Способ измерения комплексного коэффициента отражения от поверхности

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ, Союз Советских

Социалистических

Республик

<>918886 (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 2005@0 (21) 2927437/18-09 с присоединением за я в к и №)И)М Кл з

С 01 R 27/06

Государственный комитет

СССР по делам изобретеиий и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 07.0482 Бюллетень ¹ 13

133) УДК б 21. 317. .341;3 (088.8) Дата опубликования описания 070432

Научно-исследовательский институт п проблем им. A.Í.Ñåâ÷åíêo (Ó1) Заявитель еских (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОМПЛЕКСНОГО КОЭФФИЦИЕНТА

ОТРАЖЕНИЯ OT ПОВЕРХНОСТИ

15

25

Изобретение относится к технике

СВЧ и может использоваться для измерения коэффициента отражения различных объектов.

Известен способ измерения комплексного коэффициента отражения -от.поверхности, при котором исследуемую поверхность облучают одновременво

Электромагнитными и акустическими волнами и по измеренным парамет-. рам отраженных от исследуемой поверхности указанных волн определяют комплексный коэффициент отражения (1) .

Однако использование данного способа при неизвестном расстоянии от измерительной системы до исследуемой поверхности и для.поверхности сложной формы, для которой в пределах облученного участка нельзя применить плоскую аппроксимацию, дает большую ошибку .

Цель изобретения - повышение точности измерений.

Согласно способу измерения комплексного коэффициента отражения от поверхности, при котором исследуемую поверхность облучают одновременно электромагнитными и акустическими волнами, и по измеренным парамет", рам отраженных от исследуемой поверхности укаэанных волн определяют комплексный коэффициент отражения, постоянные распространения электромагнитных и акустических волн. выбирают равными друг другу, измеряют комплексные амплитуды электромагнитных и акустических волн, отраженных от исследуемой поверхности, а комплексный коэффициент отражения опреде. ляют, как отношение указанных измеренных амплитуд.

Сущность способа заключается в следующем.

Как известно, электромагнитный сигнал, отраженный от исследуемой поверхности, определяется комплексным коэффициентом отражения. При приеме ° отраженного сигнала на некотором расстоянии от исследуемой поверхности необходимо учитывать фазовый набег при распространении. электромагнитной волны в свободном прстранстве, уменьшение амплитуды поля с расстоянием.

Коэффициент отражения акустических волн от жесткой поверхности, которой являются границы раздела воздуха и большинства твердых и жидких тел, практически равен единице.

91888á

Составитель А.Кузнецов

Редактор Н.Бобкова Техред M. Тепер Корректор M.Äåì÷èê

Заказ 2132/29 Тираж 719 Подписное

ВНИИПИ Государстввнного комитета СССР по делам изобретений и открытий

11303:5, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП " Патент, r. ужгррод, ул. Проектная, 4

При выборе постоянных распространения электромагнитных и акустичесикх волн одинаковыми, фазовый набег и уменьшение амплитуд этих волн! при распространении в воздушной среде одинаковы. Рассеивающие свойства поверхностей сложной формй в приближении физической оптики для электромагнитной и акустической волн одинаковы.

Таким образом, создав одинаковые распределения предварительно откалиброванных подающих электронного и акустического полей.и измеряя комплексные амплитуды отраженных полей в одной и той же точке, можно опре- 15 делить комплексный коэффициент отражения электромагнитного поля

Е one нотр где Š— комплексная амплитуда отраженного электромагнитного поля

РОщр. — Комплексная амплитуда отражен ного акустич еского поля.

Калибровка амплитуд падающих электромагнитного и акустического полей и фазовых измерений отраженных полей производится на математическом листе для которого известно, что R = I .Следовательно, амплитуды падающих на металлический лист электромагнитного и акустических полей выбираются так, чтобы О q 331

Рomp

Предлагаемый способ обеспечивает измерение комплексного коэффициента отражения от поверхности с высокой точностью.

Формула изобретения

Способ измерения комплексного эффиЦиента отражения от поверхности, при котором исследуемую поверхность облучают одновременно электромагнитными и акустическими волнами и по измеренным параметрам отраженных от исследуемой поверхности укаэанных волн определяют комплексный коэффици. ент отражения, о т л и ч а ю щ и й— с я тем, что, с целью повышения точности измерений,, постоянные распространения электромагнитных и акустических волн выбирают равными друг другу, измеряют комплексные амплитуды электромагнитных и акустических волн, отраженных от исследуемой поверхности, а комплексный коэффициент отражения определяют, как отношение указанных измеренных амплитуд.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство ССС> по заявке Р 2847141/18-09, кл. G 01 R 27/06, 1979 (прототип) .