 ющего звена 12 поступает на вход звена 13 ложйых поверхностных деф ных дефектов, из-за выпрямления, выполненного по стандарт- флуктуаций фонового сигнала от бездефекля каждои реализации ной схемотехнике на операционном усилий- " тной поверхности. Для к теле и диодах, на выходе кбтОрого выставляют таКое значейие R1 на задатчике формируется сигнал 0 отклонений инфор- . 18 корректирующего смещения„при котоBS: мационного сигнала 1$ от базового сигнала ром не происходит ложных срабатыв и ани устройства. По набранным статис ическим

Сигнал О, снимаемый с выхода звена I3 даннь1м определяют корректйрующее смевыпрямления,поступаетналинию14задер- щение R как среднее значение корректиру>кки и интегратор 15 блока 7 регулирования ющих. смещений R1 по множеств реализаций проверки работы устройСтва.

Линия 14 задержки представляет собой . Сумматор 17 выполняет операцию вычислеэлектрическую линию задержки, величййа ния порогового значейия как сумму среднезадержки которой rz=N/тлопределяетсяко- . го отклонения S выпрямленного личеством фотоэлементов приемника опти-: информэцйонного сигнала IS от базового ческого излучения и частотой передачи сигналаВ$икорректирующегосмещени й, видеоданных. Интегратор 15, реализован- в каждом периоде сканирования ный на операционном усилителе, выполняет операцию вычисления: P=S+R, N

Ф

S= :01, (5)

j =1., 45 где P — пороговое значение; где S — суммарное отклонение;

0 — )-е значение отклонени ф .. ПолУченный сигнал P с выхода сумматой инфоРмэ- 17 и ционного сигнала от базового сигнала. Ра остУпает на УпРавлЯющий вход поРоТаким образом определяется суммар- гового блока 8, на пеРвый вход "отоРого ное отклонение информационного сигнала 50 подаетсЯ сигнал DI, снимаемый с выхода

IS от базового сигнала BS в каждом периоде линии 14 за е жки. сканирования. Сигнал я, снимаемый с выхо- ПоРОговый блок 8, пРедставлЯющий сода интегратора 15 подается на второй уси- ой схему сравнения; реализовайнь и на литель 16 с автоматической регулиро, компараторе, выполняет функцию усиления, выполненнь и по стандартной 55 схемотехнике, в котором выполняется операция вычисления среднего отклонения ин. формационного сигнала 1я от базового ПоРоговый блок 8 фоРмиРУет сигнал сигнала ВЗвка>кдомпериодеск ирования логической еДиниЦы, если 01 Р и фиксирует, таким образом, наличие дефекта по1780583

12 верхности и формирует сигнал логического нуля, если 01 «< P, при отсутствии дефекта.

Такйм образом повышается надежность обнаружения слабоконтрастных поверхностных дефектов .за счет компенсирования постоянной составляющей уровня фонового сигнала при его изменении и регулирования пароговато значения с учетом значения базового сигнала при наличии факторов, вызывающих изменения уровня фонового сигнала различной степени.

Устройство реализуется на элементах вычислительной техники серийно выпускаемых промышленностью.

Пример. Контроль качества поверх!

-!ости осуществляется следующим образом.

Поверхность освещается источником света, выпблненным с использованием галогенных ламп накаливания. Контролируемая по верхность перемещается с. постбянйой скоростью 2,5 м/с, Габаритные размеры исследуемой паласы: ширина 905 мм толщина 0,35 мм шероховатость 0,6 мкм

Линейно-сканирующая камера с приемником оптического излучения, число фотоэлементов которого 2000, фиксирует рассеянную составляющую отраженного ат

- контролируемой йоверхности све«тбв«ого па: така, вь|полняет сканирование riîâåðõíocòè с частотой 2500 1/с в направлении йерпендикулярном направлению переме!цения и . формирует информационный сигнал. Частота передачи видеоданных составляет 5 МГц.

Преобразованный в дифференцирующем звене и звене выпрямления информационный сигнал поступает на вход блока определения отклонений информационного сигнала от базового сигнала. Для данных условий проведения контроля качества значение базового сигнала составляет

BS= — ISI--3 m В;

М! =1 .величина задержки г! =400 мкс.

Сигнал отклонений 0 поступает на вход блока регулирования порогового значения, йричем для данных условий среднее отклонение информационного сигнала от базового составляет

$=. — „ >, ISI BSHE=2-214 m В;

М! величина задер>кки -тг =400 мкс; значение корректирующего смещения. определенного на основе предварительных исследований отражающих свойств бездефектной поверхности, R=7 мВ.

5 " В качестве задатчика корректирующего смещения используют прецизионный по-.. тенциометр, позволяющий плавно изменять

; величину корректирующего смещения.

На вход порогового блока поступает

10 сигнал отклонений D, задержаннный на вре-мя z, и пороговый сигнал, значение которого для данных условий составляет

Р=9,914 мВ. По результатам сравнения су- .. дят о наличии дефекта поверхности. Пред15 лагаемые способ и устройство предназначены для обнаружения дефектов типа трещин, царапин, накалов, плен, складок и т. д. Минимальные характеристические размеры определяемых дефектов:

20 длина > 1 мм; ширина > 0,5 мм.

Дифференцирующее звено, сумматор,, компаратор, вычитающие звенья, интегра . торы выполнены по стандартной схемотех- . нике на операционных усилителях; звенья

25 выпрямления выполнены на операционных ! усилителях и диодах, усилители с автомати: „ческой регулировкой усиления и линии задержки выполнены по "стандартной схемотехнике.

30 формула изобретен ия

1. Способ оптико-электронного контроля поверхностных дефектов, включающий освещение-и сканирование линейно-скани. рующей камерой с линейным массивом фо35 топриемников контролируемой поверхности, формирование информационного сигнала, определение отклонений ин. формационного сигнала от базового сигнала и сравнение полученных отклоне40 ний с пороговым значением, при превышении которого фиксируют наличие дефекта. поверхности, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности обнаружения слабоконтрастных поверхностных де45 фектов. дополнительно в каждом периоде сканирования выйолняют дифферейцирование информационного сигнала. формируют выпрямленный информационный сигнал путем инвертирования отрицательных со50 ставля!ощих дифференциального сигнала, вычисляют базовый сигнал как среднее значение выпрямленного информационного сигнала, определяют пороговое значение как сумму среднего отклонения выпрямленного

55 информационного сигнала от базового сигнала и корректирующего смещения, определенного для бездефектной поверхности, 2. Устройство оптико-электронного контроля поверхностных дефектов, содержа13

1780583

14 щее источник света, линейно-сканирующую с выходом линейно-сканирующей камеры, а камерус линейным массивом фотоприемни- выход — с входом дополнительного звена ков, блок определения отклонений инфор- выпрямления, выход которого соединен с мационного сигнала от базового сигнала и ° входами линии задержки и интегратора блопороговый блок, причем блок определения 5 ка определения отклонений, а блок регулиотклонений информационного сигнала от рования порогового значения содержит базового сигнала содержит линию задерж- вторую линию задержки; второй интеграки, интегратор, усилитель с автоматической тор, второй усилитель с автоматической ререгулировкой усиления, вычитающее звено . гулировкой усиления, сумматор и задатчик и звено выпрямления, причем вйходлийии 10 корректирующего смещенйя, причем вход задержки соединен с первым входом вычи- второго интегратора соединен с выходом тающегозвена,второй входкоторогосоеди- звена выпрямления блока определения отнен с выходом усилителя, вход которого клонений,а выход-свходомвторогоусили-. соединен с выходом интегратора, выход вы= теля, выход которого соединен с первым читающего звена соединен с входом звена 15 входом сумматора, второй вход которогосовыпрямления, о т л и ч а ю щ е е С я тем, что; единен с задатчиком корректирующего смес целью повышения надежности обнаруже- щения, выход сумматора соединен с нияслабоконтрастныхдефектов,онодопол- .. управляющим входом порогового блока, нительйо содержит дифференцирующее первый вход которого соединен с выходом звено, дополнительное звено выпрямленйя Я второй лийии задержки, вход которой соеи блок регулирования порогового значения, динен с выходом звена выпрямления блока вход дифференцирующего звена соединен определения отклонений.

vS фиг. 2

Составитель Ю,Гринева

Техред М.Моргентал Корректор Л.Лукач

Редактор А.бер

Заказ 4447 Тираж Подписное

8НИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Способ оптико-электронного контроля поверхностных дефектов и устройство для его осуществления Способ оптико-электронного контроля поверхностных дефектов и устройство для его осуществления Способ оптико-электронного контроля поверхностных дефектов и устройство для его осуществления Способ оптико-электронного контроля поверхностных дефектов и устройство для его осуществления Способ оптико-электронного контроля поверхностных дефектов и устройство для его осуществления Способ оптико-электронного контроля поверхностных дефектов и устройство для его осуществления Способ оптико-электронного контроля поверхностных дефектов и устройство для его осуществления 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при отработке и эксплуатации теплозащитных материалов

Изобретение относится к дефектоскопии , в частности к способам контроля глубины дефектов в стеклокристаллических материалах (ситаллах)

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике

Изобретение относится к устройствам для обнаружения поверхностных дефектов на цилиндрических объектах, таких как топливные таблетки атомных электростанций

Изобретение относится к контролю качества поверхности оптическими методами и может найти применение в оптическом приборостроении, например, для контроля качества подготовки поверхностей подложек интегрально-оптических устройств, лазерных зеркал и т.д

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали

Изобретение относится к устройствам для контроля геометрических размеров и дефектов типа посечек, сколов, трещин стеклоизделий

Изобретение относится к телевизионной микроскопии и может быть использовано в промышленности при автоматизации контроля качества и, особенно, криминалистике для проведения баллистических экспертиз пуль стрелкового оружия, а также создания и хранения банка данных пулетек для последующей идентификации оружия по следам на пулях

Изобретение относится к контролю качества поверхностей твердых тел оптическими методами, а именно к обнаружению дефектов и микрообъектов на плоских поверхностях проводящих и полупроводящих изделий путем регистрации эффективности возбуждения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), и может найти применение в оптическом приборостроении, экологическом мониторинге, в физических, химических, медико-биологических и других исследованиях

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности контролируемых объектов (КО) дефектов различного происхождения

Изобретение относится к исследованию и анализу физического состояния объектов сложной формы с помощью оптических средств, в частности к определению рельефа таких объектов, как стреляные пули и гильзы

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для диагностики усталостного износа металлоконструкций (МК) и прогнозирования остаточного ресурса
Наверх