Оптико-абсорбционный анализатор

 

322091

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Соввтокив

Социалиотичвокик

Рвопублик

Зависимое or авт. свидетельства ¹

Заявлено 17.V11.1967 (№ 1172038/26-25} с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 09.11.1972. Бюллетень № 7

Дата опубликования описания 27.Ш.1972

М. Кл. G 01n 21/00

Комитет по делаю изооретвний и открытий при Совете Миииотров

СССР

Ъ ДК 543.422.6(088.8) в ксаоз др

Авторы изобретения

Л, М. Клюкин и А. К. Майзель

Заявитель

ОПТИКО-АБСОРБЦИОННЫЙ АНАЛИЗАТОР

Устройство относится к оптико-абсорбционным приборам, основанным па селективном поглощении анализируемой средой энергии светового излучения и измерении степени этого поглощения.

Известны оптико-абсорбционные анализа-,îðû, работающие в ультрафиолетовом диапазоне спектра, содержащие источник ультрафиолетового излучения, газовую камеру (кювету), диспергирующий элемент в виде призмы, фоточувствительный элемент, измерительную схему. Эти газоанализаторы не приспособлень; для быстрого анализа многокомпонентных газовых смесей.

Отличие предлагаемого прибора состоит в том, по он снабжен магнитоуправляемой дифракционной решеткой с высокой разрешающей способностью, выполненной на основе тонкой магнитной пленки с полосовой доменной структурой. Эта решетка электрически связана с генератором магнитного поля, при действии которого на решетку меняется расстояние между ее штрихами.

Высокая разрешающая способность решетки приводит к повышенной избирательности прибора, а возможность магнитного управлеши решеткой — к повышению быстродейС fBIISI.

Иа фиг, 1 показано предлагаемое устройство в двух проекциях; на фиг. 2 — блок-схема устройства.

Фоточувствительный датчик 1, укрепленный

5 над регулируемой диафрагмой 2, герметически связан с помощью уплотнения 8 с газовой камерой 4.

Под узким кварцевым окном 5 в нижней части газовой камеры расположена магнпто10 управляемая дифракцнонная решетка б, освещаемая лампой 7 через окно 8. Для поворота решетки служит микрометр 9, воздействующий на нее через сильфон 10.

При работе прибора внешнее магнитное по15 ле, генерируемое катушками 11 и 12, изменяет расстояние между штрихами дпфракционной решетки. Это приводит к тому, что в окно 5 попадает монохроматический свет, длина волны которого зависит от первона20 чального выставления решетки микрометром и величины магнитного поля, создаваемого катушкам и.

Схема электрического управления состоит из блока 18 питания фотоумножителя, усилп25 теля 14 сигнала фотоумножителя, вентиля 15, служащего для корреляции величины диафрагмы 2, сигнала и величины магнитного поля, задаваемого генератором 1б, блока 17 управления датчиком чувствительности при30 бора, исполнительных блоков 18 — 20: соот322091

Вхос7 газа

8blJ0c7 ветствепно блока управления процессом, устройства записи и сигнализации. Скорость регистрации концентрации прибором, обусловленная прежде всего быстродействием магнитоуправляемой дифракционной решетки, 105 га.

Предмет изобретения

Оптико-абсорбционный анализатор, содержащий источник излучения, камеру с анализируемой средой, приемное устройство, диспергирующий элемент, управляемую диафрагму и вторичные приборы, отличающийся тем, что, с целью осуществления анализа мпого5 компонентных смесей, в качестве диспергирующего элемента применена магнитоуправляемая дифракционная решетка на основе тонкой магнитной пленки с полосовой доменной структурой, электрически связанная с ге10 нератором переменного магнитного поля.

Редактор Б. Федотов

Составитель М. Пантелеев

Техред Е. Борисова

Корректор Л. Царькова

Заказ 661/2 Изд. № 294 Тираж 448 Подписное

ПНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, >К-35, Раушская паб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Оптико-абсорбционный анализатор Оптико-абсорбционный анализатор Оптико-абсорбционный анализатор 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при спектральных измерениях различных растворов

Изобретение относится к области исследований быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к мгновенному определению спектров поглощения тонких переходных слоев путем регистрации характеристик возбуждаемых на поверхности образца поверхностных плазменных поляритонов (ППП), может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к спектроскопии

Изобретение относится к атомной спектроскопии

Изобретение относится к области измерительной техники
Наверх