Способ контроля качества навивки спирали для тел накала источников света и устройство для контроля качества навивки спирали для тел накала источников света

 

Существо: спираль перемещают и осуществляют преобразование ее профиля на двух участках контроля в электрические сигналы, которые сравнивают между собой по амплитуде и фазе. 2 с.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение относится к электротехнике м может быть использовано в электроламповом производстве для автоматического контроля качества спиральных тел накала в процессе их изготовления.

Цель изобретения повышение оперативности и достоверности контроля.

На фиг. 1 представлена структурная схема устройства, реализующего способ; на фиг. 2 схема взаимного расположения измерительных наконечников и витков в зоне контроля спирали с номинальным шагом; на фиг. 3 то же, спирали с дефектами.

Устройство для контроля качества навивки спиралей для тел накала источников света содержит механизм 1 перемещения спирали 2, первый и второй датчики 3 и 4 обнаружения витков, каждый из которых включает в себя измерительный наконечник (щуп, в виде алмазного клина) 5, связанный с блоком 6 измерения амплитуды его колебаний, который выполнен в виде пьезоэлемента. Выходы датчиков 3 и 4 подключены к входам компаратора 7.

Способ контроля качества навивки спиралей, включающий перемещение спирали 2, преобразование ее профиля на первом и втором участках контроля в электрические сигналы, сравнение их между собой по амплитуде и фазе и определение качества навивки по разности между ними.

Устройство для контроля качества навивки спиралей работает следующим образом.

Механизм 1 перемещения спирали обеспечивает прохождение спирали 2 через первый и второй датчики 3 и 4 обнаружения витков со скоростью V. При перемещении спирали положение витков в зоне датчиков 3 и 4 меняется, что приводит к изменению положения измерительных наконечников 5 относительно ее оси (фиг. 2). Таким образом, амплитуда колебаний измерительных наконечников 5 ограничена поверхностью контролируемой спирали и несет информацию о ее профиле.

Блоки измерения амплитуды колебаний, реагируя на это перемещение, вырабатывают электрическое сигналы, которые сравниваются в компараторе 7.

Закон изменения сигналов при изменении геометрических размеров профиля спирали для обоих датчиков 3 и 4 обнаружения витков идентичны и соотношение между этими сигналами не зависят от типа спирали и ее скорости V, поэтому разностный сигнал зависит только от положения витков в зоне датчиков, что позволяет регистрировать изменение расположения витка в зоне контроля.

При наличии дефекта (изменений геометрических параметров), образуемого в процессе навивки, на выходе компаратора 7 получают сигнал и по нему судят о качестве контролируемой спирали.

Изобретение позволяет повысить оперативность и достоверность автоматического контроля качества навивки спирали за счет сравнения электрических сигналов, полученных при контроле профилей на двух участках спирали.

Формула изобретения

1. Способ контроля качества навивки спирали для тел накала источников света, включающий перемещение спирали, преобразование ее профиля на первом участке контроля в электрические сигналы, сравнение их с опорными сигналами по амплитуде и фазе и определение качества навивки спирали по разности между указанными сигналами, отличающийся тем, что, с целью повышения оперативности и достоверности контроля, дополнительно осуществляют преобразование профиля спирали в электрические сигналы на втором участке контроля и используют их в качестве опорного сигнала.

2. Устройство для контроля качества навивки спирали для тел накала источников света, содержащее механизм перемещения спирали и первый датчик обнаружения витков, включающий в себя измерительный наконечник, связанный с блоком измерения амплитуды его колебаний, отличающееся тем, что, с целью повышения оперативности и достоверности, оно снабжено вторым датчиком обнаружения витков, также включающим в себя второй измерительный наконечник, связанный с вторым блоком измерения амплитуды его колебаний, а выходы обоих блоков измерения амплитуды колебаний подключены к входам дополнительно введенного компаратора.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3