Способ контроля качества навивки спирали для тел накала источников света и устройство для его осуществления

 

Использование: электровакуумное производство при автоматическом контроле спиральных тел накала для источников света. Сущность изобретения: между конденсорной и проекционной линзами протягивают контролируемую спираль. Изображение спирали проецируется на экран с щелью и далее на фотоприемник, электрически связанный с анализатором импульсов. 2 с.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в электроламповом производстве для автоматического контроля спиральных тел накала источников света.

Цель изобретения повышение достоверности и информативности контроля.

На фиг.1 представлена принципиальная схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 силуэт спирали при ширине щели h t и h 2t; на фиг.3 то же, при ширине щели h<t и t<h<2t.

В световом потоке источника 1 света размещают витки 2 спирали, навитые на керне 3, например, из вольфрамовой проволоки. В качестве базы измерения используют источник спирали, величину которого выбирают из соотношения nt<l<(n+1)t, где l контролируемый участок спирали; t шаг спирали; n ноль и целые числа (0,1,2,3.).

Прошедший мимо спирали световой поток преобразуют в электрические сигналы. При этом о качестве навивки судят по постоянству параметров электрических сигналов.

Устройство содержит последовательно расположенные на одной оптической оси источник 1 света, конденсорную и проекционную линзы 4 и 5, экран 6 с щелью 7 и фотоприемник 8, который электрически соединен с анализатором 9 параметров импульсов. Имеется механизм перемещения спирали (не показан).

Световой поток источника 1 света проецируется при помощи системы линз 4 и 5 на экран 6 и, пройдя через щель 7 в экране, попадает на фотоприемник 8. Витки и расположенный внутри спирали керн 5 экранируют световой поток. В результате этого в нем появляется информация о профиле спирали, образуя изображение верхнего и нижнего силуэтов а и b витков на экране 6.

Световые лучи, оставшиеся внизу и вверху силуэта, попадают на фотоприемник 8, который вырабатывает электрический сигнал, свидетельствующий о наличии витков 2 и керна 3. Анализатор 9 параметров импульсов формирует код, содержащий информацию о поступившем сигнале, для последующей обработки его в процессоре и для управления технологическим процессом изготовления спиралей, а в полуавтоматических системах и для индикации.

Подбор базы измерения, который связан с необходимостью получения при перемещении спирали с постоянной скоростью изменения светового потока на выходе фотоприемника 8, осуществляется с помощью изменения ширины h щели 7 в экране 6.

При h t (фиг. 2) изменения в световом потоке как в верхнем, так и в нижнем силуэтах а и b отсутствуют. Выхождение витка или межвиткового промежутка из-за зоны контроля будет сопровождаться синхронным вхождением в эту зону ближайшего или последующего витка или межвиткового промежутка в зависимости от ширины h nt щели 7.

Контроль участка спирали, величина которого не кратна шагу спирали (фиг. 3), т.е. nt<h<(n+1)t, нарушает эту синхронность, вызывая изменения в световом потоке и, как отклик на это изменение, электрический сигнал в виде импульса на выходе фотоприемника 8.

Полученные таким образом изменения светового потока на выходе фотоприемника 8 вызовут в его цепи изменения электрического тока в виде последовательности импульсов. Так как эти импульсы однозначно связаны с профилем спирали и являются измерительными, то по ним вычисляют с помощью анализатора 9 параметры спирали. Постоянство этих параметров свидетельствует о качестве навивки.

В предлагаемом способе контроля качества спиралей и устройстве для его осуществления по сравнению с известными расширена информация о геометрии спирали. В результате значительно повышается достоверность контроля при навивке, появляется возможность использования на других операциях по изготовлению тел накала, позволяет автоматизировать процесс контроля, повысить его производительность и осуществить оперативную коррекцию параметров технологического режима навивки.

Формула изобретения

1. Способ контроля качества навивки спирали для тел накала источников света, согласно которому проецируют контролируемый участок спирали на фотоэлемент, мимо которого она перемещается а о качестве судят по сигналу с фотоприемника, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности и информативности, величину контролируемого участка выбирают из соотношения nt < l < (n + 1)t, где l контролируемый участок спирали; t шаг спирали; n ноль и целые числа.

2. Устройство для контроля качества навивки спирали для тел накала источников света, содержащее последовательно расположенные на одной оптической оси источник света, конденсорную и проекционную линзы, между которыми расположена контролируемая спираль, экран со щелью, фотоприемник и механизм перемещения спирали, отличающееся тем, что, с целью повышения достоверности и информативности контроля, в него введен анализатор параметров импульсов, электрически соединенный с фотоприемников, а ширина щели экрана выбрана из соотношения nt < h < (n + 1)t,
где h щель экрана;
t шаг спирали;
n ноль и целые числа.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3