Способ колличественного спектрографического анализа вещества

 

ОЛ ИСАЙКЕ 593О82 оциалистических

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Респубпик (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 17.01.69 (21) 1298789 18-25 (51) М. Кл. О 01. 3!40 с присоединением заявки Уев

Государственный комитет

Совета Министров СССР оа делам изобретений и открытий (23) Приоритет— (43) Опубликовано 15.02.78. Бюллетень Хе 6 (45) Дата опубликования описания 16.02.78 (53) УДК 535.33(088.8) (72) Автор изобретения

Э. Н, Северин

Институт черной металлургии (71) Заявитель (54) СПОСОБ КОЛИЧЕСТВЕННОГО СПЕКТРОГРАФИЧЕСКОГО

АНАЛИЗА ВЕЩЕСТВА

9 анализируемой спектральной

Изобретение относится к эмиссионной спектроскопии и может быть использовано при количественном спектральном анализе многокомпонентных порошкообразпых матерна IcB (póë, шлаков, агломератов).

Известны способы количественного эмиссионного спектрального анализа, основанные ня фотоэлектрической регистрации спектра (1).

Однако такие способы требуют для своей реализации довольно сложной аппаратуры.

Наиболее близким по технической сущности и достигаемому эффекту к предлагаемому изобретению является способ количественного спектрографического анализа вещества путем экспонирования спектра на фотоматериал и измерения интегрального почернения спектральной линии, соответствующей анализируемому веществу (2).

Основным недостатком известного способа является наличие погрешностей измерения в тех случаях, когда интенсивность спектральной линии в процессе экспозиции не остает я постоянной. Эти погрешности обусловлены отступлением от закона взаимозаместимости и закона коммутятпвностц для количеств осв:щенности, соответствующих различным значниям интенсивности.

Целью изобретения является уменьшение погрешностей, обусловленпы. . непостоянство я интенсивности линии.

Это достигается тем. что по предлагаемому способу в процессе экспоштрованпя осуществляют дискретные перемещения фотомятep»a„ta относительно спектра, определяют почернения линии на каж:том шаге перемещения и интегральное почерненпе находят как функцию всех почернеH;Ié, обусловленных данной

10 линией.

Сущность изобретения поясняется прим"ром.

Предварительно определяют время полного выгорания пробы и устанавливают количество шагов и перемещения фотоматериала,:; также длительность временного интервала, соответствующего одному шагу.

Затем экспонируют анализируемый спект1: на фотоматериал до полного выгоранпя npool» и в процессе экспозиции по истечении каждого временного интервала дискретно перемеща ют фотом атериал относительно спектр-t тяк, (To экспонирование в каждом временном интервале производят ня новый участок фотоматериала. На тот жс фотоматериал через девятпступенчатый ослабите. Ib экспониру.от спектр железа для построения характеристической кривой. Измеряют почсрненпя анализируемой линии во всеx спектрах, соотвстс.ЗО вующих одному шагу псремещеши, и по х»593082

Формула изобретения

Составитель Л. Оболенский

Техред И. Михайлова Корректоры Л. Денискина и Л. Брахнина

Редактор И. Шубина

Изд, Ма 222 Тираж 881 Подписное

НПО Государспвенного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 9322

МОТ, Загорский филиал

3 рактеристической кривой определяют интенсивности излучения 1„ . С учетом того, что длительности э|кспозицип при построении характеристической кривой и снятии спектра на каждом шаге перемещения не равны, определяют истинные интенсивности 1,, по формуле приведения 1; =пи 1,„-, где р — показатель

Шварцшильда, Затем находят истинную ипг»гральную интенсивность 1о..

Z l.

1о= —— и

После этого по построенной характеристической кривой находят чстинное интегральное ночернение So и используют величину So дл1 построения градуировочного графика, составления разности почернений аналитических пар и т. д.

Поскольку колебание интенсивности в те. чение каждого временного интервала значительно меньше, чем в течение всего периода экспозиции, существенно снижаются погрешности, связанные с непостоянством интенсивности излучения, т. е, повышается точность измерений.

Способ количественного спектрографического анализа вещества путем экспонирования спектра пробы на фотоматериал и измерения интегрального почернения соответствующей спектральной линии, отличающийся тем, что, с целью уменьшения погрешностей, обусловленных непостоянством интенсивности

10 спектральной линии, осуществляют дискретные перемещения фотоматериала относительно спектра в процессе экспозиции, определяют почернения линии на каждом шаге перемещения и интегральное почернение находят как

Гб функцию всех почернений, обусловленныхданной линией.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Тарасов К. И. Спектральные приборы..г1., «Машиностроение», 1968, с. 287 — 293.

2, Зайдель А. Н. Основы спектрального анализа, М., «Наука», 1965, с. 146 — !48.