Автоматический дифрактометр для исследования монокристаллов
ОП ИСАНИЕ 320760
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
К АВТОР СКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советскил
Социалистических
Республик
Зависимое от àBT. свидетельства №вЂ”
МПК G 01п 23/20
Заявлено 11.1II.1969 (№ 1312843/26-25) с пр исоединен ием заявки №вЂ”
П р и ор,итет—
Опубликовано 04.XI.1971. Бюллетень № 34
Дата опубликования описания З.II.1972
Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
УДК 621.386.12 (088.8) Авторы изобретен1ия
3 Л. Лубе, Д, М. Хейкер и Л. 3. Таткин
Институт кристаллографии АН СССР и СКБ Институ кристаллографии АН СССР
Заявители рРОаЗ1-1 .4
АВТОМАТИЧЕСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР ДЛЯ
ИССЛ ЕДОВАН ИЯ МОНОКРИСТАЛЛОВ
Предмет изобретения
2р
Изобретение от1ноаи вся к пр1ибо1рам для
1ре1нтгено1струк1т1ур1ного а нал1иза.
В известных 31втоматическ1их рентгеновских дифрактометрах для иослвдо1ва1нооя 5IOHOKipHIcталлов вьлхо1д за допу1ст имые п1ределы àïlïàрату1рного дрейфа 1и из1ме1негаие оттражателыной спосо б1ност1и стб1раз1ц а, с1вяза н1ное с его по1степен1ным раз1руше1нием п од дейст1в1ием 1излуче ния 1или др1упих факторов, обна1руж иваются только в:процеосе ol61p13160TII«H результатов изме1рон1ий. П1ри этоьм случается, что часть результат1о в измерений iBe мо1жет быть HIGIIIQJIbзова1на из-за изменения усло1в1ий этос1пЕримеHT3.
Предлагаемый дифра1ктомет1р позволяет
IIoIBbIIcIHòü доотовер1нс1сть изме1рен1ий за счет тоГО, ЧтО Оси СОдЕ рж Ит 3HaZamaTIOp К1р1И ОтаЛЛО Г1раф1ичес1ии х;и1н1дексов, который у1п1равляет схемой
31втстматической ост1а новт«и п1ри бо ра при несоот1вс пст1вии зада н1но1му з1начен1ию у1ро вня инте1нc1HIBIHости oTIpaHIения с з31д31нlны, IH н де1ссам1и.
На чертеже,при1ведена блок-схема д1ифракто1метр а.
Пе1рви1чный п1учок,из источ н1ика 1излучен1ия 1 на1п1ра1влен на исследуемый кристалл 2. Д1и1фратиро ва1н ное кристаллом,изл уче1ние попа1дает ,в детекспо1р 3. Им1пуль сы 1детектора уаизпиваются усилителем 4 и через 1диок1р1им1и1нато1р 5 госту1пают в инте нс1имет1р б IH пе1ре1очепный,гцриоср 7. Ч исло .им1п1ульоов, накопле1нное пе1ресчстпым .пр1ибсром 7, записы1вается системой
2 регист1рации 8. Блок 9 подает стабилизирова1ннос 1напряжегвне для питания дете1ктора 8. Го|, ниî IeTlp 10 уста навл1и1вает кр исталл и детекTolp в положение макаи1мума опражен1ия.
Схем а с1р а внен и1я 1«plHC Taлл апр а ф ичес1ких
1и1ндеисо1в 11 сра вни1вает индексы о чередитого о траже1ния, нахадящиеоя в meIIIIce памяти 12, с инде1кса1м1и задатч1ика 18. Схема орав не н1ия у1ро1в1ней 1и1нтенс1ив1ност1и 14 сопоставляет <ро1р вень 1выходного 1сигнала и нтен с1имет ра 6 с уро1в ням1и сигналов задатчика 15 и п1ри .несовпадении уро1в ней подает оиппал Ha схему 13IBт1омазтической оста1но1вк1и 1б. П р1и бор ocIT31»IaiBливаед;ся лишь .при одновременппом посту»тле15 11и и с1ипнала от схемы ора в1нения 1ицдексоВ 11 .о совп1адении текущего и заданного значе1иш
И НДЕ1«СО,В.
1. Автоматическ1ий д1и1фрактомет1р для о1сследо1ва1н1ия моно1«р1иотал 101В, с одержащ1ий го1н1и1ометр, исгпочн1ик излучения, оистему измересвия 1и1нте1нсивн1ост1и, clHQTOMу 1регопсTlpaIIIHH ре25 зт lbTBITloB из1ме1Рен1и1Я 1и cIHlcTeMy aiBIT011 3TIHчеоко( то упра1влен1ия устано1вооой угло в, 1иэме ревтием
»и 1реги1ст рац11ей, отличающийся тем, что, с целью по1вышен1ия до1ото ве р1ности измерений, он содерж1ит 31н ализато1р 1«р1исталлогра1ф(иче30 ск1и1х 1индетссов для управле1ния с1хемой 31вт1рма320760
Составитель Е. Шульгин
Техред А. Камышннкова Корректор Н. Коваленко
Редактор Т. Орловская
Заказ 6927 Изд. № 1597 Тираж 473 Подписное
ЦНИИПИ Коьиптета по делам изоб рстен ий и отк|рьгпий при Совете Министров СССР
Москва, 7К-35, Ра ушская наб., д. 4/5
Загорская типография
3 пичесиой оота н о вии диафрактоиепр а п ри неооGIIBioTcIIBIHIH заДа нномУ 3IHi3%8HIHJQ Интенсиан ости о пражеиия с з,адан ныии .индексами.
2. Д ифрактомеч р по и. 1, отлича ощий7ся, тем, ч"по а нал иза то р,к р иапалл окрафическйй ин деисав loolgpoHIT IHI3 зад апчи к а и ндек со в, ячеЕК IIIIRMIHiTIH "ПЕКУП ИХ HIHQ&HIOOIB IH СХЕМЫ СРаВ>НЕп ия.
