Способ контроля вещественного состава пульпообразных продуктов в условиях их переменной плотности



Способ контроля вещественного состава пульпообразных продуктов в условиях их переменной плотности
Способ контроля вещественного состава пульпообразных продуктов в условиях их переменной плотности
Способ контроля вещественного состава пульпообразных продуктов в условиях их переменной плотности
Способ контроля вещественного состава пульпообразных продуктов в условиях их переменной плотности
Способ контроля вещественного состава пульпообразных продуктов в условиях их переменной плотности

 


Владельцы патента RU 2619224:

Чинский Евгений Борисович (RU)

Использование: для контроля вещественного состава пульпообразных материалов. Сущность изобретения заключается в том, что экспериментально, с источником меньшей энергии, в окне энергетического спектра меньшей энергии, устанавливают ряд аналитических связей интенсивности рассеянного материалом гамма-излучения от вещественного состава и плотности материала эталонов, для чего используют в качестве эталонов набор материала известного вещественного состава и плотности. По полученному на эталонах ряду аналитических зависимостей связи интенсивности рассеянного эталонами гамма-излучения с вещественным составом и плотностью устанавливают аналитическую связь коэффициентов полученного ряда аналитических зависимостей от плотности эталонов. Экспериментально с источником большей энергии гамма-квантов, в окне энергетического спектра большей энергии, устанавливают связь интенсивности рассеянного исследуемым материалом гамма-излучения от плотности материала эталонов, для чего используют набор материала эталонов разной плотности, затем, на материале неизвестного вещественного состава и плотности в окне энергетического спектра большей энергии, регистрируют рассеянное излучение источника большей энергии. По результатам этих измерений и полученной ранее связи интенсивности рассеянного исследуемым материалом гамма-излучения от плотности материала эталонов оценивают плотность материала неизвестного состава, а по ранее полученной связи коэффициентов уравнений с плотностью устанавливают коэффициенты уравнений связи интенсивности рассеянного гамма-излучения малой энергии с вещественным составом, а для оценки вещественного состава, в окне энергетического спектра малой энергии, регистрируют интенсивность гамма-излучения малой энергии. По этим результатам, а также установленным коэффициентам уравнений связи интенсивности рассеянного гамма-излучения с вещественным составом пульпообразных продуктов оценивают его вещественный состав. Способ может быть применен для одновременной оценки вещественного состава и плотности материального потока пульпообразных продуктов. Технический результат: повышение достоверности контроля вещественного состава пульпообразных материалов. 1 табл., 4 ил.

 

Предлагаемый способ относится к методам неразрушающего контроля вещественного состава минерального сырья, например в потоке с использованием источников ионизирующих излучений, и методам ядерной геофизики.

Аналог. Известен способ анализа меди в пульпе. В способе, пульпа протекает через кювету с окном, прозрачным для рентгеновских лучей. Прибор содержит два спектрофотометра с изогнутыми кристаллами, один из которых предназначен для измерения интенсивности аналитических линий Cu-Кα, другой для измерения интенсивностей внутреннего стандарта - линии излучения материала анода рентгеновской трубки L-Pt. В качестве детектора применяется счетчик Гейгера (В кн. «Автоматизация обогатительных фабрик». Изд. Недра, 1974 г., с. 99).

Калибровку проводят путем сопоставления результатов контроля интенсивности вторичного излучения от эталонных проб руды с результатами их химического анализа.

Аналог. Известен способ определения Мо в технологических растворах. В установке в качестве источника первичного излучения использовали рентгеновскую трубку малой мощности, детектирование флуоресцентного излучения Мо осуществлялась сцинтилляционным счетчиком. Второй детектор регистрировал прошедшее через раствор возбуждающее излучение. Регистрировали отношение плотностей потоков флуоресцентного и проходящего излучений.

Калибровку проводят путем сопоставления результатов контроля интенсивности вторичного излучения от эталонных проб с результатами их химического анализа.

Способ позволил уменьшить погрешность, связанную с нестабильностью рентгеновской трубки, и влияние абсорбционных характеристик исследуемого раствора. В кн. Флуоресцентный рентгенорадиометрический анализ. Р.И. Плотников, Г.А. Пшеничный. Атомиздат, 1979 г., с. 225.

Прототип. Известен «Способ отбора и подготовки проб пульпообразных продуктов для дискретно непрерывного анализа», авт. свид. СССР №460492 (Большаков А.Ю., Чинский Е.Б.).

Для исключения влияния соотношения твердой и жидкой фаз (плотности) на результаты ядернофизического анализа вещественного состава, пробы пульпы отбирают одинакового объема и веса и отстаивают в течение равных промежутков времени, обеспечивающих образование слоя твердой фазы однородной плотности. Блок детектирования, со сцинтилляционным детектором и источниками гамма-излучения, размещают под кюветой с анализируемым материалом. Облучают от внешнего гамма-источника эталонные пробы известного вещественного состава и пробы неизвестного вещественного состава, регистрируют рассеянное пробой гамма-излучение. Результаты контроля интенсивности гамма-излучения фиксируют и сравнивают с результатами, полученными на контрольных образцах.

Калибровку проводят путем сопоставления результатов контроля интенсивности рассеянного гамма-излучения от эталонов с результатами их химического анализа.

В предлагаемом способе облучают гамма-излучением внешнего источника эталоны с известным вещественным составом и контролируемый материал неизвестного состава, регистрируют вторичное, например, рассеянное гамма-излучение и сравнивают полученные результаты контроля на исследуемом материале с результатами контроля на эталонах и делают вывод о вещественном составе материала неизвестного состава, отличающемся тем, что поток первичного гамма-излучения источников направляют на поверхность пульпообразного материала неизвестного состава или эталоны используют несколько разных энергий первичного гамма-излучения, а большую энергию источника и соответствующее окно в энергетическом спектре рассеянного гамма-излучения используют для контроля плотности эталонов и исследуемого материала неизвестного вещественного состава, а меньшую энергию гамма-излучения источника и окно в энергетическом спектре используют для контроля вещественного состава исследуемого материала, вначале известных, а затем, по полученным связям, неизвестных, для чего экспериментально, с источником меньшей энергии гамма-излучения и в окне энергетического спектра меньшей энергии, устанавливают ряд аналитических связей интенсивности рассеянного материалом гамма-излучения от вещественного состава и плотности материала эталонов, для чего используют в качестве эталонов набор материала известного вещественного состава и плотности и, по полученному на эталонах ряду аналитических зависимостей связи интенсивности рассеянного эталонами гамма-излучения с вещественным составом и плотностью, устанавливают аналитическую связь коэффициентов полученного ряда аналитических зависимостей от плотности эталонов, экспериментально с источником большей энергии гамма-квантов, в окне энергетического спектра большей энергии, устанавливают связь интенсивности рассеянного исследуемым материалом гамма-излучения от плотности материала эталонов, для чего используют набор материала эталонов разной плотности, затем, на материале неизвестного вещественного состава и плотности в окне энергетического спектра большей энергии источника гамма-излучения, регистрируют рассеянное гамма-излучение источника большей энергии и, по результатам этих измерений и по полученной ранее связи интенсивности рассеянного исследуемым материалом гамма-излучения от плотности материала эталонов, оценивают плотность материала неизвестного состава, а по ранее полученной связи коэффициентов уравнений с плотностью устанавливают коэффициенты уравнений связи интенсивности рассеянного гамма-излучения малой энергии с вещественным составом, а для оценки вещественного состава, в окне энергетического спектра малой энергии, регистрируют интенсивность рассеянного гамма-излучения малой энергии и по этим результатам, а также установленным коэффициентам уравнений связи интенсивности рассеянного гамма-излучения с вещественным составом пульпообразных продуктов оценивают его вещественный состав.

Способ иллюстрируется:

Фиг. 1. Изменение интенсивности (имп/с) рассеянного гамма-излучения источника америций-241 в зависимости от вещественного состава (%P2O5) и плотности пульпы апатит нефелиновой руды соответственно: 1 - 1,70 г/см3, 2 - 1,65 г/см3, 3 - 1,60 г/см3, 4 - 1,55 г/см3 и 5 - 1,5 г/см3.

Фиг. 2а. Изменение коэффициента а (уравнения J=aα+b связи интенсивности. Jимп/с рассеянного гамма-излучения источника америций-241 от вещественного состава) в зависимости от плотности пульпы.

Фиг. 2б. Изменение коэффициента b (уравнения J=aα+b связи интенсивности. Jимп/с рассеянного гамма-излучения источника америций-241 от вещественного состава) в зависимости от плотности пульпы.

Фиг. 3 Изменение интенсивности (имп/с) рассеянного гамма-излучения источника цезий-137 в зависимости от плотности пульпы в эталонных пробах в апатит-нефелиновой руде.

Пример. Способ поясняется на примере контроля вещественного состава пульпы апатит-нефелиновой руды (контроль α%Р2О5) селективным гамма-гамма-методом (ГГМ-С) и плотностным гамма-гамма-методом (ГГМ-П) для контроля плотности пульпы, путем облучения и регистрации рассеянного материалом гамма-излучения источников америций-241 и цезий-137 соответственно. Это модификации одного и того же гамма-гамма-метода (В.А. Мейер, П.А. Ваганов «Основы ядерной геофизики». Изд. ЛГУ, 1978 г., с. 184).

Для контроля вещественного состава сложных сред ГГМ-С предпочтительней выбор энергий источника первичного гамма-излучения до 200 кэв. Взаимодействуя с исследуемым материалом, интенсивность рассеянного гамма-излучения данных энергий зависит, в основном, от вещественного состава материала (руды), характеризуемого эффективным атомным номером Zэфф. Гамма-поглощающие свойства руды растут с увеличением Zэфф. Для апатит-нефелиновой руды Zэфф. составляет 15-17 единиц для содержаний в руде от 3 до 25%P2O5. Плотность же пульпы, предназначенной для обогащения и получения апатитового концентрата при флотации, соотношение Т/Ж фаз 1:2,2-2,5 (Г.А. Голованов «Вопросы теории и практики флотации апатит содержащих руд». Апатиты. КФАН 1971 г. с. 67) или плотность составляет в пределах 1,5-1,7 г/см3.

Для реализации способа используют анализатор спектрометрический цифровой сцинтилляционный, двухканальный СЦС 2. Источники и приемники гамма-излучения; детекторы NaJ(Ta) в составе блоков детектирования, фиксируют на проточной кювете (или стенке пульпопровода), выполненной из гамма-прозрачного материала, стойкого к истиранию (полиуретан). Поток квантов источников направляют в сторону анализируемой пульпы.

Для реализации способа и одновременного контроля вещественного состава пульобразного материала и плотности используют разные энергии первичного гамма-излучения источников: Am-241 (60 кэв) для контроля вещественного состава и Cs-137 (660 кэв) для контроля плотности пульпы.

Устанавливают окна интереса в энергетическом спектре, в котором проводят измерения интенсивности рассеянного гамма-излучения в области названных энергий используемых источников.

Контролируют интенсивность. Jимп/с рассеянного гамма-излучения источника Am-241 в зависимости от содержания α%P2O5 и плотности в эталонах. Из рисунка, представленного на фиг. 1, видно, что на результаты контроля оказывает плотность анализируемого материала.

Для устранения этого эффекта получают ряд аналитических связей интенсивности с вещественным составом, для чего облучают источником Am-241 эталоны пульпы с известным вещественным составом α%P2O5 и плотностью. Регистрируют рассеянное эталонами гамма-излучение в выбранном окне энергетического спектра рассеянного гамма-излучения малой энергии этого источника. Устанавливают ряд аналитических связей, интенсивности рассеянного гамма-излучения от вещественного состава эталонов с учетом плотности. Получают ряд уравнений (см. таблицу), связи интенсивности вторичного гамма-излучения от вещественного состава эталонов, в зависимости плотности исследуемого материала. По этим результатам устанавливают связь коэффициентов а и b этих уравнений с плотностью пульпы фиг. 2а и 2б.

Полученный на эталонах ряд аналитических связей учитывают при контроле материала неизвестного вещественного состава пульпы с неизвестными гамма-поглощающими свойствами.

I. Калибровка пульпообразных продуктов по эталонам известного вещественного состава при известном изменении их плотности.

С источником Am-241, в окне малой энергии, по эталонам известного вещественного состава и плотности, получают ряд аналитических связей интенсивности рассеянного гамма-излучения источников от вещественного состава для разных плотностей пульпы см. фиг. 1 и таблицу.

1. По полученным результатам (см. таблицу) устанавливают аналитическую связь изменения коэффициентов а и b (уравнения связи интенсивности рассеянного гамма-излучения от вещественного состава) от плотности пульпы см. фиг. 2а и фиг. 2б.

2. С источником цезий-137, на эталонах с известным вещественным составом и плотностью, в окне большей энергии, устанавливают аналитическую связь интенсивности рассеянного гамма-излучения этого источника с плотностью пульпы см. фиг. 3.

Полученные результаты используют для контроля руды неизвестного вещественного состава и плотности пульпы.

II. Контроль пульпообразных продуктов неизвестного вещественного состава при неизвестном изменении плотности пульпы.

3. Для одновременной оценки неизвестного вещественного состава и неизвестной плотности пульпы используют результаты калибровки (I) и, с выбранной экспозицией, измеряют интенсивность рассеянного гамма-излучения спектра источников Am-241 в окне малой энергии, и цезий-137 в окне большей энергии.

4. Для данной геометрии измерений, согласно п. 2 (I), по результатам измерений интенсивности рассеянного гамма-излучения J в окне с большей энергией (п. 3), см. фиг. 3, по уравнению y=-161941х+313008, где y - интенсивность рассеянного гамма-излучения J, а х - плотность пульпы г/см3, оценивают неизвестную плотность пульпы,

5. По результатам оценки плотности пульпы (п. 4), по ранее полученным аналитической связи и уравнению y=-195,36х-156,96, где y - коэффициент, а, уравнения связи интенсивности рассеянного гамма-излучения J от вещественного состава , а x - плотность пульпы, определяют коэффициент, а, уравнения связи интенсивности рассеянного гамма-излучения с вещественным составом пульпы.

6. По результатам оценки плотности пульпы (п. 4), по уравнению y=-37606х+131189, где y - коэффициент b уравнения связи интенсивности рассеянного гамма-излучения от вещественного состава , а x - плотность пульпы, определяют коэффициент b, уравнения связи интенсивности рассеянного гамма-излучения с вещественным составом пульпы.

7. В окне малой энергии регистрируют рассеянное гамма-излучение J источника америций-241 от пульпы.

8. По интенсивности рассеянного гамма-излучения в окне малой энергии J в пульпе неизвестного вещественного состава и оцененной плотности (п. 4), в уравнение J=-aα%P2O5+b подставляют полученные значения коэффициентов а и b (п. 5 и 6), оценивают содержание α%Р2О5.

Например, при регистрации в энергетическом окне большей энергии рассеянного гамма-излучения источника цезий-137, например для 60000 имп/с по уравнению y=-161941х+313008, определяют плотность пульпы. Она будет равна 1,562 г/см3.

Это значение плотности подставляют в уравнения, а=-195,36х+156,96 и b=37606х+131189, определяют коэффициенты а и b. В нашем случае они будут равны: а=148,192, b=72448. Подставляют значения коэффициентов а и b в уравнение J=-148,192α%P2O5+72448. Регистрируют интенсивность рассеянного гамма-излучения источника америций-241 в окне малой энергии, например 70000 имп/с, подставляют эту величину в названное уравнение. Получают результат о вещественном составе пульпы. Для нашего примера это 16.25%P2O5. Для интенсивности 71000 результат составит 9,77% P2O5.

Способ контроля вещественного состава пульпообразных материалов в условиях их переменной плотности, например в потоке, для чего облучают гамма-излучением внешнего источника эталоны с известным вещественным составом и контролируемый материал неизвестного состава, регистрируют вторичное, например, рассеянное гамма-излучение и сравнивают полученные результаты контроля на исследуемом материале с результатами контроля на эталонах и делают вывод о вещественном составе материала неизвестного состава, отличающийся тем, что поток первичного гамма-излучения источников направляют на поверхность пульпообразного материала неизвестного состава или эталоны, используют несколько разных энергий первичного гамма-излучения, а большую энергию источника и соответствующее окно в энергетическом спектре рассеянного гамма-излучения используют для контроля плотности эталонов и исследуемого материала неизвестного вещественного состава, а меньшую энергию гамма-излучения источника и окно в энергетическом спектре используют для контроля вещественного состава исследуемого материала, вначале известных, а затем, по полученным связям, неизвестных, для чего экспериментально, с источником меньшей энергии гамма-излучения и в окне энергетического спектра меньшей энергии, устанавливают ряд аналитических связей интенсивности рассеянного материалом гамма-излучения от вещественного состава и плотности материала эталонов, для чего используют в качестве эталонов набор материала известного вещественного состава и плотности и, по полученному на эталонах ряду аналитических зависимостей связи интенсивности рассеянного эталонами гамма-излучения с вещественным составом и плотностью, устанавливают аналитическую связь коэффициентов полученного ряда аналитических зависимостей от плотности эталонов, экспериментально с источником большей энергии гамма-квантов, в окне энергетического спектра большей энергии, устанавливают связь интенсивности рассеянного исследуемым материалом гамма-излучения от плотности материала эталонов, для чего используют набор материала эталонов разной плотности, затем, на материале неизвестного вещественного состава и плотности в окне энергетического спектра большей энергии источника гамма-излучения, регистрируют рассеянное гамма-излучение источника большей энергии и, по результатам этих измерений и по полученной ранее связи интенсивности рассеянного исследуемым материалом гамма-излучения от плотности материала эталонов, оценивают плотность материала неизвестного состава, а по ранее полученной связи коэффициентов уравнений с плотностью устанавливают коэффициенты уравнений связи интенсивности рассеянного гамма-излучения малой энергии с вещественным составом, а для оценки вещественного состава, в окне энергетического спектра малой энергии, регистрируют интенсивность рассеянного гамма-излучения малой энергии и по этим результатам, а также установленным коэффициентам уравнений связи интенсивности рассеянного гамма-излучения с вещественным составом пульпообразных продуктов оценивают его вещественный состав.



 

Похожие патенты:

Использование: для неразрушающего способа рентгеноструктурного контроля и может использоваться для оценки технического состояния ремонтных деталей газотурбинного двигателя (ГТД) из титановых сплавов в лабораторных и заводских условиях.

Использование: для юстировки образца в рентгеновском дифрактометре. Сущность изобретения заключается в том, что используют калибровочное приспособление, которое предварительно устанавливают на место держателя образца с возможностью микрометрических перемещений в плоскости, параллельной экваториальной плоскости гониометра.

Использование: для диагностики римановой кривизны решетки нанотонких кристаллов. Сущность изобретения заключается в том, что способ диагностики римановой кривизны решетки нанотонких кристаллов включает получение электронно-микроскопического изображения нанотонкого кристалла в светлом поле, получение микроэлектронограммы от кристалла, микродифракционное исследование нанотонкого кристалла, анализ ротационного искривления решетки нанотонкого кристалла, при этом на электронно-микроскопическом изображении нанотонкого кристалла выбирают физическую точку M и двумерное направление, для этого выбирают пару - нелинейный изгибной экстинкционный контур и соответствующий ему рефлекс на микроэлектронограмме, испытывающий азимутальное размытие; проводят диагностику римановой геометрии решетки нанотонкого кристалла в данной точке M и данном двумерном направлении, задаваемом бивектором (а, b) - парой неколлинеарных векторов, исходящих из одной точки, совпадающей с центром микроэлектронограммы, полученной от нанотонкого кристалла, расположенных в плоскости микроэлектронограммы, где вектор b соответствует размытому рефлексу, путем совместного анализа пары - нелинейного изгибного экстинкционного контура, присутствующего на электронно-микроскопическом изображении кристалла в темном поле, и соответствующего ему рефлекса на микроэлектронограмме от кристалла, для установления непрерывности азимутального размытия рефлекса и непрерывности соответствующего ему изгибного контура, затем проводят диагностику римановой кривизны решетки нанотонкого кристалла путем определения численного значения римановой кривизны решетки нанотонкого кристалла в данной точке М и данном двумерном направлении, задаваемом бивектором (а, b), по определенной формуле.

Использование: для неразрушающего контроля термодеформационной обработки полуфабрикатов из двухфазных титановых сплавов на перегрев. Сущность изобретения заключается в том, что выбирают место контроля и строят градуировочную кривую для каждого вида полуфабрикатов, получают дифракционный спектр методом рентгеновской съемки и выполняют обработку результатов для каждого контролируемого полуфабриката, причем в качестве места контроля выбирают деформированный во время последней операции термодеформационной обработки участок поверхности с преимущественным течением материала параллельно поверхности со степенью деформации не менее 10% и не более 50% с удаленным газонасыщенным слоем, в качестве градуировочной кривой используют зависимость соотношения интенсивностей дифракционных линий α-фазы L1=(101) или L1=(110) и L2=(002) от температуры Т (Т - разность температуры полного полиморфного превращения (Тпп) и температуры нагрева под деформацию (Тн)), а о перегреве вышезаданной технологией температуры судят по значению отношения интенсивностей дифракционных линий L1 и L2 выше, чем на градуировочной кривой для верхнего предела диапазона температур нагрева.

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано лабораториями неразрушающего контроля, проектными и научно-исследовательскими организациями для диагностики трещинообразования в конструкционных материалах и прогнозирования состояния предразрушения конструкции.

Использование: для изгиба кристалла-монохроматора. Сущность изобретения заключается в том, что устройство для изгиба кристалла-монохроматора включает основание, выполненное с возможностью устанавливать его в гнездо гониометра, кристалл-монохроматор, выполненный в виде пластины, кристаллодержатель с неподвижными опорами, на которые может опираться пластина кристалла-монохроматора, подвижную каретку с отверстиями для размещения подвижных опор, которые могут соприкасаться с пластиной кристалла-монохроматора и обеспечивать изгиб кристалла при своем перемещении, рычаг со стержнем, закрепленный подвижно на основании кристаллодержателя, выполненный с возможностью касания каретки и боковой поверхности копира, который представляет собой тело вращения, ось которого имеет возможность смещения относительно оси вращения основания устройства с помощью юстировочного устройства.

Использование: для регистрации нарушений в изделии. Сущность изобретения заключается в том, что направляют рентгеновские лучи веерного типа на изделие вдоль по меньшей мере одного направления, в котором часть рентгеновских лучей веерного типа отражается от изделия; региструют отраженные рентгеновские лучи веерного типа от изделия вдоль по меньшей мере одного направления и выполняют запись интенсивности регистрируемых отраженных высокоэнергетичных волн, после чего формируют одномерное изображение изделия из регистрируемых отраженных высокоэнергетичных волн.

Изобретение относится к области энергетического машиностроения и может найти применение на предприятиях энергетической отрасли, при разработке энергетического оборудования и исследовании новых марок сталей.

Использование: для косвенного контроля характеристик качества (размера и различных свойств) металлических полуфабрикатов (ленты, проволоки, труб, профиля и т.д.) и регулирования режимов деформации в случае, если та или иная характеристика качества не соответствует требуемым ограничениям.

Использование: для оценки состава двухкомпонентных твердых растворов в нанодисперсных материалах, включающих, в частности, наноразмерные частицы: Pt-Ru, Pt-Rh, Fe-Co, Pd-Ru, Pd-Rh, Pd-H, Hf-O.

Изобретение относится к аналитической химии и может быть использовано для определения происхождения пищевого этилового спирта. Cущность способа заключается в том, что используют детекторное устройство типа «электронный нос», матрицу которого формируют из 8 сенсоров на основе пьезокварцевых резонаторов объёмных акустических волн с базовой частотой колебаний 10,0 МГц с разнохарактерными пленочными сорбентами на электродах, для стабилизации покрытий для нехроматографических фаз применяют подложку из углеродных нанотрубок, покрытия массива селективные: к спиртам – полиэтиленгликоль адипинат, ПЭГА; к высшим спиртам, кетонам, эфирам - полиэтиленгликоль себацинат и полиэтиленгликоль ПЭГ-2000; к сложным эфирам – полиэтиленгликоль фталат, ПЭГФ; к серосодержащим соединениям, эфирам – Тритон Х-100, ТХ-100; к кислотам, воде, спиртам – дициклогексан-18-6,краун-эфир ( ДЦГ18К6/УНТ); к фенольным и другим ароматическим соединениям – триоктилфосфиноксид (ТОФО/УНТ); к кетонам – пчелиный клей (ПчК). Пробы каждого образца объемом 10,0 см3 помещают в стерильный стеклянный пробоотборник, выдерживают при температуре 20 ± 1 оС в герметичном сосуде с полимерной мягкой мембраной, 1 см3 равновесной газовой фазы отбирают шприцем и вводят в ячейку детектирования, фиксируют частоту колебаний пьезокварцевых резонаторов в течение 2 мин с интервалом 1 с. Графически формируют суммарный аналитический сигнал в виде «визуальных отпечатков» максимумов и с помощью программного обеспечения прибора аналитические сигналы сравнивают между собой и с эталонными «визуальными отпечатками», полученными при анализе качественных образцов, устанавливая степень их различия и схожести. Если степень сходства с каким-либо эталоном из базы данных составляет более 95 %, то делают вывод, что исследуемый образец изготовлен из того же сырья, что и этанол, если степень сходства составляет 90 - 95%, считают, что анализируемый этанол изготовлен из сырья с отличающимися от эталона свойствами либо выработан с технологическими нарушениями, если степень соответствия менее 90%, исследуемый образец сравнивается с эталоном спирта из другого сырья. Использование способа позволяет с высокой точностью определить подлинность анализируемых спиртных напитков. 1 табл., 2 ил., 1 пр.
Наверх