Патент ссср 184983

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ!

Сова Соаетския

Соцналистическия

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 11.111.1965 (№ 946850/26-9) Кл. 21g, 13/50 с присоединением заявки ¹

МПК Н Oll

УДК 621.382

Приоритет

Опубликовано 30.VII.1966. Бюллетень № 16

Дата опубликования описания 21.IX.1966

Комитет по делам изобретений и открытий ори Совете Министров

СССР

Автор изобретения

А. Г. Рыжевский

Заявитель г(Ф-=.

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОБРАТНОГО ТОКА

ПОЛУПРОВОДНИКОВЬ!Х ПРИБОРОВ

2 торых прямо пропорциональна величине обратного тока измеряемого полупроводникового прибора.

Импульсы с генератора подаются на формулирующий каскад б и при открытой ключеьой схеме 7 поступают на цифровой счетчик 8 импульсов. Ключевая схема управляется генератором 9 временных интервалов, При соответствующем выборе емкости кон10 денсатора, амплитуды и длительности импульсов, выдаваемых генератором временных интервалов на ключевую схему, отсчет показаний счетчика импульсов может быть получен непосредственно в единицах тока.

Устройство для измерения обратного тока полупроводниковых приборов, содержащее генератор пилообразного напряжения для преобразования величины обратного тока в импульсный ток и схемы измерения частоты следования импульсов за фиксированный интервал времени, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения величины ооратного тока и упрощения устройства, полупроводниковый прибор включен последовательно с калиброванным конденсатором во времязадающую цепь упомянутого генератоЗО ра.

В известных устройствах для измерения обратного тока последовательно с контролируемым полупроводниковым прибором включается калиброванное сопротивление и применяется схема сравнения двух напряжений. Процесс преобразования величины тока в цифровую форму в подобных устройствах относительно сложен, что приводит к снижению точности измерений.

В предлагаемом устройстве процесс преобразования величины тока в пропорциональную частоту следования импульсов, которая измеряется подсчетом числа импульсов за фиксированный интервал времени, упрощается тем, что контролируемый полупроводниковый прибор включен последовательно с калиброванным конденсатором во времязадающую цепь генератора пилообразного напряжения. Одновременно повышается и точность измерения величины обратного тока.

На чертеже приведена схема описываемого устройства.

К контролируемому полупроводниковому прибору 1 (на схеме показан диод) приложе«„о обратное напряжение от источника 2. В цепь отрицательной обратной связи генератора включен калиброванный конденсатор 3.

При разомкнутом контакте 4 с выхода генератора 5 будут выдаваться импульсы пилообразного напряжения, частота следования коПредмет изобретения

184983

Составитель В. Корольков

Редактор Л. А. Ильина Техред Т. П. Курилко Корректор Г. Е. Опарина

Заказ 2717/9 Тираж 1550 Формат бум, 60)(90 /> Объем 0,1 изд. л. Подписное

Е1НИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр, Сапунова, 2

Патент ссср 184983 Патент ссср 184983 

 

Похожие патенты:

Устройство для определения пробивного напряжения полупроводниковых диодовв известных устройствах для определения пробивного напряжения мощных полупроводниковых диодов, содержащих блок ступенчатой регулировки подаваемого на диод напряжения и блок измерения величины производной обратного тока, при испытаниях диодов с жесткими характеристиками и диодов, которые 13 режиме иробоя имеют отрицательное динамическое сопротивление, мощность, выделяемая на р—«-переходе, может превысить допустимое значение, что приводит к выходу диода из строя.в иредложеином устройстве для иредотвращения выхода диодов из строя в процессе измерения последовательно с каждым из сопротивлений блока регулировки напряжения включен стабилитрон, в результате чего нагрузочная кривая цепи, в которую включен диод, приобретает вид гиперболы и незавиеимо от вольтамперной характеристики мощность диода неизменна.схема устройства изображена на чертеже.последовательно с испытуемым диодом 1 включен блок 2 ступенчатой регулировки напряжения, источник которого соединен с зажимами 3. блок 2 содержит сопротивления 4, коммутируемые шаговым искателем 5. к каждому из сопротивлений подключено ио стабилитрону 6, в результате чего напряжение на диоде и ток, протекающий через него, будут определяться точкой пересечения характер]!- стики диода с гиперболой.в ироцесее измерения блок 7 измерения величины пропзводной обратного тока контролирует отношение прпращенпя тока через дпод к приращению напряжения на нем, т. е. величину пропзводной. еели величина пропзводной меньше предельного значенпя, с блока 7 на шаговый пскатель подается управляющпй импульс, и щаговый искатель производит очередное изменение величины соиротивлений. если величииа иропзкодной больше или равиа за-, данному предельному значению, автоматически включается пз^iepитeльный прибор s, ио которому отсчитывается величина пробивного напряжения, и управляемый шаговым искателем индикатор мощности 9 показывает мощность, выделяющуюся на дподе при пробивном напряженпи.предмет изобретен и яустройство для определения пробивного напряжения иолупроводнпковых л,иодов, содержащее подключенные к диоду блок стуиенчатой регулировки подаваемого на дпод напрял\е-25 нпя, снабженный набором коммутируемых сопротивлений, и блок измерений величины производной обратного тока, отличающееся тем, что, с целью предотвращения выхода диода из етроя в процессе измерений, последовательно30 с каждым из сопротивлений блока стуиенчатой регулировки напряженпя включен стабилитрон.101520 // 172374

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх