Установка для определения неоднородностей в заготовках стекла

 

О П И С А Н И Е (II) 46907 6

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 27.06.64 (21) 908235/29-14 (51) М. Кл, G Oln 21/00 с присоединением заявки №

Государственный комитет

Совета Министров СССР

IIo .делам изобретений ,и открытий (32) Приоритет

Опубликовано 30.04.75. Бюллетень ¹ 16

Дата опубликования описания 24.07.75 (53) УДК 620.179.15.002. .52 (088.8) (72) Авторы изобретения

В. С. Доладугина и А. А. Пастухов (71) Заявитель (54) УСТАНОВКА ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ

В ЗАГОТОВКАХ СТЕКЛА

Изобретение относится к установкам для исследования и определения неоднородностей в оптических стеклах, оптических кристаллах, а также в стеклах оптического назначения.

Известные установки, содержащие осветитель с диафрагмой, держатель заготовки и проекционный экран, работают по законам геометрической оптики и предназначены для обнаружения сравнительно грубых дефектов.

Предложенная установка работает по законам волновой оптики, обладает повышенной чувствительностью обнаружения прозрачных дефектов и позволяет исследовать заготовки в различном положении. Достигается это тем, что в осветителе установлена лампа сверхвысокого давления, а диафрагма выполнена с точечными отверстиями различного диаметра и смонтирована с возможностью вращения вокруг горизонтальной оси. Держатель заготовки установлен с возможностью вращения вокруг горизонтальной и вертикальной осей.

Для визуального наблюдения и фотографирования проекционный экран установки выполнен с поворотной вокруг горизонтальной оси рамой, снабженной передвижными рейками, фиксирующими индексами и прижимными линейками. Рама имеет стекло и шарнирно прикрепленную доску, с одной стороны которой натянута белая бумага, а с другой стороны — пористая подушка.

На фиг. 1 изображен общий внд установки; на фиг. 2 — конструкция осветителя в разрезе; на фиг. 3 — держатель заготовки; на фиг, 4 и 5 — проекционный экран установки.

Осветитель включает лампу 1 сверхвысокого давления, помещенную в светонепроницаемый двухстенный с воздушной прослойкой кожух 2 и установленную на столике 3, перемещающемся в вертикальном н горизонтальном направлениях с помощью рукояток пульта управления 4. Перед лампой сверхвысокого давления установлены конденсатор 5, который состоит пз двух линз, изготовленных

15 из кварцевого стекла, пропускающего ультрафиолетовое излучение, и дисковая поворотная диафрагма 6 с точечными отверстиями диаметром (в мм) 0,2, 0,5, 1,0, 2,0, 4,0 и 6,0, которые при повороте совмещаются с оптичес20 кой осью светового пучка, Держатель служит для закрепления различных по размеру исследуемых заготовок стекла. Заготовку закрепляют в центре кольцеобразной рамы 7 на трех струбцинах 8, 25 имеющих уравнительно-телескопические механизмы 9. Рама вмонтирована в установленный на станине вильчатый элемент, который посредством шарикоподшипннков 10 и червячных редукторов 11 от электродвигателя 12

30 вращается вокруг вертикальной оси в преде469076 лах 360 . От электродвигателя 13 при помощи системы передаточного механизма 14 рама поворачивается относительно вилкообразного элемента вокруг горизонтальной оси в пределах ++ 170 . Поворот держателя с заготовкой относительно вертикальной и горизонтальной осей производится дистанционно посредством ручного электрического пульта управления 15.

Проекционный экран установки представляет собой поворотную вокруг горизонтальной оси раму 16, укрепленную на вильчатом кронштейне 17, смонтированном на станине

18. На раме закреплено стекло 19. Рама снабжена прижимными линейками 20, передвижными рейками 21 и фиксирующими индексами 22. На раме установлена поднимающаяся и опускающаяся доска 23, с одной стороны которой натянута белая бумага 24, натертая мелким порошком, а с другой — пористая подушка 25 из поролона. Подушка при опущенной доске прилегает к поверхности стекла и прижимает к нему заложенную под прижимные линейки фотобумагу, на которую фотографируется дифракционная картина от дефектов. Передвижные рейки и фиксирующие индексы ограничивают при фотографировании необходимый участок проектируемой на экран картины.

Принцип работы описываемой установки основан на визуальном рассмотрении или фотографировании дифракционной картины, которую на экране образуют прозрачные дефекты, заключенные в испытуемом образце, Дуга лампы сверхвысокого давления с помощью конденсора проектируется на точечные отверстия диафрагмы диаметром 2 мм или 0,2 мм, соответственно для визуального наблюдения или фотографирования.

Из точечных отверстий диафрагмы яркий пучок света распространяется так, что на расстоянии 10 м покрывает экран площадью

1000;(1000 мм и создает на нем освещенность, достаточную для наблюдения дифракционных картин. При этом он проходит сквозь испытуемый образец и на прозрачных

5 дефектах дифрагирует. Распространяясь далее, дифрагированный свет интерферирует и на экране наряду с очертаниями контура исследуемой заготовки образует дифракционно-теневую картину от дефектов. По резко10 сти и виду этой картины, а также по отношению площадей, занятых дефектами и испытуемой заготовкой, судят о ее качестве.

Предмет изобретения

1. Установка для определения неоднородностей в заготовках стекла, включающая осветитель с диафрагмой, держатель заготовки и проекционный экран, отличающаяся тем, 20 что, с целью повышения чувствительности установки и обеспечения возможности исследования заготовки в различном ее положении, в осветителе установлена лампа сверхвысокого давления, а диафрагма выполнена с точеч25 ными отверстиями различного диаметра и смонтирована с возможностью вращения вокруг горизонтальной оси.

2. Установка по п. 1, отл ич а ю щая ся тем, что держатель заготовки установлен с

30 возможностью вращения вокруг горизонтальной и вертикальной осей.

3. Установка по п. 1, отличающаяся тем, что, с целью обеспечения возможности осуществления визуального наблюдения и фо35 тографирования, проекционный экран установки выполнен с поворотной вокруг горизонтальной оси рамой со стеклом, снабженной передвижными рейками, фиксирующими индексами и прижимными линейками, и шар40 нирно прикрепленной к раме доской с белой бумагой на одной и с пористой подушкой— на другой стороне доски.

Установка для определения неоднородностей в заготовках стекла Установка для определения неоднородностей в заготовках стекла Установка для определения неоднородностей в заготовках стекла Установка для определения неоднородностей в заготовках стекла Установка для определения неоднородностей в заготовках стекла Установка для определения неоднородностей в заготовках стекла Установка для определения неоднородностей в заготовках стекла 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к аналитической химии и может быть использовано при анализе растворов, содержащих хлорокомплексы палладия

Изобретение относится к физико-химическим методам исследования окружающей среды, а именно к способу определения концентрации ионов в жидкостях, включающему разделение пробы анализируемого и стандартного веществ ионоселективной мембраной, воздействие на анализируемое и стандартное вещества электрическим полем и определение концентрации детектируемых ионов по их количеству в пробе, при этом из стандартного вещества предварительно удаляют свободные ионы, а количество детектируемых ионов в пробе определяют методом микроскопии поверхностных электромагнитных волн по толщине слоя, полученного из ионов путем их осаждения на электрод, размещенный в стандартном веществе, после прекращения протекания электрического тока через стандартное вещество

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения с высокой точностью показателей преломления изотропных и анизотропных материалов

Изобретение относится к области измерений в теплофизике и теплотехнике

Изобретение относится к определению разновидностей хризотил-асбеста и может быть использовано в геологоразведочном производстве и горнодобывающей промышленности, а также в тех отраслях, которые используют хризотил-асбест

Изобретение относится к атомно-абсорбционным спектрометрам, осуществляющим принцип обратного эффекта Зеемана

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к устройствам для измерения влажности твердых, сыпучих, жидких и газообразных веществ, и может быть применено в промышленности строительных материалов, пищевой, горнодобывающей и деревообрабатывающей отраслях промышленности
Наверх