Устройство для определения показателя

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

C.0þç Советскил

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 04,V.1970 (№ 1436933/26-25) Государственный камите1

Ссввта Министров СССР па делам изааретений

И ОтКРЫтИй

М. Кл. G 01п 21/46 с присоединением заявки №

Прко раритет

Опубликовано 10.VIII.1973. Бюллетень № 3i3 УДК 535.8(088.8)

Дата опубликования описания 19.XII.1973

Автор изобретения

В. Л. Макаров

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ

ПРЕЛОМЛЕНИЯ МАТЕРИАЛОВ, ПРОЗРАЧНЫХ

В ВАКУУМНОЙ УФ ОБЛАСТИ

Предмет изобретения

Изобретение относится к области ультрафиолетовой рефрактометрии при определении показателя преломления материалов в вакуумной УФ области.

Известные устройства дают недостаточную точность измерений в узкой области УФ спектра.

i 1редложенное устройство повышает точность определения показателя преломления и расширяет спектральный диапазон измерений благодаря тому, что диспергирующий элемент установлен перед дифракцион пой решеткой так, что перекрывает только часть падающего на решетку пучка, На чертеже схематично изображено предложенное устройство.

Устройство содержит источник излучения 1, спектральную щель 2, призму 8 из исследуемого материала, поворотный столик 4, двигатель 5, дифракционную решетку 6 и кассету 7.

Источник излучения 1 через спектральную щель 2 освещает призму из исследуемого материала, установленную на столике 4, который вращается двигателем 5. Часть лучей проходит через призму 8 и падает «а дифракционную решетку 6, часть лучей падает на решетку, не проходя через призму. Эти лучи после отражения от решетки образуют два изображения линейчатого спектра источника на круге Роулапда, являющемся фокальной поверхностью вогнутой дифракционной решетки, на которой расположена фотопленка в кассете 7. Призму устанавливают так, что преломляющее ребро призмы параллельно штрихам решетки и ось вращения столика проходит через центр призмы. Два изображения, получающиеся на фотопленке, сдвинуты друг относительно друга в направлении дисперсии, причем величина сдвига своя для каждой

10 спектральной линии. Во время экспонирования фотопленки призма равномерно вращается вокруг оси, проходящей через ее центр парал. лельпо штрихам решетки. Изображения отклоненных призмой спектральных линий полу15 чают в виде размытых полос, имеющих резкую границу, соответствующую прохождению лучей при угле наименьшего отклонения для данной длины волны. На полученной фотопленке измеряются расстояния от этой грани20 цы до положения соответствующей неразмытой спектральной линии, а также расстояния между изображениями любых двух линий с известными длинами волн. По этим данным, известным характеристикам решетки и прелом25 ляющему углу призмы производят расчет показателей преломления.

30 Устройство для определения показателя преломления материалов, прозрачных в вакуум39365i

Составитель А. Шеломова

Техред Е. Борисова Корректор А. Степанова

Редактор О. филиппова

Заказ 3399/б Изд. № 918 Тираж 755 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 ной УФ области спектра, содержащее источник УФ лучей, диспергирующий элемент из исследуемого материала, например призму, вогнутую дифракционную решетку и регистрирующее устройство, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и расширения спектрального диапазона измерений, диспергирующий элемент установлен перед дифракционной решеткой так, что перекрывает только

5 часть падающего на решетку пучка.

Устройство для определения показателя Устройство для определения показателя 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам и устройствам для определения показателя преломления окружающей среды, находящейся в жидкой или газовой фазе, по изменению характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ)

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам определения оптических параметров (показателя преломления, показателя поглощения и толщины) проводящих образцов по значениям характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) и может быть использовано в металлооптике, при производстве металлодиэлектрических волноведущих структур, металлических зеркал и подложек, а также в других областях науки и техники

Изобретение относится к аналитическому приборостроению, в частности к способам осуществления массообменных процессов с применением оптоволоконных химических датчиков

Изобретение относится к области технической физики, а точнее, к рефрактометрическим приборам, предназначенным для измерения показателя преломления и других связанных с ним параметров твердых и жидких сред

Изобретение относится к области передачи и получения информации посредством поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) терагерцового (ТГц) диапазона (частота от 0,1 до 10 ТГц) и может найти применение в спектроскопии поверхности твердого тела, в электронно-оптических устройствах передачи и обработки информации, в инфракрасной (ИК) технике

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к, микроэлектронным датчикам - химическим и биосенсорам, предназначенным для одновременных акустических на поверхностно-акустических волнах (ПАВ) и оптических исследований физико-химических и (или) медико-биологических свойств тонких порядка 0.1 мкм (100 нм) и менее нанопленок

Изобретение относится к спектрофотометрии и может быть использовано для исследования пространственного распределения комплексного показателя преломления по поверхности сильно поглощающих материалов

Изобретение относится к модуляционным способам спектральных измерений, в частности оптических постоянных, и предназначено для определения параметров поверхности и слоев тонких пленок, например, полупроводниковых гетероструктур
Наверх