Проба для спектрального анализа металлических сплавов

 

ОПИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 20.03.75 (21) 2115877/25 с присоединением заявки.№ (23) Приоритет

Опубликовано 15.04.77. Бюллетень № 14

Дата опубликования описания 25.04.78 л 2 б OIJ 3/10

Государственный комитет

Совета Министров СССР

535.33 (088.8) по делам изобретений и открытий (72) Автор изобретения

Б. Г. Воронов (71) Заявитель (54) ПРОБА ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА

МЕТАЛЛИЧЕСКИХ СПЛАВОВ

Изобретение относится к конструкциям отливок проб, преимущественно чугуна для экспрессного спектрального контроля химического состава на вакуумных оптических квантометрах.

Известны конструкции отливок проб, например, чугуна в виде плоского кольца или усеченной пирамиды (1), а также в виде усеченного конуса (2).

Известна конструкция отливки пробы для спектрального анализа металлических сплавов, преимущественно чугунов, имеющая в рабочей части форму тела вращения (3).

Общим недостатком известных проб являются низкие технологические качества при отливке, механической обработке и анализе, что препятствует многократному использованию пробы и ухудшает точность спектрального анализа.

Целью настоящего изобретения является повышение технологических качеств при отливке, механической обработке и анализе.

Это достигается тем, что проба, имеющая в рабочей части форму плоского диска, выполнена в виде тела вращения плоскодонной тар ельч атой формы, снабженного внешним кольцевым выступом по краю тарелки.

На фиг. ) показана предлагаемая проба, разрез; на фиг. 2 — то же, вид сверху со стороны наружной рабочей донной части пробы.

Спектральному анализу подвергают наружную плоскодонную часть 1 тела тарельчатой формы 2, снабженного внешним кольцевым выступом 3 по краю тарелки.

Отливку пробы получают с помощью разьемного металлического кокиля. Маркировочная металлическая бирка 4 соединяется с неанализируемой частью тарелки в зоне выступающего кольцевого пояса. Предлагаемая то проба обеспечивает высокую механическую прочность отливки, удобство маркировки отливки, удобство крепления при механической обработке, возможность многократной механической обработки, улучшение теплоотвода в процессе анализа на вакуумных квантометрах.

Формула изобретения

Проба для спектрального анализа металлических сплавов, преимущественно чугунов, имеющая в рабочей части форму тела вращения, отличающаяся тем, что, с целью улучшения технологических качеств, рабочая часть пробы имеет тарельчатую форму и снабжена внешним кольцевым выступом по краю тарелки.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе.

1. Шаевич А. Б., Шубина С. Б. Промышзу ленные методы спектрального анализа, М., Металлургия. 1965. с. )4 — 15.

554471

Фиг 1

Во А

Составитель В. Траут

Техред М. Семенов

Корректор P. Юсипова

Редактор И. Шубина

Заказ 1025/10 Изд. № 380 Тираж 878 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, п р. Сапунова, 2

2. Яковлев П. Я. и др. Определение углерода в металлах, М., 1972, с. 119.

3. Авторское свидетельство СССР № 172114, М. Кл в G 01п 1/28, 06.12.63 (прототип).

Проба для спектрального анализа металлических сплавов Проба для спектрального анализа металлических сплавов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к эмиссионному спектральному анализу и может быть применено при количественном спектральном анализе химического состава вещества

Изобретение относится к импульсным широкополосным источникам некогерентного оптического излучения высокой пиковой мощности и может быть использовано для проведения научно-исследовательских работ, в микроэлектронике, в медицине и других областях

Изобретение относится к спектральному анализу, в частности к распылителям порошковых проб, направляемых в источник возбуждения спектра и может быть использовано для спектрального анализа проб ограниченной навески, например, при озолении биологических объектов или в минералогии

Изобретение относится к области микроэлектронных и микромеханических устройств и может быть использовано в качестве нагревателя интегрального полупроводникового газового датчика, инфракрасного излучателя адсорбционного оптического газоанализатора, активатора печатающей головки струйного принтера

Изобретение относится к спектральному анализу и может быть использовано для проведения анализа электропроводных материалов без предварительной механической пробоподготовки

Изобретение относится к калибровке светодиодов и их использованию, в частности, в неинвазивных оксигемометрах

Изобретение относится к области спектрального приборостроения

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к устройствам, применяемым в спектрофотометрии в качестве излучателя на область спектра от 202 нм до 3500 нм, позволяющим получить интенсивный спектр излучения после монохроматора спектрофотометра
Наверх