Устройство для измерения модуля коэффициента отражения квазиоптического тракта

 

(11) 5I9647

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Саюв Саветских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. овид-.ву (22) Заявлено 29.04.74 (21) 2020960/09 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 30.06.76. Бюллетень № 24

Дата опубликования описания 28.07.76 (51) М. Кл. 6 01R 27/06 "асудерственный кемнтет

Сэвета Мннивтаев CCCP (53) УДК 621.317(088.8) ие девам иввбуатеинй и ьтидытнй (72) Авторы изобретения

В. К. Киселев, Д. Д. Литвинов и E. М. Кулешов (71) Заявитель

Ордена Трудового Красного Знамени институт радиофизики и электроники АН Украинской ССР (54) УСТРО и СТВО

ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МОДУЛЯ

КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ КВАЗИОПТИЧЕСКОГО ТРАКТА

Изобретение относится к радиотехнике и может использоваться для проведения радиоизмерений в квазиоптической линии передачи миллиметрового и субмиллиметрового диапазона волн, Наиболее близким по технической сущности является устройство, состоящее из лучевых делителей, выполненных на проволочных решетках, и трехзеркального вращателя плоскости поляризации (1).

Известно также устройство для измерения модуля коэффициента отражения квазиоптического тракта, содержащее генератор, измерительный и эталонный каналы, механический коммутатор в виде диска с отверстиями, делители луча, детекторы и индикаторы (2).

Однако известное устройство не позволяет одновременно и непрерывно измерять модули коэффициентов отражения в двух взаимно-ортогональных азимутальных плоскостях, что в свою очередь не позволяет исследовать нагрузки с анизотропией, изменяющейся во времени, и затрудняет исследование постоянных анизотропных нагрузок.

Целью изобретения является расширение функциональных возможностей устройства.

Для этого в отверстиях диска, расположенных на ортогональных диаметрах, закреплены одинаково ориентированные дифракционные чроволочные решетки.

Это позволяет одновременно и непрерывно измерять модули коэффициентов отражения от нагрузки и отношение этих модулей в любых двух ортогональных базисных плоскостях.

5 На фиг, 1 приведена схема устройства; на фиг. 2 — общий вид диска с дифракционными проволочными решетками.

Устройство для измерения модуля коэффи10 циента отражения квазиоптического тракта (см. фиг. 1) содержит генератор 1, делитель луча 2, выполненный в виде поляризующей решетки, механический коммутатор в виде диска 3 с отверстиями, располо15 женными на ортогональных диаметрах, в которых закреплены одинаково ориентированные дифракционные проволочные решетки 4, 5 (см. фиг. 2), эталонный канал с плоским металлическим отражателем 6, выполняющим

20 роль эталонной нагрузки, трехзеркальный вращатель 7 плоскости поляризации, исследуемую нагрузку 8, электромотор 9, на валу которого кроме диска 3 закреплены постоянные магниты датчиков 10 и 11, делитель луча 12

25 такой же, как делитель луча 2, за исключением того, что направление проволок его решетки перпендикулярно плоскости падения, измерительный канал, включающий в себя детекторы 13 и 14, индикаторы 15, 16, имеющие

30 шкалы, проградуированные в единицах моду519647

Формула изобретения фиг 1 фиг.2

Составитель Г. Теплова

Корректор А. Овчинникова

Редактор Е. Дайч

Техред А. Камышникова

Заказ 1559 5 Изд, ¹ 1454 Тираж 1029 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5 типография, пр. Сапунова, 2

Непрерывное измерение отношения модулей коэффициентов отражения от нагрузки 8 в двух взаимно-ортогональных плоскостях производится с помощью измерителя отношений 17, Устройство для измерения модуля коэффициента отражения квазиоптического тракта, содержащее генератор, измерительный и эталонный каналы, механический коммутатор в виде диска с отверстиями, делители луча, детекторы н индикаторы, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей устройства, в отверстиях диска, расположенных на ортогональных диа5 метрах, закреплены одинаково ориентированные дифракционные проволочные решетки.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе изобретения: (1) Авт. св. СССР № 398897, G OIR 27/26, 10 1972 r. (2) Авт. св. СССР № 376844, G 01R 27/06, 1971 г.

Устройство для измерения модуля коэффициента отражения квазиоптического тракта Устройство для измерения модуля коэффициента отражения квазиоптического тракта Устройство для измерения модуля коэффициента отражения квазиоптического тракта 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области акустических и радиоизмерений и применяется для определения модуля и фазы коэффициента зеркального отражения листовых материалов и плоских поверхностей веществ

Изобретение относится к тестовому блоку базовой станции для тестирования базовой станции в мобильной системе связи, в частности к способу для измерения коэффициента стоячей волны для передающей антенны и приемной антенны, который может тестировать радиоблок базовой станции

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использованo для измерения полной входной проводимости антенн

Изобретение относится к измерению электрических величин и может быть использовано в производстве существующих и новых поглощающих материалов типа углепластиков, применяется в СВЧ диапазоне, а также для контроля электрических параметров диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и может быть использовано для измерения комплексного коэффициента отражения оконечных нагрузок в стандартных коаксиальных и волноводных каналах

Изобретение относится к радиотехнике и может использоваться в радиопередающих устройствах

Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах (СВЧ) и может быть использовано при создании приборов и систем для определения параметров СВЧ-устройств с стандартных каналах и для антенных измерений

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерениям радиофизических характеристик радиопоглощающих покрытий (РПП)

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано при создании панорамных измерителей параметров СВЧ устройств
Наверх