Высокотемпературная камера-приставка к рентгеновскому дифрактометру

 

rii) 537289

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 11.07.75 (21) 2154789/25 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 30.11.76. Бюллетень № 44

Дата опубликования описания 14.12.76 (51) М. Кл. G 01N 23/20

Государственный комитет

Совета Министров СССР (53) УДК 621.386(088.8) по делам изобретений и открытий (72) Авторы изобретения (71) Заявитель

В. Г. Епифанов, В. В. Петьков и А. И. Тарнавский

Опытно-конструкторское бюро Института металлофизики

АН Украинской ССР (54) ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ КАМЕРА-ПРИСТАВКА

К РЕНТГЕНОВСКОМУ ДИФРАКТОМЕТРУ

Изобретение относится к высокотемпературной рентгеновской дифрактометрии.

Известна камера-приставка, содержащая корпус, в котором расположена стойка с фиксирующей поверхностью; к последней поджимается образец, причем устройство прижима расположено в камере (1).

Однако такая камера не может использоваться для высокотемпературного анализа.

Известны высокотемпературные камерыприставки, в которых измеритель температуры во время рентгенографирования поджат к образцу (2).

Известна высокотемпературная камера-приставка к рентгеновскому дифрактометру, содержащая вакуумированный корпус с окном для прохождения рентгеновских лучей, вертикальную стойку с фиксирующей положение образца поверхностью, механизм прижима образца к фиксирующей поверхности стойки, нагреватель, блок экранов с отверстиями для стойки и для прохождения рентгеновских лучей, измеритель температуры (3), Механизм прижима выполнен в виде второй стойки, упруго поджимаемой к образцу, причем упругий механизм расположен в низкотемпературной зоне или выведен за пределы вакуумной камеры.

Недостатки такой камеры — неудобство прижима образца с помощью вертикальной стойки, в результате чего габариты камеры увеличиваются, появляется необходимость регулирования положения стойки во время эксперимента для обеспечения однородного давления на образец.

Цель изобретения — уменьшение массы камеры, обеспечение надежного прижима образца и стабильных условий измерения температуры.

10 Это достигается тем, что в предлагаемой камере-приставке механизм прижима образца выполнен рычажно-весовым, причем шарнир механизма установлен в корпусе вне блока экранов.

15 На чертеже показана предлагаемая камераприставка (прижимный рычаг выполнен из материала одного из электродов термопары).

Исследуемый образец 1 выполнен в виде пластины произвольной формы по контуру.

20 Минимальная толщина образца определяется необходимой прочностью пластины только при изготовлении и монтаже и постоянством формы при нагреве.

Образец размещен на рабочем торце верти25 кальной стойки 2, выполненной из материала, совместного с материалом образца при температурах исследования. Базовая (горизонтальная) и фиксирующая (вертикальная) поверхности, выполненные на рабочем торце тонко30 стенной стойки П-образного сечения, располо537289 жены, например, под прямым углом и обеспечивают линейный контакт с исследуемым образцом. Второй конец стойки 2 закреплен неподвижно с необходимой электроизоляцией на вакуумном корпусе 3 камеры-приставки. При- 5 жим образца к фиксирующей плоскости стойки осуществляется рабочим плечом 4 рычага

5, шарнирно закрепленного преимущественно, вне блока экранов 6, а усилие прижима образца к фиксирующей поверхности стойки 10 обеспечивается массой рычага и/или дополнительным грузом 7, расположенным на втором плече 8 рычага.

Такое устройство механизма прижима позволяет одновременно создать стабильные ус- 15 ловия измерения температуры. Рабочее плечо

4 рычага 5, или весь рычаг, изготовлено из материала, например вольфрама, являющегося одним из электродов термопары, а второй электрод 9 термопары закреплен на контакти- 20 рующей с образцом поверхности рычага таким образом, что прижим образца осуществляется через термоэлектродный спай термопары. Прижимный рычаг может быть выполнен различным образом, например в виде вилочной кон- 25 струкции (в этом случае прижим и измерение температуры осуществляются в нескольких точках на поверхности образца), и т. д., причем очевидно, что указанные модификации не выходят за рамки изобретения. 30

При использовании в качестве одного из электродов термопары вертикальной стойки 2 условия установки второго электрода на стойке должны быть аналогичны приведенным выше, а измерение температуры образца произ- 35 водится, преимущественно с исследуемой поверхности 10 образца 1.

В связи с применением в предлагаемой конструкции рычажно-весового устройства для прижима исследуемого образца к стойке че- 40 рез термочувствительный спай термодатчика обеспечено постоянное усилие прижима образца и надежный тепловой контакт датчика температуры с исследуемой поверхностью независимо ни от температуры на образце, ни от материала образца, ни от различного рода термических поводок при нагреве, а, кроме того, рычажно-весовой механизм может быть выполнен весьма компактным, что позволяет снизить вес камеры и улучшить условия нагрева.

Формула изобретения

Высокотемпературная камера-приставка к рентгеновскому дифрактометру, содержащая вакуумированный корпус с окном для прохождения рентгеновских лучей, вертикальную стойку с фиксирующей положение образца поверхностью, механизм прижима образца к фиксирующей поверхности стойки, нагреватель, блок экранов с отверстиями для стойки и для прохождения рентгеновских лучей, термопару, отличающаяся тем, что, с целью уменьшения массы устройства, обеспечения надежного прижима образца и стабильных условий измерения температуры, механизм прижима образца выполнен рычажно-весовым, причем шарнир механизма установлен в корпусе.

2. Камера по п. 1, отличающаяся тем, что шарнир установлен вне блока экранов.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Патент США № 2580931, кл. 250 †.5, 1952.

2. Финкель В. А. Высокотемпературная рентгенография металлов. М., «Металлургия», 1968, с. 42 — 59.

3. Авт. св. СССР № 457913, кл. G 01п 23/20, 1975 (прототип) .

537289

Составитель К. Кононов

Редактор Е. Караулова Техред М. Семенов

Заказ 2544/4 Изд. М 1793 Тираж 1029 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2