Способ диагностики подвывиха хрусталика

Изобретение относится к медицине, а именно к офтальмологии. Проводят определение морфометрических характеристик глаза. Определяют значение сферической аберрации, характеризуемой полиномом Zernike Z (4, 0), количественное значение положительной комы, характеризуемой полиномом Zernike Z (3, 1), количественное значение интегрального уровня аберраций высшего порядка PV OPD НО, определяют кератотопографические характеристики, а именно: индекс регулярности поверхности роговицы SRI и индекс асимметричности поверхности роговицы SAI. Подвывих хрусталика диагностируют при SRI менее 0,5, SAI менее 1,0, Z (4, 0) менее или равном -0,2 мкм, Z (3, 1) более или равном 0,8 мкм и PV OPD НО более или равном 2,5 мкм. Способ позволяет обеспечить точность, объективность и сокращение времени исследования. 2 ил., 1 табл.

 

Изобретение относится к способам офтальмологической диагностики и может быть использовано для диагностики подвывиха хрусталика как врожденного (синдром Марфана), так и приобретенного вследствие, например, травмы.

Известен способ диагностики подвывиха хрусталика путем качественной оценки неравномерности глубины передней камеры, дрожания радужки и хрусталика с помощью биомикроскопии, см. И.А.Корелевич «Биомикроскопия глаза», Киев, 1969, с.127. Недостатком данного способа является высокая зависимость результатов от качества применяемой аппаратуры, а также от навыков врача, проводящего обследование. В любом случае способ субъективен и не позволяет достичь необходимой точности диагностики, особенно при наблюдении пациента в динамике.

Известен способ диагностики подвывиха хрусталика, включающий биомикроскопический метод в сочетании с фоторегистрацией. Полученные изображения сопоставляют с биомикроскопической картиной переднего отрезка нормального глаза, см. Jack J.Kanski "Clinikal ophthalmology", Edinburgh, 2003, p.p.189-191.

Известен способ диагностики подвывиха хрусталика путем определения морфологических характеристик глаза, включающий биомикроскопию: последовательную фокусировку микроскопа щелевой лампы на отдельных структурных элементах глаза и измерение геометрических характеристик глаза по перемещению микроскопа; микроскоп фокусируют на заднем эпителии роговицы, передней и задней капсулах хрусталика по оптической оси, перемещая микроскоп щелевой лампы, производят его фокусировку на заднем эпителии роговицы, зрачковом крае радужки, передней и задней капсулах хрусталика по сагиттальным осям, параллельным оптической оси и проходящим через верхний, нижний, внутренний и наружный зрачковый край радужки, и по полученным путем измерения перемещений микроскопа данным определяют глубину передней камеры глаза в различных ее отделах, величину и форму зрачка, отстояние хрусталика от зрачкового края радужки и толщину оптического среза хрусталика по всем осям наблюдений, RU 2092842.

Данный способ принят в качестве прототипа настоящего изобретения.

Получив описанным способом данные о некоторых морфометрических характеристиках глаза с подвывихом хрусталика: глубине передней камеры и неравномерности глубины передней камеры, отстоянии передней капсулы хрусталика от зрачкового края радужки, толщине оптического среза хрусталика по всем осям наблюдений, врач определяет степень подвывиха хрусталика. Однако диагностика подвывиха хрусталика на основе указанных выше морфометрических характеристик, определяемых по перемещению микроскопа, является недостаточно точной. Прежде всего, следует отметить, что способ требует высокой точности наведения (фокусировки) щелевой лампы на различные структуры переднего отрезка глаза по строго определенному алгоритму - задняя поверхность роговицы в проекции наблюдения, край радужки по оси наблюдения, поверхность передней капсулы в проекции оси наблюдения и т.д., что довольно трудоемко и практически невозможно без значительного клинического опыта. Во-вторых, наведение щелевой лампы осуществляется по субъективному восприятию врачом-исследователем точности фокусировки на структурах глаза, при этом не учитывается, что при молодом возрасте врача-исследователя и хорошей аккомодационной способности его глаз, врач может четко видеть разные структуры глаза за счет так называемой глубины фокуса собственных глаз. Таким образом, восприятие точности фокусировки у разных лиц разное. Следовательно, результаты измерений указанных выше морфометрических характеристик глаза зависят от субъективных факторов и не могут считаться достоверными.

Кроме того, морфометрические характеристики, измеряемые согласно способу-прототипу, не учитывают аберрации оптической системы глаза, что также снижает точность диагностики; следует также указать, что способ-прототип требует довольно больших (15-20 мин) затрат времени.

Задачей настоящего изобретения является повышение точности и сокращения времени диагностики подвывиха хрусталика.

Согласно изобретению эта задача решается за счет того, что в способе диагностики подвывиха хрусталика, включающем определение морфометрических характеристик глаза, в качестве морфометрических характеристик определяют аберрометрические характеристики, а именно количественные значения сферической аберрации, характеризуемые полиномом Zernike Z (4, 0), количественное значение положительной комы, характеризуемое полиномом Zernike Z (3, 1), количественное значение интегрального уровня аберраций высшего порядка PV OPD НО, а также определяют кератотопографические характеристики, а именно индекс регулярности поверхности роговицы SRI и индекс асимметричности поверхности роговицы SAI, и при SRI менее 0,5, SAI менее 1,0, Z (4, 0) менее или равном -0,2 мкм, Z (3, 1) более или равном 0,8 мкм и PV OPD НО более или равном 2,5 мкм, диагностируют подвывих хрусталика.

Сущность изобретения поясняется графическими материалами, где изображено:

на фиг.1 - аберрограмма пациента З. с подвывихом хрусталика на левом глазу; на фиг.2 - кератотопограмма того же пациента с подвывихом хрусталика на левом глазу (отсутствуют патологические изменения роговицы, характерные для кератоконуса, SRI: 0,07; SAI: 0,24).

Заявленный способ диагностики подвывиха хрусталика осуществляют следующим образом.

В качестве морфометрических характеристик глаза определяют аберрометрические характеристики исследуемых глаз на аберрометре WASCA фирмы "Carl Zeis Meditec", а именно количественные значения сферической аберрации, характеризуемые полиномом Zernike Z (4, 0), количественное значение положительной комы, характеризуемое полиномом Zernike Z (3, 1), количественное значение интегрального уровня аберраций высшего порядка PV OPD НО. Пациент устанавливает подбородок и прижимает лоб к специальному лобоподбородочному установу. Далее, пациент смотрит на мишень аберрометра - сетку, состоящую из линий сине-зеленого цвета, которые перекрещиваются друг с другом под углом 90°. Почти в центре мишени расположено пятнышко красного цвета - пациент смотрит как бы сквозь это пятно вдаль (фокусироваться на этом объекте нельзя, т.к. в этом случае начинает сказываться аккомодация и показатели аберрометрии меняются). В течение долей секунды (практически моментально) аберрометр на аберрограмме (фиг.1) выдает не только распечатку значений математических фигур-полиномов Zernike, но и дает изображение аберраций высших и низших порядков с применением шкалы цветокодировки - так называемые аберрограммы. При аберрометрии все оптические погрешности реальной оптической системы описываются с помощью специальных математических фигур-полиномов - полиномов Zernike (от первого и до четвертого, а иногда и больше, уровня), а также с помощью показателей интегрального уровня аберраций высших порядков (PV OPD НО). Также определяют кератотопографические характеристики на специальных интструментах - кератотопографах, индекс регулярности поверхности роговицы SRI и индекс асимметричности поверхности роговицы SAI. Кератотопографы (или корнеальные топографы) позволяют неинвазивно определять оптические и геометрические показатели роговицы живого глаза. Наиболее часто применяются отражающие кератотопографы, результаты исследования на которых представляют также на специальных картах-топограммах. При проведении кератотопографии пациент смотрит на специальный диск Плачидо в топографе. Кольца этого диска отражаются на поверхности роговицы и там, где роговица более крутая - расстояние между кольцами меньше, а где плоская, это расстояние больше. На топограммах оптическая сила роговицы в разных точках и некоторые геометрические характеристики роговицы представлены с применением цветокодированных шкал, в которых каждому определенному цвету соответствует определенная оптическая сила роговицы (фиг.2). Красно-желтые "теплые" оттенки (верхняя часть шкалы) показывают более высокодиоптрийные крутые зоны роговицы, а синие-зеленые "холодные" тона (нижняя часть шкалы) показывают низкодиоптрийные плоские зоны роговицы. Кроме того, на топограммах распечатаны кератотопографические индексы, позволяющие сравнивать топографические показатели разных роговиц.

Затем, если индекс регулярности поверхности SRI менее 0,5, индекс асимметричности поверхности SAI менее 1,0, а также аберрометрические показатели - сферическая аберрация, описываемая полиномом Zernike Z (4,0), менее или равна -0,2 мкм, положительная кома, описываемая полиномом Zernike Z (3, 1), более или равна 0,8 мкм и интегральный уровень аберраций глаза высшего порядка PV OPD НО более или равен 2,5 мкм, то диагностируют подвывих хрусталика.

Заявляемый способ поясняется следующими клиническими примерами.

Пример. 1. Пациент З., 34 года. В анамнезе - болезнь Марфана. При обращении в клинику СПб МНТК "Микрохирургия глаза" острота зрения без коррекции 0,05, с коррекцией сфера -2,5 дптр и цилиндр -3,0 дптр с осью 175° острота зрения равнялась 0,8. Биомикроскопически хрусталик с незначительными атипичными субкортикальными помутнениями вероятно врожденного генеза, с узким зрачком признаки подвывиха хрусталика практически не определялись. По данным аберрометрии интегральный уровень аберраций высших порядков (PV OPD НО) составлял 3,24 мкм, сферическая аберрация, описываемая полиномом Zernike Z (4, 0), равнялась -0,277 мкм, а положительная кома, описываемая полиномом Zernike Z (3, 1), равнялась 1,556 мкм (фиг.1). По данным кератотопографии индекс регулярности поверхности SRI был равен 0,07, а индекс асимметричности поверхности SAI равнялся 0,24 (фиг.2). У пациента диагностирован подвывих хрусталика, подтвержденный при биомикроскопии с широким зрачком и при оперативном лечении (ленсэктомии с имплантацией интраокулярной линзы).

Пример 2. Пациентка С., 49 лет. В анамнезе - контузия глазного яблока II ст., миопия слабой степени. При обращении в клинику СПб МНТК "Микрохирургия глаза" острота зрения без коррекции 0,2, с коррекцией сфера -4,5 дптр острота зрения равнялась 0,9. Биомикроскопически хрусталик почти прозрачен, с узким зрачком, признаки подвывиха хрусталика практически не определялись. По данным аберрометрии интегральный уровень аберраций высших порядков (PV OPD НО) составлял 2,94 мкм, сферическая аберрация, описываемая полиномом Zernike Z (4, 0), равнялась -0,311 мкм, а положительная кома, описываемая полиномом Zernike Z (3, 1), равнялась 1,011 мкм. По данным кератотопографии индекс регулярности поверхности SRI был равен 0,15, а индекс асимметричности поверхности SAI равнялся 0,18. У пациентки диагностирован подвывих хрусталика, подтвержденный при биомикроскопии с широким зрачком.

Заявленный способ, благодаря тому, что определяются морфометрические характеристики, которые учитывают абберации оптической системы глаза, а также указанные кератотопографические характеристики в сопоставлении с аберрометрическими характеристиками, позволяет значительно повысить объективность и соответственно точность диагностики подвывиха хрусталика, при этом исключается необходимость точного наведения щелевой лампы на структуры глаза, что весьма сложно и зависит от субъективного восприятия врачом точности фокусировки и других субъективных факторов; кроме того, значительно (до 1-3 мин) сокращается время исследования. Таким образом, благодаря реализации отличительных признаков изобретения, обеспечиваются важные новые свойства заявленного объекта: объективность, точность, сокращение времени исследования, что, по мнению заявителя, подтверждает его соответствие критерию «изобретательский уровень».

Для реализации изобретения использовано существующее офтальмологическое оборудование, что определяет его соответствие критерию «промышленная применимость».

В таблице 1 приведены: аберрометрические изменения и некоторые кератотопографические индексы SRI и SAI при подвывихе хрусталика (основная группа) и кератоконусе (контрольная группа) (среднее значение ± стандартное отклонение)

Таблица 1
	Zernike Z (4, 0)*, мкм	Zernike Z (3, 1), мкм	PV OPD НО, мкм	SRI*	SAI*
Подвывих хрусталика (12 глаз)	-0,259±0,116	2,69±1,56	5,51±1,48	0,10	0,28
Кератоконус (22 глаза)	-0,805±0,262	2,80±1,62	7,50±4,60	2,12	5,08
* сферическая аберрация, характеризуемая полиномом Zernike Z (4, 0), и коэффициенты SRI и SAI значительно ниже при подвывихе хрусталика, чем при кератоконусе (статистически достоверная разница /р<0,01/)

Способ диагностики подвывиха хрусталика, включающий определение морфометрических характеристик глаза, отличающийся тем, что в качестве морфометрических характеристик определяют аберрометрические характеристики, а именно количественное значение сферической аберрации, характеризуемые полиномом Zernike Z (4, 0), количественное значение положительной комы, характеризуемое полиномом Zernike Z (3, 1), количественное значение интегрального уровня аберраций высшего порядка PV OPD НО, а также определяют кератотопографические характеристики, а именно индекс регулярности поверхности роговицы SRI и индекс асимметричности поверхности роговицы SAI, и при SRI менее 0,5, SAI менее 1,0, Z (4, 0) менее или равном 0,2 мкм, Z (3, 1) более или равном 0,8 мкм и PV OPD НО более или равном 2,5 мкм, диагностируют подвывих хрусталика.