Устройство для измерения коэффи-циента отражения линейногоизмерителя формы сигналов

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

0щ794563

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 21.11.77 (21) 2545840/18-09 с присоединением заявки № (51) М. Кл.

С 01 R 27/06 сссР (53) УДК 621.317 (088.8) (43) Опубликовано 07.01.81. Бюллетень № 1 (45) Дата опубликования описания 07.01.81 по делам изобретений и открытий (72) Авторы изобретения

В. Б. Белорусец, М. И. Ефимчик и Б. Н. Левитас (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА

ОТРАЖЕНИЯ ЛИНЕЙНОГО ИЗМЕРИТЕЛЯ

ФОРМЫ СИГНАЛОВ

Государственный комитет (23) Приоритет

Изобретение относится к радиоизмерительной технике.

Известно устройство для измерения коэффициента отражения линейного измерителя формы сигналов, содержащее генератор импульсов, отражатель и электронную цифровую вычислительную машину (1).

Однако известное устройство не обеспечивает высокую точность и высокое быстродействие.

Цель изобретения — повышение точности и быстродействия устройства.

Для этого в устройстве для измерения коэффициента отражения линейного измерителя формы сигналов, содержащем генератор импульсов, отражатель и электронную цифровую вычислительную машину, исследуемый линейный измеритель формы сигналов включен между выходом генератора и отражателем, а к его второму вы- 20 ходу подключен вход электронной цифровой вычислительной машины.

На чертеже приведена структурная схема устройства.

Устройство содержит генератор 1 им- 25 пульсов, отражатель 2 и электронную цифровую вычислительную машину 3, причем исследуемый линейный измеритель 4 формы сигналов включен между выходом генератора 1 и отражателем 2, а к его вто- З0 рому выходу подключен вход электронной цифровой вычислительной машины 3.

Устройство работает следующим образом.

Первоначально при помощи исследуемого линейного измерителя 4 измеряют форму импульса, отраженного от отражателя

2. На электронной цифровой вычислительной машине 3 рассчитывают спектральную плотность у1()ю) измеренного испытательного импульса, которая описывается выражением у ()а) =k(jco) x(jr ), где х ()то) — истинная спектральная плотность испытательного импульса;

k(j ) — частотная характеристика исследуемого линейного измерителя формы сигналов.

В процессе первого измерения часть испытательного импульса отразится от исследуемого линейного измерителя 4 и вновь поступает на отражатель 2. Этот импульс, вторично отраженный отражателем 2, спустя время задержки регистрируется измерителем 4.

его спектральная плотность у ()о) рассчитывается на электронной машине 3 и описывается следующим выражением у ()то) =R(jr ) k(jco) .х()ь). Комплексный коэффициент отражения 1<()а) исследуемо794563

Формула изобретения

Составитель А. Кузнецов

Техред А. Камышникова

Коррекзор А. Галахова

Редактор Г. Петрова

Заказ 41, 19 Изд. № 136 Тираж 784 Подписное

НПО < Поиск» Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москга, )K-35, Раушская наб., д. 4!5

Типография, пр. Сапунова го измерителя 4 формы сигналов получается делением уз(1со) íà у1()оз).

Устройство по сравнению с прототипом имеет более высокую точность и высокое быстродействие.

Устройство для измерения коэффициента отражения линейного измерителя формы сигналов, содержащее генератор импульсов, отражатель и электронную цифровую вычислительную машину, отличаю щ е е с я тем, что, с целью повышения его точности и быстродействия, исследуемый линейный измеритель формы сигналов включен между выходом генератора и отражателем, а к его второму выходу под5 ключен вход электронной цифровой вычислительной машины.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Nicolson А. М. et. al. Application of

10 Типе Domain Metrology to the Automation

of Broad-Band Microwan Measurements, «IEE Transactions on Microwan Theory

and Technology», v. — 20, 1972, January, р. 3 — 9.