Способ определения политипных модификаций монокристаллов

 

Союз Советских (Q 1 ٠— т-А —.Н7 И Е

5ф g$gg (:оциалистических

Республик

ИЗОБРЕТЕН Ия (61) Дополнительное и авт. свил,-ву— (22) Заявлено 12.07.73 (21) 2382953, 18-25 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет— (43) Опубликовано 28.02,78. Бюллетень ¹ 8 (45) Дата опубликования описания 14.04.78 (51, Ч KT 6 01 IV 23, 207

Государственный камите1

Совета Миннотрае СССР оо делам изобретений и открытий (53) УДК 548,735(088,8) (72) Авторы изсор(т,шя В. Г. Фомин, М. Г. Шумский, IO, М. Шашков и Л. А. Щеголькова

I 0ñóäaðñòâåííûI! Ордена Октясрьской революции научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности (>> 1 ) 3 с1 и 131! Г (Г» > (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛИТИПНЪ|Х МОДИФИКАЦИИ

МОНОКЕИС1АЛ,ЛОВ

И30017с Гснl(с Отнсситс!! к, Обл астll 17 сl!òÃО исструктурного анализа и может быть использовано для разбраковки кристаллов по политипным модификациям в проц=ссс их выращивания.

Б настоягц с время при производ:твснном

H лабораторном изготовлении монокристаллов, которым Ilрисущс явление политипизма, существенным является вопрос о получе1ни необходимой политипной модификации, l a! как современный уровень технологии нс обеспечивает полного соответствия необходимого !! получаемого признака (политипной модификаци:1). Известен способ разораковки мснокристаллов по политипиым модиф11кациям, который основан на получении рентгенограмм вращения H;Ilf качания при съемке на просвет с фоторсгистрацией 11).

11аиболсс близким к изобретению техничс.ким решением является дифрактометричсский метод определен!я политипных модификаций, который основан на съемке кристалла

I3 монохроматическом излучении с длиной волны л и записи некоторого углового интервала между двумя (тремя) сильными структурными отраокениями типа (0001) и регистрации слабых св рхструктурных отражений, подсчет количества которых дает однозначное решение вопроса о принадле7кности монокри: 1 ал.(а к 3 i! l!:! л:.1 и нОй п(7.»lт(1п110И мОди(17ик а,I H .! 7)

11сдсстаткам:.1 извес !1010 м тода явля!сося .1сж ность, T17>, F003!кО ть и Top(7 Ibl!0 Охрип»1с затраты времени.

Цель изобретс:ня состоит 13 том. чтобы повысить экспрессность способа.

Постаlзл(ива!1 цс11 достиГастся тсз1, Iто

IV -+ ;27,(3 рег -!стрируIОT страже(ше (000, где

7. 1 -- номер политипной модификаци11, и измеря!от интенсивность этого отраже!ня, на длине волны i. и интегральную интенсивность, :!апримср> с помощью амплитудного дифференциального диск;,7иминатора, и по разли»»0 в измеренных иптснс:!вностях судят 0 типе модификации.

Способ реализуют следующим образом.

7ð При используемых. напряжениях 30 — 40 кв, крохе отраже!ни, вызва;шых характеристическим !!злучс:шем с .(линой волны ., появля!стся также стражди!!. вызваннь!с !ГГ(7ро11 гара!Ониксll белого из(1 чс .шя с ллинси волны

/, 3 =;! д:Iф(7а! тОГРамма. > . Г ксаГОе!!альных (//) политипсв он;1 налагаются и»

Рефлексы, вызвс»шыс ха17актеРистичсскиз! изГ!учен:1031, а для ромсоэдричсск:1х ((х) по!H(..:c ã;i;::.;. iH I(. I(oHoHo8 с <о;; Л. i Ho,тков((!

)iiI7I7c «7 ор,ц. ), снисс<и(((( (>с .П((О !. )((7,(50((1

3<(«((,3 !770! l;:(.,X() 27! f .раж ) 1> ) (!!1О oc; .1àI)ñòoñii:(<7ã;7 (<о)(!п !;i (..о —:()» . .!.:.:2 т 7>;i (Х(Р

I(O iC, iC: С ЯЯ((!(О Г !i!i! (303о, .1!<>о:;!)<>. /((-3.> )ó!Hc(<ä;(((<; .., ),<3>! о.!! (!! г ((«

3(()т, Зя гаго °,,:". <17 (г(;):(/(ТИПО!3 — IЯ!ОТ <ОПО 1!.II ГС. l!> IЫС ОТО Я>1 .;i:151

K f>IICTBË/I СТаис(В.!ПВс))ОТ .(сl, Го ) !ьфс! . 5 !

>ОЗГГЯ () !((Л 01 0 ЯИ<" и! К ()(> J — — — —, r!.3 (1)С

r r ) ):(Ю Г 1(.i i С()) f. !1001 «О. ) с(5)<С.!;i,,i 0 f >.11 (Е,(!.5(i1P!1 ЦВ(." 110, С с«сцl! ЛК I с! :1 ;) 01 ..« I а, (1, .ПT .(ИО.)!) ф С;> С (!i(! сl.! Ь (G I <,, (П С IC;):. I >! jl: я !О .) 2, J (, с(И:3 «ОГОО )IX, П.!Т(Гf) Н<1 Ü;> сlЛ;) (и Г 151 < Со! i "! -(. (и «е Во, 1;) ы / 1,< л,(),(ес ге c(1«цсс ГВ с;

:10 ;. (, В И<""(0),:(>!CO !) )1 S),,(0;II)Ø) :. IC .I:IT". IC:(ВП(СТИ IIP!I !10!) CXi);f, (, 1 !) >Ки 11 ) Я();)ТЫ i!I 0ÊÎ 1 .! jl (сl1 О!) сl ) i "C!) /!! "1 Ст:3,"(. ;Ц:!i(Ц, (:(.I C В011! !>1 /„! (7 .((i-:IыЙ и!):!с гсlлгl О!:7<."".iTc)l и )(— 1", !Птllпl

),; С .:; -((71(! с. l „,) . 1 ) . Е С;I:. i;) с(3 (C -.". 1: 7 ()«;",.) < .; 1 "! l! C l I l! r )

:)1)Т(.1(. II В):l(!C 1!(П>. (I cl,7 (!(>,(сl(! СЛ, T ) «.).!< 1 сl, ), I !

: 7 Т!! OС! I Т С Л К О-: 1 <7;1 И :111!:10:1 .; 0;(((!).11" ci (И(11.

Пример. Бср)/т к >истялль) J..".>1(10;;,)(ф((кяц t;(6И и f,Û. (-llOC00 О)") (ЦСС1 В;1511((И с() С CПТГС П0.3) «0 (! —,и(!)1>а«то.чстрс, f,f ()I1 1,;>, ! 1.3/! с) ic!I;IC . — ((I, . 5(<)I(OX!)(7),IЯТО, .) 1.1! .

1 с>к )()и>(f) c(OOTI>l Pc! !тГС; 1<720 «i)!i г>) ) 0«!i::!el i I!) 51>кс l I! IC),8 «К, Г() к .. ) >(cl. 1 25«и \l j>I j) (-!

7< "l>l (. ПСТC)t(>I Р i I Т )cill..(;1: Иаи,75!с«С liiC

1i;I "! T !Пкс — 660 17, коз(р(1)пц!(сll (у и,-iL: i i!51 — — 1,0;.(006))) X 0,2, !f 2« 11 b (Ы Й 1(0!)01

«ри> I!121111!(— — 0,4, шир) на О«1!я -- 10 !3 и

<;И ИТСГР с(Л(ьи ЯЛ», ЩСЛ)(Псl ГоlflT :i <)С РС:

0, 5:(м; 2 — - 0 6 >(1(, 3 2 л)к У! <),1 13ул(,(f7;) - Б f) -2 ã ã 2 Ы >-1 (! .

РОЗ)) .1!>! i 1 Ы i13 3(0;)0!i115(! ИТ:!СI! В:! <)СТ(1 ЦО«! l>l 13 H101, ((0 (, I 5(г(ол и Гп ll 1iol ()10;(и <1))) к ЯЦ)(! i

1 >Г(:1))(L C 51 рея .О< . L Вс. () «!(Пс il:(Т"П(с:I!31:ОСТ.!

:30 (0 2>40 ичп, сск 1 -:3 1:)О ря 3) )!!)j: llt. ) XC.(с < il!!I1) Пьl (7«112 1013 !.я 11 i Г 1")cl.(!)П>,10 (;) С)К: () Ы 1) сl 001 E>l (ИСКР П:) .! f I. с) I <717 с! 1, Г:) (,! 2 1<сl « (i 5! i(0 !)fT;! II. 7!I 11 7 (иф rl!

i(jl 1 сисиВиссти Hc< Ã(7 ли!Пь:I (I (! ) (с 0 ) ) (О

;;М(.): М (, С; «) .

)1СПО, I!> 30 ci!)i! П ) IË(ll Я" ((ОГ<7;():<1: )c!«1(i)1С Г .)!I (С >:)I ) 7 ;1! (« i()I)C «0Г ) Cli<7< .)()ci )((i I<, 1). ) (! I rl 1: i! . l " l 11 I . .Ы К .") i С 1! T;I) . (.C 2 I )r 1 1 1 .") (0 1 0 «О . (С ". с. Л ! >:>.::!lii В <ССТО 30 — > 7 . .1;l i li;.О " ТО ), .:i /(5 .I: è .: I :.l2 i >6()>., ci I; ссй)ко,.и>(с .:I

;) С.(.!Э i ) Г 10ВО .i !0:: « :I (ТЬ ""И(> ),. 20

)ы 27(ï/I )т) (П(Го ли(!)Ф )C:, l;1(2.1!,(;!7

: О(ГI Ь ЯВТО !HT«:3;I >02iс:" 1: )Я ) .: )с)! ;.:«7") 1 . .!

) (ы :.. ..(:1(р.i x" 21(и Й.

), ) <(> 0 Р )1 ) . . I ll .) (7 f! I>

СПССO() ОцрСДС:i:!IЛ:10 ill l. «1)!. 1> . ; !0 (3

) (ill(II!1 )10;10 «,") (I CT2, ;,1! 0!3 i! (1! i 31 С,);!, I C,. С 51 )1 ..::

«рИ СТ Я (.1 с! !(01(OX!>0 > сl 131 С<. «! I.")i ) С:1ТГ «!013 «И ).

"0 I 3/! ) 1СИИС il С Ц/11(1!0 II ВОЛ:! Ы /. )I,) Г IC !",) с .1:!

CI3Cj). .СТР) «1)lf> I! (>)X ДК(1), > с)КЦИО:(ЦЫ« . !П:1:(Й Т:I:I)I (00И) 0 Tличающийся т("(. что с ilc ll>)o

;ICI3ЫШСИИ5! ЗКСИРЕС)«1<)СТИ C:(ОСОос,, j) (ПС !):(>)) ° )<+-- .>-,,;)Пот отряске;и е I 00. — 1, гцс . (I:c(Lp полит;щиой >,;0,1!)(!):(«ации, зт(ср ((01

ТОИСИВ(IОСТЬ ЗТОГО О!1>а>К)- И:151 ПЯ,(;1:I!I 30,1 II>l

i> и иитсгрял(иую иптенсипиость, иап>;Txiep, с

30 пг):)(0(ЦЬ(0 21П(1и!ч/ (пОГО 1иффOf)«lrllj(HЛ 110;и

;,1(скри1(иигтора и 170 разли !110 13 и 3>lcpc!(Ill>(x

И ИТСИСВ(В ПOСТ51 К С";! ЛТ О ТИП" 7!;7 1:1

)P!l! I I TI>10 ) ) .31111 )(сl .(10 ((Р)! 3 « l!CP i 1131()..K., Криш:t;i 11. По I)I>I<)f)CI)(fа ii п<7/(и Г:(и:12.,(В «1).I cTc!Лл я:;..")! ., «.> (Пр», 1 969.

2. KH;) Tel(«0 I I. c>. и (p. Ди(1)ра«!17>101!7! i

«сск )с: опрс (c.12:I:.I полип(1иь(«>!05(и

1 H;>(7:I. я - «p >! 1:. (5(. 13 CO. «. >Пи сl!? я ) 7 с. !I >IС («75(1>i f) с(! т I с l )) ) В L «<71 7 сl 11 2, i:::3 2 », i!1>1 и . Х 1 1, 1., «. (!.))и((пост.)0.;п(с», 973.

Способ определения политипных модификаций монокристаллов Способ определения политипных модификаций монокристаллов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу поликристаллов, а именно к определению одной из характеристик первичной рекристаллизации в сплавах - критической степени пластической деформации - рентгеноструктурным методом

Изобретение относится к физическому материаловедению, а конкретно к технике рентгеноструктурного контроля кристаллогеометрических параметров большеугловых границ зерен, описываемых тетрагональными решетками совпадающих узлов (РСУ), в поликристаллических материалах с любым размером зерна

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к области металлургии и может быть использовано для изготовления емкостей сжиженных газов, низкотемпературного и криогенного оборудования, установок для получения сжиженных газов, оболочек ракет и емкостей для хранения ракетного топлива из стали 01Х18Н9Т

Изобретение относится к области рентгенографических способов исследования тонкой структуры и может быть использовано для неразрушающего контроля внутренних напряжений с целью выявления признаков опасности развития хрупкого разрушения металлических деталей и изделий
Наверх