Устройство для изгиба кристалла-монохроматора

Использование: для изгиба кристалла-монохроматора. Сущность изобретения заключается в том, что устройство для изгиба кристалла-монохроматора включает основание, выполненное с возможностью устанавливать его в гнездо гониометра, кристалл-монохроматор, выполненный в виде пластины, кристаллодержатель с неподвижными опорами, на которые может опираться пластина кристалла-монохроматора, подвижную каретку с отверстиями для размещения подвижных опор, которые могут соприкасаться с пластиной кристалла-монохроматора и обеспечивать изгиб кристалла при своем перемещении, рычаг со стержнем, закрепленный подвижно на основании кристаллодержателя, выполненный с возможностью касания каретки и боковой поверхности копира, который представляет собой тело вращения, ось которого имеет возможность смещения относительно оси вращения основания устройства с помощью юстировочного устройства. Технический результат: упрощение конструкции управления изгибом кристалла-монохроматора. 5 з.п. ф-лы, 2 ил.

 

Изобретение относится к исследованию физических и химических свойств вещества, в частности их рентгеновских спектров поглощения в широком энергетическом диапазоне, и может быть использовано в рентгеновских спектрометрах.

Известны рентгеновские спектрометры, содержащие источник рентгеновского излучения, держатель образца, а также установленный с возможностью поворота вокруг оси кристалл-монохроматор для выделения излучения с определенной длиной волны в соответствии с уравнением Вульфа-Брегга , где d межплоскостное расстояние, θ - угол Брегга, λ - длина волны рентгеновского излучения, n - порядок отражения, детектор и устройство для изгиба кристалла для обеспечения фокусировки рентгеновского излучения, отраженного от кристалла-монохроматора и прошедшего через поглощающий исследуемый образец, на щели детектора (Блохин М.А. Методы рентгеноспектральных исследований. - М.: Изд-во физ.-мат. лит-ры, 1959, 362 С.; Taguchi Т., J. Harada, A. Kiku, K. Tohji, K. Shinoda. Development of a new in-laboratory XAFS apparatus based on new concept // J. Synchrotron Rad. (2001). 8, 363-365; B.E. Campbell, H.M. Epstein, P.J. Mallozzi, R.E. Schwerzel // Apparatus for X-ray absorption fine structure spectroscopy // Patent EP 0032108 A2, 1981).

При этом для получения спектра необходимо, чтобы условия фокусировки соблюдались для каждого значения длины волны в спектральном диапазоне, а следовательно, для всех углов 0, соответствующих этому диапазону. Точная фокусировка рентгеновского пучка на щели детектора возможна при выполнении равенства (2) из которого следует, что радиус круга Роуланда Rк и соответственно радиус кристалла-монохроматора должен меняться при изменении угла Брэгга θ:

,

где R0 - фиксированный радиус круга гониометра.

Для реализации условия фокусировки (2) необходимо синхронизировать изменение изгиба и изменение угла поворота кристалла-монохроматора. Такая задача синхронизации изменения изгиба и изменения угла поворота кристалла-монохроматора решается при помощи различных механических устройств для изгиба кристалла-монохроматора (A.T, Shuvaev, B.Yu. Helmer, Т.A. Lyubeznova, V.A. Shuvaeva // J. Synchrotron Rad. (1999) 6, p. 158-160).

Известно устройство для изгиба кристалла-монохроматора, содержащее механизм перемещения, два неподвижных и два подвижных цилиндрических стержня, между которыми расположены оконечные части изгибаемого кристалла, оси которых смещены относительно друг друга. Неподвижные стержни опираются на верхнюю поверхность плоскопараллельной пластины в области ее торцов. К торцам пластины присоединены Г-образные кронштейны, параллельные поверхности которых контактируют с неподвижными стержнями. Параллельные поверхности торцов верхних перекладин Г-образных кронштейнов контактируют с подвижными стержнями. Пластина с Г-образными кронштейнами охвачена ломаными плечами плавающего коромысла с установленными на его концах цилиндрическими пальцами, опирающимися на поверхности подвижных стержней перпендикулярно к ним. Между нижней поверхностью пластины и средней точкой коромысла расположен механизм перемещения (патент РФ №2260218, МПК G21K 1/06, 2005 г.).

Однако данная конструкция из-за отсутствия механизма синхронизации не позволяет изменять радиус изгиба кристалла-монохроматора в зависимости от его угла поворота относительно пучка рентгеновского излучения.

Известно устройство, используемое в рентгеновском спектрометре RIGAKU R-XAS (Shinoda K., Suzuki S., Kuribayashi М., Taguchi Т. // Journal of Physics: Conference Series 186 (2009) 012036; Taguchi Т., Harada J., Kiku A., Tohji K., Shinoda K. Development of a new in-laboratory XAFS apparatus based on new concept // J. Synchrotron Rad. (2001), 8, p. 363-365), где для изменения угла падения рентгеновских лучей из щели на кристалл-монохроматор происходит совместное движение кристалла-монохроматора и рентгеновской трубки таким образом, чтобы конечная точка фокусировки излучения оставалась неподвижной. Кристалл-монохроматор имеет изогнутую форму неизменного радиуса для фокусировки рентгеновского излучения.

Данное устройство адаптировано под конкретный спектрометр и не подразумевает дополнительной юстировки для точной фокусировки рентгеновского излучения.

Наиболее близким по выполнению является устройство для изгиба кристалла-монохроматора, включающее кристалл-монохроматор, выполненный в виде пластины, кристаллодержатель и кулачковый механизм, содержащий подшипник, обойму, валик и кулачок, для передачи подвижной каретке движения, заданного изгибом копира, выполненного в виде платформы с вырезом, а также юстировочное устройство копира (А.Т. Шуваев, Б.Ю. Хельмер, Т.А. Любезнова, Н.И. Пузыня. Спектрометр для исследования EXAFS-спектров в лабораторных условиях. ВИНИТИ. №8718-В86. г. Ростов-на-Дону. 1986. с. 16).

Недостатком устройства является использование сложных в изготовлении копира в виде платформы с вырезом и кулачкового механизма, содержащего набор деталей (подшипник, обойма, валик, кулачок).

Техническим результатом является упрощение конструкции управления изгибом кристалла-монохроматора.

Технический результат достигается устройством для изгиба кристалла-монохроматора, характеризующимся тем, что оно включает основание, кристалл-монохроматор, выполненный в виде пластины, кристаллодержатель с неподвижными опорами, на которые может опираться пластина кристалла-монохроматора, подвижную каретку с отверстиями для размещения подвижных опор, которые могут соприкасаться с пластиной кристалла-монохроматора и обеспечивать изгиб кристалла при своем перемещении, рычаг со стержнем, закрепленный подвижно на основании кристаллодержателя, выполненный с возможностью касания каретки и боковой поверхности копира, который представляет собой тело вращения, ось которого имеет возможность смещения относительно оси вращения основания устройства с помощью юстировочного устройства.

Рычаг со стержнем при движении, заданным боковой поверхностью копира передает движение через стержень каретке с подвижными опорами, изгибающими кристалл-монохроматор.

Основание предназначено, в том числе, для установки устройства в гнездо гониометра.

Устройство может содержать кронштейн, фиксирующий основание копира неподвижно относительно источника рентгеновского излучения.

Устройство может содержать соединение, связывающее подвижную каретку с неподвижным основанием кристаллодержателя, выполненное, например, в виде пружины.

Юстировочное устройство может быть выполнено в виде микрометрических винтов.

Устройство может содержать приспособление для фиксации подвижной каретки.

Копир может быть выполнен в виде цилиндрического кольца.

Отличием предлагаемого устройства от наиболее близкого аналога является выполнение копира, в виде тела вращения, например цилиндрического кольца (вместо платформы с вырезом), позволяющего использовать для управления изгибом кристалла-монохроматора рычаг (в виде одной детали) вместо кулачкового механизма (включающего подшипник, обойма, валик, кулачок).

На фиг. 1 приведен вид сбоку устройства для изгиба кристалла-монохроматора, где 1 - основание устройства; 2 - кронштейн для фиксирования положения копира относительно рентгеновской трубки, 3 - верхнее и нижнее основание копира; 4 - основание крепления кристаллодержателя 6; 5 - кристалл-монохроматор; 6 - кристаллодержатель; 7 - подвижная каретка; 8 - подвижные опоры кристаллодержателя; 9 - стержень рычага; 10 - пружины; 11 - рычаг; 12 - копир; 13 - юстировочное устройство.

На фиг. 2 приведен вид сверху устройства для изгиба кристалла-монохроматора, где 8 - подвижные опоры кристаллодержателя; 9 - стержень рычага; 11 - рычаг; 13 - юстировочное устройство; 14 - неподвижные опоры; 15 - устройство фиксации каретки 7 в неподвижном положении.

Устройство работает следующим образом.

Для исследования рентгеновских спектров, в частности спектров поглощения, в широком энергетическом диапазоне кристалл-монохроматор, поворачиваясь вокруг оси вращения основания устройства, совпадающей с осью гониометра (в гнездо которого помещают устройство изгиба кристалла), отбирает в спектре рентгеновского источника излучение с необходимой длиной волны λ в соответствии с уравнением Вульфа-Брегга (1). Для фокусировки рентгеновского излучения радиус изгиба кристалла-монохроматора должен меняться при изменении угла Брэгга θ в соответствии с выражением (2).

При вращении основания кристалла-монохроматора каретка 7 изгибает пластину кристалл-монохроматора 5 при помощи подвижных опор 8, поступательное движение которых осуществляется через стержень 9 рычага 11 непосредственно от боковой поверхности копира 12. Радиус изгиба Rк пластины кристалла-монохроматора 5 связан с поступательным перемещением h подвижных опор 8 относительно их начального положения соотношением (3):

,

где - расстояние между осями пары соседних подвижной 8 и неподвижной 14 опор, - расстояние между неподвижными опорами кристаллодержателя.

Предварительно ось копира смещена относительно оси вращения основания устройства на расстояние е, при помощи юстировочного устройства 13.

При вращении от шагового двигателя гониометра основания монохроматора, на котором закреплена с помощью пружин 10 каретка 7 с подвижными опорами 8, каретке передается смещение h, связанное с углом поворота θ и эксцентриситета е зависимостью (4):

,

где θ - угол поворота каретки относительно оси копира 12, то есть угол Брэгга. На основании соотношений (3) и (4) получаем соотношение (5) для расчета эксцентриситета е, обеспечивающего фокусировку пучка рентгеновского излучения на круге гониометра в области рабочих углов спектрометра (Гильварг А.Б. Применение чистого изгиба кристаллических пластин в кристаллодержателях для фокусирующих рентгеновских спектрографов // ДАН СССР, (1950) т. 72 №3, с. 489-491):

,

где расстояние между осями пары соседних подвижной и неподвижной опор, l - расстояние между неподвижными опорами кристаллодержателя 5, Rо - фиксированный радиус гониометра. Поворот кристалла-монохроматора приводит к изменению его радиуса изгиба Rк, при этом выполняется условие (2).

Исследования показали, что описанное устройство обеспечивает возможность сканирования в интервале брэгговских углов от 15° до 80°. Это дает возможность при использовании кристаллов кварца с различными плоскостями отражения в качестве кристалла-монохроматора исследовать спектры К - краев поглощения элементов с атомными номерами 24-46, L - краев поглощения с Z=56-90.

Таким образом, предлагаемое устройство позволяет управлять изгибом кристалла - монохроматора при более простой по сравнению с прототипом конструкции.

1. Устройство для изгиба кристалла-монохроматора, характеризующееся тем, что оно включает основание, кристалл-монохроматор, выполненный в виде пластины, кристаллодержатель с неподвижными опорами, на которые может опираться пластина кристалла-монохроматора, подвижную каретку с отверстиями для размещения подвижных опор, которые могут соприкасаться с пластиной кристалла-монохроматора и обеспечивать изгиб кристалла при своем перемещении, рычаг со стержнем, закрепленный подвижно на основании кристаллодержателя, выполненный с возможностью касания каретки и боковой поверхности копира, который представляет собой тело вращения, ось которого имеет возможность смещения относительно оси вращения основания устройства с помощью юстировочного устройства.

2. Устройство по п. 1, характеризующееся тем, что содержит кронштейн, фиксирующий основание копира неподвижно относительно источника рентгеновского излучения.

3. Устройство по п. 1, характеризующееся тем, что содержит соединение, связывающее подвижную каретку с неподвижным основанием кристаллодержателя, выполненное, например, в виде пружины.

4. Устройство по п. 1, характеризующееся тем, что юстировочное устройство выполнено в виде микрометрических винтов.

5. Устройство по п. 1, характеризующееся тем, что содержит приспособление для фиксации подвижной каретки.

6. Устройство по п. 1, характеризующееся тем, что копир выполнен в виде цилиндрического кольца.



 

Похожие патенты:

Использование: для регистрации нарушений в изделии. Сущность изобретения заключается в том, что направляют рентгеновские лучи веерного типа на изделие вдоль по меньшей мере одного направления, в котором часть рентгеновских лучей веерного типа отражается от изделия; региструют отраженные рентгеновские лучи веерного типа от изделия вдоль по меньшей мере одного направления и выполняют запись интенсивности регистрируемых отраженных высокоэнергетичных волн, после чего формируют одномерное изображение изделия из регистрируемых отраженных высокоэнергетичных волн.

Изобретение относится к области энергетического машиностроения и может найти применение на предприятиях энергетической отрасли, при разработке энергетического оборудования и исследовании новых марок сталей.

Использование: для косвенного контроля характеристик качества (размера и различных свойств) металлических полуфабрикатов (ленты, проволоки, труб, профиля и т.д.) и регулирования режимов деформации в случае, если та или иная характеристика качества не соответствует требуемым ограничениям.

Использование: для оценки состава двухкомпонентных твердых растворов в нанодисперсных материалах, включающих, в частности, наноразмерные частицы: Pt-Ru, Pt-Rh, Fe-Co, Pd-Ru, Pd-Rh, Pd-H, Hf-O.

Использование: для обследования оборудования, содержащего неправильные поверхности, сжатые пространства и другие труднодоступные места, на основании регистрации обратнорассеянного проникающего излучения.

Использование: для регистрации обратнорассеянного проникающего излучения. Сущность изобретения заключается в том, что система обследования с обратным рассеянием с изменяемыми геометрическими характеристиками содержит матрицу датчиков излучения, включающую один или большее количество датчиков обратнорассеянного излучения.

Изобретение используется для контроля качества многослойных сверхпроводников в процессе изготовления. Сущность изобретения заключается в том, что в процессе изготовления ленточного сверхпроводника исследуемые поверхности облучают световым потоком и регистрируют параметры отраженного светового потока, по которым определяют показатели преломления слоев.

Использование: для контроля технологии при изготовлении полупроводниковых метаморфных гетероструктур. Сущность изобретения заключается в том, что регистрируют кривые дифракционного отражения в режиме θ/2θ-сканирования от различных кристаллографических плоскостей, измеряют угловое положения пика от выбранной малой области эпитаксиального слоя с градиентом химического состава и вычисляют параметры решетки в различных направлениях на основе измеренных брэгговских углов, при эпитаксиальном росте слоя с градиентом химического состава в заранее произвольно выбранной малой области этого слоя формируется монокристаллический слой с однородным составом толщиной 50-100 нм, дающий отчетливый пик на кривых дифракционного отражения и не вносящий дополнительной упругой деформации.

Использование: для определения плотности путем облучения контролируемого вещества потоком квантов источника электромагнитного излучения. Сущность изобретения заключается в том, что определяют плотность путем облучения контролируемого вещества потоком квантов источника электромагнитного излучения, регистрации обратно рассеянного излучения, использования интенсивности счета детектора излучения и калибровочного графика, при этом измеряют интенсивность счета детектора излучения и интенсивность счета мониторного детектора при различной глубине погружения защитного экрана, определяют нормированную интенсивность счета детектора излучения, находят пространственное распределение плотности контролируемого вещества путем сравнения зависимости нормированной интенсивности счета детектора излучения от глубины погружения защитного экрана с калибровочными графиками нормированной интенсивности счета детектора излучения от глубины погружения защитного экрана, полученными для контролируемого вещества при различных распределениях его плотности по глубине.

Изобретение относится к области медицинской техники и предназначено для внутриполостной гамма-лучевой терапии злокачественных новообразований. Комплекс содержит средство для размещения больного, источник излучения, размещенный в средстве для его хранения, средство для перемещения источника излучения из средства для его хранения в выбранный канал облучения и его возврата по выполнении сеанса облучения и средства контроля и управления.

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано лабораториями неразрушающего контроля, проектными и научно-исследовательскими организациями для диагностики трещинообразования в конструкционных материалах и прогнозирования состояния предразрушения конструкции. Сущность: осуществляют операции деформирования, построения графической зависимости и установления состояния предразрушения. Для этого из конструкционного изделия подготавливают эталон, подвергают его циклическому деформированию и на основе возникающего при этом изменения параметра элементарной кристаллической решетки определяют значения внутренних напряжений I рода . Строят графическую зависимость изменения внутренних напряжений I рода от давления циклического деформирования Pi, по которой определяют поле безопасных напряжений, значение максимального напряжения и момент прорастания трещины . Вычисляют параметр состояния предразрушения Kс.п.. Затем из наиболее вероятной по условию эксплуатации зоны разрушения конструкционного изделия изготавливают образец, в котором определяют значение внутренних напряжений I рода . Сравнивают отношение значения внутренних напряжений I рода к значению максимального напряжения с параметром состояния предразрушения Kс.п., устанавливая возможность дальнейшей эксплуатации конструкционного изделия. Технический результат: возможность установления состояния предразрушения конструкционного изделия, работающего как в установившихся, так и в нестационарных тепловых режимах. 2 табл., 2 ил.

Использование: для неразрушающего контроля термодеформационной обработки полуфабрикатов из двухфазных титановых сплавов на перегрев. Сущность изобретения заключается в том, что выбирают место контроля и строят градуировочную кривую для каждого вида полуфабрикатов, получают дифракционный спектр методом рентгеновской съемки и выполняют обработку результатов для каждого контролируемого полуфабриката, причем в качестве места контроля выбирают деформированный во время последней операции термодеформационной обработки участок поверхности с преимущественным течением материала параллельно поверхности со степенью деформации не менее 10% и не более 50% с удаленным газонасыщенным слоем, в качестве градуировочной кривой используют зависимость соотношения интенсивностей дифракционных линий α-фазы L1=(101) или L1=(110) и L2=(002) от температуры Т (Т - разность температуры полного полиморфного превращения (Тпп) и температуры нагрева под деформацию (Тн)), а о перегреве вышезаданной технологией температуры судят по значению отношения интенсивностей дифракционных линий L1 и L2 выше, чем на градуировочной кривой для верхнего предела диапазона температур нагрева. Технический результат: обеспечение возможности неразрушающего экспресс-контроля термодеформационной обработки полуфабрикатов из двухфазных титановых сплавов на перегрев. 1 з.п. ф-лы, 2 ил., 2 табл.

Использование: для диагностики римановой кривизны решетки нанотонких кристаллов. Сущность изобретения заключается в том, что способ диагностики римановой кривизны решетки нанотонких кристаллов включает получение электронно-микроскопического изображения нанотонкого кристалла в светлом поле, получение микроэлектронограммы от кристалла, микродифракционное исследование нанотонкого кристалла, анализ ротационного искривления решетки нанотонкого кристалла, при этом на электронно-микроскопическом изображении нанотонкого кристалла выбирают физическую точку M и двумерное направление, для этого выбирают пару - нелинейный изгибной экстинкционный контур и соответствующий ему рефлекс на микроэлектронограмме, испытывающий азимутальное размытие; проводят диагностику римановой геометрии решетки нанотонкого кристалла в данной точке M и данном двумерном направлении, задаваемом бивектором (а, b) - парой неколлинеарных векторов, исходящих из одной точки, совпадающей с центром микроэлектронограммы, полученной от нанотонкого кристалла, расположенных в плоскости микроэлектронограммы, где вектор b соответствует размытому рефлексу, путем совместного анализа пары - нелинейного изгибного экстинкционного контура, присутствующего на электронно-микроскопическом изображении кристалла в темном поле, и соответствующего ему рефлекса на микроэлектронограмме от кристалла, для установления непрерывности азимутального размытия рефлекса и непрерывности соответствующего ему изгибного контура, затем проводят диагностику римановой кривизны решетки нанотонкого кристалла путем определения численного значения римановой кривизны решетки нанотонкого кристалла в данной точке М и данном двумерном направлении, задаваемом бивектором (а, b), по определенной формуле. Технический результат: обеспечение возможности надежного, точного и экспрессного способа диагностики римановой кривизны решетки нанотонкого кристалла. 6 ил., 4 табл.

Использование: для юстировки образца в рентгеновском дифрактометре. Сущность изобретения заключается в том, что используют калибровочное приспособление, которое предварительно устанавливают на место держателя образца с возможностью микрометрических перемещений в плоскости, параллельной экваториальной плоскости гониометра. С помощью измерителя линейных перемещений определяют аналитическую зависимость изменения расстояния между точкой на поверхности калибровочного приспособления и лежащей в экваториальной плоскости гониометра на оси детектора или источника рентгеновского излучения выбранной фиксированной точкой, от угла сканирования; из полученной зависимости вычисляют координаты главной оси гониометра, совмещают ось калибровочного приспособления с главной осью гониометра; производят повторные измерения, сравнивают значения амплитуды с допустимыми значениями и в случае соответствия значений допустимым калибровочное приспособление удаляют и устанавливают держатель с образцом. Учитывая показания измерителя линейных перемещений, совмещают плоскость образца с главной осью гониометра при помощи подвижки держателя образца вдоль оси, параллельной экваториальной плоскости гониометра. Технический результат: повышение воспроизводимости дифрактометрических измерений и точности юстировки образца при снижении затрат времени на проведение этих операций. 3 з.п. ф-лы, 5 ил.

Использование: для неразрушающего способа рентгеноструктурного контроля и может использоваться для оценки технического состояния ремонтных деталей газотурбинного двигателя (ГТД) из титановых сплавов в лабораторных и заводских условиях. Сущность изобретения заключается в том, что выполняют снятие рентгенограммы с контролируемой детали на предполагаемой поверхности разрушения, определение параметра, зависящего от наработки детали, и сравнение его с предельным значением, при этом в качестве параметра, зависящего от наработки детали, используют параметр площади фона рентгеновского спектра Sф, определяемый по заданной зависимости. Технический результат: увеличение производительности технологического процесса контроля деталей ГТД неразрушающим способом. 4 ил.

Использование: для контроля вещественного состава пульпообразных материалов. Сущность изобретения заключается в том, что экспериментально, с источником меньшей энергии, в окне энергетического спектра меньшей энергии, устанавливают ряд аналитических связей интенсивности рассеянного материалом гамма-излучения от вещественного состава и плотности материала эталонов, для чего используют в качестве эталонов набор материала известного вещественного состава и плотности. По полученному на эталонах ряду аналитических зависимостей связи интенсивности рассеянного эталонами гамма-излучения с вещественным составом и плотностью устанавливают аналитическую связь коэффициентов полученного ряда аналитических зависимостей от плотности эталонов. Экспериментально с источником большей энергии гамма-квантов, в окне энергетического спектра большей энергии, устанавливают связь интенсивности рассеянного исследуемым материалом гамма-излучения от плотности материала эталонов, для чего используют набор материала эталонов разной плотности, затем, на материале неизвестного вещественного состава и плотности в окне энергетического спектра большей энергии, регистрируют рассеянное излучение источника большей энергии. По результатам этих измерений и полученной ранее связи интенсивности рассеянного исследуемым материалом гамма-излучения от плотности материала эталонов оценивают плотность материала неизвестного состава, а по ранее полученной связи коэффициентов уравнений с плотностью устанавливают коэффициенты уравнений связи интенсивности рассеянного гамма-излучения малой энергии с вещественным составом, а для оценки вещественного состава, в окне энергетического спектра малой энергии, регистрируют интенсивность гамма-излучения малой энергии. По этим результатам, а также установленным коэффициентам уравнений связи интенсивности рассеянного гамма-излучения с вещественным составом пульпообразных продуктов оценивают его вещественный состав. Способ может быть применен для одновременной оценки вещественного состава и плотности материального потока пульпообразных продуктов. Технический результат: повышение достоверности контроля вещественного состава пульпообразных материалов. 1 табл., 4 ил.

Изобретение относится к аналитической химии и может быть использовано для определения происхождения пищевого этилового спирта. Cущность способа заключается в том, что используют детекторное устройство типа «электронный нос», матрицу которого формируют из 8 сенсоров на основе пьезокварцевых резонаторов объёмных акустических волн с базовой частотой колебаний 10,0 МГц с разнохарактерными пленочными сорбентами на электродах, для стабилизации покрытий для нехроматографических фаз применяют подложку из углеродных нанотрубок, покрытия массива селективные: к спиртам – полиэтиленгликоль адипинат, ПЭГА; к высшим спиртам, кетонам, эфирам - полиэтиленгликоль себацинат и полиэтиленгликоль ПЭГ-2000; к сложным эфирам – полиэтиленгликоль фталат, ПЭГФ; к серосодержащим соединениям, эфирам – Тритон Х-100, ТХ-100; к кислотам, воде, спиртам – дициклогексан-18-6,краун-эфир ( ДЦГ18К6/УНТ); к фенольным и другим ароматическим соединениям – триоктилфосфиноксид (ТОФО/УНТ); к кетонам – пчелиный клей (ПчК). Пробы каждого образца объемом 10,0 см3 помещают в стерильный стеклянный пробоотборник, выдерживают при температуре 20 ± 1 оС в герметичном сосуде с полимерной мягкой мембраной, 1 см3 равновесной газовой фазы отбирают шприцем и вводят в ячейку детектирования, фиксируют частоту колебаний пьезокварцевых резонаторов в течение 2 мин с интервалом 1 с. Графически формируют суммарный аналитический сигнал в виде «визуальных отпечатков» максимумов и с помощью программного обеспечения прибора аналитические сигналы сравнивают между собой и с эталонными «визуальными отпечатками», полученными при анализе качественных образцов, устанавливая степень их различия и схожести. Если степень сходства с каким-либо эталоном из базы данных составляет более 95 %, то делают вывод, что исследуемый образец изготовлен из того же сырья, что и этанол, если степень сходства составляет 90 - 95%, считают, что анализируемый этанол изготовлен из сырья с отличающимися от эталона свойствами либо выработан с технологическими нарушениями, если степень соответствия менее 90%, исследуемый образец сравнивается с эталоном спирта из другого сырья. Использование способа позволяет с высокой точностью определить подлинность анализируемых спиртных напитков. 1 табл., 2 ил., 1 пр.

Изобретение относится к медицинской технике, а именно к рентгенографическим средствам формирования изображения методом фазового контраста. Система содержит рентгеновский источник, детектор с множеством детектирующих полосок, расположенных в первом направлении детектора, при этом каждая детектирующая полоска содержит множество пикселей, расположенных во втором направлении детектора, фазовую дифракционную решетку, множество дифракционных решеток анализаторов, содержащих щели. Рентгеновский источник и детектор выполнены с возможностью сканирующего перемещения относительно объекта в первом направлении. Дифракционные решетки анализатора расположены между рентгеновским источником и детектором, и каждая из множества дифракционных решеток анализатора расположена в связи с соответствующей детектирующей полоской, с щелями дифракционных решеток, расположенными во втором направлении. Щели дифракционных решеток детектирующих полосок смещены одна относительно другой во втором направлении. Использование изобретения позволяет уменьшить погрешности и повысить соотношение сигнал/шум при применении фазового контраста в рентгенографии. 17 з.п. ф-лы, 5 ил.

Использование: для неразрушающего рентгеноструктурного контроля деталей газотурбинного двигателя. Сущность изобретения заключается в том, что осуществляют снятие рентгенограммы с контролируемой детали на предполагаемой поверхности разрушения от отражающей плоскости (11.0) без фона при использовании титанового излучения Ti-Kα и от отражающей плоскости (01.3) без фона при использовании титанового излучения Ti-Kβ, определение параметра, зависящего от наработки детали, при этом при снятии рентгенограммы с контролируемой детали вычисляется интегрированный рентгеноструктурный параметр Δ, причем в качестве параметра, зависящего от наработки детали, используют параметр остаточного ресурса Рост, определяемый по заданной зависимости. Технический результат: увеличение производительности технологического процесса контроля деталей неразрушающим способом как в процессе эксплуатации, так и на этапе ресурсных испытаний. 3 з.п. ф-лы, 2 табл.

Использование: для сортировки алмазосодержащего материала. Сущность изобретения заключается в том, что в качестве алмазосодержащего материала сортировке подвергают поликристаллические алмазы типа «карбонадо», при этом образцы поликристаллических алмазов со стороны, противоположной катализатору, сошлифовывают слоем не менее 0.2 мм и определяют количество графита на сошлифованной поверхности количественным рентгенофазовым анализом, например дифрактометром, после этого проводят сортировку образцов на группы с содержанием графита 0,7-2,2; 2,3-4,0 и 4,1-5,5 мас.%, причем каждую группу используют для изготовления определенного инструмента. Технический результат: обеспечение возможности достоверной сортировки алмазосодержащего сырья по содержанию графита. 2 табл.

Использование: для изгиба кристалла-монохроматора. Сущность изобретения заключается в том, что устройство для изгиба кристалла-монохроматора включает основание, выполненное с возможностью устанавливать его в гнездо гониометра, кристалл-монохроматор, выполненный в виде пластины, кристаллодержатель с неподвижными опорами, на которые может опираться пластина кристалла-монохроматора, подвижную каретку с отверстиями для размещения подвижных опор, которые могут соприкасаться с пластиной кристалла-монохроматора и обеспечивать изгиб кристалла при своем перемещении, рычаг со стержнем, закрепленный подвижно на основании кристаллодержателя, выполненный с возможностью касания каретки и боковой поверхности копира, который представляет собой тело вращения, ось которого имеет возможность смещения относительно оси вращения основания устройства с помощью юстировочного устройства. Технический результат: упрощение конструкции управления изгибом кристалла-монохроматора. 5 з.п. ф-лы, 2 ил.

Наверх