Фотоэлектрический способ определения толщины нити

 

"тчо. со а ли

О П И C -3.1 Е,»

ЙЗ ОБРЕТЕНИЯ

Союз Советскнк

Соцналнстнческн к

Республнк (<>) 63.9790

K АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 260176 (21) 2332498/25-12 (51) М. Кл. 01 В 11/Об с прцсоединением Заявки а (23) Приоритет (43) Опубликовано 1508.78&оллетень @ (45) Дата опубликования описания 063778

Государственный комитет

Совета Министров СССР но девам изобретений и открытий (53) УДК 531.717, ° 521 (088.8) (72) Авторы кзОбретении + ° - мухитдинов, A. с, Бернштейн. v.ó. назаров и В.N. Рожков

Ферганский политехнический институт (71) Заявитель (54) ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ

ТОЛЩИНИ НИТИ

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при контроле качества нитей в процессе их производства.

Известен фотоэлектрический способ определения толщины нити двумя источниками монохроматического излучения с разными длинами волн и измерении уровня излучения, проходящего сквозь нить, с последующей оценкой толщины нити по величине уровня излучения fl) .

Однако при реализации этого способа не обеспечивается достаточная точность определения толщины нити.

Целью изобретения является повышение точности определения толщины . нити °

Цель достигается тем, что о предлагаемому способу одновременно о просвечиванием нить сжимают посредством калибра до величины сечения; не превышающего минимальное сечение свободной нити.

На чертеже .представлена блоксхема установки, поясняющей способ, где 1 — калибр, 2 — источник монохроматического света с дли.ной волныЛ,тт 3 — источник монохроматического света с длиной волны !

Я. 4, 5 — фотоприемники, б — вычислительный блок, 7 — индикатор, 8 — контролируемая нить.

Процесс определения толщины нити осуществляется следующим образом.

Контролируемая нить 8 протягивается через калибр 1, выполненный в виде трубочки иэ прозрачного материала с сечением, не превосходящим минимальное сечение свободной нити.

Нить 8, проходя через калибр 1, сжимается, причем ее плотность становится прямо пропорциональной ее сечению в свободном состоянии. Потоки света, поступающие от источников

2 и 3, пропускаются через калибр 1 с находящейся в нем нитью и направляются на фотоприемники 4 и 5, соответ-. ственно. Длины волн излучаемого источниками света g1 и p> выбираются так, чтобы коэффициенты их поглощения водой были бы одинаковы, а для материала нити были различны. Поступающие на фотоприемники 4 и -5 потоки .света с длиной волны Я.1 и с длиной волны У < равны соответственно р> - р,в-(K» и К р) и

ЗО Ф -4>, е-(К й+К „В) т ой aде ы, Э 6 19Ф .где Срэм,, ифр, — световые потоки, направленные от источников 2 и 3 света на калибр 1 с контролируемой нитью 8, А — плотность материала нити при ее прохождении через калибр, 9 влажность нити р К и и

Е произведения коэффициентов S погл8щения света с длиной волны и Я материалом нити на длину путо света в нем, К© и я g+, — то же

1 g для влажности.

В Вычислительном блоке 6 выходные ® сигналы фотоприемников 2 н 3 усиливаются операционными логарифмическими усилителями (не. показано), после

Чего формируется сигнал, пропорциоНальный разности этих сигналов, который при равенстве потоков%О и

Ф, между собой .и К. ., м К4 прямо пропорционален А,.а следовательно сечению нити в свободном состоянии.

Это позволяет градуировать измеряю- 39 щий ревностный сигнал. индикаторный прибор 7 непосредственно в значениях сечений контролируемой нити нли, заменяя .его самописцем, получать кривую изменений этих сечений по длине HHTH

Необходимость обеспечивать ра, венство РО Ч+ и постоянство этих -потоков во времени устраняется, если в качестве выходных сигналов ЗО . фотоприемников 2 и 3 использовать сиг90 ф налы, пропорциональные отношениям .выходных сигналов этих фотоприемников при поступлении на них светового потока, прошедшего через калибр с, нитью от того же источника, не прошедшего через нить.

Возможна замена двух фотоприемников одним, с выхода котброго попеременно снимаются сигналы, возникающие при пропускании через калибр с нитью поочередно света с длиной Я. и с длиной

Формула изобретения

Фотоэлектрический способ определения толщины нити, заключающийся s просвечиваний контролируемой нити двумя источникамн монохроматического излучения, проходящего сквозь нить, с последующей оценкой толщины нити по величине уровня излучения, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности определения толщины нити, одновременно с просвечиванием нить сжимают посредством калибра до величины сечения, не превыаающего минимальное сечение свободной нити.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

Патент Великобритании

9 1271439, кл. (j 1 А, 1972.

Составитель 8. Иорозов

Редактрр s. Блохина Техреду.Заборка Корректор С. Рарасиняк

Заказ,4491/37 .. Тираж 872 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Иинистров СССР по делам изобретений и открытий

113035 Иосква Ж-35 Раушская наб. д. 4)5

Фнлиад ППП Патент, г. ужгород, ул. Проектная, 4

Фотоэлектрический способ определения толщины нити Фотоэлектрический способ определения толщины нити 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости
Наверх