Устройство для крепления образца в высокотемпературной приставке к рентгеновскому дифрактометру

 

О П И C А Н И Е (и) 4579 13

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 02,01.73 (21) 1864640!26-25 с присоединением заявки № (32) Приоритет

Опубликовано 25.01.75. Бюллетень № 3

Дата опубликования описания 21.02.75 (51) М. Кл. G 01п 23/20

Государственный комитет

Совета Министров СССР оо делам изобретений и открытий (53) УДК 621.396(088.8) (72) Авторы изобретения В. Г. Епифанов, Ю. А. Краковецкий-Кочержинский, А. И. Тарнавский, В. П. Подорожный и В. В, Петьков

Опытно-конструкторское бюро института металлофизики

АН Украинской ССР (71) Заявитель

Г

4 (1Д дй41 . "з (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КРЕПЛЕНИЯ ОБРАЗЦА

В ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНОЙ ПРИСТАВКЕ К РЕНТГЕНОВСКОМУ

ДИФРАКТОМЕТРУ

Изобретение относится к высокотемпературной рентгенографии.

Известны устройства для крепления образцов в приставке к рентгеновскому дифрактометру, содержащие вертикальную стойку с фиксирующей положение образца плоскостью и механизм упругого прижима образца.

Цель изобретения — улучшить температурные параметры испытания, чтобы обеспечить проведение эксперимента, включая температуру 2000 — 2500 С.

Это достигается тем, что устройство для крепления образца содержит дополнительную подвижную вертикальную стойку с фиксирующей плоскостью, расположенную соосно с неподвижной, в каждой из стоек выполнена опорная плоскость, образующая острый угол с фиксирующей плоскостью, причем подвижная стойка соединена с механизмом вертикального перемещения, содержащим упругий элемент.

В стойках предусмотрены сменные наконечники для исключения взаимодействия материала стоек и образца.

На чертеже изображено предлагаемое устройство.

Образец 1 выполнен в виде пластины произвольной формы по контуру. Минимальная толщина пластины определяется механическими свойствами материала — она должна обеспечить необходимую прочность образца при изготовлении и монтаже и постоянство формы при нагреве.

Образец 1 закреплен между торцами стоек

2 и 3 в профильных пазах, выполненных на

5 рабочих торцах стоек или в сменных наконечниках 4 и 5, выполненных из материала, совместимого с материалом образца при температурах исследования. Профильный паз характеризуется наличием двух плоскостей

10 вертикальной фиксирующей 6 и опорной 7, расположенной под острым углом к фиксирующей. Опорная плоскость 7 преобразует вертикальное усилие прижима в горизонтальное усилие, прижимающее образец 1 к фиксиру15 ющей плоскости 6. Сменные наконечники 4 и

5 служат для предотвращения физико-химического взаимодействия, например образования эвтектики, между веществом образца 1 и стоек 2 и 3. Нижняя поддерживающая стойка 2

20 изготовлена в виде трубки из тугоплавкого металла, например вольфрама, и составляет один из электродов термопары, а второй электрод термопары — проволока 8, натянутая в полости, поддерживающей стойки. Верхняя

25 поддерживающая стойка 3 (или сменный наконечник 5) закреплена вне зоны высоких температур, в головке кронштейна 9, плечо которого выполнено в виде тонкого пружинного элемента, где кронштейн может переме30 щаться по стойке 10, и фиксируется на необ457913

9 1г 11

Составитель К. Кононов

Редактор О. Стенина Техред Т. Миронова Корректор И. Позняковская

Заказ 325/8 Изд. ¹ 290 Тираж 901 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр, Сапунова, 2

3 ходимой высоте упорным кольцом. Между образцом и нагревателем 11 установлен тонкостенный экран-маска 12, который, как и экран

13, уменьшает рассеивание мощности нагревателем, а для обеспечения прохождения лучистой энергии к образцу в экран-маске выполнено отверстие приблизительно по контуру исследуемого образца. Нагреватель вместе с исследуемым образцом заключен в систему радиационных экранов, где в блоке радиальных экранов 14 выполнены окна для прохождения рентгеновских лучей, а через отверстия блоков торцовых экранов 15 и 16 проходят поддерживающие стойки 2 и 3, соответственно.

Предмет изобретения

1. Устройство для крепления образца в высокотемпературной приставке к рентгеновскому дифрактометру, содержащее вертикальную стойку с фиксирующей положение образца плоскостью, механизм упругого прижатия образца, отличающееся тем, что, с целью улучшения температурных параметров испытания, оно снабжено дополнительной подвижной вертикальной стойкой с фиксирующей плоскостью, расположенной соосно с первой, в каждой из стоек выполнена опорная плоскость, образующая острый угол с фиксирующей плоскостью, причем подвижная стойка соединена с механизмом вертикального перемещения, содержащим упругий элемент.

2. Устройство по и. 1, отличающееся тем, что стойки выполнены со сменными наконечниками.

Устройство для крепления образца в высокотемпературной приставке к рентгеновскому дифрактометру Устройство для крепления образца в высокотемпературной приставке к рентгеновскому дифрактометру 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате

Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа и касается методов настройки и юстировки гониометрических устройств рентгеновских дифрактометров типа "ДРОН"

Изобретение относится к технологии анализа биологических материалов, а именно к способам определения фракционного состава (ФС) липопротеинов (ЛП) в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) для последующей диагностики состояния организма человека

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта и идентификации веществ, его составляющих

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов
Наверх