Способ контроля сохранности кристаллов драгоценных камней в процессах технологической переработки

Использование: для контроля сохранности кристаллов драгоценных камней в процессах технологической переработки. Сущность изобретения заключается в том, что выполняют формирование контрольной коллекции кристаллов-имитаторов и их исследование сканированием системой компьютерной томографии с формированием базы данных образов кристаллов-имитаторов. Затем производится последующая идентификация кристаллов-имитаторов, реконструкция и сравнение 3D образов каждого кристалла-имитатора до ввода и после извлечения из технологического процесса. В качестве критерия сохранности кристаллов используют критерий потери массы всех исследуемых кристаллов: , где k - количество кристаллов-имитаторов в коллекции. Сохранность оценивают по степени поврежденности кристаллов, определяемой как отношение потерь массы кристаллов-имитаторов (ПМ) к техногенной повреждаемости (ТП), выраженным в процентах, вычисляемой по формуле: Коллекцию кристаллов-имитаторов формируют синтезом кристаллов с заранее заданными прочностными свойствами и/или с получением заранее заданного цвета. На кристаллы-имитаторы наносят метки для их последующей идентификации. Оценку производят системой компьютерной томографии, состоящей из рентгеновского томографа, дополнительно снабженного устройством позиционирования кристалла, и персонального компьютера. Технический результат: повышение точности и объективности контроля сохранности кристаллов. 5 з.п. ф-лы, 2 табл., 1 ил.

 

Предлагаемое изобретение относится к области обогащения полезных ископаемых, а именно к способам оценки сохранности кристаллов драгоценных камней, в том числе и алмазов, в процессе переработки/обогащения алмазосодержащего сырья.

При разработке месторождений драгоценных камней (кристаллов) огромное значение уделяется целостности товарной продукции и одной из значимых задач является своевременность выявления наиболее сохранных режимов и параметров переработки в зависимости от изменения состава исходного материала, что контролируется оценкой повреждаемости кристаллов-имитаторов.

Известен способ оценки сохранности кристаллов алмазов в технологических переделах обогатительных фабрик, основанный на визуальном сопоставлении повреждений кристаллов из текущей добычи и алмазов-имитаторов, вводимых в технологический передел. Сущность способа заключается в детальном минералогическом описании каждого кристалла, после чего последние подразделяются на следующие группы: целые, целые с трещинами и включениями, незначительно нарушенные, значительно нарушенные, осколки.

Определение степени нарушенности кристаллов производится визуально при помощи микроскопа. К незначительно нарушенным кристаллам относятся те, у которых, по субъективной оценке, минералога, недостает 10-15% массы целого, к значительно нарушенным - кристаллы, составляющие более половины целого, к осколкам - менее половины целого кристалла. Подобное минералогическое описание очень длительный процесс, который может произвести только специалист с большим опытом. Оценка степени нарушенности осложняется тем, что многие кристаллы имеют неправильную форму (уплощенные, удлиненные, неопределенной формы), поэтому часто один и тот же кристалл разные специалисты относят в разные категории в зависимости от своего субъективного восприятия степени целостности. Дополнительное и очень важное осложнение возникает у минералогов при анализе сколов на кристаллах. Если скол произошел в природных условиях, как правило, во время роста алмазов или транспортировке его кимберлитовыми массами к поверхности Земли, то на таких сколах, как правило, наблюдаются характерные микроскульптуры роста или растворения. Такие сколы считаются "природными". Скол с явными признаками излома считаются "техногенными". Четких критериев отличия в скульптурах нет, поэтому в зависимости от квалификации специалиста кристалл со сколом может попасть как в число целых, так и в число поврежденных. Субъективная оценка вносит большую погрешность в определении степени сохранности, а минералогическое описание кристаллов является достаточно трудоемким процессом [Геология и прогнозирование месторождений алмазов. Тезисы докладов III Всесоюзного межведомственного совещания в г. Мирном, июнь 1974, М., 1974, с. 139-140].

Известен также способ определения сохранности алмазов в процессах технологической переработки, включающий отбор представительной пробы алмазов, определение у каждого кристалла заданного диагностического признака и оценку степени сохранности алмазов, отличающийся тем, что определяют средний вес кристаллов в пробе, определяют для каждого кристалла интенсивность поляризованного света, характеризующую величину напряжений в кристалле, строят распределение кристаллов по интенсивности поляризованного света, характеризующую величину напряжений в кристалле, строят распределение кристаллов по интенсивности поляризованного света, рассчитывают среднее значение и стандартное отклонение интенсивности поляризованного света, оценивают степень сохранности алмазов по формуле , где Jcp - среднее значение интенсивности поляризованного света, Рср - средний вес кристалла в пробе, Δ - стандартное отклонение интенсивности поляризованного света [RU 2075067, С1, Способ определения сохранности алмазов в процессах технологической переработки, G01N 21/87, 17.08.1993].

Недостатком данного способа является то, что предлагаемый способ оценки сохранности, основанный на косвенных параметрах, допускает большие погрешности и в ряде случаев принимает противоречивые значения.

Наиболее близким техническим решением, принятым за прототип, является способ оценки повреждаемости алмазов, включающий формирование коллекции окрашенных алмазов-имитаторов, фиксирование/паспортизация их характеристик (изучение и фотографирование), введение алмазов-имитаторов в технологический процесс, выборка алмазов-имитаторов из готовой алмазной продукции после прохождения всего технологического процесса и их повторное изучение [сайт Иркутского Государственного научно-исследовательского института редких и цветных металлов. http://www.irgiredmet.ru/activities/index.php?ID=628&SID=1531.

Этот способ включает облучение в циклотроне коллекции природных алмазов для придания им характерной зеленый окраски, отличной от природной. Проводится их паспортизация, минералогическое описание и фотографирование каждого кристалла в 3-4 характерных ракурсах (снимок). Алмазы - имитаторы вводятся в технологический процесс, извлекаются по схеме фабрики и выбираются из товарной продукции по характерному зеленому цвету. Извлеченные окрашенные кристаллы-имитаторы повторно изучаются с целью диагностики полученных в технологическом процессе повреждений с определением потерь массы и качества. Данный способ широко применяется в настоящее время для экспрессной оценки сохранности природного качества алмазов по существующей технологии, для отработки оптимальных режимов дезинтеграции кимберлитов и при проведении сравнительных испытаний нового обогатительного оборудования, а также для контроля извлечения алмазов по технологической схеме фабрик.

Недостатком данного способа является то, что он основан на минералогическом описании, являющемся длительным процессом и требующим квалифицированного специалиста минералога. Каждый кристалл-имитатор фотографируется до ввода в технологический процесс и после извлечения сравнивается специалистом минералогом. Взвешивание каждого кристалла-имитатора и представительной коллекции производится до ввода и после их извлечения из схемы фабрики. Кроме того, в качестве кристаллов-имитаторов используются природные алмазы, которые при многократном использовании относительно «упрочняются», то есть происходит разделение на две группы - это более подверженные к трещинам кристаллы и более устойчивые к нагрузкам, что влияет на оценку сохранности алмазов и не позволяет сравнивать эксперименты, проводимые с длительным временным разрывом.

Предлагаемый способ контроля сохранности кристаллов драгоценных камней в процессах технологической переработки разработан на основе сканирования коллекции кристаллов-имитаторов системой компьютерной томографии с последующей идентификацией кристаллов-имитаторов, реконструкцией и сравнением 3D образов каждого кристалла-имитатора до ввода в технологический процесс и после извлечения из технологического процесса.

Кроме того, предлагается в качестве контролируемого параметра для оценки сохранности кристаллов драгоценных камней использовать потерю массы исследуемых кристаллов-имитаторов из заранее сформированной коллекции.

Техническим результатом заявляемого изобретения является повышение точности и объективности способа контроля сохранности кристаллов драгоценных камней в процессах технологической переработки.

Указанный технический результат достигается тем, что в способе контроля сохранности кристаллов драгоценных камней в процессах технологической переработки, включающем формирование контрольной коллекции кристаллов-имитаторов, ввод кристаллов-имитаторов в технологический процесс, извлечение кристаллов-имитаторов из технологического процесса, исследование коллекции кристаллов-имитаторов до ввода и после извлечения из технологического процесса, оценку сохранности кристаллов-имитаторов, исследование коллекции кристаллов-имитаторов производят сканированием системой компьютерной томографии, формированием базы данных образов кристаллов-имитаторов, с последующей идентификацией кристаллов-имитаторов, реконструкцией и сравнении 3D образов каждого кристалла-имитатора до ввода в технологический процесс и после извлечения из технологического процесса, в качестве критерия сохранности кристаллов драгоценных камней в процессах технологической переработки используют критерий потери массы всех исследуемых кристаллов-имитаторов , где k - количество кристаллов-имитаторов в коллекции, а сохранность кристаллов оценивают по степени поврежденности кристаллов, определяемой как отношение потерь массы кристаллов-имитаторов (ПМ) к техногенной повреждаемости (ТП), выраженным в процентах, вычисляемой по формуле

Коллекцию кристаллов-имитаторов могут формировать синтезом кристаллов с заранее заданными прочностными свойствами. Коллекцию кристаллов-имитаторов могут формировать синтезом кристаллов с получением заранее заданного цвета. Коллекцию кристаллов-имитаторов могут формировать синтезом кристаллов алмазов. Во время формирования контрольной коллекции на кристаллы-имитаторы могут наносить метки для их последующей идентификации. Оценку производят системой компьютерной томографии, состоящей из рентгеновского томографа, дополнительно снабженного устройством позиционирования кристалла, и персонального компьютера.

Способ осуществляют следующим образом.

Данный способ основан на оценке сохранности драгоценных камней производимой регистрацией и исследованием кристаллов-имитаторов системой компьютерной томографии (КТ) на базе рентгеновского томографа по изменяемому параметру потери массы кристаллов. Производимая оценка изменений основана на реконструкции и сравнении каждого образа кристалла-имитатора до ввода в технологический процесс и после их извлечения.

Формируют коллекцию кристаллов-имитаторов, отобранных или синтезированных согласно предварительно определенным параметрам (прочностные свойства, цвет и прочее). Кристаллы-имитаторы перед вводом в технологический процесс предварительно сканируют системой КТ. Формируют базу данных образов 3D модели кристаллов-имитаторов всей исследуемой в ходе эксперимента коллекции. Базу данных сохраняют в виде файловой группы сканирования и реконструкции. Кристаллы-имитаторы вводят в технологический процесс, извлекают из товарной продукции по характерному цвету или метке и подготавливают для дальнейшего сканирования. Извлеченные окрашенные или меченые кристаллы-имитаторы повторно сканируют и обрабатывают системой КТ.

При обработке образа каждого кристалла-имитатора система КТ выявляет разницу масс техногенно-поврежденного кристалла-имитатора после извлечения из технологического процесса с предварительно созданной базы данных кристаллов-имитаторов. При обработке данных система компьютерной томографии сопоставляет данные каждого извлеченного синтетического алмаза-имитатора - полученные до ввода в технологический процесс с данными, полученными после извлечения из технологического процесса. Прежде всего происходит распознавание кристалла-имитатора, который прошел технологический процесс. Если кристалл-имитатор повредился, то программный продукт достраивает недостающую область кристалла и выдает на мониторе реконструированный кристалл и потерю массы в виде табличных значений. Идентификация основана на распознавании объектов по объему, площади поверхности объема, площади среза нескольким плоскостям, геометрическим показателям.

Если кристалл-имитатор получил техногенное повреждение в технологическом процессе, тогда программный продукт, используя идентификационные критерии, распознает и достраивает недостающий объем образа 3D модели кристалла-имитатора и присваивает категорию - идентифицирован с потерей массы. В случае если расхождения между расчетными показателями массы кристалла-имитатора являются значимыми, то возможно говорить о низкой сохранности кристаллического сырья в используемом технологическом процессе.

Если кристалл-имитатор не получил техногенного повреждения, то кристаллу-имитатору присваивается категория - идентифицирован без потери массы. В случае если расхождения между расчетными показателями массы кристаллов-имитаторов не значимы, считают, что возможности используемого технологического цикла обеспечивают высокую сохранность кристаллического сырья в целом.

Результаты обработки данных по оценке сохранности кристаллов-имитаторов отображаются в виде табличных значений, каждый кристалл-имитатор визуализирован в 3D изображении. Точность определения потери массы кристалла-имитатора является значимым показателем для дальнейшего развития данного направления исследований.

Потерю массы всех исследуемых кристаллов-имитаторов (ПМ) вычисляют по формуле

где k - количество кристаллов-имитаторов в коллекции.

Техногенная повреждаемость является отношением количества кристаллов-имитаторов с потерей массы на общее количество коллекции

Степень поврежденности (СП) является производным показателем, характеризующим среднюю потерю массы во всей совокупности поврежденных кристаллов. Данный показатель определяется как отношение потерь массы (ПМ) к техногенной повреждаемости (ТП), выраженным в процентах:

Использование потери массы исследуемого кристалла-имитатора в качестве критерия сохранности обеспечивает ее точность. Оценка сохранности кристаллов драгоценных камней производится корректно и эффективно, что позволяет в итоге оптимизировать рабочие параметры обогатительного оборудования, используемого в технологических процессах.

Формирование коллекции кристаллов-имитаторов синтезом кристаллов с заранее заданными прочностными свойствами обеспечивает корректное изучение повреждаемости ценного кристаллического сырья при его дезинтеграции, например, в мельницах рудного самоизмельчения и валковых прессах.

Формирование коллекции кристаллов-имитаторов синтезом кристаллов с получением заранее заданного цвета обеспечивает их оперативное отслеживание с последующей выборкой по цвету на любом этапе технологического процесса.

При необходимости, обусловленной задачей оценки сохранности конкретного драгоценного камня, во время формирования контрольной коллекции на кристаллы-имитаторы могут быть нанесены метки для облегчения их последующей идентификации.

При осуществлении способа контроля сохранности кристаллов драгоценных камней в процессах технологической переработки применительно к алмазосодержащему сырью, коллекцию кристаллов-имитаторов формируют синтезом кристаллов алмазов.

Регистрирующим или сканирующим устройством в случае реализации предлагаемого способа является портативный рентгеновский томограф. Система компьютерной томографии, состоящая из рентгеновского томографа, дополнительно снабженного устройством позиционирования кристалла, и персонального компьютера, позволяет сократить время обработки результатов и повышает объективность оценки повреждаемости кристаллов-имитаторов.

Совокупность признаков данного технического решения не выявлена из патентной документации и научно-технической информации, что свидетельствует об изобретательском уровне заявляемого технического решения.

Пример конкретной реализации

Были проведены испытания способа контроля сохранности кристаллов драгоценных камней в процессах технологической переработки обогатительной фабрики Мирнинского горно-обогатительного комбината, а именно кристаллов природных алмазов.

Была сформирована представительная коллекция кристаллов-имитаторов выращиванием искусственных синтетических алмазов, причем с заранее заданными интервалами прочностных свойств синтетических алмазов и гранулометрического состава. Синтезированные кристаллы-имитаторы были окрашены в синий цвет за счет включения бора.

В комплексе с автоматизированной системой оценки сохранности алмазной продукции, созданной на основе рентгеновского томографа CT-Portable института «Фраунгофер» (Германия), использовалась подготовленная заранее коллекция синтетических, окрашенных в синий цвет, алмазов-имитаторов крупностью -5+3 мм в количестве 57 штук. В связи с тем, что включения в алмазах-имитаторах создают в отсканированных изображениях артефакты, затрудняющие последующую идентификацию, для тестирования были отобраны кристаллы с минимальным количеством включений. Для осуществления разовой контрольной минералогической оценки каждый кристалл-имитатор коллекции был предварительно взвешен и сфотографирован в 3-х проекциях. Подготовленная коллекция отсканирована в рентгеновском томографе CT-Portable с использованием программы для ЭВМ «VolumePlayer 7.03», по результатам была сформирована база данных алмазов-имитаторов из полученных 3D изображений кристаллов.

Осуществление способа определения сохранности алмазов в процессах технологической переработки происходило следующим образом.

В соответствии с утвержденной методикой, заброс коллекции осуществляли в технологическую схему обогатительной фабрики в период обработки руды трубки «Мир». Заброс выполняли в начале технологической схемы в исходное питание мельницы мокрого самоизмельчения, причем алмазы-имитаторы забрасывали в питание мельницы равномерно, с интервалом в 20 секунд. Извлечение алмазов-имитаторов осуществляли первоначально из схемы фабрики традиционными методами сепарации - рентгенолюминесцентными сепараторами, затем из концентратов рентгенолюминесцентной сепарации вручную по характерному синему цвету. Контрольную выборку производили из текущей продукции, что технологически ничем не отличалось от стандартного извлечения алмазов-имитаторов, например, выполненных из природных окрашенных алмазов. Извлечение синтетических алмазов-имитаторов составило 100%, при этом в первые сутки из технологической схемы фабрики вышло 98,25% кристаллов. Один из кристаллов раскололся на 3 осколка, все осколки были извлечены.

На фиг. 1 представлен график, иллюстрирующий кинетику выхода синтетических алмазов-имитаторов, где представлено суммарное 100% извлечение алмазов-имитаторов в течение времени выхода от момента заброса.

Оценка показателей сохранности извлеченных из технологической схемы фабрики алмазов-имитаторов была выполнена двумя способами:

1. стандартным, с привлечением минералога;

2. инструментальным, согласно заявляемому способу, с использованием системы рентгеновской томографии CT-Portable.

Для выполнения контрольной минералогической оценки сохранности стандартным способом каждый синтетический алмаз-имитатор был предварительно сфотографирован в нескольких проекциях, взвешен, измерены его геометрические размеры. С использованием этих параметров все алмазы-имитаторы, извлеченные из технологического цикла, были идентифицированы, затем были определены показатели сохранности: содержание техногенно-поврежденных кристаллов (ТП), потеря массы (ПМ), степень поврежденности (СП).

Для выполнения инструментальной оценки сохранности согласно заявляемому способу, извлеченные алмазы-имитаторы были повторно отсканированы в рентгеновском томографе CT-Portable. От расколовшегося кристалла-имитатора для идентификации взят самый крупный осколок, потерявший в технологическом процессе более 50% своей массы. Регистрируемые результаты сканирования исходной и целевой (после эксперимента) коллекции были обработаны в режиме реального времени программой для ЭВМ «VolumePlayer 7.03 (Diamond Recognition)» для определения показателей сохранности.

При обработке данных системой компьютерной томографии сопоставлялись данные каждого извлеченного синтетического алмаза-имитатора партии с данными всех кристаллов коллекции до ввода в технологический процесс, тем самым распознавался тот или иной синтетический алмаз-имитатор, который прошел технологический процесс. Если синтетический алмаз-имитатор повредился, то программный продукт достраивал недостающую область кристалла и выдавал на мониторе реконструированный кристалл и потерю массы в виде табличных значений.

Временные затраты на закладку кристаллов-имитаторов (алмазов) в контейнер, сканирование, разгрузку контейнера, тестирование партии алмазов-имитаторов представлены в таблице 1.

Процесс идентификации кристаллов-имитаторов включал в себя формирование базы данных, маркировку и тестирование кристаллов. Время, необходимое для создания базы данных - 4-6 мин, для тестирования - 40-300 минут. Длительность тестирования зависит от сохранности алмазов в данной партии. Идентификация поврежденных в процессе испытаний кристаллов-имитаторов выполняется в течение более длительного времени, чем тестирование неповрежденных кристаллов-имитаторов.

Если количество кристаллов в исходной партии больше, чем в партии для эксперимента, дополнительно производят их маркировку. Это позволит сократить время тестирования за счет того, что программа будет обращаться не ко всей базе данных, а только к базе данных маркированных (отобранных для эксперимента) кристаллов-имитаторов. В данном эксперименте маркировку не производили.

Исходя из реальных временных затрат на обработку экспериментальной партии было рассчитано время, необходимое для обработки представительной партии алмазов-имитаторов (250 штук). Учитывая оптимальную загрузку контейнера (32 кристалла), коллекцию из 250 штук разбили на 8 партий, для обработки которых требуется 56 часов.

Результаты минералогической и инструментальной оценки сохранности синтетических алмазов-имитаторов приведены в таблице 2.

Потерю массы всех исследуемых кристаллов-имитаторов (ПМ) вычисляли по формуле

где k - количество кристаллов-имитаторов в коллекции.

Под техногенной повреждаемостью понимают содержание техногенно-поврежденных кристаллов, а под степенью поврежденности отношение потерь массы кристаллов-имитаторов (ПМ) к техногенной повреждаемости (ТП):

Как видно из таблицы 2, основные различия наблюдаются в показателях техногенной повреждаемости (ТП) и степени поврежденности (СП).

По результатам проведенных испытаний были получены следующие результаты.

Техногенная повреждаемость. В результате минералогической оценки было выявлено, что в технологическом процессе из 57 алмазов-имитаторов повреждения получили 4 кристалла (7,02%); из них 1 кристалл - с потерей массы более 50%, 1 кристалл - с потерей массы до 5%, 2 кристалла - без потери массы (трещины). По результатам инструментальной оценки было выявлено, что повреждено 3 кристалла (5,26%); из них 1 кристалл - с потерей массы более 50%, 3 кристалла - с потерей массы до 5%. Кристалл с потерей массы более 50% идентифицирован инструментальным методом точно. Отклонения в результатах минералогической и инструментальной оценки возникли из-за неточного определения программой объема (за счет артефактов) и соответственно веса отдельных не поврежденных и незначительно поврежденных кристаллов. Несмотря на то, что для эксперимента были отобраны алмазы с минимальными включениями, в некоторых кристаллах при определенном их положении в кювете при сканировании исходной коллекции появились артефакты, которые повлияли на точность результатов. Это позволяет утверждать о необходимости контроля наличия включений в кристаллах коллекции. Кроме того, в процессе экспериментов установлено, что при сканировании алмазов-имитаторов возможно определить положение кристалла в устройстве позиционирования кристалла, сводящее к минимуму проявление артефактов, что также повысит точность оценки.

Потеря массы. В связи с тем, что основную потерю массы дал один кристалл, потерявший более 50% своей массы, а потеря массы остальных кристаллов незначительна, этот показатель сопоставим.

Степень поврежденности. Показатель расчетный. Отклонение в результатах оценки связано с различием показателя ТП в минералогическом и инструментальном методе.

Таким образом, предлагаемый способ контроля сохранности кристаллов драгоценных камней в процессах технологической переработки позволяет эффективно и точно оценить повреждаемость кристаллов в технологических процессах.

1. Способ контроля сохранности кристаллов драгоценных камней в процессах технологической переработки, включающий формирование контрольной коллекции кристаллов-имитаторов, ввод кристаллов-имитаторов в технологический процесс, извлечение кристаллов-имитаторов из технологического процесса, исследование коллекции кристаллов-имитаторов до ввода и после извлечения из технологического процесса, оценку сохранности кристаллов-имитаторов, отличающийся тем, что исследование коллекции кристаллов-имитаторов производят сканированием системой компьютерной томографии, формированием базы данных образов кристаллов-имитаторов, с последующей идентификацией кристаллов-имитаторов, реконструкцией и сравнением 3D образов каждого кристалла-имитатора до ввода в технологический процесс и после извлечения из технологического процесса, в качестве критерия сохранности кристаллов драгоценных камней в процессах технологической переработки используют критерий потери массы всех исследуемых кристаллов-имитаторов , где k - количество кристаллов-имитаторов в коллекции, а сохранность кристаллов оценивают по степени поврежденности кристаллов, определяемой как отношение потерь массы кристаллов-имитаторов (ПМ) к техногенной повреждаемости (ТП), выраженным в процентах, вычисляемой по формуле .

2. Способ контроля по п. 1, отличающийся тем, что коллекцию кристаллов-имитаторов формируют синтезом кристаллов с заранее заданными прочностными свойствами.

3. Способ контроля по п. 1, отличающийся тем, что коллекцию кристаллов-имитаторов формируют синтезом кристаллов с получением заранее заданного цвета.

4. Способ контроля по п. 1, отличающийся тем, что коллекцию кристаллов-имитаторов формируют синтезом кристаллов алмазов.

5. Способ контроля по п. 1, отличающийся тем, что во время формирования контрольной коллекции на кристаллы-имитаторы наносят метки для их последующей идентификации.

6. Способ контроля по п. 1, отличающийся тем, что оценку производят системой компьютерной томографии, состоящей из рентгеновского томографа, дополнительно снабженного устройством позиционирования кристалла, и персонального компьютера.



 

Похожие патенты:

Использование: для исследования пространственного распределения нефти в поровом пространстве грунтов и других пористых сред. Сущность изобретения заключается в том, что отбирают пробу исследуемого материала, применяют рентгеноконтрастный агент и метод рентгеновской компьютерной микротомографии, при этом рентгеноконтрастный агент, для приготовления которого используется спирт с числом атомов углерода 3 и более, в котором растворяется соль металла с высоким атомным весом до полного насыщения, смешивается с нефтью, кроме того, осуществляют прямое изучение пространственного распределения нефти в пористом материале.

Использование: для определения коэффициента остаточной водонасыщенности горных пород. Сущность изобретения заключается в том, что осуществляют выбор образцов керна заданного литологического типа в широком диапазоне фильтрационно-емкостных свойств, после чего производят сканирование отобранных образцов с помощью рентгеновского томографа с получением трехмерных изображений образцов, которые сегментируют на поровое пространство и скелет породы, выделяют из каждого сегментированного трехмерного изображения несколько фрагментов, определяют для каждого фрагмента значение пористости, затем с помощью гидродинамического симулятора определяют значения скоростей движения флюида в дискретных точках порового пространства, строят гистограмму скоростей движения флюида, выбирают фрагмент с пористостью, максимально близкой к пористости реального образца керна из исследуемого литотипа, определяют пороговое значение скорости движения флюида, исходя из соблюдения условия: доля скоростей от общей площади гистограммы ниже порогового значения скорости движения флюида численно равна коэффициенту остаточной водонасыщенности реального образца, предварительно определенному экспериментально, присваивают всем выделенным фрагментам выбранное пороговое значение скорости движения флюида и, исходя из деления на категории подвижности жидких флюидов, относят все поровое пространство, в котором скорость движения флюида ниже порогового значения, к заполненному остаточной водой, рассчитывают для каждого выделенного фрагмента коэффициент остаточной водонасыщенности как отношение объема пор, заполненных остаточной водой, к общему объему пор.

Использование: для определения концентрации водорода в наночастицах палладия. Сущность изобретения заключается в том, что измеряют спектр рентгеновского поглощения за К-краем палладия в интервале 24320±10-24440±20 эВ, определяют значение коэффициента поглощения в точках первых двух максимумов и рассчитывают концентрацию водорода С по формуле , где μA - значение коэффициента поглощения в точке первого краевого максимума, μB - значение коэффициента поглощения в точке второго краевого максимума, k1=0.903±0.001, k2=0.0320±0.0003.

Изобретение предназначено для использования в мясной промышленности. Мясоперерабатывающее устройство содержит мясоперерабатывающий блок (2) для переработки мяса или мясопродукта, при этом блок (2) содержит выпуск (4) блока; и рентгеновский анализатор (6), содержащий источник (10) рентгеновского излучения для испускания пучка (24) рентгеновских лучей к переработанному мясу в зоне (22) анализа, и связанный с ним детектор (12) рентгеновского излучения для обнаружения рентгеновских лучей, проходящих от источника (10) и взаимодействующих с переработанным мясом; транспортер (14), расположенный внутри корпуса (8) и выполненный с возможностью транспортировки переработанного мяса от впуска (16) к выпуску (18) через зону (22) анализа, расположенную снаружи перерабатывающего блока (2).

Изобретение относится к пищевой промышленности, а именно, к определению анатомо-морфологических дефектов зерна или семян зерновых культур с помощью рентгенографии.

Изобретение относится к определению в зерновых культурах и семенах скрытой зараженности, обусловленной повреждением насекомыми вредителями, с помощью рентгенографии в зерноперерабатывающей промышленности и семеноводстве.

Использование: для исследования фильтрационно-емкостных свойств горных пород. Сущность изобретения заключается в том, что производят выбор образцов керна в широком диапазоне фильтрационно-емкостных свойств, осуществляют сканирование с помощью рентгеновского микротомографа отобранных образцов с получением трехмерных изображений образцов, которые сегментируют на поровое пространство и скелет породы, выделяют из сегментированных изображений несколько фрагментов, для каждого фрагмента определяют значение пористости (м0), увеличивают пористость фрагмента путем попиксельного расширения порового пространства и определяют его значение (м1), с помощью гидродинамического симулятора определяют значение проницаемости (к1) фрагмента, по полученным значениям пористости и проницаемости для всех фрагментов, выделенных из каждого образца, строят их тренды, по линиям трендов определяют значения проницаемости исходных фрагментов (к0), соответствующие значениям (м0), и по установленным значениям пористости и проницаемости для исходных фрагментов находят их корреляционную связь.

Предлагаемое изобретение относится к приспособлениям для крепления рентгеновских аппаратов. Задача: повышение производительности труда, повышение надежности эксплуатации рентгеновского аппарата, улучшение качества снимков, улучшение условий труда дефектоскописта.

Изобретение относится к области рентгенологии, точнее к способам неразрушающего контроля багажа и грузов, и может быть использовано при антитеррористическом досмотре на транспорте и на контрольно-пропускных пунктах различного назначения, а также в медицинской рентгенодиагностике.

Группа изобретений предназначена для использования в мясоперерабатывающей промышленности. Линия инспекции и сортировки мяса включает подающее устройство, устройство радиационной инспекции, режущее устройство и отбраковывающее устройство.

Использование: для контроля сохранности кристаллов драгоценных камней в процессах технологической переработки. Сущность изобретения заключается в том, что выполняют формирование контрольной коллекции кристаллов-имитаторов и их исследование сканированием системой компьютерной томографии с формированием базы данных образов кристаллов-имитаторов. Затем производится последующая идентификация кристаллов-имитаторов, реконструкция и сравнение 3D образов каждого кристалла-имитатора до ввода и после извлечения из технологического процесса. В качестве критерия сохранности кристаллов используют критерий потери массы всех исследуемых кристаллов:, где k - количество кристаллов-имитаторов в коллекции. Сохранность оценивают по степени поврежденности кристаллов, определяемой как отношение потерь массы кристаллов-имитаторов к техногенной повреждаемости, выраженным в процентах, вычисляемой по формуле: Коллекцию кристаллов-имитаторов формируют синтезом кристаллов с заранее заданными прочностными свойствами иили с получением заранее заданного цвета. На кристаллы-имитаторы наносят метки для их последующей идентификации. Оценку производят системой компьютерной томографии, состоящей из рентгеновского томографа, дополнительно снабженного устройством позиционирования кристалла, и персонального компьютера. Технический результат: повышение точности и объективности контроля сохранности кристаллов. 5 з.п. ф-лы, 2 табл., 1 ил.

Наверх